热电光谱仪工作原理

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  • 真空型空心阴极光电光谱仪 LPG2000一、产品简介:&bull 样 品:碎屑团体样品直接分析&bull 样品种类:高温合金、钢铁、有色金属等 其他样品:矿石、陶瓷等&bull 光路自动对正&bull 自动预处理电极&bull 自动描迹功能&bull 自动激发&bull 自动控制光源启停、急停&bull 自动测量样品中元素含量&bull 自动读取仪表数据&bull 自动控制电流&bull 信号测量、信号处理&bull 强度和电流信号同时实时显示二、主要技术参数:1. 直流加脉冲式空心阴极放电光源(低气压),配备低气压动态平衡气路控制系统。2. 光室为真空型,能够同时测定包括Ag、As、Au、B、Ba、Be、Bi、Ca、Cd、Ce、Cu、Ga、Ge、Hg、In、La、Mg、Mn、P、Pb、Pd、Pt、Rh、Ru、Sb、Se、Si、Sn、Sr、Te、Tl、Y、Zn、Zr等元素在内的痕量元素。B/P元素的分析谱线可设定为190nm以下。3. 配套高衍射效率、低杂散光的全息凹面光栅,其焦距750nm,光栅刻线度2400刻线/mm,波长覆盖范围170-430nm,采用日本滨松高灵敏低噪音光电倍增管,光谱分辨率优于0.024nm。4. 稳定性:测定均匀样品,激发10个样品,相对标准偏差<20%。5. 检出限:10-5%-10-7%。6. 元素测定下限可达Ag≤0.00003%,As≤0.0005%,Bi≤0.00001%,Cd≤0.0001%,Mg≤0.001%,Pb≤0.0001%, Sb≤0.0001%,Se≤0.0001%,Sn≤0.0002%,Te≤0.00005%,Tl≤0.00005%,P≤0.001,B≤0.001。7. 高精度恒温系统:光室恒温,精度±0.1℃,可以依据环境设置所需要的温度。
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  • 辉光放电光谱仪 400-860-5168转2775
    GD-OES8000辉光放电光谱仪产品介绍:技术参数:功能方式:DC或RF;波长范围:120-800nm;光谱分辨率:18pm-25pm; 深度分辨率:1~2nm;溅射速率:>1μm/min;深度剖析的范围:1nm~200μm;焦距:998.8mm元素通道:48探测器:光电倍增管PMT性能特点: 有着较低的检出限。 能够逐层检测样品表面。 十几个元素的含量通过一次监测就能够得到,能够给出较大的信息量。 只需几分钟就能够对一个样品,有着非常快的检测速度。 不需要对样品进行稀释,溶解等处理,能够直接对固体样品进行检测。 有非常广泛的检测范围。 光机电产品一体化整机设计。
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  • 我们分析系统的高端产品系列GDOES光谱仪GDA 550 HR和GDA 750 HR是强大的GDOES光谱仪,非常适合研发任务。基于模块化概念,可以设想多种选项组合,因此可以为您的应用实现佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的导电样品。GDA 750 HR也用于分析不导电样品GDA 750 HR通过光电倍增管可检测多达79个可能的元素通道,GDA 750 HR辉光放电光谱仪是您的具有挑战性的应用的理想光谱仪。它提供了大的灵活性,佳的检测限和分析精度,即使是薄的层。可选的高分辨率SPECTRUMA CCD光学元件扩展了GDA 750 HR的功能,能够将几乎无限数量的元素通道集成到您的分析工作中。GDA 750 HR的特点:GDA 750 HR配备了一个可以无碳氢化合物测量的涡旋泵。GDA 750 HR标准设备还包括一个高频辉光放电源。这也允许分析不导电的样品。使用等离子体干扰可以更容易地分析难以刺激的样品。GDA 750 HR的应用领域从热处理到镀锌到复杂的多层系统。由于PMT的快速数据采集,也可以检测到低于100nm的层测量深度达200微米具有快速数据采集的深度剖面,即使对于非导电层(如几纳米厚度的氧化物)也是如此所有金属和金属合金的含量分析分析非导电样品,如陶瓷,玻璃或漆涂层校准曲线的线性可以测量弯曲甚至形状异常的样品。
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  • 热电偶的工作原理

    热电偶的工作原理  热电偶的工作原理(热电偶原理) 什么叫热电偶?这就要从热电偶测温原理说起,热电偶是一种感温元件,是一次仪表,它直接测量温度,并把温度信号转换成热电动势信号,通过电气仪表(二次仪表)转换成被测介质的温度。 热电偶测温的基本原理是两种不同成份的材质导体组成闭合回路,当两端存在温度梯度时,回路中就会有电流通过,此时两端之间就存在Seebeck电动势——热电动势,这就是所谓的塞贝克效应。两种不同成份的均质导体为热电极,温度较高的一端为工作端,温度较低的一端为自由端,自由端通常处于某个恒定的温度下。根据热电动势与温度的函数关系,制成热电偶分度表;分度表是自由端温度在0℃时的条件下得到的,不同的热电偶具有不同的分度表。在热电偶回路中接入第三种金属材料时,只要该材料两个接点的温度相同,热电偶所产生的热电势将保持不变,即不受第三种金属接入回路中的影响。因此,在热电偶测温时,可接入测量仪表,测得热电动势后,即可知道被测介质的温度。 B:热电偶工作原理: 两种不同成份的导体(称为热电偶丝材或热电极)两端接合成回路,当接合点的温度不同时,在回路中就会产生电动势,这种现象称为热电效应,而这种电动势称为热电势。热电偶就是利用这种原理进行温度测量的,其中,直接用作测量介质温度的一端叫做工作端(也称为测量端),另一端叫做冷端(也称为补偿端);冷端与显示仪表或配套仪表连接,显示仪表会指出热电偶所产生的热电势。 热电偶实际上是一种能量转换器,它将热能转换为电能,用所产生的热电势测量温度,对于热电偶的热电势,应注意如下几个问题: 1:热电偶的热电势是热电偶两端温度函数的差,而不是热电偶两端温度差的函数; 2:热电偶所产生的热电势的大小,当热电偶的材料是均匀时,与热电偶的长度和直径无关,只与热电偶材料的成份和两端的温差有关; 3:当热电偶的两个热电偶丝材料成份确定后,热电偶热电势的大小,只与热电偶的温度差有关;若热电偶冷端的温度保持一定,这进热电偶的热电势仅是工作端温度的单值函数。常用的热电偶材料有:热电偶分度号热电极材料 正极负极S铂铑10纯铂R铂铑13纯铂B铂铑30铂铑6K镍铬镍硅T纯铜铜镍J铁铜镍N镍铬硅镍硅E镍铬铜镍  1821年,德国物理学家塞贝克发现,在两种不同的金属所组成的闭合回路中,当两接触处的温度不同时,回路中会产生一个电势,这就是热电效应,也称作“塞贝克效应(Seebeck effect)”。  Thomas Johann Seebeck(1780~1831)  〔发现者〕托马斯·约翰·塞贝克(也有译做“西伯克”)1770年生于塔林(当时隶属于东普鲁士,现为爱沙尼亚首都)。塞贝克的父亲是一个具有瑞典血统的德国人,也许正因为如此,他鼓励儿子在他曾经学习过的柏林大学和哥廷根大学学习医学。1802年,塞贝克获得医学学位。由于他所选择的方向是实验医学中的物理学,而且一生中多半时间从事物理学方面的教育和研究工作,所以人们通常认为他是一个物理学家。  毕业后,塞贝克进入耶拿大学,在那里结识了歌德。德国浪漫主义运动以及歌德反对牛顿关与光与色的理论的思想,使塞贝克深受影响,此后长期与歌德一起从事光色效应方面的理论研究。塞贝克的研究重点是太阳光谱,他在1806年揭示了热量和化学对太阳光谱中不同颜色的影响,1808年首次获得了氨与氧化汞的化合物。1812年,正当塞贝克从事应力玻璃中的光偏振现象时,他却不晓得另外两个科学家布鲁斯特和比奥已经抢先在这一领域里有了发现。  1818年前后,塞贝克返回柏林大学,独立开展研究活动,主要内容是电流通过导体时对钢铁的磁化。当时,阿雷格(Arago)和大卫(Davy)才发现电流对钢铁的磁化效应,贝塞克对不同金属进行了大量的实验,发现了磁化的炽热的铁的不规则反应,也就是我们现在所说的磁滞现象。在此期间,塞贝克还曾研究过光致发光、太阳光谱不同波段的热效应、化学效应、偏振,以及电流的磁特性等等。  1820年代初期,塞贝克通过实验方法研究了电流与热的关系。1821年,塞贝克将两种不同的金属导线连接在一起,构成一个电流回路。他将两条导线首尾相连形成一个结点,他突然发现,如果把其中的一个结加热到很高的温度而另一个结保持低温的话,电路周围存在磁场。他实在不敢相信,热量施加于两种金属构成的一个结时会有电流产生,这只能用热磁电流或热磁现象来解释他的发现。在接下来的两年里时间(18222~1823),塞贝克将他的持续观察报告给普鲁士科学学会,把这一发现描述为“温差导致的金属磁化”。  赛贝壳的实验仪器,加热其中一端时,指针转动,说明导线产生了磁场  塞贝克确实已经发现了热电效应,但他却做出了错误的解释:导线周围产生磁场的原因,是温度梯度导致金属在一定方向上被磁化,而非形成了电流。科学学会认为,这种现象是因为温度梯度导致了电流,继而在导线周围产生了磁场。对于这样的解释,塞贝克十分恼火,他反驳说,科学家们的眼睛让奥斯特(电磁学的先驱)的经验给蒙住了,所以他们只会用“磁场由电流产生”的理论去解释,而想不到还有别的解释。但是,塞贝克自己却难以解释这样一个事实:如果将电路切断,温度梯度并未在导线周围产生磁场。所以,多数人都认可热电效应的观点,后来也就这样被确定下来了。(来自:以色列·希伯莱大学网站,陈忠民译)  〔应用〕热电效应发现后的1830年,人们就为它找到了应用场所。利用热电效应,可制成温差电偶(thermocouple,即热电偶)来测量温度。只要选用适当的金属作热电偶材料,就可轻易测量到从-180℃到+2000℃的温度,如此宽泛的测量范围,令酒精或水银温度计望尘莫及。现在,通过采用铂和铂合金制作的热电偶温度计,甚至可以测量高达+2800℃的温度!  热电偶的两种不同金属线焊接在一起后形成两个结点,如图(a)所示,环路电压VOUT为热结点结电压与冷结点(参考结点)结电压之差。因为VH和VC是由两个结的温度差产生的,也就是说VOUT是温差的函数。比例因数α对应于电压差与温差之比,称为Seebeck系数。  热电偶测温原理  图(b)所示是一种最常见的热电偶应用。该配置中引入了第三种金属(中间金属)和两个额外的结点。本例中,每个开路结点与铜线电气连接,这些连线为系统增加了两个额外结点,只要这两个结点温度相同,中间金属(铜)不会影响输出电压。这种配置允许热电偶在没有独立参考结点的条件下使用。VOUT仍然是热结点与冷结点温差的函数,与Seebeck系数有关。然而,由于热电偶测量的是温度差,为了确定热结点的实际温度,冷结点温度必须是已知的。冷结点温度为0℃(冰点)时是一种最简单的情况,如果TC=0℃,则VOUT=VH。这种情况下,热结点测量电压是结点温度的直接转换值。不过,在实际应用中这是难以实现的。为此,美国国家标准局(NBS)提供了各种类型热电偶的电压特征数据与温度对应关系的查找表,所有数据均基于0℃冷结点温度。利用冰点作为参考点,通过查找适当表格中的VH可以确定热结点温度。

热电光谱仪工作原理相关的耗材

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  • 辉光放电光谱仪:方便快速的镀层分析手段
    研究镀层特性,有哪些常用的分析技术?  如今,大多数材料不是多层结构,如薄膜光伏电池、LED、硬盘、锂电池电极、镀层玻璃等就是表面经过特殊处理或是为改善材料性能或耐腐蚀能力采用了先进镀层。为了很好地研究和评价这些功能性镀层特性,有多种表面分析工具应运而生,如我们熟知的X射线光电子能谱XPS、二次离子质谱SIMS、扫描电镜SEM、透射电镜TEM、椭圆偏振光谱、俄歇能谱AES等。  为什么辉光放电光谱技术受青睐?  辉光放电光谱仪作为一种新型的表面分析技术,虽然近年来才崭露头角,但已受到了越来越多的关注。与上述表面分析技术相比,辉光放电光谱仪在深度剖析材料的表面和深度时具有不可替代的独特优势,它的分析速度快、操作简单、无需超高真空部件,并且维护成本低。  辉光放电光谱仪最初起源于钢铁行业,主要被用于镀锌钢板及钢铁表面钝化膜等的测定,但随着辉光放电光谱技术的逐步完善,仪器的性能也得以提升,可分析的材料越来越广泛。  其性能的提升表现在两方面:一方面随着深度分辨率的不断提升,辉光放电光谱技术已可以逐渐满足薄膜的测试需求。现在,辉光放电光谱仪的深度分辨率可达亚纳米级别,可测试的镀层厚度从几纳米到150微米,某些特殊材料可以达到200微米。  另一方面是辉光源的性能改善,以前辉光放电光谱仪主要用于钢铁行业的测试,测试的镀层样品几乎都是导体,DC直流的辉光源即可满足该类测试,但随着功能性镀层的不断发展,越来越多的非导体、半导体镀层出现,这使得射频辉光源的独特优势不断凸显。射频辉光源既可以测试导体也可以测试非导体样品,无需更换任何部件和测试方法,使用方便。如果需要测试热敏材料或是为抑制元素热扩散则需选用脉冲射频辉光源。脉冲模式下,功率不是持续性的作用到样品上,可以很好地抑制不期望的元素扩散或是造成热敏样品的损坏,确保测试结果的真实准确。  辉光放电光谱的工作原理  辉光放电腔室内充满低压氩气,当施加在放电两极的电压达到一定值,超过激发氩气所需的能量即可形成辉光放电,放电气体离解为正电荷离子和自由电子。在电场的作用下,正电荷离子加速轰击到(阴极)样品表面,产生阴极溅射。在放电区域内,溅射的元素原子与电子相互碰撞被激化而发光。辉光放电源的结构示意图,样品作为辉光放电源的阴极  整个过程是动态的,氩气离子持续轰击样品表面并溅射出样品粒子,样品粒子持续进入等离子体进行激化发光,不断有新的层在被溅射,从而获得镀层元素含量随时间的变化曲线。  辉光放电等离子体有双重作用,一是剥蚀样品表面颗粒 二是激发剥蚀下来的样品颗粒。在空间和时间上分离剥蚀和激发对于辉光放电操作非常重要。剥蚀发生在样品表面,激发发生在等离子体中,这样的设计可以很好地抑制基体效应。  氩气是辉光放电最常用的气体,价格也相对便宜。氩气可以激发除氟元素外所有的元素,如需测试氟元素或是氩元素时需采用氖气作为激发气体。有时也会使用混合气体,如Ar+He非常适合于分析玻璃,Ar+H2可提高硅元素的检出,Ar+O2会应用到某些特殊的领域。  光谱仪的主要功能是通过收集和分光检测来自等离子体的光以实现连续不断监控样品成分的变化。光谱仪的探测器必须能够快速响应,实时高动态的观测所有元素随深度的变化。辉光放电光谱仪中多色仪是仪器的重要组成部分,是实现高动态同步深度剖析的保障。而光栅是光谱仪的核心,光栅的好坏决定了光谱仪的性能,如光谱分辨率、灵敏度、光谱仪工作范围、杂散光抑制等。辉光放电是一种较弱的信号,光通量的大小对仪器的整体性能有至关重要的影响。  如何进行定量分析?  和其他光谱仪一样,通过辉光放电光谱仪做定量分析也需要建立标准曲线。不同的是,辉光放电光谱仪的标准曲线不仅是建立信号强度和元素浓度之间的关系,还会建立时间和镀层深度间的关系。  下图是涂镀在铁合金上的TiN/Ti2N复合镀层材料的元素深度剖析,直接测试所得的信号强度(V)vs时间(s)的数据经过标准曲线计算后可获得浓度vs深度的信息,可清晰的读取各深度元素的浓度。  想建立标准曲线就会涉及到标准样品,传统钢铁领域已经有非常成熟的方法及大量的标准样品可供选择。然而一些先进材料和新物质,很难找到标准样品做常规定量分析。HORIBA研发的辉光放电光谱仪针对这类样品开发了一种定量分析方法,称为Layer Mode,该方法可以使用一个与分析样品相类似的参比样品建立简单的标准曲线,实现对待测样品的半定量分析。  辉光放电光谱的主要应用  除了传统应用领域钢铁行业,辉光放电光谱仪现在主要应用于半导体、太阳能光伏、锂电池、硬盘等的镀层分析。下面就这些新型应用阐述一下辉光放电光谱仪的独特优势。  1. 半导体-LED芯片  如上图所示,LED芯片通常是生长在蓝宝石基底上的多镀层结构,其量子阱活性镀层非常薄(仅有几纳米),而且还包埋在GaN层下。这种结构也增加了分析的难度。典型的表面技术如SIMS和XPS可以非常好表征这个活性镀层,但是在分析过程中要想剥蚀掉上表面的GaN层到达活性镀层需要耗费几个小时,分析速度慢,时效性差。  辉光放电光谱仪的整个分析过程仅需几十秒即可获得LED芯片镀层中各元素随深度的分布曲线,可快速反馈工艺生产过程中遇到的问题。  2、太阳能光伏电池  太阳能电池中各成分的梯度以及界面对于光电转换效率来说至关重要,辉光放电光谱仪可以快速表征这些成分随深度的分布,并通过这些信息优化产品结构,提高效率。分析速度快、操作简单、非常适用于实验室或工厂大量分析样品。  3、锂电池  锂离子电池的正极材料是氧化钴锂,负极是碳。  锂离子电池的工作原理就是指其充放电原理。当对电池进行充电时,电池的正极上有锂离子生成,生成的锂离子经过电解液运动到负极。而作为负极的碳呈层状结构,它有很多微孔,到达负极的锂离子就嵌入到碳层的微孔中,嵌入的锂离子越多,充电容量越高。  同理,当对电池进行放电时(即我们使用电池的过程),嵌在负极碳层中的锂离子脱出,又运动回到正极。回到正极的锂离子越多,放电容量越高。我们通常所说的电池容量指的就是放电容量。  辉光放电光谱仪可以通过测试正负电极上各种元素随深度的分布来判定其质量及使用寿命等。  辉光放电光谱仪除独立表征样品外,还可以和其他分析手段相结合多方位全面的进行表征。如辉光放电光谱仪可以与XPS、SEM、TEM、拉曼和椭偏等技术共同分析。  总体来说,辉光放电光谱仪是一种非常方便快速的镀层分析手段。它的出现极大地解决了工艺生产中质量监控、条件优化等问题,此外还开拓了新的表征方向。  关于HORIBA 脉冲射频辉光放电光谱仪  HORIBA研发的脉冲射频辉光放电光谱仪是一款用于镀层材料研究、过程加工和控制的理想分析工具。脉冲射频辉光放电光谱仪可对薄/厚膜、导体或非导体提供超快速元素深度剖析,并且对所有的元素都有高的灵敏度。  脉冲射频辉光放电光谱仪结合了脉冲射频供电的辉光放电源和高灵敏度的发射光谱仪。前者具有很高的深度分辨率,可对样品分析区域进行一层层剥蚀 后者可实时监测所有感兴趣元素。  (本文由HORIBA 科学仪器事业部提供)
  • 亚飞米分辨率双电光梳绝对频率光谱测量
    光学频率梳(Optical frequency comb,简称“光梳”)由大范围、等间隔的梳齿分量构成,每根梳齿均对应绝对频率,如同在光频上的一把梳子(或标尺)。得益于飞秒激光器和非线性光学的发展,1999年美国标准局和德国马普所的研究团队分别在实验上实现了光梳,解决了绝对光频率计量问题,J. L. Hall和T. W. Hänsch因此贡献而分享了2005年诺贝尔物理学奖。光梳的诞生同样给光谱测量领域带来了革命性突破,分辨率提高到皮米量级,光梳光谱学的新技术和新应用也在不断涌现。双光梳光谱学可以充分利用光梳在频率准确度、频率分辨率、光谱范围和脉冲宽度等方面的优势,在诸多基于光梳的测量技术中脱颖而出。在频域上,双光梳光谱学表现为两个有微小重复频率差异光梳的多外差探测,可以将探测光梳记录的待测谱线,如分子吸收谱,从光频转移到射频。双光梳光谱学可以利用光谱交织技术进一步将分辨率提高至几十飞米量级。然而现有方案测量时间大幅增加,使用温度或驱动电流调节时无法提供绝对频率参考,且分辨率仍有进一步提高至光梳梳齿线宽的较大空间。电光调制光频梳(简称“电光梳”)由对连续种子光的电光调制产生,用于构建双光梳系统时其具有天然的互相干性,无需复杂的锁定电路或相位校正算法,可以大幅降低系统复杂度。此外,由于电光梳具有不受谐振腔腔长限制的重复频率以及可自由调节的中心波长,由其构建的更具应用前景的双电光梳系统受到研究人员的广泛关注。上海交通大学何祖源、樊昕昱教授团队提出了一种新型双电光梳光谱测量方案,将光谱测量分辨率进一步提高到亚飞米量级,相较于现有方案提高了两个数量级。该方案利用外调制的稳频光作为扫频电光梳的种子光,可以在实现低频率误差快速光谱交织的同时,提供绝对光频率参考。图1 亚飞米分辨率双电光梳绝对频率光谱测量技术原理示意图研究团队在分析各性能指标的理论限制和相互制约关系的基础上,将光谱测量技术关注的综合性能指标(光谱分辨率、测量带宽以及测量时间)提高至奈奎斯特极限,并且可以通过多次平均提高测量信噪比。该方案用于测量分子吸收谱线和高Q值光纤法布里珀罗腔谐振谱线的实验结果,充分展示了该方案灵活实现超高光谱分辨率、高信噪比和高刷新率的能力。图2 氰化氢(HCN)气体吸收谱线的光谱测量结果图3 光纤法布里珀罗谐振腔反射谱的光谱测量结果该研究成果将推动超精细光梳光谱学的进一步发展,并在温室气体监测、精密光器件测试、生物化学传感,以及诸如电磁诱导透明等物理现象观测中具有非常重要的应用价值。
  • 申贝发布光电光度法甲醛检测仪新品
    MP170甲醛检测仪是一款按照国家标准《GB/T 18204.2 公共卫生场所检验方法 第2部分:化学污染物》中7.4 光电光度法的标准要求设计的一款快速检测设备。甲醛快速检测仪采用试剂药片可以直接检测空气中甲醛的浓度,检测时间短、无需长时间暴露在现场环境中;设备自动识别不同量程范围试剂药片,操作方便,无需专业实验室人员即可对甲醛进行准确快速检测;Micro-USB充电方式,一次充电可以满足超过24小时的连续检测;MP170采用自动背光LCD显示屏,支持多国语言并清晰可见;MP170甲醛快速检测仪可选择蓝牙模块,将数据导出并实时编辑。工业级的外壳设计,保证了产品稳定性和一致性。MP170光电光度法甲醛检测仪应用在室内空气质量、职业卫生健康、建材、公共卫生、环境保护、应急检测、建筑工程竣工验收等领域。主要特点及性能优势试剂光电光度法检测,不受其它化合物的交叉干扰设备开机自检,操作简单方便,无需专业人员显示单位可以选择ppm或mg/m3内置采样泵,对未知环境可以采样检测选择可充电锂电池或碱性电池供电方式可以存储259,200组检测数据MP170规格及仪器指标检测气体 甲醛(HCHO) 检测原理 试剂光电光度法 检测范围 0-0.40ppm 0-1.00ppm 采样方式 泵吸式自动进样 测量时间 1800s( 30分钟)或900S(15分钟)电池运行时间可充电锂电池,支持连续运行超过24小时*,充电时间小于5小时4节五号碱性电池,支持连续运行超过12小时**(20℃典型工作时间) 充电接口 Micro USB 工作温度湿度 -10℃~40℃;0~95%RH(无冷凝) 尺寸 145mm x 75mm x 40mm 重量 260g泵流量 250cc/min 数据存储存储259,200组检测数据 数据下载及通讯USB连接线下载到电脑上直接对数据进行处理蓝牙无线通过申贝Senbe Suite到Android客户端 显示语言中/英+符号 操作模式检测和编程 按键 四个按键 警示方式95dB@30cm、LED闪烁以及色带 显示屏128X128点阵液晶,带自动背光 质保整机质保1年标准配置MP170主机20pcs 试剂药片碱性电池盒合格证快速操作指南(中/英文)选配:锂电池套装(充电适配器、USB线以及锂电池)蓝牙通讯模块创新点:1.国内首家采用光电光度法原理制造的手持式甲醛快速检测仪2.仪器具有独特的无线通讯技术,使检测人员远离污染源,仍然可以检测,并可以查看结果数据光电光度法甲醛检测仪
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