台阶仪标准

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台阶仪标准相关的仪器

  • 影像专用台阶规专门用来计量影像测量仪,测量仪属于高效率的、新型的精密测量仪器,被广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业,是计量室和生产车间不可缺少的科学计量和工业计量设备 影像专用台阶规规符合JJF 1318-2011影像测量仪校准规范附录A各项指标。是各计量所院建标必备产品。
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  • 台阶仪 400-801-8356
    德国布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以到5Å。台阶仪这项性能的到了过去四十年Dektak技术,更加巩固了其行业。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。 台阶仪DektakXT能实现: 1、 使用温度条件:10-30℃; 2、无可匹敌的性能,台阶高度重现性低于4埃 3、Single-arch设计提供扫描稳定性 4、的“智能电子器件”设立了新低噪音基准 5、新硬件配置使数据采集时间缩短 6、64-bit,Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度高了10倍 7、频率,操作简易 8、直观的Vision64用户界面,操作简易 9、针尖自动校准系统 10、布鲁克(Bruker)以实惠的配置实现高的性能 11、单传感器设计,提供单一平面上低作用和宽扫描范围 建立在40多年的探针轮廓技术的知识和经验薄膜测试仪,在基于微处理器的轮廓仪,和300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的。新的DektakXT是single-arch设计的探针轮廓仪,内置真彩高清光学摄像机,及安装64-bit并行处理架构已获得测量及操作效率的探针轮廓仪 当需要台阶高度、表面粗糙度、测量时,人们就会借助Dektak。引进DektakXT,Bruker能让您进一步获得表面测量数据采集和分析速度 直接驱动扫描平台,Dektak XT减少了扫描间的时间,而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描(就探针轮廓仪而言,通常是耗时的)的扫描速度。在行业的质量和重现性前提下,DektakXT可以将数据采集处理的速度。另外,DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64,它可以大范围3D形貌图的高数据量处理速度,并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内的直观用户界面,简化了实验操作设置,自动完成多扫描模式,让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。
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  • 产品 概要:KOSAKA ET200A是KOSAKA新推出的经济型台式两用机型:6寸台阶仪(支持升级到8寸载物台)和粗糙度轮廓仪。可根据用户需求任意组合,是一款带有专用控制器的高精度、高性能的表面粗糙度测量仪器。基本信息:极佳重复性与线性度采用直动式检测方式,可避免圆弧补正误差,可避免Bearing间隙误差;台阶测定重复性:1σ 0.2nm以内,但实际可达0.1nm;Z方向线性度为±0.25% (样品厚度 2000A) 5A (样品厚度≤2000A)直动式检出器构造直动式检出器测量边沿效应重复测量数据 (10 times)Taylor Hobson 标准样直动式检出器测量边沿效应VLSI SHS-9400QCVLSI SHS-440QC实时监控测量位置超高直线度国际认证数据位移光栅尺与时间取样形状及粗度解析粗度规范对应:可对应各种国际新旧标准规范,测量参数多达60种;可测量台阶及倾斜度。超大测定力范围测定力在10 ~ 500uN、1~50mgf可任意设定可测定软质材料面,如:COLOR FILTER、SPACER、PI等。触针保护盖板及方便更换技术优势:1、设备主体花岗岩,低热膨胀,低重心,自隔震2、独特的直动式传感器设计3、Z方向重复性1σ 0.2nm以内,但实际可达0.1nm4、Z方向线性度为±0.25% (样品厚度 2000A) 5A (样品厚度≤2000A)5、样品台的垂直直线度保证:局部0.005um/5mm、全量程0.2um/100mm6、高精度的X方向位移光栅尺控制,X方向测量长度大至100mm,Y方向可移动150mm7、自带三维测量功能应用方向:主要用于平板显示器、硅片、硬盘等的微细形状台阶/粗度测定,对多种零件表面的粗糙度,波纹度以及原始轮廓进行多参数评定,另外也可利用微小测定力来对应软质样品表面测定。
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台阶仪标准相关的方案

台阶仪标准相关的论坛

  • 【讨论】基准物出台阶峰

    使用岛津RID-10A检测器,进基准物出现台阶峰,换柱子问题也存在,看介绍说有可能是检测器问题或管路,请有经验者帮忙!谢谢。检测器买了一年了,头一次用。

  • GB/T 228方法A 采用应变应变位移曲线跳动台阶

    GB/T 228方法A 采用应变应变位移曲线跳动台阶,你们也是这样吗?我才刚刚开始学这个,问厂家说正常。我看了好多人的曲线都没有这种台阶,现在比较迷惑。看了228标准,我这种应该符合方法A ,这种台阶的确使得曲线不好看。但是抗拉强度还有RP0.2都与我用全程位移控制2mm /min 结果相差不大。所以实际中大家都采用哪种比较多。[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/04/202004281859507593_5016_4042175_3.png[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/04/202004281859507876_3479_4042175_3.png[/img]

台阶仪标准相关的耗材

  • 布鲁克台阶仪探针
    Bruker台阶仪探针布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针,是布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针。 品 名 台阶仪探针 2µ m 台阶仪探针 12.5µ m台阶仪探针 25µ m型 号838-031-5838-031-3838-031-4品 名台阶仪探针 10µ m台阶仪探针 100nm台阶仪探针 5µ m型 号838-031-6838-030-938-030-1品 名台阶仪探针 2.5µ m型 号838-031-2
  • VLSI标准样片
    VLSI标准样片公司致力于向全球半导体及相关产业提供量测标准样片和相关服务。VLSI目前提供的标准样片可以用来校准各种高精度量测仪器,并且可以溯源到NIST。 特点: ◆支持ISO或TS质量体系认证; ◆可以溯源到NIST; ◆更高的可靠性; ◆更小的不确定度。 应用: ◆颗粒标准样片:用于校准颗粒检测仪; ◆薄膜厚度标准样片:用于校准膜厚仪; ◆台阶高度标准样片:用于校准表面轮廓仪; ◆线宽标准样片:用于校准扫描电镜或原子力显微镜; ◆电阻标准样片:用于校准电阻量测仪; ◆太阳能参考电池片:用于校准光电转换效率量测仪。
  • AFM原子力显微镜计量校准片
    问题:当原子力显微镜做样品成像时,很难知道表面是否准确的表征?也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异,如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示,必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测,这两种方法都非常的浪费探针或耗时。 解决方案:BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上,也使之间的差异变得明显。因此,tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好,是否已经磨损或破损,从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外,该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层,沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状,尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较,扫描尺寸为1*1um,高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块?原子力显微镜已经成为一个有价值的工具,不仅用于可视化,而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量,原子力显微镜需要正确的校准。 HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应,能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。 校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm(HS-20MG)100nm(HS-100MG)和500nm(HS-500MG)每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。 在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准,这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围(40~100um以内),而且,校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何结构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG:~20nmHS-100MG:~100nmHS-500MG:~500nm注:每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准?为了使原子力显微镜更精准的测量,必须进行正确校准。因此,更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面,校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。 我们的解决方案:CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准,使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之,又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心,使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内,每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上,并将其用作装运的材料。横向尺寸:5*5mm几何机构:在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度:20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值

台阶仪标准相关的资料

台阶仪标准相关的资讯

  • 借标准台阶冲上龙头
    江苏高淳县在南京市并不算是一个有良好工业基础的县,县属企业总量也不多,但近年来却先后有5家企业成为相关国家标准的主起草单位,分别牵头制定了9项国家标准。   最近,高淳县南京固柏橡塑制品有限公司(以下简称固柏橡塑)厂房一片繁忙,在同行企业开始停产或减产的时候,该公司生产车间却每天24小时开足马力生产。   看到质监工作人员到来,该公司董事长张收才热情相迎。他对记者说了一句话:“以前质监局的人来了,我是不出来迎接的,现在哪怕是一个普通工作人员来,我也要出来跟他谈一谈。”其中的原因是在高淳县质监局的指引下,凭借走标准化之路,固柏橡塑这个原先论规模在全国只能算中上等的企业,迅速发展成为行业中的龙头企业,销售业绩蒸蒸日上。   说到走标准化道路,张收才用4个阶段来概括:“从无所谓,到正视,到投入精力,再到现在见到效果、尝到甜头。” 2005年,张收才想过做标准,但当时心里主要想的还是如何提高产量。直到2007年5月,高淳县质监局局长周骏贵的一番话,让他意识到走标准化道路对企业发展的重要性。随后在高淳县质监局的帮助和指导下,经过一年多的努力,固柏橡塑主持起草的“工业用橡胶板”国家标准,在2008年4月正式批准发布,并于当年10月1日正式实施。该公司当年的销售就实现100%,收入较2007年翻了一倍,达到6300万元,上缴国家税收近400万元。面对金融危机,该公司的外贸订单却比以前增长200%以上。“现在我们的业务经理出门跑业务,只要把我们制定的标准带过去就可以了。这对我们来说,危机就是机遇。”张收才的喜悦之情溢于言表。   目前,固柏橡塑已申请筹建“弹性铺装材料”国家专业委员会,目前进入公示阶段。2010年,该公司还要增加两条生产线,争取上缴税收1000万元。   自2007年初高淳县委、县政府把名牌战略作为高淳县经济发展的“三大引擎”之一以来,高淳县质监局引导企业采用国际标准、国外先进标准,帮助企业开展技术创新并参与制定国家标准。该局还利用服务中掌握的信息,搭建产品配套信息平台,向社会推荐高淳县质量过硬的名优产品。在当地质监局的大力推动下,除固柏橡塑外,红太阳、红宝丽、大地水刀、高淳陶瓷4家企业也分别牵头制定了3-甲基吡啶、吡啶、太阳能热水器用硬质聚氨酯泡沫塑料、一异丙醇胺、二异丙醇胺、超高压水切割机、蜂窝陶瓷、日用瓷器等国家标准,成为高淳的经济名片。   企业形象地比喻说:“做产品赚1分,做品牌赚1毛,做标准赚1块。”5家企业尝到了参与国家标准制定、赢得市场话语权的甜头,不少客户就冲着国家标准制定企业的名头而来,这些企业订单大增,同时也走出了价格竞争的怪圈。
  • 国产化台阶仪实现零的突破!
    台阶仪(Profiler),又名探针式表面轮廓仪,用于样品表面从微米到纳米尺度的轮廓测量,是微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学等领域不可缺少的关键测量设备。长期以来,此类仪器被美国Bruke、美国KLA、日本Kosaka三家厂商垄断,国内尚无厂商可提供同类产品。直到2022年6月,松山湖材料实验室精密仪器研发团队自研的台阶仪出货交付,实现了国产化台阶仪零的突破!自研的台阶仪2020年冬,实验室组织走访调研半导体行业相关企业,了解到企业进口台阶仪受到一定限制,不少企业明确提出对国产化台阶仪的需求。为了满足在当前国际竞争形势下的行业共性需求,避免关键设备被“卡脖子”的风险,精密仪器研发团队当即研讨立项,将国产化台阶仪开发提上日程。团队负责人许智指出,台阶仪的研发,需要“四个超”:超精细的运动控制,超精密位移传感,超低噪声信号采集,超高平整度零部件等关键技术。精密仪器研发团队在这些方面均有丰富的经验积累和扎实的技术储备,基于此前自主研发的系列化压电驱动纳米位移台产品和扫描探针显微镜制备技术,项目组快速完成方案设计,并开始功能样机、工程样机的迭代开发。回望研发过程,可谓“一波三折”,研发团队感慨道。由于疫情,人员封控,物流暂停,供应商供货延期,芯片价格又逐日飙升,研发进度受阻。面对接踵而至的难题,团队加班加点攻关抢进度,终于在今年6月研发成功。订单交付当天,团队所有人都有一种难以言表的满足感。研发人员工作到深夜,调试样机精密仪器研发团队台阶仪项目组至此,国产化台阶仪迈出了里程碑式的一步。科技创新的重要性不言而喻,用于科技创新的仪器设备同样重要,团队负责人许智谈到,关键测量仪器设备实现国产化,最关键之处就在于实现了自主可控。据了解,现已交付的台阶仪可满足企业实际使用的指标要求,且对比同类进口设备,成本降低了约30%。项目组研制了三种不同测试需求的型号,可供客户根据需要选择相应配置,并配套自研软件实时显示测量图表数据。目前,团队正在与十余家有相关需求的企业、科研院所洽谈合作中。精密仪器研发团队松山湖材料实验室精密仪器研发团队以自主知识产权的技术为核心,开展精密科研仪器和工业自动化设备的产业转化。桌面式扫描电子显微镜、大行程纳米位移台等产品为国内唯一量产。等离子体化学气相沉积系统、扫描隧道显微镜系统等产品达到国际一流、国内领先水平。团队产业化公司东莞市卓聚科技2020年落户松山湖国际创新创业社区,销售额当年破百万元,2021年销售额超千万元。在松山湖材料实验室的支持下,精密仪器研发团队以国家战略为导向,以市场需求为目标,力争成为有担当、有作为的尖端仪器产业化队伍。
  • 重磅!中图仪器集中发布扫描电镜、台阶仪、复合型光学3D表面轮廓仪等新品
    近期,深圳市中图仪器股份有限公司(以下简称“中图仪器”)在尺寸精密测量领域再次展现其创新实力,连续发布了一系列新产品,包括Nano Step系列台阶仪、VT-X100共聚焦测量头、SuperView WT3000复合型光学3D表面轮廓仪以及CEM3000系列台式扫描电镜。这一系列新品的推出,不仅丰富了中图仪器的产品线,更为广大用户提供了更加精准、高效的测量解决方案。台阶仪Nano Step系列台阶仪 是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。该新品采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率;同时,集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。Nano Step系列台阶仪具备极强的应用场景适应性,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。共聚焦测量头VT-X100共聚焦测量头是一款非接触式精密光学测头,基于光学共轭共焦和精密扫描研制而成,主要由光学共聚焦系统和Z向扫描系统组成,具有体积小、重量轻的特点,能够方便地搭载在各种具备XY水平位移架构的平台上,在产线上对器件表面进行测量,直接获取与表面质量相关的粗糙度、轮廓尺寸等2D/3D参数。复合型光学3D表面轮廓仪SuperView WT3000复合型光学3D表面轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它集成了白光干涉仪和共聚焦显微镜两种高精度3D测量仪器的性能特点于一身,能够对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。当测量超光滑和透明的表面形貌时,可使用白光干涉模式获得高精度无失真的图像并进行粗糙度等参数的分析;当测量有尖锐角度的粗糙表面特征时,可使用共聚焦显微镜模式实现大角度的3D形貌图像重构,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测。该新品可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国防军工、科研院所等领域中。无论是超光滑还是粗糙、低反射率还是高反射率的物体表面,该新品都能轻松应对,能够精确测量从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等关键参数,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。台式扫描电镜 CEM3000系列台式扫描电镜是一款用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析的紧凑型设备,可以进入手套箱、车厢还是潜水器等狭小空间内大显身手。该系列电镜搭载卓越的电子光学系统,拥有优于4nm的空间分辨率,保证了高放大倍数下的清晰成像,能够满足纳米尺度的形貌观测需求。其用户友好性同样出色,无论是通过直观的操作界面还是智能化的自动程序,都能让用户轻松上手,一键获取理想图像,极大简化了操作流程。CEM3000系列涵盖CEM3000A(大样品仓型)和CEM3000B(抗振型)两款强化机型。CEM3000A在不牺牲整机外观尺寸的情况下,极大拓展了样品仓尺寸,支持大尺寸样品或多个常规尺寸样品进行分析。CEM3000B则配备有高性能复合减振系统,不仅显著缩短了抽放气时间,还有效隔离了外界振动干扰,保证了高倍数成像时的图像质量。此外,该系列电镜允许用户根据需求加装各类探头和附件,极大地扩展了其应用领域,使其在材料科学、生命科学、纳米技术、能源等多个领域具备广泛应用潜力。2024年以来,中图仪器在几何量精密测量领域取得了显著进展,先后发布了多款新品,其中包括WD4000系列无图晶圆几何量测系统、Mizar Silver三坐标测量机,致力于为高端制造业提供全尺寸链精密测量仪器及设备。

台阶仪标准相关的试剂

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