全反射光谱仪

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全反射光谱仪相关的厂商

  • Specac 银牌8年
    400-860-5168转3766
    Specac 从1971开始生产销售,现今已经有45年的历史了。Specac总部坐落于英国Kent郡奥平顿，面积达25,000平方英尺Specac是世界上最领先的红外紫外以及XRF等样品制备配件的生产厂家，拥有先进的生产制造经验。我们为全世界各个知名的红外分析仪厂家提供配件和技术支持和服务。产品应用于世界各大领域。产品涵盖了从固体，液体到气体，粉末等所有红外分析样品的专业配件和组件。欧洲品质，经久耐用。Specac 是红外光谱组件及压片技术解决方案的专家，我们在红外样品解决方面 ，特别是在傅里叶变换红外光谱组件，衰减全反射ATR组件以及压片技术方面处于世界领先的位置。 我们致力于为红外光谱（IR）,近红外光谱（NIR）, X射线荧光光谱（XRF）,紫外/可见光谱（UV/VIS）等光谱设备提供样品制备技术和大量不同类型的红外组件。 产品包括衰减全反射（ATR）组件，反射模式组件，透射模式组件，漫反射组件，气体池组件，高温高压条件组件，全息偏振片等组件。 在光谱样品制备方面我们提供KBr和XRF压片机/压片模具和薄膜制备套装。 Specac同时提供大量在线光谱分析应用组件，包括不同类型的流通分析池和探针。这些设备广泛适用于液体和气体/蒸汽样品的紫外可见光谱和近红外光谱分析。 Specac 公司最新开发的Pearl 系列快速液体测定附件获得了巨大的成功，得到了客户的一致好评，将简单，快速，准确，易清洁的测试理念带到红外分析领域。 Specac 公司也是最早上市并成功应用衰减全反射ATR配件的厂家，我们新型的Quest ATR 附件是一款Specac最新设计的单反射ATR附件，适合于实验室红外光谱仪的中红外、远红外波段的固体，粉末，液体样品的直接分析。Specac已通过 ISO9001, ISO14001, FM and ATEX 认证Specac的目标是向广大客户提供价格优惠、技术领先，使用便捷的制样方案。我们致力于创新、质量与优异的售后服务。创新 – 汇聚工程师以及化学家的优秀才能，为客户提供最好的解决方案质量– 欧洲品质，工艺先进，经久耐用客户服务– 为客户提供卓越服务
    主营产品： 红外光谱仪   压片机   研磨机   偏振仪  
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  • 深圳市洲能纳米科技有限公司
    深圳市洲能纳米科技有限公司系帝纳达集团旗下子公司。是国内首家与高等研究院合作专注研发高分子漫反射纳米反光涂料的企业。公司重视人才培养，吸纳了一批高学历团队，并为其提供良好的平台，施展各自才华。同时，公司引进国外先进的纳米技术，为众多照明企业及积分球（碗光源）企业提供有效的光学高漫反射解决方案，取得了辉煌的成绩。 洲能纳米新型材料全反射率高达97%以上，漫反射率达95%，为行业最高标准。并通过TUV及SGS公司第三方严格检测，符合Rohs、安全防火第6部和第7部、耐高温400度UV老化及高反射率标准。
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  • 光谱时代（北京）科技有限公司 银牌5年
    400-860-5168转4674
    光谱时代（北京）科技有限公司作为专业的光谱解决方案提供商，秉承用专业创造价值的服务理念，致力于将光谱应用技术服务于科学研究、工业检测以及改善生活品质等各个领域。光谱时代还是世界各大知名光谱仪品牌及相关领域软硬件产品品牌的官方签约代理平台如Zemax，Vifocus，LightMachinery，GraceLaser 等。光谱时代一直在光学设备及技术引进等领域不遗余力，自成立以来，已为国内各大知名高校、科研机构以及国内知名企业提供成功的光谱解决方案，并与国内众多高校及科研单位建立良好的产学研合作关系。光谱时代（北京）科技有限公司拥有多名在光谱、激光、图像等领域具备丰富经验的高级工程师和市场销售人员。在代理国际知名品牌如Zemax，Vifocus，LightMachinery的同时，光谱时代一直致力产品解决方案的集中提供与技术应用产品的自主研发。自主研发的产品已经覆盖LIBS 检测方案、等离子测试、反射测量、颜色检测等多个领域。光谱时代正在努力用专业创造价值，将不断创新的科技成果融入到社会经济发展的诸多领域。
    主营产品： 光纤光谱仪   光学仪器组件   光学平台   激光诱导击穿  
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全反射光谱仪相关的仪器

  • TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOX 400-860-5168转3194
    痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。
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    厂商： 布鲁克电子显微纳米分析仪器部
    品牌： 布鲁克/Bruker
    型号： S2 PICOFOX
    价格： 面议
  • TXRF全反射X射线荧光光谱仪S4 TSTAR 400-860-5168转3194
    S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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    厂商： 布鲁克电子显微纳米分析仪器部
    品牌： 布鲁克/Bruker
    型号： S4 TSTAR
    价格： 面议
  • 透射、反射/吸收光谱测量系统 400-628-5299
    透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统
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    厂商： 北京卓立汉光仪器有限公司
    品牌： 卓立汉光/ZOLIX
    型号： ZLX-AS系列
    价格： 面议
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全反射光谱仪相关的资讯

  • 便携式红外衰减全反射光谱仪用于食品分析测试
    合适的食品质量检测方法十分重要，科学家利用众多方法来测试不同的污染物。最近一种红外衰减全反射（IR-ATR）仪器在食品检测领域流行起来，它可以在几乎不需要样品制备的情况下获取倏逝场吸收，同时促进对任何聚集状态中的分析物的无损分析。食品安全控制概念 | 图片来源：© Alexander Raths - stock.adobe.com最近发表在《应用光谱学》杂志上的一项研究介绍了一种便携式的红外衰减全反射（IR-ATR）食品分析设备，可用于分析食品行业中有重要意义的物质。该系统的核心是了解脂质中脂肪酸（FAs）的组成；由于正常的脂质成分是表征鱼类等食品的质量的特征指标，但易受环境因素如水质、捕捞季节和温度的影响，因此跟踪脂肪酸是理解脂质的真实特征以及它们如何影响食物质量的关键。该系统还使用了霉菌毒素和有机溶剂作为代表进行了测试。霉菌毒素是与真菌污染相关的有害次生代谢物，它们的存在可能对人体和家畜的健康产生有害影响，因此检测它们对于食品安全至关重要。至于有机溶剂，食品行业主要将其用于从食品基质中提取成分，但由于传统方法性能优越，导致绿色提取方法不太受欢迎。这两种物质对于食品加工都是必不可少的，这也解释了为什么除了脂肪酸之外，IR-ATR 系统还主要针对它们进行测试。用傅立叶变换红外光谱仪（FT-IR）对便携式IR-ATR设备与传统实验室IR-ATR设备进行了对比测试，以展示前者系统的潜在优势。使用了三种类型的模型系统，每种系统内都含有不同的样品：溶解在水中的N，N-二甲基甲酰胺（(CH3)2NCH）（DMF）、溶解于乙醇中的硬脂酸（C17H35CO2H）以及溶解于甲醇中的DON（C15H20O6）。这些分析物作为典型的化合物类别，在中红外（MIR）光谱图中具有特征波段。通过两种系统的比较证实了的两者的多个因素，包括霉菌毒素的检测、FAs的分析以及有机溶剂的定量。值得注意的是，便携型系统的分析性能与标准型系统分析能力一致。然而，在该系统投入大规模使用之前仍需要进一步的工作要做。科学家在研究中指出：“未来研究旨在分析更复杂的系统，包括真正的鱼类样品和各种含有真菌污染物/霉菌毒素的谷类作物提取物，并采用先进的数据分析方法来开发无需标记的快速筛查方法。”
    时间： 2023-09-05
    作者： Mentha
  • 基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪
    CPB仪器与测量栏目最新发文：基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪，此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段，并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。光调制反射光谱是通过斩波器周期性地改变泵浦光源对样品的照射来测量半导体材料反射率相对变化的一种光谱分析技术。由于所测差分反射率作为能量的函数在材料电子能带结构的联合态密度奇点附近表现出明显的特征，光调制反射光谱已成为研究具有显著电子能带结构的半导体、金属、半金属及其微纳结构和异质结等材料联合态密度临界点的重要实验技术之一。光调制反射光谱中所使用的泵浦激光的光子能量一般要高于被研究材料的带隙，随着第三代宽禁带与超宽禁带半导体材料相关研究和应用的不断深入，需要更高能量的紫外激光作为光调制反射光谱的泵浦光源。目前国际上已报道的光调制反射光谱系统中，配备的泵浦光最大光子能量约5 eV，尚未到达真空紫外波段。因此，迫切需要发展新一代配备高光子能量和高光通量的泵浦光源的光调制反射光谱仪，使其具备探测超宽带隙材料的带隙和一般材料的超高能量临界点的能力。中科院理化所研制的深紫外固态激光源使我国成为世界上唯一一个能够制造实用化深紫外全固态激光器的国家，已成功与多种尖端科研设备相结合并取得重要成果。此文详细介绍了由中科院半导体所谭平恒研究员课题组利用该深紫外固态激光源搭建的国际上首台真空紫外光调制反射光谱仪（图1）的系统设计和构造，将光谱仪器技术、真空技术、低温技术与中科院理化所研制的177.3 nm深紫外激光源相结合，同时采用双单色仪扫描技术和双调制探测技术，有效避免了光调制反射光谱采集中的荧光信号的干扰，提高了采集灵敏度。该系统将光调制反射技术的能量探测范围从常规的近红外至可见光波段扩展至深紫外波段，光谱分辨率优于0.06 nm，控温范围8 K~300 K，真空度低至10-6 hPa, 光调制反射信号强度可达10-4。通过对典型半导体材料GaAs和GaN在近红外波段至深紫外波段的光调制反射信号的测量对其探测能力进行了性能验证（图2）。此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段，并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。该系统基于中科院半导体所承担的国家重大科研装备研制项目“深紫外固态激光源前沿装备研制（二期）”子项目“深紫外激光调制反射光谱仪”，目前已经初步应用于多种半导体材料在深紫外能量范围内的能带结构和物性研究，并入选《中国科学院自主研制科学仪器》产品名录，将有望在推动超宽禁带半导体材料的电子能带结构研究、优化超宽禁带光电子器件的性能方面发挥重要作用。图1. 深紫外激光调制反射光谱仪图2. 177.3 nm（7.0 eV）激光泵浦下的GaAs在1.2 eV至6 eV内的双调制反射光谱及对应能级跃迁
    时间： 2022-12-05
    作者： 筱筱
  • 基于步进扫描的光调制反射光谱方法及装置获国家专利授权
    近日，一种“基于步进扫描的光调制反射光谱方法及装置”近日获得国家知识产权局专利授权。该专利由中科院上海技术物理研究所邵军、陆卫等科研人员发明。该装置包括傅立叶变换红外光谱测量系统、作为泵浦光源的激光器、以及联结傅立叶变换红外光谱仪中探测器与电路控制板的锁相放大器和低通滤波器，置于样品与激光器之间光路上的斩波器，从而使连续泵浦激光变为调制激光，并馈入锁相放大器的输入参考端来控制锁相。该方法使用上述装置进行光调制反射光谱测量，包括消除泵浦光的漫反射信号以及泵浦光产生的光致发光信号的干扰；消除傅立叶频率和增强中、远红外波段微弱光信号的探测能力三个功能。经过对分子束外延生长GaNxAs1-x/GaAs 单量子阱样品和Ga1-xInxP/AlGaInP多量子阱材料的光调制反射光谱实际测试。表明本发明显著提高探测灵敏度和光谱信噪比，并具有快速、便捷的优点，特别适用于中、远红外光电材料微弱光特性的检测。
    时间： 2009-06-26
    作者： xdliu
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  • 【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之一：ATR衰减全反射光谱法）

    欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术知识的相关问题进行探讨~！活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之一：ATR衰减全反射光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、衰减全反射的原理及特点三、衰减全反射光谱的应用http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术相关的内容进行探讨交流~！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年09月09日--09月18日答疑时间: 2013年09月09日--09月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就ATR技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年09月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif

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全反射光谱仪相关的耗材

  • 能谱ATRS-01万能衰减全反射附件
    天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。
    供应商： 天津市能谱科技有限公司
    品牌： 能谱
    价格： 面议
  • 透反射测量支架 如海光电 透/反射光谱
    SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果
    供应商： 上海如海光电科技有限公司
    品牌： 如海光电
    价格： 面议
  • 极端环境衰减全反射附件
    极端环境衰减全反射附件是全球唯一的为极端环境使用而设计制造的ATR附件，它可以耐受250摄氏度的高温和800帕斯卡高压的测量环境并兼具方便更换清洗ATR晶体的功能。极端环境衰减全反射附件的特点让广大用户随意更换ATR晶体而不必购买安装支架。极端环境衰减全反射附件特点采用独一无二的45度ZnSe单内反射元件，与另外两个光学镜片底座组合而用，用于光束进入样品和返回仪器探测器，ATR附件这种设计最大程度地减少光束能量损失，平均透过率可达百分之八十五以上。ATR附件采用了Kalrez垫片密封，从根本上消除了环氧树脂密封带来的问题。垫片不会与样品发生任何反应，从而避免了光谱曲线出现假峰或能量消退等问题。采用双控制器配置，方便抽样的自主管理和监测。可选方案：1.不带加热和加压功能的液体流动盒（使用平面顶板或液体流经）；2.加热范围为0-200摄氏度的液体盒；3.非加热液体流动盒；4.Ge或ZnS晶体用于衰减全反射,ATR附件,衰减全反射附件。极端环境衰减全反射附件可选FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）ATR附件 该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有附件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR附件配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
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