均方旋转半径

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  • DR/DD型植物茎干半径/直径变化传感器
    在植物和环境的关系的研究中,一般环境指标,如气象因子、土壤等,可以每小时、每天高密度连续观测,但植物指标往往一年仅测定一个或数个,如生长量,产量,年轮宽度等等,其结果是一个因变量对数十个或数百个自变量,无法准确确定究竟哪个环境因素影响植物的生长。如果用茎干变化测量系统可以连续取得植物相关的数据,则可以大大提高植物和环境关系研究的可行性和准确性。优点:此仪器可定位精确观测植物茎干的变化, 数据可以直读, 也可用数采自动记录;专用配套小数采自带的电源可连续测量2年;优点:精度高, 廉价, 安装方便, 性能稳定, 测量时传感器不需要电源,几乎无需维护措施,特殊尺寸可以定制。技术参数:型号DD型DR型测量范围测直径变化,适于直径变化在0~20 cm 的植物,大于20 cm需特制;不伤害植物。测半径变化,适于直径8 cm 以上的植物,茎杆上要钻两个4 mm 的小孔。扩张范围11 mm,测量对象变化超过11mm后需要重新调节标准配置传感器,固定框架,2 m电缆。传感器,固定框架,2 m电缆。安装工具万用表,两个小扳手,电缆固定带。万用表,两个小扳手,电缆固定带,手摇钻或电钻(直径4mm), 树体伤保护胶。尺寸及重量27×24×1.5 cm,65 g14×15×1.5 cm,60 g读取数据需要读数表或数据采集器测量精度5mm (植物半径日变化0~300mm)温度系数0.1 mm/℃ (温度变化1℃, 变化小于0.1mm)适用环境温度-30~40°C, 湿度0~100%输出方式模拟输出 0~50 kΩ,不耗电。外壳材料表面强化铝,不锈钢电缆长度2 m,电缆可以延长到200 m 产地:德国
  • 多模光纤旋转接头跳线
    多模光纤旋转接头跳线特性铰接式旋转接头可以防止扭转时对光纤的损坏?200微米或400微米纤芯的多模光纤可选SMA905或FC/PC(2.0 mm窄键)接头可定制跳线转动极其平滑SM05螺纹(0.535"-40)旋转接头用于固定安装Thorlabs的多模(MM)光纤旋转接头跳线是任何需要旋转一个光纤接头的实验的整体式解决方案。内置的旋转接头允许连接在旋转节上的光缆自由转动,而保持其它光缆不动,从而降低实验中发生损伤的危险。相比将旋转接头和跳线分离的方案,无透镜设计使插入损耗更低,旋转透射变化更小。这种旋转接头经过精密加工,并带有密封轴承,可以进行极其平滑的转动,具有很长的使用寿命以及在转动时的低信号强度振动特性。该旋转接头具有SM05(0.535英寸-40)安装螺纹,可以兼容我们的?1/2英寸光学元件安装座。使用我们的C059TC夹具,通过卡入式安装这些跳线,可以快速安装连接器?0.59英寸的主体。这些跳线采用FT200EMT型?200 μm纤芯或FT400EMT型?400 μm纤芯、数值孔径0.39的光纤。有一种1米长光纤,它的旋转接头两侧有标准的FT020橙色套管,光纤端是一个FC/PC或SMA接头。每一根旋转接头跳线包括两个保护盖,用于防止灰尘和其它有害物质落入插芯端。额外的用于SMA接头的CAPM橡胶或CAPMM金属盖,以及用在FC/PC接头的CAPF塑料或CAPFM金属盖也可单独购买。相比未端接的光纤,这些跳线的zui大功率因连接而受到限制。光遗传学我们也供应用于光遗传学的旋转接头跳线。它们用在该领域是因为它们对运动样品提供便利。这些跳线不同之处是它们带低剖面金属头的更轻的黑色插芯,在旋转接头的样品一侧插入针头连接。它们为连接光源和移植的光针头提供完整方案,并且兼容Thorlabs所有光源和光遗传学设备。Thorlabs供应用于活体刺激的齐全的光遗传学设备,包括:用于光遗传学的可移植光纤针头、光纤跳线和旋转接头跳线以及LED和激光光源。旋转接头上的SM05外螺纹兼容我们的SM05螺纹元件安装座,比如这里的LMR05透镜安装座。旋转接头在两个光纤的金属套管紧邻处采用尾部耦合设计减少插入损耗定制旋转接头跳线旋转接头跳线的光纤引线为yong久性连接到旋转接头上,以保证更高的性能,并且提供整体式的光纤光学元件解决方案。为了和更广范围的实验装置,我们还提供定制具有不同纤芯和NA的光纤的旋转接头跳线。我们还可以制造不同接头或者不同长度光纤的跳线。为了能够达到zui佳性能,我们建议纤芯直径为200微米或更大的光纤。In-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMAFC/PCFC/PC to SMASquare-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMAHR-Coated FC/PCBeamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PCLightweight SMARotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMAUHV, High-Temp. SMAArmored SMASolarization-Resistant SMAFC/PCFC/PC to LC/PC规格SpecificationsItem #RJPS2RJPF2RJPS4RJPF4Connector TypeSMA(10230Aa)FC/PC(30230C1b)SMA(10440Aa)FC/PC(30440C1b)Fiber TypeFT200EMTFT400EMTFiber Core Size?200 μm?400 μmFiber NA0.39 ± 0.02Wavelength Range400 - 2200 nmLength1 m on Both Sides of Rotary JointFiber Jacket?2 mm, Orange (FT020)Rotary Joint SpecificationsInsertion Loss Through Rotary Joint63%)Variation in Insertion LossDuring Rotation±0.4 dB (Transmission ±8%)Start-Up TorqueRPM (Max)c10,000Lifetime Cycle200 - 400 Million RevolutionsOperating Temperaturea. 与用于?2 mm套管的190088CP消应力套管连接。b. 与用于?2 mm套管的190066CP消应力套管连接。c. 仅针对旋转接头部分中的轴承所测的数据。光纤规格Item #Fiber TypeNACore /CladdingCoreDiameterCladdingDiameterCoatingDiameterMax CoreOffsetBend Radius(Short Term / Long Term)RJPF2 and RJPS2FT200EMT0.39 ± 0.02Pure Silica /TECS Hard Cladding200 ± 5 μm225 ± 5 μm500 ± 30 μm5 μm9 mm / 18 mmRJPF4 and RJPS4FT400EMT400 ± 8 μm425 ± 10 μm730 ± 30 μm7 μm20 mm / 40 mm多模光纤教程在光纤中引导光光纤属于光波导,光波导是一种更为广泛的光学元件,可以利用全内反射(TIR)在固体或液体结构中限制并引导光。光纤通常可以在众多应用中使用;常见的例子包括通信、光谱学、照明和传感器。比较常见的玻璃(石英)纤维使用一种称之为阶跃折射率光纤的结构,如右图所示。这种光纤的纤芯由一种折射率比外面包层高的材料构成。在光纤中以临界角入射时,光会在纤芯/包层界面产生全反射,而不会折射到周围的介质中。为了达到TIR的条件,发射到光纤中入射光的角度必须小于某个角度,即接收角,θacc。根据斯涅耳定律可以计算出这个角:其中,ncore为纤芯的折射率,nclad为光纤包层的折射率,n为外部介质的折射率,θcrit为临界角,θacc为光纤的接收半角。数值孔径(NA)是一个无量纲量,由光纤制造商用来确定光纤的接收角,表示为:对于芯径(多模)较大的阶跃折射率光纤,使用这个等式可以直接计算出NA。NA也可以由实验确定,通过追踪远场光束分布并测量光束中心与光强为zui大光强5%的点之间的角度即可;但是,直接计算NA得出的值更为准确。光纤的全内反射光纤中的模式数量光在光纤中传播的每种可能路径即为光纤的导模。根据纤芯/包层区域的尺寸、折射率和波长,单光纤内可支持从一种到数千种模式。而其中zui常使用两种为单模(支持单导模)和多模(支持多种导模)。在多模光纤中,低阶模倾向于在空间上将光限制在纤芯内;而高阶模倾向于在空间上将光限制在纤芯/包层界面的附近。使用一些简单的计算就可以估算出光纤支持的模(单模或多模)的数量。归一化频率,也就是常说的V值,是一个无量纲的数,与自由空间频率成比例,但被归为光纤的引导属性。V值表示为:其中V为归一化频率(V值),a为纤芯半径,λ为自由空间波长。多模光纤的V值非常大;例如,芯径为?50 μm、数值孔径为0.39的多模光纤,在波长为1.5 μm时,V值为40.8。对于具有较大V值的多模光纤,可以使用下式近似计算其支持的模式数量:上面例子中,芯径为?50 μm、NA为0.39的多模光纤支持大约832种不同的导模,这些模可以同时穿过光纤。单模光纤V值必须小于截止频率2.405,这表示在这个时候,光只耦合到光纤的基模中。为了满足这个条件,单模光纤的纤芯尺寸和NA要远小于同波长下的多模光纤。例如SMF-28超单模光纤的标称NA为0.14,芯径为?8.2 μm,在波长为1550nm时,V值为2.404。衰减来源光纤损耗,也称之为衰减,是光纤的特性,可以通过量化来预测光纤装置内的总透射功率损耗。这些损耗来源一般与波长相关,因光纤的使用材料或光纤的弯曲等而有所差异。常见衰减来源的详情如下:吸收标准光纤中的光通过固体材料引导,因此,光在光纤中传播会因吸收而产生损耗。标准光纤使用熔融石英制造,经优化可在波长1300 nm-1550 nm的范围内传播。波长更长(2000nm)时,熔融石英内的多声子相互作用造成大量吸收。使用氟化锆、氟化铟等氟氧物玻璃制造中红外光纤,主要是因为它们处于这些波长范围时损耗较低。氟化锆、氟化铟的多声子边分别为~3.6 μm和~4.6 μm。光纤内的污染物也会造成吸收损耗。其中一种污染物就是困在玻璃纤维中的水分子,可以吸收波长在1300 nm和2.94 μm的光。由于通信信号和某些激光器也是在这个区域里工作,光纤中的任意水分子都会明显地衰减信号。玻璃纤维中离子的浓度通常由制造商控制,以便调节光纤的传播/衰减属性。例如,石英中本来就存在羟基(OH-),可以吸收近红外到红外光谱的光。因此,羟基浓度较低的光纤更适合在通信波长下传播。而羟基浓度较高的光纤在紫外波长范围时有助于传播,因此,更适合对荧光或UV-VIS光谱学等应用感兴趣的用户。散射对于大多数光纤应用来说,光散射也是损耗的来源,通常在光遇到介质的折射率发生变化时产生。这些变化可以是由杂质、微粒或气泡引起的外在变化;也可以是由玻璃密度的波动、成分或相位态引起的内在变化。散射与光的波长呈负相关关系,因此,在光谱中的紫外或蓝光区域等波长较短时,散射损耗会比较大。使用恰当的光纤清洁、操作和存储存步骤可以尽可能地减少光纤jian端的杂质,避免产生较大的散射损耗。弯曲损耗因光纤的外部和内部几何发生变化而产生的损耗称之为弯曲损耗。通常包含两大类:宏弯损耗和微弯损耗。宏弯损耗造成的衰减微弯损耗造成的衰减宏弯损耗一般与光纤的物理弯曲相关;例如,将其卷成圈。如右图所示,引导的光在空间上分布在光纤的纤芯和包层区域。以某半径弯曲光纤时,在弯曲外半径的光不能在不超过光速时维持相同的空间模分布。相反,由于辐射能量会损耗到周边环境中。弯曲半径较大时,与弯曲相关的损耗会比较小;但弯曲半径小于光纤的推荐弯曲半径时,弯曲损耗会非常大。光纤可以在弯曲半径较小时进行短时间工作;但如果要长期储存,弯曲半径应该大于推荐值。使用恰当的储存条件(温度和弯曲半径)可以降低对光纤造成yong久性损伤的几率;FSR1光纤缠绕盘设计用来zui大程度地减少高弯曲损耗。微弯损耗由光纤的内部几何,尤其是纤芯和包层发生变化而产生。光纤结构中的这些随机变化(即凸起)会破坏全内反射所需的条件,使得传播的光耦合到非传播模中,造成泄露(详情请看右图)。与由弯曲半径控制的宏弯损耗不同,微弯损耗是由制造光纤时在光纤内造成的yong久性缺陷而产生。包层模虽然多模光纤中的大多数光通过纤芯内的TIR引导,但是由于TIR发生在包层与涂覆层/保护层的界面,在纤芯和包层内引导光的高阶模也可能存在。这样就产生了我们所熟知的包层模。这样的例子可在右边的光束分布测量中看到,其中体现了包层模包层中的光强比纤芯中要高。这些模可以不传播(即它们不满足TIR的条件),也可以在一段很长的光纤中传播。由于包层模一般为高阶模,在光纤弯曲和出现微弯缺陷时,它们就是损耗的来源。通过接头连接两个光纤时包层模会消失,因为它们不能在光纤之间轻松耦合。由于包层模对光束空间轮廓的影响,有些应用(比如发射到自由空间中)中可能不需要包层模。光纤较长时,这些模会自然衰减。对于长度小于10 m的光纤,消除包层模的一种办法就是将光纤缠绕在半径合适的芯轴上,这样能保留需要的传播模式。在FT200EMT多模光纤与M565F1 LED的光束轮廓中,展现了包层而不是纤芯引导的光。入纤方式多模光纤未充满条件对于在NA较大时接收光的多模光纤来说,光耦合到光纤的的条件(光源类型、光束直径、NA)对性能有着极大影响。在耦合界面,光的光束直径和NA小于光纤的芯径和NA时,就出现了未充满的入纤条件。这种情况的常见例子就是将激光光源发射到较大的多模光纤。从下面的图和光束轮廓测量可以看出,未充满时会使光在空间上集中到光纤的中心,优先充满低阶模,而非高阶模。因此,它们对宏弯损耗不太敏感,也没有包层模。这种条件下,所测的插入损耗也会小于典型值,光纤纤芯处有着较高的功率密度。展示未充满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤过满条件在耦合界面,光束直径和NA大于光纤的芯径和NA时就出现了过满的情况。实现这种条件的一个方法就是将LED光源的光发射到较小的多模光纤中。过满时会将整个纤芯和部分包层裸露在光中,均匀充满低阶模和高阶模(请看下图),增加耦合到光纤包层模的可能性。高阶模比例的增加意味着过满光纤对弯曲损耗会更为敏感。在这种条件下,所测的插入损耗会大于典型值,与未充满光纤条件相比,会产生较高的总输出功率。展示过满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤未充满或过满条件各有优劣,这取决于特定应用的要求。如需测量多模光纤的基准性能,Thorlabs建议使用光束直径为光纤芯径70-80%的入纤条件。过满条件在短距离时输出功率更大;而长距离(10 - 20 m)时,对衰减较为敏感的高阶模会消失。损伤阀值激光诱导的光纤损伤Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时,光会入射到这个界面。如果光的强度很高,就会降低功率的适用性,并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言,高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化,进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件,紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同,与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小,耦合单模(SM)光纤时尤其如此,因此,对于给定的功率密度,入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值:一种理论损伤阈值,一种"实际安全水平"。一般而言,理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下,可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的,但用户必须遵守恰当的适用性说明,并在使用前在低功率下验证性能。多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果,Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大,降低了光纤端面的功率密度,因此,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤,适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前,必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性,因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下,入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时,没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层,再进入插芯中,而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强,就可以熔化环氧树脂,使其气化,并在接头表面留下残渣。这样,光纤端面就出现了局部吸收点,造成耦合效率降低,散射增加,进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长,出于以下几个原因。一般而言,短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小,且产生更多的散射光,则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险,可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如,光纤跳线),而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如,右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下,两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线),而在1550nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤,有效模场由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的有效模场。因此,其光纤端面上的功率密度更低,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变,这样,多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意,曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是,光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过,这样的应用一般需要专业用户,并在使用之前以较低的功率进行测试,尽量降低损伤风险。但即使如此,如果在较高的功率水平下使用,则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外,光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件,因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品,用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤,损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源,以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前,一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的,没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外,如果是裸纤,使用前应该剪切,用户应该检查光纤末端,确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统,用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好,然后在高功率下使用。熔接质量差,会增加光在熔接界面的散射,从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时,用户应该使用低功率;这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头,有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言,光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作,但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面),光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性,然后再提高输入或输出功率,遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议,有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中,在取得zui佳耦合前,光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时,会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中,可以增大适用的功率,因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备,并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射,或在熔接界面局部形成高热区域,从而损伤光纤。连接光纤或组件之后,应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率,同时周期性地验证所有组件对准良好,耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时,大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出,从而在局部形成产生高热量,进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤,以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如,大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用,因为前者可以提供更佳的光束质量,更大的MFD,且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用,因为这些应用与高空间功率密度相关。旋转接头跳线,?200微米光纤Item #FiberCoreDiameterCladdingDiameterNABend Radius(Short Term/Long Term)WavelengthRangeAttenuationPlotConnectorsJacketRJPS2FT200EMT200 ± 5 μm225 ± 5 μm0.399 mm / 18 mm400 - 2200 nm(Low OH)SMA905 (10230Aa)FT020(?2 mm)RJPF2FC/PC (30230C1b)a. 与用于?2 mm套管的190088CP消应力套管连接。b. 与用于?2 mm套管的190066CP消应力套管连接。产品型号公英制通用RJPS2SMA到SMA,?200微米,0.39数值孔径旋转跳线,长2米RJPF2FC/PC到FC/PC,?200微米,0.39数值孔径旋转跳线,长2米旋转接头跳线,?400微米光纤Item #FiberCoreDiameterCladdingDiameterNABend Radius(Short Term/Long Term)WavelengthRangeAttenuationPlotConnectorsJacketRJPS4FT400EMT400 ± 8 μm425 ± 10 μm0.3920 mm / 40 mm400 - 2200 nm(Low OH)SMA905 (10440Aa)FT020(?2 mm)RJPF4FC/PC (30440C1b)与用于?2 mm套管的190088CP消应力套管连接。与用于?2 mm套管的190066CP消应力套管连接。产品型号公英制通用RJPS4SMA到SMA,?400微米,0.39数值孔径旋转跳线,长2米RJPF4FC/PC到FC/PC,?400微米,0.39数值孔径旋转跳线,长2米
  • 上海楚柏防溅球(校)(旋转蒸发仪用)
    上海楚柏为您提供各种规格的防溅球(校)(旋转蒸发仪用),产品列表如下:(详细的价格请联系我们的玻璃器皿销售经理)。编号 名称   规格型号      单位V02030901 防溅球(校)(旋转蒸发仪用) 100ml 上口29#/下塞14#   支V02030902 防溅球(校)(旋转蒸发仪用) 100ml 上口29#/下塞19#    支V02030903 防溅球(校)(旋转蒸发仪用) 100ml 上口29#/下塞24#    支V02030904 防溅球(校)(旋转蒸发仪用) 100ml 上口29#/下塞29# 支V02030905 防溅球(校)(旋转蒸发仪用)250ml 上口29#/下塞14# 支V02030906 防溅球(校)(旋转蒸发仪用) 250ml 上口29#/下塞24# 支V02030907 防溅球(校)(旋转蒸发仪用) 100ml 上口24#/下塞24#  支 Truelab提供的化学玻璃仪器采用优质玻璃原料,由专业技师加工而成。烧器类采用硬质95料或GG-17高硅硼玻璃,抗化学腐蚀防离子污染,耐骤冷骤热性好。量器类刻刻度精密、透明度高。Truelab提供的玻璃仪器种类多,规格全,欢迎新老客户选购。上海地区自车送货上门。上海楚柏实验室设备有限公司为您提供实验室整体解决方案(实验室设计、实验室家具、仪器、耗材、试剂等&hellip &hellip )

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  • 仪器简介:采用TurboCorr数字相关器,通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况,通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。经国内外众多顶级实验室使用,证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系最理想的测试仪器。技术参数:1.粒度范围:1nm-6um2.分子量范围:500~109Dalton3.分子大小范围:10~1000nm4.角度范围:8-162° ,± 0.01° 5.温控范围:-20 ~ 80℃(选件-20 ~ 150℃),± 0.1℃6.滤光片轮:632.8nm, 532nm, 514.5nm,488nm7.孔径轮:100 um,200 um,400um,1 mm,2 mm,3mm主要功能:1.动态光散射(DLS)功能 动态光散射又被称为光子相关谱法(PCS)或者准弹性光散射法,该方法使用自相关方程,自相关方程中包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散系数的平均值及其分布等信息。从扩散系数的分布中可以得到:1)粒度大小及其分布2) 其它动力学参数2.静态光散射(SLS)功能: 对于悬浮于液体中的颗粒,利用Mie散射形成光强与角度的函数关系,从而得到颗粒粒度大小与形状的信息。 对于高分子溶液,光强与角度、浓度形成的依赖关系(即浓度依赖性与角度依赖性),利用Zimm图(或其他类似的方法)可以得到以下参数:1)Mw绝对重均分子量2)Rg均方根回旋半径或均方末端矩3)A2第二维里系数主要应用:高分子特性研究(以动静态、静态光散射原理为基础)一、囊泡及脂质体 微胶囊技术在现代科技与日常生活中有重要作用,如药物、染料、纳米微粒和活细胞等都可以被包埋形成多种不同功能的微胶囊。利用动静态光散射表征技术,可以对微胶囊的几何形状、粒径大小和分子量大小进行表征,进而人为对微胶囊的囊壁组成和结构进行精确的控制与调控,从而调控微胶囊的各种性能。二、胶束的研究 胶束的大小、结构、温敏性、pH值敏感度等决定着胶束的性能及应用前景。而胶束体系DLS测量时具有明显的角度和浓度依赖性,将不同角度和不同浓度的DLS数据外推才能得到准确的扩散系数D0。三、聚电解质共聚物的研究 聚电解质具有高分子溶液的特性,例如粘度、渗透压和光散射等。由于它带有电荷,并且这三方面的性质又不同于一般的高分子。在光散射测量方面,通常把聚电解质溶解在一定浓度的盐溶液中,再在不同角度下测量样品光强,从来评价样品是否已被屏蔽掉库伦力影响。四、体系聚集与生长 由于体系的变化可以通过粒度、光强、扩散系数、相关曲线等的变化加以表征,所以通常我们可以用光散射的方法来表征,从而得到体系的聚集、解离以及生长等信息。如在蛋白质晶体生长过程中,连续采集其光散射信号,通过对其光强、粒度、扩散系数及相关曲线等变化数据进行对比与分析,了解蛋白质晶体生长的情况及其性能变化的情况。如外加温控设备可以进一步研究体系的相变温度等溶液行为。五、超高分子量聚合物的表征 超高分子量聚合物(如PAM、烯烃等)因其具有极高的粘度性,采用传统的测量方法(如GPC与光散射联用技术,粘度法等)难以保证准确性,而采用特殊匹配液池设计的广角光散射仪完全避免了管路堵塞、杂散光影响等问题,成为此类样品测量最适合的仪器。六、自组装影响组装体系稳定性的因素有:分子识别、组分、溶剂、温度及热力学平衡状况。而通过测定组装体系的扩散系数、粒径、分子量、均方根回旋半径,第二维利系数等变化,可以方便地表征自组装体系的这些性能。七、DLS和SLS技术还可以用来进行以下表征:1)微乳液2)液晶3)本体聚合物及晶体转变4)复杂聚合物与胶体体系蛋5)白质和DNA
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  • 产品概述: Fluke 375 FC 真均方根交流/直流钳形表Fluke 375 FC 是 Fluke Connect 无线测试工具产品系列的组成部分。 现在您可以:记录测量值并了解其变化趋势,准确查明间歇性故障通过 Fluke Connect Measurements 应用程序无线传输结果在现场创建并发出报告通过蓝牙连接到 Apple 和 Android 设备,远离弧闪区域,确保安全Fluke 375 FC 直接替代 Fluke 375 钳形表。产品规格: Fluke 375 FC 真均方根交流/直流钳形表通用技术规格通过夹钳的交流电流量程600.0 A分辨率0.1 A精确度2% ± 5 位(10 Hz 至 100 Hz)2.5% ±5 位 (100-500 Hz)波峰因数 (50 Hz/60 Hz)3(500 A 时)2.5(600 A 时)C.F. 2 时增加 2%通过柔性电流探头的交流电流量程2500 A分辨率0.1 A (≤ 600 A)1 A (≤ 2500 A)精确度3% ±5 位 (5 – 500 Hz)波峰因数 (50/60Hz)3.0(1100 A 时)2.5(1400 A 时)1.42(2500 A 时)C.F. 2 时增加 2%位置灵敏度i2500-10 Flexi2500-18 FlexA最佳距离0.5 in (12.7 mm)1.4 in (35.6 mm)误差±0.5 %±0.5 %B最佳距离0.8 in (20.3 mm)2.0 in (50.8 mm)误差±1.0 %±1.0 %C最佳距离1.4 in (35.6 mm)2.5 in (63.5 mm)误差±2.0 %±2.0 %测量不确定度假定中间的主要导线处于最佳位置、无外部电场或磁场且处于工作温度范围内。直流电流量程600.0 A分辨率0.1 A精确度2% ± 5 位交流电压量程1000 V分辨率0.1 V (≤600.0 V)1 V (≤1000 V)精确度1.5% ± 5 位(20 Hz 至 500 Hz)直流电压量程1000 V分辨率0.1 V (≤600.0 V)1 V (≤1000 V)精确度1% ± 5 位毫伏直流量程500.0 mV分辨率0.1 mV精确度1% ± 5 位频率(通过夹钳)量程5.0 Hz 至 500.0 Hz分辨率0.1 Hz精确度0.5% ± 5 位触发电平5 Hz 至 10 Hz,≥10 A10 Hz 至 100 Hz,≥5 A频率(通过柔性电流探头)量程5.0 Hz 至 500.0 Hz分辨率0.1 Hz精确度0.5% ± 5 位触发电平5 Hz 至 20 Hz,≥25 A20 Hz 至 100 Hz,≥20 A100 Hz 至 500 Hz,≥25 A电阻量程60 kΩ分辨率0.1 Ω (≤600 Ω)1 Ω (≤6000 Ω)10 Ω (≤60 kΩ)精确度1% ± 5 位电容量程1000 μF分辨率0.1 μF (≤ 100 μF)1 μ F (≤ 1000 μF)精确度1% ± 4 位机械规格任何端子和接地之间的最高电压1000 V电池2 AA,NEDA 15A,IEC LR6工作温度-10 °C 至 +50 °C存放温度-40 °C 至 +60 °C工作湿度 -非冷凝 ( 10 °C)≤90% RH(10 °C 至 30 °C)≤75% RH(30 °C 至 40 °C)工作海拔3000 m存放海拔12000 m尺寸(长 x 宽 x 高)249 x 85 x 45 mm重量395 g钳口开度34 mm柔性电流探头直径7.5 mm柔性电流探头电缆长度(端部到电线接头)1.8 m安全性IEC 61010-1,污染等级 2IEC 61010-2-032:CAT III 1000 V / CAT IV 600 VIP 防护等级IEC 60529:IP30,无操作无线电频率认证 FCC IDT68-FBLE IC:6627A-FBLE电磁兼容性 (EMC)国际标准IEC 61326-1:便携式,电磁环境,IEC 61326-2-2CISPR 11:第 1 组,A 类第 1 组:设备有意产生和/或使用导通耦合射频能量,这是设备自身内部运行的必要条件。A 类:仪器适用于非家庭使用以及未直接连接到为住宅建筑物供电的低电压网络的任意设备中。由于传导干扰和辐射干扰,在其他环境中可能难以保证电磁兼容性。此设备连接至测试对象后,产生的辐射可能会超过 CISPR 11 规定的水平。韩国 (KCC)A 类设备(工业广播和通讯设备)A 类:本产品符合工业电磁波设备的要求,销售商或用户应注意这一点。本设备旨在用于商业环境中,而非家庭环境。美国 (FCC)47 CFR 15 B 子部分。按照第 15.103 条规定,本产品为免检设备。温度系数高于 28 °C 或低于 18 °C 时,每摄氏度增加指定准确度的 0.1 倍
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  • 一、主要技术参数及配置:1、设备用途:用于测量轮椅车旋转一周最小圆柱半径检测2、参考标准 满足GB/T 13800-2009、GB/T 12996-2012、GB/T18029.5等标准中的相关部分试验条款3.1、承载 ≥1000KG3.2、平台尺寸 长:1.5m;宽:2m。3.3、平台材质 钢化玻璃或不锈钢板3.4、测试工装 测试工装1套3.5、升降机构 手动或电动3.6、测量尺 1500mm4、主要配置 最小回旋半径测试台 1台说明书、合格证 、保修卡各 1份
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  • 【求助】哪家可测高聚物的均方旋转半径和第二维里系数

    [font=黑体]我们想测魔芋的水溶液的均方旋转半径和第二维里系数,用多角度激光光散射和高效液相联用的方法,不知道哪里可以测,离四川近的更好,不知道多少钱一针?我们提供样品粉体。急用 非常感谢 我的邮箱是lvdizhiwu@163.com[/font]

  • AF2000分析黄原胶(Xanthan Gum)的测试报告

    大家好!有段时间没有发表新帖了,近日,外商给了我们一份测试报告,删去了客户单位,只有内容,是用非对称流动场AF2000分析黄原胶样品和其它几个类似样品的,我贴出来,供大家参考。从测试结果看,黄原胶不仅分子量很大——大约10几亿Dalton,而且体积也非常大,简直奇大无比,我都是第一次见到这么大尺寸的、溶解型的样品——其均方旋转半径(Rg)竟达1000多纳米!这么大尺寸的样品,不要说GPC了,就连我们的竞争对手的场流分离仪,都做不了啊。参看附件。

  • NIR近红外定量指标校正或者预测误差均方根RMSEC的意义及影响因素

    在近红外(NIR)进行定量时的指标有相关系数R和校正误差均方根RMSEC及预测误差均方根RMSEP的意义是什么呢?应该还有个RMSECV交叉验证误差均方根。他们的影响因素是什么呢?意义:我的理解是计算值和实际值(或参考值)的偏差大小,那它的影响因素都有什么呢?在建模时,有时相关系数已经达到0.9以上了,但是RMSEC还很大,有0.3多,通过什么手段能降低呢?

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  • 均方理化:红外气体分析领域的“佼佼者”
    “100家国产仪器厂商”专题:访北京均方理化科技研究所  为推动中国国产仪器的发展,了解中国国产仪器厂商的实际情况,促进自主创新,向广大用户介绍一批有特点的优秀国产仪器生产厂商,仪器信息网自2009年1月1日开始,启动“百家国产仪器厂商访问计划”。日前,仪器信息网工作人员走访参观了北京均方理化科技研究所(以下简称“均方理化”),均方理化副总经理张利军先生热情接待了仪器信息网到访人员。  北京均方理化科技研究所正式成立于1998年,以原国有企业北京分析仪器厂红外气体班为班底组建而成,是集气体分析仪器设计、生产、销售、维修服务、技术咨询于一体的股份制高科技企业。参观交流  现有3大类15个品牌 占据90%可燃气体报警器市场  张利军先生介绍到:“均方理化现拥有3条独立的加工调试生产线,已形成3大类15个品牌,主要包括在线式红外线气体分析器、便携式气体分析仪和成套气体监测仪等,并已被广泛应用到工业、农业、军事、医学、环保等领域。在红外线气体分析方面,均方理化有全面的先进技术与完整的解决方案,其中包括半导体红外检测、薄膜微音器检测、微流量检测、相关红外检测等。”GXH-1050E智能在线红外线气体分析仪  (GXH-1050、GXH-1050E型、JF-3000分析系统多用于石油化工、烟气测量、实验室的各种过程气体测量,目前销售约200套)  “国内许多水泥生产厂和化肥厂都选用均方理化生产的GXH-1050型红外线分析器作为其产品生产工艺流程中的监控设备 另外,在可燃气体报警器检测行业,均方理化已经具有国内最先进,最精准的检定设备及方法,并占据全国90%的市场份额。在石油、化工、烟气分析领域中同样发挥着强有力的作用。”GXH-1050D型防爆气体分析仪  (GXH-1050D型防爆气体分析仪主要针对各种防爆场合的气体测量,目前已销售约50套)  “军工产品业务已占均方理化全部业务的30%”  张利军先生继续谈到:“从2002年起,均方理化承接了多项与中国军队合作的气体检测项目,目前,军工产品业务已占均方理化全部业务的30%。”  “2002-2009年,开发了潜艇及舰艇适用的一氧化碳分析装备,现已有多达上百套安装到海军的潜艇及舰艇中,保证艇员在执行任务时的人身安全 2009-2010年,合作研发潜艇在线分析装备,可精确分析潜艇内各种气体的成分和浓度 2010年,研发储备油分析设备——红外汽油挥发检测仪,用于分析坑道内油气的挥发成分,保证油品的储备安全。目前该产品已成型,正处于测试验收阶段,预计该产品将有很大的市场份额。”一氧化碳分析装备(用于分析潜艇内CO的浓度,目前已安装约200套)  “未来气体分析市场,国产仪器应当占据主流位置”  关于气体分析仪、红外线气体分析仪的技术与市场,张利军先生说到:“气体分析技术普遍是传统的半导体红外检测、薄膜微音器检测、微流量检测、相关红外检测等技术。随着我国经济的发展与技术进步,气体分析技术相比较以往有了质的飞跃,被国内及亚非等国家和地区所接受。近几年,随着人们对环境保护、气体测量、生产工艺等的日益重视,气体分析行业得到很大发展,同时也催生了许多分析仪器行业及厂家。目前,国际、国内的红外线分析仪器在不同的领域各占‘半壁江山’。但由于国外的分析仪器供货周期长、维护困难、价格昂贵等原因,因此,我认为在未来的分析市场,国产的分析仪器应当占据主流位置。”便携式GXH-3051型气体分析仪(广泛应用于有卫生防疫、环保、环境监测等领域,目前已销售约220套)  每年计划推出15个新品 重点开拓亚洲市场  张利军先生表示:“均方理化拥有一支专业的研发队伍,其中高级工程师19名,中级技术人员20名,约占总人数的60%,具有雄厚的技术力量。我们每年的研发投入占年支出的60%以上,每年计划推出新产品个数在15个左右,其中,全新产品达8个,产品更新速度很快。”  “2010年,均方理化已陆续推出了3款新型产品,包括增强型防爆气体分析仪、便携式多组分红外气体分析仪、触摸屏智能化气体分析仪,在很大程度上完善了分析系统的远程传输、蓝牙传输、CAN口传输等多项系统外围性能,将为广大客户带来更先进的分析解决方案。”JF-3000成套设备  “我们的目标是争做气体分析领域的‘佼佼者’。大力研发新技术,提高产品质量,增加企业知名度,稳定并进一步努力扩大在石油、化工、军工、环境、烟气等各个领域的市场份额,还要加强开拓整个亚洲国家和地区的市场。”  附录:北京均方理化科技研究所  http://www.junfang.com.cn/  http://junfang.instrument.com.cn
  • 北京均方理化科技研究所交付海军一批产品
    日前,北京均方理化科技研究所交付给海军一批产品,该产品用来检测潜艇内CO浓度值,可以有效地监控潜艇舱内CO浓度的变化,从而保证了官兵的生命安全。该产品在实验以及试用时都得到了有关人员的一致认可。
  • 质子半径精确到0.833飞米
    p  据物理学家组织网近日报道,英国研究人员精确测量出了质子半径:0.833飞米,向解决过去10年来一直困扰物理学家的质子半径之谜迈出了关键一步。解决这一谜团对理解物理定律意义重大,比如描述光和物质如何相互作用的量子电动力学理论。/pp  科学家们原以为他们知道质子的大小,但2010年,一个物理学家团队测量到质子半径比预期小4%,这让他们困惑不已。至此,研究人员就一直在努力解决这两个质子半径值不一样的难题,这也是当今基础物理学界一个重要的未解之谜。/pp  此前测量质子半径使用普通的氢,2010年科学家首次使用μ介子氢来确定质子大小。当时,他们研究了一种奇特的原子——其中电子被一个μ介子(电子较重的“表亲”)取代。2017年,科学家使用氢气测得的结果与2010年测得的结果一致 而2018年一项同样使用氢气的实验获得的结果则与2010年前的数值相当。/pp  在最新研究中,约克大学科学学院的研究人员提出了一种基于电子的新测量方法,来测量质子的正电荷延伸了多远。他们利用自己开发的频偏分离振荡场(FOSOF)技术进行了高精度测量。他们在测量中使用了一束快速氢原子束(由质子通过分子氢气靶产生),新方法使他们能够对质子半径进行基于μ介子的测量,与2010年的测量结果相当。/pp  本次测量得到的质子半径为0.833飞米,不到万亿分之一毫米,比2010年前普遍认为的半径值约小5%。研究负责人、物理与天文学系的埃里克· 海瑟尔斯教授说:“确定质子大小所需的精确度,让本次测量成为我们实验室尝试过的最困难的一次。经过8年研究,我们终于做到了。”/p
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