介质损耗测试仪的原理

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介质损耗测试仪的原理相关的仪器

  • 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪:GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 二、介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的技术指标 1.Q值测量 a.Q值测量范围:2~1023。 b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c.标称误差项 目 GDAT-A频率范围20kHz~10MHz;固有误差≤5%±满度值的2%;工作误差≤7%±满度值的2%;频率范围10MHz~60MHz;固有误差≤6%±满度值的2%;工作误差≤8%±满度值的2%。电感测量范围介电常数介质损耗试验仪电容测量14.5nH~8.14H1~ 460 项 目GDAT-A直接测量范围1~460pF主电容调节范围30~500pF,精准度150pF以上±1% 150pF以下±1.5pF; 注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4.介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围项 目 GDAT-A: 频率范围10kHz~50MHz频率分段(虚拟)10~99.9999kHz100~999.999kHz1~9.99999MHz10~60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字Q合格指示预置功能预置范围:5~1000。Q表正常工作条件环境温度:0℃~+40℃; 相对湿度80%电源220V±22V,50Hz±2.5Hz。消耗功率约25W;净重约7kg外型尺寸(l×b×h)mm:380×132×280 8.产品配置:a. 测试主机一台;b. 电感9只;c. 夹具一套 电感:线圈号 Q 值 测试频率 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8400KHz 13811.4 4.87mH7 400KHz 20216 0.99mH61MHz 196 13252μH52MHz 198 8.749.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 312MHz 1936.9 2.49μH2 12MHz 229 6.4 0.508μH1 25MHz,50MHz233,2110.9 0.125μH 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的详细资料: 一、 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问!! 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者,帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 , 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司
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  • 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 主要技术特性 :Q 值测量范围 2 ~ 1023 量程分档 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档固有误差≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz )≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)工作误差≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz )≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)电感测量范围 4.5nH ~ 140mH 电容直接测量范围1 ~ 200pF 主电容调节范围18 ~ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 % 信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz 频率分段 ( 虚拟 )100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz, 10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz频率指示误差3 × 10 -5 ± 1 个字 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用 概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 BD916介质损耗测试装置技术特性 :平板电容器极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选 极片间距可调范围≥15mm 夹具插头间距25mm±0.01mm 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 测微杆分辨率0.001mm 电感:线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8 400KHz138 11.4 4.87mH7400KHz 202 16 0.99mH6 1MHz 196 13 252μH5 2MHz198 8.7 49.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 1936.9 2.49μH212MHz2296.40.508μH 125MHz,50MHz233,211 0.9 0.125μH 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项技术:A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。 D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问! 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪BDJC系列电压介电强度试验仪器BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪BEST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪BDH 耐漏电起痕试验仪BDH-B耐电弧试验仪
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  • 介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz~60MHz0.1~160MHzCH110~99.9999kHz0.1~0.999999MHzCH2100~999.999kHz1~9.99999MHzCH31~9.99999MHz10~99.9999MHzCH410~60MHz100~160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能:预置范围:5~10002. Q表正常工作条件a. 环境温度:0℃~+40℃;b.相对湿度:80%;c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。7.其他a.消耗功率:约25W; b.净重:约7kg;c. 外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心,实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元,该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器,同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器, 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时,在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元,检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点:优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数,手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点,标频单键设置和锁定,大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低,彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置:高配Q表 一只 试验电极 一只 (c类)电感 一套(9只)电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大,绝缘能力越强?因为物质的介电常数和频率相关,通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数,介电系数或电容率,它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说,介电常数越大,绝缘性能就越好。注:这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充:电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质,并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质,其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下,其内部会有发热现象,这说明有部分电能已转化为热能耗散掉,电介质在电场作用下,在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率,或简称介质损耗(diclectric loss)。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能,而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大,甚至会引起介质的过热而绝缘破坏,所以从这种意义上讲,介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的,所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式:1)漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷,或多或少存在一些带电粒子或空位,因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时(松弛极化、空间电荷极化等),带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。  一些介质在电场极化时也会产生损耗,这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短(约为10-16~10-12s),这在无线电频率(5×1012Hz 以下)范围均可认为是极短的,因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化(例如松弛极化、空间电荷极化等)在外电场作用下,需经过较长时间(10-10s或更长)才达到稳定状态,因此会引起能量的损耗。若外加频率较低,介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化,则不产生极化损耗。若外加频率较高时,介质中的极化跟不上外电场变化,于是产生极化损耗。 [2]3)电离损耗  电离损耗(又称游离损耗)是由气体引起的,含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时,由于气体的电离吸收能量而造成指耗,这种损耗称为电离损耗。4)结构损耗在高频电场和低温下,有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大,耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小,但是当某此原因(如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等)使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5)宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此,它通常包含有晶相、玻璃相和气相,各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同,有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀,造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看,整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征:电介质在恒定电场作用下,介质损耗的功率为  W=U2/R=(Ed)2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下,电位移D与电场强度E均变为复数矢量,此时介电常数也变成复数,其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D,E,J之间的相位关系图D,E,J之间的相位关系图如图所示,从电路观点来看,电介质中的电流密度为J=dD/dt=d(εE)/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度,导致能量损耗;Je,相比较E超前90°,称为无功电流密度。
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  • 【转帖】介质损耗测试仪的特点六则

    介质损耗测试仪突破了传统的测量方式,是一种新颖的测量介质损耗角正切(tanδ)和电容值(Cx)的自动化仪表。它采用单片机和现代化电子技术进行自动数据采集、模/数转换和数据运算。不仅操作简便、测试速度快而且精度高。  介质损耗测试仪的主要特点如下:  1.介质损耗测试仪的内部使用的是45HZ/55HZ异频电源,从根本上解决了现场抗干扰的难题,提高了精确度。  2.测试仪的内部附有高精密SF6标准电容,该电容tgδ不随温度、湿度等变化。  3.介质损耗测试仪有大屏幕(240×128)菜单式操作,全新中文界面,使用非常方便。  4.全电子调压,输出电压连续可调。  5.多重保护,介质损耗测试仪能在高压短路、激穿、过压、过流及电压波动下快速切断高压。  6.含有特殊的自激法测量全密封的CVT,可直接测试C1、C2的介质损耗。

  • 塑胶电介电常数和损耗正切值 测试仪器

    推荐个仪器吧测试条件:塑胶电参数(1GHz下)介电常数为2.92+/-0.1,损耗正切值0.007。下壳密封壳体部分的塑胶电参数(1G/2G/3G下)介电常数为3.05+/-0.1/3.17+/-0.1/3.25+/-0.1,损耗正切值0.0048/0.005/0.0057

介质损耗测试仪的原理相关的耗材

  • LTS1500 光损耗测试仪光纤通讯 Loss Test Set-LTS
    LTS1500 光损耗测试仪光纤通讯 Loss Test Set-LTSThe FTE-4000 TTI Hand Held Variable Optical Attenuator is available in two models, with 40 dB attenuation level or 80 dB attenuation level to meet single mode testing requirements. Like the rest of the FTE line, the VOA has an onboard help feature. The FTE-4000 has a built in output power monitor to assist in setting the appropriate attenuation levels and a sweep mode which can scan the attenuation across desired levels. It is rugged with a splash proof housing with a highly protective boot. The FTE-4000 can assist in the testing of system budget compliance, balancing transmitter power and adjusting receiver attenuation settings.Features? Integrated Power Meter? Up to 80 dB Attenuation? Typical Insertion Loss 2dB (40dB Model)? Remotely Program Sweep Settings? Adjustable step sizes? USB PC Interface w/Remote Operation? Absolute/Relative Attenuation Settings? Calibrated at 1310/1550? Sealed Rugged Case? Lowest Cost Hand Held VOA? 4” Color DisplayOrdering InformationFTE-4000-4040 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000-8080 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000 SpecificationsAttenuation RangeFTE-4000-4 2 to 40dBFTE-4000-8 4 to 80dBWavelength Range1310, 1550 nmResolution.01 dBUncertainty+/- 0.5 dBRepeatability+/- 0.1 dBInsertion Loss2 dBReturn Loss50 dBMax Input Power27 dBmGraphical Display4 in Color TFTDimensions7.75 x 4.5 x 2.25 inchesWeight2 lbsBatteryRechargeable NiMH - 6 hours operating timePower100-240 universal US, GB, EU, AU MainsEnvironmental Operation-10°C to + 40°CAccessories IncludedUniversal power supply. FC and SC adaptors,CertSof VI Software, USB Cable and Manual
  • TDR阻抗测试仪探头特性阻抗测试仪探头BT-D100
    1.信号稳定,测试误差小。2.可适用高带宽阻抗测试仪阻抗条测试,损耗较小。适用于多种阻抗测试仪
  • FTE5000 损耗测试仪 带ORL和视频探头
    FTE5000 损耗测试仪 带ORL和视频探头The FTE-5000 combines four functions for testing optical networks together in one unit. It brings together a -55dB ORL meter, power meter, laser source and video scope capability with IEC61300-3-35 method “B” Pass/Fail End face Grading Map (probe sold separately). The FTE-5000 is a full featured ORL Loss Test Set. It has 4” super bright color touch screen display with large easy to read characters. It performs optical return loss measurements to -55db at up to three wavelengths and is an automated loss test set with dual or triple wave Light sources. The power meter uses an InGaAs detector which is calibrated at 850,1300, 1310, 1490, 1550 and 1625nm, with a dynamic range of -77dBm. These units are available in single, dual, triple or quad wavelength configurations and displays measurements up to three wavelengths at one time. In the Autotest mode, the master unit changes wavelengths at a fixed rate and informs the slave unit of the wavelength currently being measured. Use this method to test up to three wavelengths at a time and store the loss measurements for each of the lasers fired during the test. Up to 5000 tests may be stored and recalled via the unit’s USB port. Use TTI’s CertSoft PC application software for downloading stored data and organizing the information or use the Android Bluetooth virtual instrument application for remote operation. The information from OTDR, LTS, ORL and video scope may be combined to offer a comprehensive report for all of your network testing needs. The FTE-5000 also includes a video scope (probe sold separately). Use the video scope to ensure the integrity and cleanliness of the connectors being tested. Use the modulation feature to perform fiber identification function. The power meter will identify modulated signals at 270, 1000 and 2000 Hz produced a modulate light source. Features?Optical Loss/ORL Tester?ORL Measurement Range to -55 dB ?PM with -77 dBm Dynamic Range ?IEC61300-3-35 method “B” Video Scope (Probe Sold Separately)?Auto Test Up To Three Wavelengths ?Automated Loss Measurements ?Auto Wavelength Switching ?Universal PM and LS Adapters?Storage for 5,000 Test ?Bright Color Display?Rechargeable NiMH Batteries?USB Interface ?Free Report Software ?On-Board Help FeatureOrdering InformationFTE-5000-8513 LTS with 850/1300nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately)FTE-5000-1315LTS with 1310/1550nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately) FTE-5000-345LTS with 1310/1490/1550nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately)FTE-5000-QUADLTS with 850/1300/1310/1550nm Light Source (No Video Scope Capability)VIS300Video Probe for use with FTE-7000, FTE-1700 and FTE-5000 seriesGeneral SpecificationsDisplay4 in Color TFTStorage Locations5000Battery/Operating Time4 AA Rechargeable NiMH / 6 hrsPower Requirements Wall Mount, Universal 100-240V 47-63 Hz 9 VDC Center Positivewith, US, UK, Continental Europe, and Australian PlugsOperating Temperature Range -10 to 45 CDimensions(w/o rubber boot ) 7.62” L x 3.88” W x 1.56” H (194mm L x 99mm W x 40mm H) Weight 0.52 KgAccessories ProvidedFC, ST, SC adaptors for both Power Meter and Light Source, rubber boot, battery, power supply/charger, manual and software on CD and USB cable Power Meter SpecificationsDetector TypeInGaAsConnector Type 2.5mm InterchangeableDynamic Range+5 to -77dB (CATV - +25 to -57dB)Auto Test Range0 to -40dBCalibrated Wavelengths 850,1300,1310,1490,1550,1625nmUnits of MeasurementdBm, dB, mW, μW and nWPower Measurement Uncertainty± 0.18 dB under reference conditions, ± 0.25 dB from 0 to -65 dBm,± 0.35 dB from 0 to +5 dBm and from -65 to -77 dBmUnits of Measurement dBm, dBResolution.01 dBModulation Modes DetectedCW, 270 Hz, 1000 Hz, 2000 HzLight Source SpecificationsFiber TypeSingle Mode, Multimode Wavelengths Available850,1300,1310,1490,1550 and 625 nm ±20nm as Unit is Equipped Output Power0 dBm, 1mw (-3dBm @ 1625nm)Output Stability± .05 dB / 24 hrs @ constant temp,, ± .02 dB/C temperature coefficientLaser Safety ClassificationClass I Safety Per FDA/CDRH and IEC-825-1 RegulationModulation ModesCW, 270 Hz, 1000 Hz, 2000 HzSpectral Width3nm typ.ORL MeterOptical Return Loss Dynamic Range0-55 dBORL WavelengthsSM Source WavelengthsOptical Return Loss Accuracy± 1dB @ -40db reflectionResolution0.01 dB

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介质损耗测试仪的原理相关的资讯

  • 技术更新|介损及体积电阻率测定仪可测介质损耗因数
    如今市场需求总体继续扩大,但增速下降。一方面,随着城镇化和基础设施建设的不断深入,基本原材料的需求还将保持一定增速,但增速会有所降低,人们日常生活用品也不会有太大的提高;另一方面,人们的消费升级以及生活方式和消费模式的改变,将提高或改变市场需求,促进与经济发展相配套的石化化工产品升级换代。因此,预计“十四五”期间,传统石化化工产品,如成品油、大宗化工产品等,在很长的一段时间内消费保持低速增长态势,甚至有些个别产品还会有略微下降;而在与智能制造、电子通信、中高生活消费品和医药保健等有关的化工产品,主要是电子化学品、纺织化学品、化妆品原材料、快餐用品、快递服务用品、个人防护和具备特殊功能的化工新材料等,都将会有很大增幅。同时安全生产、绿色发展的要求日益提高。石化化工生产“易燃、易爆、有毒、有害”特点突出,尤其是近几年,化工行业事故频发,特大恶性事故连续不断,给人们生命财产造成重大损失,在社会各界造成极其恶劣的影响。随着我国城镇化的快速推进,原来远离城市的石化化工企业已逐渐被新崛起的城镇包围,带来了许多隐患。“十四五”期间,社会各界将更加紧盯各地石化化工企业,石化化工企业进入化工园区,远离城镇布局将成为必然要求,安全生产也将是企业必须加强的一门必修课。绿色发展已经在社会上形成共识,坚持绿色发展是行业必须要强化的理念,一方面要补足以往的环保欠账;另一方面还要针对不断提高环保标准买单,这对行业来说,是一个巨大的挑战。A1170自动油介损及体积电阻率测定仪符合GB/T5654标准,用于测定在试验温度下呈液态的绝缘材料的介质损耗因数及体积电阻率,包括诸如变压器、电缆及其它电气设备内的绝缘液体。可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。仪器特点1、采用中频感应加热,室温加热至控温(90℃)并恒温自动测量仅需 15分钟。2、同时测量油介损及体积电阻率或任选一项。3、采用大屏幕液晶显示器,只需按照中文菜单提示,输入指令,仪器即可自动工作。4、具有通讯功能,可配置电脑进行实时监测,动态观察油介损值随油温变化并描绘成图。5、自动显示测量结果,并进行数据打印保存。6、具有过压、过流、短路保护,并具有高压指示,还具有报警提示功能。技术参数体积电阻率测量电压:DC500V±10%体积电阻率范围:2.5×106~2×1013Ω.m精度: 高于±10%电阻测量范围:2M~2TΩ介损测量范围:0.00001~1介损值分辨率:0.00001电容测量范围:10.0pF~200.0pF电容值分辨率:0.01pF空杯电容:60±5pF 介损值测量精度:±(1%读值+0.02%)电容值测量精度:±(1%读值+1pF)工作电源:AC220V±10%,50Hz测控温范围:室温~119.9℃测控温稳定度:±0.5 相对湿度:≤85%介损测量电压:1.5kV、2.0kV、2.5kV(常规使用2.0kV)(正接法) 环境温度:-5℃~50℃外形尺寸:480mm×400mm×420mm重  量:25.7kg
  • 国际光纤微弯损耗测试标准明年有望出台
    在近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上,帝斯曼光纤材料研发总监史蒂夫施密德向记者透露,帝斯曼在2009年提交了光纤微弯损耗测试方法和标准的立项工作,有望在2011年出台初步的测试标准。   随着光纤网络的不断发展,光纤微弯耗损已变得不容忽视。光缆的损耗,是导致网络故障发生的主要原因,网络故障很大程度上提升了运营商网络成本。   Telcordia公司的首席顾问奥斯曼盖比兹利奥卢博士在会上表示,中国通信业经过这么多年的发展,越来越多的光纤网故障证明了由于微弯和其他材料造成的损耗,对整个网络造成非常严重的损失。因此,在采购过程中必须建立一个光纤微弯测试标准,以此来保证所用光纤的性能。   据史蒂夫施密德透露,帝斯曼一直致力于光纤微弯标准制定,在北美,光纤微弯测试标准已提交TIA组织,目前在搜集及提交相关的数据 在欧洲,帝斯曼重新启动了微弯标准测试方法的探讨工作,工作有望与北美地区同步进行 而目前在国内,帝斯曼在2009年已向通信标准化协会提交了相应的测试方法和标准的立项工作,在2011年有望出台初步的测试标准。   另外,据帝斯曼迪索亚太区销售总监、总经理林为斌透露,目前帝斯曼在全球涂料市场的占有率已经达到了80%,抗微弯涂料的市场占有率目前也在50%以上。
  • 浅析高分辨率光学链路诊断仪(OCI)测试大插损光纤链路损耗
    武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪(OCI)是基于光频域反射技术(OFDR),单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断,并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。据了解,光频域反射技术(OFDR)测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异,其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪(OCI)插损测量动态范围为18dB,反射式测量方式动态范围为9dB。当待测链路中累积损耗超出9dB时,超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没,给测试带来误差。针对上诉情况,本文借助光纤环形器测试出大插损光链路单向累积损耗。首先,测试样品为可调光衰减器,借助环形器测试大插损装置如图1,将光纤环行器2端口接到OCI设备DUT口上,1端口和3端口分别与可调衰减器进出口连接。OCI设备输出光从环形器2端口进入,3端口输出,经过待测样品后进入端口1,最后从端口2返回OCI仪器。图1.借助环形器测试大插损装置示意图OCI测试整个光链路结果如图2,距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值,对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量,而本链路中借助环形器是透射式测量,所以实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。同时,该位置积分回损为-25.69dB,是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。图2.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图第二,使用OCI单独测试光纤环形器,损耗测试装置如图3。图3.环形器损耗测试装置示意图图4.OCI测试环形器结果图测试结果如图4,从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值(实际光纤环形器光链路长度为3.72176m),回损为-2.55dB,是环形器单向累积损耗总和。可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。第三,使用功率计测试可调光衰减器插耗,测试装置如图5,测得可调光衰减器插耗为23.33dB,OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。图5.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图改变可调光衰减器插损,按照上诉方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值,下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。从对比表可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB,且OCI测试值均比功率计测试值大,这是由于功率计测试链路时,比OCI测试链路多一个FC法兰。因此,借助光纤环形器,高分辨率光学链路诊断仪(OCI)可以透射式测量大插损链路总体损耗,测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗,OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损(RL)的动态范围,动态范围高达60dB以上时,可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量,进一步扩展OFDR设备使用场景。

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