反射率测试仪测试标准

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反射率测试仪测试标准相关的仪器

  • EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪,可在3-35微米范围内测试半球反射率测试(总半球反射率),提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能,光谱范围250~2500纳米,主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um(并不限定于过滤器,窗等)测量精度(镜面反射和漫样品)-灰色样本满量程的± 1%- ± 3%满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5%或更好样品类型任何样品,包括金属箔,绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面:&ge 0.4英寸(1厘米)直径- 凹面: &ge 6.5英寸(16.5厘米)直径-凸面:&ge 1英寸(2.5厘米)直径 样品温度房间温度,环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率(300K)-半球发射率(300K)读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围(反射率)0.00~1.00尺寸光学头:直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位:4.5× 7.75× 7英寸便携包:12.5× 17× 11英寸重量光学头:5磅,控制和显示单元:4磅,携带箱:11磅保1年部件和人工
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  • 反射率测定仪校准标准板 1.校准范围:90±5;80±5;70±5;60±52.材质:陶瓷 3.规格:?50mm,厚度5mm符合JJF 1232-2009《反射率测定仪》校准规范要求,用于基于白色、浅色颜料对比率测量的反射率测定设备的校准。上海标卓科学仪器有限公司是仪器仪表行业的新锐企业,检测仪器设备的生产、销售、维修、计量管理于一体的综合型公司。公司生产整套完整的精密测量仪器及相关解决方案,并代理、经销国内外几百家的检测仪器和机械设备。主要涉及:机械设备检测仪器、长度类、力学类、电学类、试验类、光学类、精密量仪类、无损测试、理化分析、教学仪器、专用量仪及环境试验设备仪器等等系列,销售产品达成千上万多种,为企业质量管理及企业认证提供完善硬件设备的服务。
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  • 集总透过率、可见光透射比、总吸光度、L 、A、 B、sRGB等参数光谱透反射率测试仪集光谱、透过率、反射率、饱和度、L、A、B等参数采用5英寸大屏,各测量参数及曲线实时显示,使用方便快捷,可直接测试 材料和镜片的透过率测试。
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反射率测试仪测试标准相关的方案

反射率测试仪测试标准相关的论坛

  • 反射率仪的测试波长是多少?

    反射率仪的测试波长是多少? c84-III型反射率测试仪,天津世博伟业化玻仪器有限公司,射出的是绿光。谁知道测试波长是多少?请给出答案的出处,例:XX国家标准。谢谢!

  • 用分光光度计测试反射率有没有相应的标准啊?

    我是工厂的做白色的薄膜,客户需要测试550nm波长的反射率,一直用岛津的uv-3100测试的,叫相对反射率。现在客户提出这个测定的反射率数值依据什么试验方法?或什么标准?查不到,抓狂中。望各位知道的多多指导。谢谢

  • 反射率的测试设备

    1、光学薄膜测试反射率,比较好的仪器设备有哪些?2、有没有集透过率、反射率、折射率测试的仪器设备,推荐一下3、全积分球法测试反射率是不是比半积分球测试比较准确?谢谢!

反射率测试仪测试标准相关的耗材

  • 反射率测定标准品 | L1281920
    产品特点:反射率测定标准品珀金埃尔默提供一系列的反射率测定标准品,以便在乳品测定中能确保系统优化运行。多种校准或未校准的反射率标准品的不同组合可供选择,以提供最佳筛选结果。订货信息:反射率测定标准品产品描述部件编号99% 反射率聚合物 60 mm,8 mm x 58 mm,未校准L128192099% 反射率聚合物 100 mm,8 mm x 98 mm,未校准L128192199% 反射率标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准L128192299% 反射率标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准L128192350% 反射率标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准L128192450% 反射率标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准L1281925反射率标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准,每套 4 件L1281926反射率标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准,每套 4 件L1281927反射率横坐标标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准,L1281928反射率横坐标标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准,L1281929反射率标准品重新校准服务,标准品重新校准 12 个月之后推荐该服务L1281930
  • NIRS XDS 的反射率标准板支架 6.7410.000
    NIRS XDS 的反射率标准板支架订货号: 6.7410.000在将单色仪与样品模块进行校正时需要一个反射率标准板。固定校正标准板时需要一个支架,将标准板定位于其中。 反射率标准板和所属支架用于:NIRS XDS MultiVial Analyzer(订货号:29211210)NIRS XDS MasterLab Analyzer(订货号:2.921.1310)
  • 经认证的NIRS 99%反射率标准板6.7450.030
    经认证的 NIRS 99% 反射率标准板,用于实验室探针订货号: 6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板,用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer

反射率测试仪测试标准相关的资料

反射率测试仪测试标准相关的资讯

  • 蓝菲光学推出业界最高反射率的标准板和目标板
    Spectralon® 漫反射标准板和目标板  蓝菲光学(Labsphere)近日推出了Spectralon® 漫反射标准板和目标板,该产品已经达到NVLAPISO17025技术指标和管理体系要求,这表明其有能力提供有效的常规技术测试结果和校准。蓝菲光学的标准板能提供业界最高的漫反射率,同时具有很好的化学稳定性。  对于任何的已知物质,Spectralon® 漫反射标准板和目标板都能给出最高的漫反射率,并有灰色、白色等多种颜色可选。耐用且化学稳定性好的Spectralon® 材料在紫外-可见-近红外(UV-VIS-NIR)光谱区域内光谱分布非常平坦。此材料在250–2500nm的波长范围内的反射率波动不超过+/-4%,在可见波段内其反射率波动不超过±1%。Spectralon® 漫反射标准板和目标板在250-2500nm的波长范围内其朗伯特性最好。  蓝菲光学具有NVLAPISO17025的校准实验室资质,其也已经获得了NVLAPISO17025认证。之前,蓝菲光学还通过了NVLAPLab200951-0认证,成为可以校准全光谱通量标准灯和前通量标准灯的实验室。蓝菲光学在有关部门对其工程、制造和校准部门进行严格的现场评估和技术鉴定后,最终获得了这两项认证。美国国家实验室自愿认可组织(NVLAP)受美国国家标准技术研究院(NIST)管理。  NVLAP认证表明,蓝菲光学在其质量体系、工程专业知识、技术人员、测试和校准方法、实验室设备和环境、测量的可追溯性、测试和校准用具的处理、以及测试和校准报告的准确性方面,都严格遵照指导进行操作。
  • SpectraBlack 超低反射率漫反射目标板
    更易表征激光雷达和飞行时间 (ToF) 传感系统由于缺乏光谱平坦的光学反射材料,因此很难了解激光雷达和 ToF 系统在低反射率 (5%) 下的灵敏度。Labsphere (蓝菲光学)的 Spectrablack 漫反射目标板和材料有效解决了这个问题。Spectrablack 是一种低反射率、耐磨损的吸光材料,非常适合用于室内近标准传感器测试应用,以及OEM光学系统中的遮光/预防散射光。应用:ToF 和 LIDAR 低反射率范围测试遮光/吸光:利用微孔表面的吸光效果预防光学系统、光学测量仪器、相机等中的散射光降低光谱仪和分光光度计杂散光非反光片和一般遮光材料典型反射率*250 – 380 nm:1.5%380 – 780 nm:1.0 %780 – 2500 nm:1.1 %*反射值可能会有所不同。
  • 镀膜片基底背面反射的影响——低反射率样品表征
    当光线照射到两种介质的分界面上时,一部分光线改变了传播方向返回原来的媒介中继续传播,这种现象称为光的反射。在自然界中,光的反射存在着镜面反射、漫反射和逆反射三种现象。光的反射示意图镜面反射是在光线入射到一个非常光滑或有光泽的表面上时发生的。光线在物体表面反射的角度和入射的角度,度数相同但方向相反。如果物体的表面和光源成精确的直角,那么反射光线会完整地反射回光源方向。光的漫反射是一种最常见的反射形式。漫反射发生在光线入射到任何粗糙表面上, 由于各点的法线方向不一致,造成反射光线无规则地向不同的方向反射。只有很少一部分光线可以被反射回光源方向,所以漫反射材料只能给人眼提供很少的可视性。逆反射(背面反射)是指反射光线从靠近入射光线的反方向,向光源返回的反射。当入射光线在较大范围内变化时,仍能保持这一特性。当石英片上镀膜后,石英片的逆反射会对镜面反射的结果有明显的影响。本文采用日立的UH4150紫外可见近红外分光光度计、5°绝对反射附件和60mm积分球测试分析逆反射的影响。 下面是2种不同工艺需求的测试数据图:左图为同一批次的2个镀膜样品,变量为基底是否进行了涂黑处理。通过数据可以明显的发现:涂黑处理后的反射率明显降低,在1370nm附近的反射率约为0.3%,这是因为涂黑处理使得基底的背面反射(逆反射)尽可能地消除。 右图为另一种工艺的产品,直接对样品进行测试,不需要额外的处理,可以得到1300 ~ 1600 nm范围内反射率低于0.2%的效果,符合产品的预期。一般遇到测试反射率低于0.5%的指标需求时,建议使用标准片测试。×总结根据测试的目的需求,基底是否处理对实际的测试结果有很大影响。样品的反射率测试,需要考虑背面反射的影响。日立的紫外可见近红外分光光度计UH4150结合镜面反射附件,可以准确的表征低反射率的样品性能。——the end——公司介绍:日立科学仪器(北京)有限公司是世界500强日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。本公司秉承日立集团的使命、价值观和愿景,始终追寻“简化客户的高科技工艺”的企业理念,通过与客户的协同创新,积极为教育、科研、工业等领域的客户需求提供专业和优质的解决方案。 我们的主要产品包括:各类电子显微镜、原子力显微镜等表面科学仪器和前处理设备,以及各类色谱、光谱、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州、西安、成都、武汉、沈阳等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务,从而协助我们的客户实现其目标,共创美好未来。

反射率测试仪测试标准相关的试剂

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