全反射光谱仪

痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

天津能谱科技自主研发的ATRS-01衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

显微反射光谱仪，YOA-8405 描述YOA-8405显微反射光谱仪结合了显微镜对微小区域实时成像和微型光谱仪实时光谱采集的特点，实现了微米级样品反射光谱和色度学参数的测量。该仪器模块化设计，用户可以根据实际应用需求灵活配置光谱仪和显微镜，采用标准化和一体化设计的显微光谱模块更是可以灵活安装在大部分显微镜上，搭配专业的分析和数据采集软件，可以广泛应用于司法鉴定、材料分析和生化检测等领域。特点微米级别的样品测量模块的设计，配置灵活，根据不同的需求配置光谱仪和显微镜丰富的光谱仪配置：常规型、面阵型和制冷型光谱仪一体化的显微反射光谱模块安装便捷：通过标准接口固定安装于显微镜上专业的测试软件，提供色度坐标和色品图支持深度定制和二次开发应用司法鉴定生化样品分析材料分析防伪分析技术参数典型测试数据更多精彩内容，请关注下方！

反射光谱膜厚仪SD-SR-100是一款专为薄膜厚度测量而设计的先进仪器。以下是对该产品的详细介绍：1. 测量范围与精度： - 该仪器能够测量从2纳米到3000微米的薄膜厚度，具有高达0.1纳米的测量精度。2. 测量功能： - 在折射率未知的情况下，SD-SR-100不仅可以测量薄膜的厚度，还能同时测量其折射率。 - 可用于测量半导体镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等多种应用场景。3. 测试原理： - 利用薄膜干涉光学原理进行厚度测量及分析。通过从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线，并根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。4.软件支持： - 配备易于安装和操作的基于视窗结构的软件，界面友好，操作简便。 - 软件功能强大，支持多层膜厚的测试，并可对多层膜厚参数进行测量。 - 提供大量的光学常数数据及数据库，支持多种折射率模型，如Cauchy, Cauchy-Urbach, Sellmeier等。5. 特点与优势： - 先进的光学设计和探测器系统，确保系统性能优越和快速测量。 - 光源设计独特，具有较好的光源强度稳定性。 - 提供多种方法来调整光的强度，以满足不同测量需求。 - 配备微电脑控制系统，大液晶显示和PLC操作面板，便于用户进行试验操作和数据查看。 - 支持自动和手动两种测量模式，以及实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据。6. 应用领域： - 广泛应用于医疗卫生、生物产业、农业、印刷包装、纺织皮革等多个行业，特别是在薄膜分析领域表现出色。综上所述，反射光谱膜厚仪SD-SR-100凭借其高精度、多功能和广泛的应用领域，成为薄膜厚度测量领域的理想选择。

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量18KG核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

全反射太阳光模拟器,ABA级SS0.5特点：全反射光路 ，无色差 高紫外输出，可用于模拟外太空 4英寸触屏、高稳定性电源 加拿大制造，质量可靠 人工太阳辐射的高强度、均匀照明 通常，高功率太阳能模拟器使用椭球形反射器来捕获来自反射器内部弧光灯源的光，这种布置导致具有明亮外部区域和黑暗中心的光图案。这种不均匀性在许多太阳能模拟器应用中是不可接受的，因此，迫使我们的许多太阳能模拟器竞争对手使用涉及扩散器的设计来减少不均匀性。这导致目标区域上的强度降低和光谱失真。 Sciencetech’s解决这些问题的方法是使用一种独特的反射镜系统，将光“折叠”到目标平面上，有效地减少了损失的光，几乎没有光谱失真，还确保了输出光束中没有色差。 此外，Sciencetech的每个太阳能模拟器都可以定制，以最适合您的需求。全反射太阳能模拟器的设计允许在功率和均匀性之间进行权衡。可以用更低的功率实现更高的均匀性；或者可以增加功率并且降低均匀性。

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　注：以上参数如有差异，以官网为准。

ATR衰减全反射中红外光谱仪傅里叶变换衰减全反射红外光谱(ATR)在难以制备的样品,无损检测及表面信息的获取等方面具有独特的优势测试范围：光谱分析范围：2.5-5um and 5.5-11.0um电池：内置1300mAh充电电池，通讯方式：USB通讯ATR测试区域：ZnSe材质，尺寸17*27mm, 防护：不锈钢外壳检测器：128PIXEL热释电阵列分光系统：LVF线性可变滤光片系统测试时间：30秒（200次扫描）AD转换：16bit可以携带到现场进行快速光谱分析。重量: 710g

用150W光源的AAA级太阳模拟器的制造商，并继续通过高效率的系统进行创新。 SS150是我司*小的全反射型号，使其极为便携且易于使用。 我司专有的全反射设计使用镀金属的镜面，并在不影响折衷的情况下使整个光谱通过。 与基于折射的系统相比，这是明显的优势，基于折射的系统受到所使用的透明材料的特性的限制。 特征l AAA级太阳模拟器l 氙气短弧灯l 全反射光学系统l 无色差l 多种可用的过滤器l 模块化设计l 许多可选组件 应用领域l 光伏测试l 暴露测试l 轻度漂白l 高紫外线测试 不均匀度Item NumberModel #Target Diameters (cm) 1 SunClass AClass BClass C160-9001SS15056.57.5 光谱匹配Range (nm)ASTM AM 1.5GSciencetech FRSS AM 1.5GASTM AM 0Sciencetech FRSS AM 0Class A Match300-4008.00%7.30%PASS400-50018.40%15.12%16.40%17.70%PASS500-60019.90%17.54%16.30%17.00%PASS600-70018.40%19.67%13.90%14.10%PASS700-80014.90%15.63%11.20%10.50%PASS800-90012.50%12.34%9.00%9.20%PASS900-110015.90%19.70%13.10%14.00%PASS1100-140012.20%10.20%PASS 技术规格Collimation Angle (± degrees)2.5 degree divergenceTypical Power Output(mW/cm^2 at target )100Uniformity2%Uniformity ClassificationA (ASTM E927-05)Temporal Instability2%Temporal Instability ClassificationA (ASTM E927-05)Spectral MatchSee tableSpectral Match ClassificationA (ASTM E927-05)Working Distance (cm)76 +/- 2.5 cmLamp Power Requirements150WLine Regulation Requirement0.01% 可以配置全反射太阳能模拟器来满足您的要求。 均化器可以被定制为包括计算机可控制的百叶窗，并且灯罩可以被定制为包括光强度稳定器。 还提供了一系列太阳能电池卡盘，包括真空夹，热电或水冷，微型定位器以及完整的IV测试软件和硬件等选件。 SS150型可以安装在垂直支架上，以进行向下操作。 配置选项Lamp Housing Configuration Options(FS-02) Light Intensity Stabilizer115-9021Spare Lamp, 150W Xe, Ozone Free650-0055Homogenizer Configuration Options(SSES) Computer Controlled Shutter160-8004(CTBT) Beam Turner Assembly160-9009Body Options(DFS-150) Downward Facing Vertical Stand. Includes mounting plate, target table, foot base.160-9013(BASE-SS-ROLL) Solar Simulator Base Assembly with Castors165-8048Complete Package Options(SS-150A/DFS) SS150 with Downward Facing Stand.Includes SS150, Power Supply, External Igniter and DFS-150160-9021 滤镜选项Item numberDescriptionFilter Holder100-80353” filter holder for SS style filters, 2.5 mm thick maximumSpectral Filters—near 0 degree—3” filter slot in homogenizer640-900575 mm Mesh 34% Neutral Density Filter with Holder640-900675 mm Mesh 49% Neutral Density Filter with Holder640-900775 mm Mesh 71% Neutral Density Filter with Holder640-9011Visible longpass filter 400±6 nm, with Holder640-9012Hot Mirror for UV applications, 3” Square640-8014Pass UVA, block UVB, VIS, and IR640-9014Pass VIS-IR, Block UVA+B – 0 degree option (WG395)640-9017Pass UVA-VIS, IR block UVB640-9016Pass UVA+B, Block VIS, IR – 0 degree option640-8012Pass UVA+B, pass some IR Block VIS – 0 degree option640-0120Pass UVB Block UVA and aboveAir mass filter – near 0 degree incidence160-8020Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)160-8022Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)160-8024Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)160-8026Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)160-8028Air Mass AM0 filter for SS serious solar (Standard Range)Homogenizer IR water filter100-8018IR water filter, 3” Stainless steel, Fused Silica WindowBeam turning filter – 45 degrees – used with 165-8034640-8004Pass VIS, block UV, IR – CTBT option640-8008Pass IR, Block VIS, UV640-8011Pass UVA+B, block VIS, IR – CTBT option

Y型反射光纤采用6绕1光纤束设计，6根光纤连接到光源，1根光纤连接到光谱仪，实现最佳测试性能。光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm可选，波长范围UV/VIS，VIS/NIR，光纤跳线长度可定制，光纤耐受50N的拉力，耦合效率＞80%，多次插拔一致性好。可用于反射光谱、透射光谱测量。产品简介Y型光纤，多用于反射光谱测量。光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm可选，可应用于紫外、可见、近红外波段，光纤跳线长度可根据客户需求定制。在光谱检测过程中，光纤是一种必不可少的连接器件，可以简化光路的搭建过程。 产品特点? 产品耐用不易折断；? 即使在信号发生微小变化时，仍能获得一致的结果；? 跳线长度可随客户需求定制； 规格参数型号Y型光纤应用波长紫外光纤、可见近红外光纤光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm数值孔径0.22/0.37光纤数多芯最小弯曲半径120倍直径光缆护套材质塑料空管/包塑不锈钢护套条线长度可定制工作温度-40℃～85℃

ATR衰减全反射探头Attenuated Total Reflectance Probe ATR探头是测量吸光率在4000-5000 AU/cm 的样品的理想产品。它能够直接插入样品中，不需要稀释样品就能获得光谱。典型的应用包括纯墨水样品、染色样品和原油样品的测量。另外，如果探头顶部的接触样品的折射率大于ATR探头的蓝宝石晶体的折射率，或大于1.7，ATR探头可用作通用探头。ATR探头被设计用于工业过程应用，曾经在10,000psig的环境下接受测试。ATR探头可以在315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头，并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。应用场景ATR(attenuated total reflection,衰减全反射), 定义：入射面内偏振的单色平面光波在密－疏媒质的界上全反射时，光疏媒质中所形成的迅衰场（见衰减波）量可以被耦合到金属或半导体的表面上而使表面等离元（SP）或表面极化激元共振激发。全反射的光强因而发生剧邃衰减的现象。 利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法在1968年由A.奥托提出。 应用：ATR在实际应用中，作为红外光谱法的重要实验方法之一，从一开始便显示出其独特的优势和广阔的应用前景。由于其并不需要通过透过样品的信号，而是通过样品表面的反射信号获得样品表层有机成份的结构信息。不但简化了样品的制作过程，而且极大地扩大了红外光谱法的应用范围。使许多采用传统透过法无法制样，或者样品制备过程十分复杂、难度大、而效果又不理想的实验成为可能。因此，被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。详细参数型号规格推荐使用的光纤直径:600 μm外部直径:19 mm (0.75")探头长度:~305 mm身体材料:316 不锈钢(标准) Hastelloy C, Titantium 和 Monel 也可用晶体材料:蓝宝石密封:标准用Viton，也可选Chemraz, Kalrez压强限制:10,000 psig光纤接头:SMA 905温度限制:300 oC波长范围:UV-NIR

我们制造了四个高功率版本的AAA级全反射太阳模拟器。 我司专有的全反射设计使用镀金属的镜面，并能使整个光谱通过，而毫不妥协。与基于折射的系统相比，这是明显的优势，基于折射的系统受到所使用的透明材料的特性的限制。特征l AAA级太阳能模拟器l 氙气短弧灯l 全反射光学系统l 无色差l 各种可用的过滤器l 模块化设计l 许多可选组件 应用领域l 光伏测试l 暴露测试l 轻度漂白l 高紫外线测试 不均匀性Part No.Model No.Class ATarget Diameters (cm)*Class BTarget Diameters (cm)1 Sun0.5 Sun2 Sun1 Sun0.5 Sun2 Sun165-9002SS0.5kW7.512.46.39157.5165-9001SS1kW12.7188.91521.510.5165-9007SS1.6kW1622.611.2202713.5165-9008SS2.5kW20.328.714.2243417*Target diameters are specified for AM1.5G SUNS, for other power levels the maximum ach光谱匹配Range (nm)ASTMAM 1.5GSciencetech FRSS AM 1.5GASTM AM 0Sciencetech FRSS AM 0 + 25% of Standard300-4008.00%7.30%PASS400-50018.40%21.81%16.40%17.70%PASS500-60019.90%20.65%16.30%17.00%PASS600-70018.40%17.81%13.90%14.10%PASS700-80014.90%13.00%11.20%10.50%PASS800-90012.50%11.00%9.00%9.20%PASS900-110015.90%15.73%13.10%14.00%PASS1100-140012.20%10.20%PASS 技术规格Collimation Angle (± degrees)3Typical Power Output (mW/cm2) (at target )100Uniformity2%Uniformity ClassificationA (ASTM E927-05)Temporal Instability2%Temporal Instability ClassificationA (ASTM E927-05)Spectral MatchSee tableSpectral Match ClassificationA (ASTM E927-05)Working Distance (cm)Depends on modelLamp Power Requirements500-2.5kWLine Regulation Requirement0.01% 可以根据您的要求配置全反射式太阳模拟器。 均质器可以自定义为包括计算机可控制的百叶窗，或可变焦点选项，使您可以将均匀平面放置在距模拟器输出不同的工作距离处。 有许多过滤选项可用。 一些滤波器选项通过内置滤波器抽屉添加到光束线上。 其他过滤选项需要增加一个光束转向过滤器支架。 还提供一系列太阳能电池卡盘，包括真空夹，热电或水冷却，微型定位器以及完整的IV测试软件和硬件等选件。 可以将SS0.5k*SS1.6k型号安装在垂直支架上，以进行向下操作。 请注意，SS2.5k型号必须安装在桌子上，以便朝下操作。 配置选项Homogenizer Configuration Options(SSES) High Power Computer Controlled Shutter165-8005(SSVF-SS) Variable Focus165-8011Homogenizer output window (G1 Quartz) for sealedContacthomogenizer optionHomogenizer output window (Si-UV) for sealed ho-Contactmogenizer optionOutput Flange Options(CTBT-SS) Beam turning mirror165-8018(CTBT-RF) Dichroic beam turning assembly165-8034Body Options(BASE-SS) Base assembly for vertical stand165-8030(BASE-SS-ROLL) Solar simulator base assembly with casters165-8048Sample Tray Options(SAMP-STD) Standard solar simulator and clamp assemblysample plate165-9006A range of solar cell chucks and sample holding accessories are availablecooling andBrowse chucksComplete Package Options(DFS-SS) Downward facing stand package SS0.5-1.6k simulators. (Includes CTBT-SS,BASE-SS and SAMP-STD).for160-8016(DFS-2.5SS) Downward facing stand package for SS2.5k.165-8050 滤镜选项我司每个全反射太阳能模拟器都包括一个FH-SS过滤器托盘。 FH-SS过滤器托盘*多可容纳2个过滤器，并位于模拟器光束均化器中。 通过将产品（FH-SS-ADD）添加到您的订单中，可以增加两个过滤器插槽。 Item Number Description Filter HolderFT-75-3 3" filter holder for SS style filters, 2.5mm thick max Spectral Filters • near 0 degree incidence • 3M diameter, mounted in FT filter mountMF-34-FT-3 75mm Mesh 34% Neutral Density Filter with Holder MF-49-FT-3 75mm Mesh 49% Neutral Density Filter with HolderMF-71-FT-375mm Mesh 71% Neutral Density Filter with HolderHPF-BB-NIR-FT-3 Hot Mirror for UV ApplicationsHPF-LP-VIS-FT-3Visible longpass filterHPF-LP-NIR-FT-BInfrared longpass filterHPF-BB-VIS-FT-3Visible blocking filterHPF-LP-UVA-FT-3UVA longpass filterHPF-BB-UVB-FT-3UVB band blocking filterHPF-BP-VIS-FT-3Visible bandpass filter, 0 DeeHPF-LP-420-FT-3420nm longpass filterAir mass filters - near 0 degree incidenceAMO-FT-3 Air Mass AMO Filter for SS Series Solar (Standard Range)* AM1.0D-FT-3 Air Mass AM1.0D Filter for SS Series Solar (Standard Range) AM1.5G-FT-3 Air Mass AM1.5G Filter for SS Series Solar (Standard Range) AM1.5D-FT-3 Air Mass AM1.5D Filter for SS Series Solar [Standard Range) AM2.0D-FT-3Air Mass AM2.0D Filter for 5S Series Solar (Standard Range)*Using AMO filter reduces the target size achievable for 1 sun class A Homogenizer IR Water filter100-8018IR Watftr Filter, 3U Stainless Fusftd SHica Windows beam turning filters - 45 degree - used with CT6T*RF640-8004 Pass VIS, Block UVJR - CTBT option 640-8008 Pass IR, Block UV Block VIS640-8011Payy UVA+B, Bk V1S+IR - CTBT optionPPE Accessories720-0159(UV-Glasses-Drk) Dark safety glasses

仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。应用范围TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量，可进行痕量或超痕量元素分析（ppt或pg），广泛的应用在环境分析（水、灰尘、沉积物、大气悬浮物），制药分析（生物体液和组织样品中的有害元素），法医学（微小证据分析），化学纯度分析（酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂），油品分析（原油、轻质油、燃料油），染料分析（墨水、油漆、粉末），半导体材料分析（挥发相分解），核材料工业（放射性元素分析）。 主要特点■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；■ 出色的动态线性范围；■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪通过内部光源（氙气白炽灯380-1050nm）测定植物叶片的反射光谱，也可以测定其他光源的透光度和吸光率。PolyPen在软件中内置了几乎所有常用的植物反射光谱指数公式，例如NDVI，PRI，NDGI等。测得的数据以图形或数据表的形式实时显示在仪器的显示屏上。这些数据都可以储存在仪器的内存里并传输到电脑里。PolyPen RP 410由可充电锂电池供电，不需要使用电脑即可独立进行测量。仪器配备全彩色触屏显示器、内置光源、内置GPS和用于固定样品的无损叶夹。叶夹具备进行光源和检测器校准的标准参照物。应用领域：? 植物反射光谱测量? 植物胁迫响应? 色素组成变化? 氮素含量变化? 产量估测 PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪技术特点：? 目前最便携的测量植物叶片反射光谱的高光谱测量仪。? 自动计算常用的植物反射光谱指数，也可计算用户定制的指数，同时提供高精度反射光谱图。? 非破坏性原位测量。? 手持式仪器，电池供电，无需外部电脑，便于野外测量。? 内置GPS，USB/蓝牙双通讯模式技术参数：? 光谱检测范围：PolyPen RP 410 UVIS光谱响应范围为380-790nmPolyPen RP 410 NIR光谱响应范围为640-1050nm? 内置植被指数：PolyPen RP 410 UVIS：NDVI、SR、绿度指数、MCARI、TCARI、TVI、ZMI、SRPI、NPQI、PRI、NPCI、Carter指数、SIPI、GM1。PolyPen RP 410 NIR：NDVI、SR、MCARI1、OSAVI、MCARI、TCARI、ZMI、Ctr2、GM2

痕量分析 TXRF 光谱仪 快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，检出限到2pg。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。 行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

痕量分析 TXRF 光谱仪 快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，检出限到2pg。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。 行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。HORIZON 配备了12位样品台自动测量，创新光学编码器的步进电机，保证精确角度测量，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。主要特点■ 单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；■ 对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；■ 多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；■ 不受样品的类型和不同应用需求影响；■ 独特的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；■ 优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；■ 出色的动态线性范围；■ 无需任何化学前处理，无记忆效应；■ 非破坏性分析，运行成本低廉。

衰减全反射探头 新势力光电供应衰减全反射探头，基于硫化物(CIR，1.5-6.0µ m)和银化物(PIR，4.0-18.0µ m)光纤开发而成。该系列衰减全反射探头具有如下特点：近红外/中红外透过率高、流动液体测量无盲区、恶劣工业环境工作稳定、使用所有光谱仪/自动化过程控制接口。衰减全反射探头应用广泛，包括：实时在线监控、过程分析技术、远程聚合控制、结晶过程监测。ATR-ProbeSpecificationProbe typeDiamond ATRZnSe ATRCubic Zirconium ATRTransmission range5.2-17µ m+3.2-4.5µ m3.2-17µ m1.5-6.5µ m600-1900cm-1+2300-3100cm-1600-3100cm-11550-6650cm-1Fiber typePIR-900/1000(AgCl:AgBr)PIR-900/1000(AgCl:AgBr)CIR-500/550(As-S-glass)Temperature range-150° C/+140° C-150° C/+140° C-150° C/+90° CPressure200Bar10Bar100BarTotal length1.5m, options: 1 to 5mShaft length230mm, options: 100 to 500mmShaft diameter12mm, 6.3mm, options: 3mmShaft materialHastelloy C22Length of legs300mm, options: 100 to 500mmProtective tube materialLiquid tight SS-conduit, KOPEX-tubeMinimal bending radiu130mmInput/output connectorLong SMA, options: any other typeCompatible process interfaceCeramat-FOS or SensoGate-FOS相关商品反射探头 Y 型光纤 光纤跳线 激光传输光纤

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪通过内部光源（氙气白炽灯380-1050nm）测定植物叶片的反射光谱，也可以测定其他光源的透光度和吸光率。PolyPen在软件中内置了几乎所有常用的植物反射光谱指数公式，例如NDVI，PRI，NDGI等。测得的数据以图形或数据表的形式实时显示在仪器的显示屏上。这些数据都可以储存在仪器的内存里并传输到电脑里。PolyPen RP 410由可充电锂电池供电，不需要使用电脑即可独立进行测量。仪器配备全彩色触屏显示器、内置光源、内置GPS和用于固定样品的无损叶夹。叶夹具备进行光源和检测器校准的标准参照物。应用领域：? 植物反射光谱测量? 植物胁迫响应? 色素组成变化? 氮素含量变化? 产量估测 技术特点：? 目前最便携的测量植物叶片反射光谱的高光谱测量仪。? 自动计算常用的植物反射光谱指数，也可计算用户定制的指数，同时提供高精度反射光谱图。? 非破坏性原位测量。? 手持式仪器，电池供电，无需外部电脑，便于野外测量。? 内置GPS，USB/蓝牙双通讯模式技术参数：? 光谱检测范围：PolyPen RP 410 UVIS光谱响应范围为380-790nmPolyPen RP 410 NIR光谱响应范围为640-1050nm? 内置植被指数：PolyPen RP 410 UVIS：NDVI、SR、绿度指数、MCARI、TCARI、TVI、ZMI、SRPI、NPQI、PRI、NPCI、Carter指数、SIPI、GM1。PolyPen RP 410 NIR：NDVI、SR、MCARI1、OSAVI、MCARI、TCARI、ZMI、Ctr2、GM2? 光源：氙气白炽灯380-1050nm? 光谱响应半宽度：8nm? 光谱杂散光：-30dB? 光学孔径：7mm? 扫描速度：约100ms? 触控屏：240×320像素，65535色? 内存：32MB（可存储8000组以上测量数据）? 系统数据：16位数模转换? 动态范围：高增益 1:4300；低增益 1:13000? GPS：内置? 通讯方式：USB/蓝牙双通讯模式? 软件功能：自动计算内置植被指数、计算用户自定义植被指数、实时显示数据图和数据表、数据导出为Excel、GPS地图、固件升级，Windows XP及以上系统适用? 光谱反射标准配件（选配）：提供最高的漫反射值（99%）。光谱平面涵盖UV-VIS-NIR光谱，保证+/-1%的光学平面。用于光源和检测器的校准。? 尺寸：15×7.5×4cm? 重量：300g? 外壳：防水溅外壳? 电池：锂电池，通过USB接口充电? 续航时间：可连续测量48小时? 工作温度：0~50℃? 存放温度：-20~70℃ 软件界面应用案例扁桃树红色叶斑病造成叶片反射光谱及相应植被指数变化（M López-López, et al. 2016）参考文献1. A Niglas, et al. 2017. Short-term effects of light quality on leaf gas exchange and hydraulic properties of silver birch (Betula pendula). Tree Physiology 37(9): 1218-12282. M Ashrafuzzaman, et al. 2017. Diagnosing ozone stress and differential tolerance in rice (Oryza sativa L.) with ethylenediurea (EDU). Environmental Pollution 230: 339-3503. M López-López, et al. 2016. Early Detection and Quantification of Almond Red Leaf Blotch Using High-Resolution Hyperspectral and Thermal Imagery. Remote Sens. 8(4): 2764. PJ Zarco-Tejada, et al. 2016. Seasonal stability of chlorophyll fluorescence quantified from airborne hyperspectral imagery as an indicator of net photosynthesis in the context of precision agriculture. Remote Sensing of Environment 179: 89-1035. VV Ptushenko, et al. 2015. Possible reasons of a decline in growth of Chinese cabbage under a combined narrowband red and blue light in comparison with illumination by high-pressure sodium lamp. Scientia Horticulturae 194: 267-2776. VV Ptushenko, et al. 2014. Chlorophyll fluorescence induction, chlorophyll content, and chromaticity characteristics of leaves as indicators of photosynthetic apparatus senescence in arboreous plants. Biochemistry (Moscow) 79: 260-272内置计算公式的植物光谱指数：? 归一化差值植被指数Normalized Difference Vegetation Index (NDVI)参考文献：Rouse et al. (1974)公式：NDVI = (RNIR - RRED ) / (RNIR + RRED )? 简单比值植被指数Simple Ratio Index (SR)参考文献：Jordan (1969) Rouse et al. (1974)公式：SR = RNIR / RRED? 改进的叶绿素吸收反射指数1 Modified Chlorophyll Absorption in Reflectance Index 1 (MCARI1)参考文献：Haboudane et al. (2004)公式：MCARI1 = 1.2 * [2.5 * (R790- R670) - 1.3 * (R790- R550)]? 最优化土壤调整植被指数Optimized Soil-Adjusted Vegetation Index (OSAVI)参考文献：Rondeaux et al. (1996)公式：OSAVI = (1 + 0.16) * (R790- R670) / (R790- R670 + 0.16)? 绿度指数Greenness Index (G) 公式：G = R554 / R677? 改进的叶绿素吸收反射指数Modified Chlorophyll Absorption in Reflectance Index (MCARI)参考文献：Daughtry et al. (2000)公式：MCARI = [(R700- R670) - 0.2 * (R700- R550)] * (R700/ R670)? 转换类胡萝卜素指数Transformed CAR Index (TCARI)参考文献：Haboudane et al. (2002)公式：TSARI = 3 * [(R700- R670) - 0.2 * (R700- R550) * (R700/ R670)]? 三角植被指数Triangular Vegetation Index (TVI)参考文献：Broge and Leblanc (2000)公式：TVI = 0.5 * [120 * (R750- R550) - 200 * (R670- R550)]? Zarco-Tejada & Miller 指数Zarco-Tejada & Miller Index (ZMI)参考文献：Zarco-Tejada et al. (2001)公式：ZMI = R750 / R710? 简单比值色素指数Simple Ratio Pigment Index (SRPI)参考文献：Pe?uelas et al. (1995)公式：SRPI = R430 / R680? 归一化脱镁作用指数Normalized Phaeophytinization Index (NPQI)参考文献：Barnes et al. (1992)公式：NPQI = (R415- R435) / (R415+ R435)? 光化学植被反射指数Photochemical Reflectance Index (PRI)参考文献：Gamon et al. (1992)公式：PRI = (R531- R570) / (R531+ R570)? 归一化色素叶绿素指数Normalized Pigment Chlorophyll Index (NPCI)参考文献：Pe?uelas et al. (1994)公式：NPCI = (R680- R430) / (R680+ R430)? Carter指数Carter Indices参考文献：Carter (1994), Carter et al. (1996)公式：Ctr1 = R695 / R420 Ctr2 = R695 / R760? 结构加强色素指数Structure Intensive Pigment Index (SIPI)参考文献：Pe?uelas et al. (1995)公式：SIPI = (R790- R450) / (R790+ R650)? Gitelson and Merzlyak 指数 Gitelson and Merzlyak Indices参考文献：Gitelson & Merzlyak (1997)公式：GM1 = R750/ R550 GM2 = R750/ R700 产地：欧洲

1000W全反射太阳光模拟器主要特点: · 全反射设计代替分散镜片提高目标点上的均匀性· 1.0kW非臭氧氙弧灯· 空气冷却灯塔· 过滤片固定器可以安装7.6x7.6 cm(3"x3")的过滤片(此过滤固定器也可以装其他尺寸的过滤片)· 现有大范围选择的过滤片· 标准横向操作,竖直选项· 可调动的LED显示电源,包括启动器(igniter) SKU: SS1.0KWSciencetech 生产4种高压版本高效率的太阳仿真器。最小的是500W型号，接近市场上大多数常规系统的1000W输出功率。Sciencetech也深产1000W，1600W和2500W型号。这些型号比相同的产品机型的强度更大。Sciencetech的 太阳仿真器是高强度应用装置及能量级别重要的装置的理想选择。 这款模型的灯源是来自高压的氙灯。这个灯源的光谱分布跟气团结过滤器结合,可以拟出不同地球和太空条件下的太阳光谱分布（太阳在天空的不同角度或无大气层干扰）。这个SS 全反射系列的特点是不需要镜片或分散装置来均匀输出在目标区域。这样呈现出了最佳的太阳仿真器，因此Sciencetech的太阳仿真器比竞争对手的更有效率。这个全反射设计只用了镜片来引导从弧灯出来的光束从弧灯到目标，而且还可以产生高强度均匀的辐照在目标板。 光束方向太阳仿真器可以装垂直或水平位置，请在订购时说明具体方向。在水平位置时，输出来的光是从旁边镶板发出的，然后辐照在墙上（或者任何其他的东西您放在它前面）。 一个自选的90度的折射镜子可以装置在输出的窗户，这样可重新向上，下，左和右调整光束。在垂直方向需要一个地板装置。这样输出的光是水平方向，然后自选折射镜子可以用来指挥光束向上，下，左和右

1600W 全反射太阳光模拟器主要特点: · 全反射设计代替分散镜片提高目标点上的均匀性· 1.6kW非臭氧氙弧灯· 空气冷却灯塔· 过滤片固定器可以安装7.6x7.6 cm(3"x3")的过滤片(此过滤固定器也可以装其他尺寸的过滤片)· 现有大范围选择的过滤片· 标准横向操作,竖直选项· 可调动的LED显示电源,包括启动器(igniter) SKU: SS1.6KWSciencetech 生产4种高压版本高效率的太阳仿真器。最小的是500W型号，接近市场上大多数常规系统的1000W输出功率。Sciencetech也深产1000W，1600W和2500W型号。这些型号比相同的产品机型的强度更大。Sciencetech的 太阳仿真器是高强度应用装置及能量级别重要的装置的理想选择。 这款模型的灯源是来自高压的氙灯。这个灯源的光谱分布跟气团结过滤器结合,可以拟出不同地球和太空条件下的太阳光谱分布（太阳在天空的不同角度或无大气层干扰）。这个SS 全反射系列的特点是不需要镜片或分散装置来均匀输出在目标区域。这样呈现出了最佳的太阳仿真器，因此Sciencetech的太阳仿真器比竞争对手的更有效率。这个全反射设计只用了镜片来引导从弧灯出来的光束从弧灯到目标，而且还可以产生高强度均匀的辐照在目标板。 光束方向太阳仿真器可以装垂直或水平位置，请在订购时说明具体方向。在水平位置时，输出来的光是从旁边镶板发出的，然后辐照在墙上（或者任何其他的东西您放在它前面）。 一个自选的90度的折射镜子可以装置在输出的窗户，这样可重新向上，下，左和右调整光束。在垂直方向需要一个地板装置。这样输出的光是水平方向，然后自选折射镜子可以用来指挥光束向上，下，左和右。

2500W全反射太陽模擬器 主要特点: 全反射設計代替分散鏡片提高目標點上的均勻性 2.5kW非臭氧氙弧燈 空氣冷卻燈塔 過濾片固定器可以安裝7.6x7.6 cm(3"x3")的過濾片(此過濾固定器也可以裝其他尺寸的過濾片) 現有大范圍選擇的過濾片 標準橫向操作,豎直選項 可調動的LED顯示電源,包括啓動器(igniter)SKU: SS2.5KWSciencetech 生產4种高壓版本高效率的太陽模擬器。最小的是500W型號，接近市場上大多數常規系統的1000W輸出功率。Sciencetech也生產1000W，1600W和2500W型號。這些型號比相同的產品机型的強度更大。Sciencetech的 太陽模擬器是高強度應用裝置及能量級別重要的裝置的理想選擇。 這款模型的燈源是來自高壓的氙燈。這個燈源的光譜分佈跟氣團結過濾器結合,可以擬出不同地球和太空條件下的太陽光譜分佈（太陽在天空的不同角度或無大氣層干擾）。這個SS 全反射系列的特點是不需要鏡片或分散裝置來均勻輸出在目標區域。這樣呈現出了最佳的太陽模擬器，因此Sciencetech的太陽模擬器比競爭對手的更有效率。這個全反射設計只用了鏡片來引導從弧燈出來的光束從弧燈到目標，而且還可以產生高強度均勻的輻照在目標板。 光束方向 太陽模擬器可以裝垂直或水平位置，請在訂購時説明具體方向。在水平位置時，輸出來的光是從旁邊鑲板發出的，然後輻照在墻上（或者任何其他的東西您放在它前面）。 一個自選的90度的折射鏡子可以裝置在輸出的窗戶，這樣可重新向上，下，左和右調整光束。在垂直方向需要一個地板裝置。這樣輸出的光是水平方向，然後自選折射鏡子可以用來指揮光束向上，下，左和右。

Miracle 衰减全反射附件适用于各品牌红外光谱仪，提供多种材质晶体盘以满足不同应用需要。考虑到不同样品采样压力不同，测试结果有偏差，提供高压压头，可微调压头，带压力显示压头。对于高挥发性液体，或毒性大的样品，提供专用的液体附件。近期又开发出可变温的附件以配合变温条件下的测试，温度范围：室温-130℃。

optoNCDT2300-2DR激光位移传感器专为全反射面和光泽表面测量设计。该款激光位移传感器可以用于测量玻璃厚度，钢化玻璃位移或微小零部件组装精度。测量频率高达49kHz,使这款激光位移传感器特别适合高动态测量和监控。采用创新的高级实时表面补光技术(A-RTSC),使该款传感器可以在被测表面变化时，自动实时精准补偿。数据输出采用Ethernet或RS422,EtherCAT版本的输出也即将推出。如果该款位移传感器与德国米铱提供的C-Box/2A模块连接，也可以输出模拟量信号。optoNCDT2300-2DR激光位移传感器的特殊设计，使其可以与被测物平行安装。因此，蓝色激光可以直接从被测物反射到光学感光单元。不同于红光激光，蓝光激光不易渗透进入被测物体，因此可以形成一个更为尖锐的反光点，从而在感光单元上形成更加稳定的信号。源于这种直接反射设计，该款激光位移传感器可以达到纳米级别分辨率。传感器极小的光斑使其可以用于测量微小目标。新款optoNCDT2300-2DR激光位移传感器所采用的独特技术，实现高精度测量的同时，还保持了紧凑的外形尺寸。该系列激光位移传感器是整个产品系列中唯一用于全反射面的传感器，全部电子器件都被集成在紧凑外壳内，大大方便了客户的使用和安装。-量程：2mm-绝对误差：0.6μm-分辨率：30nm-可调测量频率高达49kHz-集成控制器-输入/输出：RS422,Ethernet,EtherCAT-通过C-BOX/2A模块允许模拟量输出-快速适应变化被测物表面的高级实时表面补光技术ARTSC

Omni-Spec™ 是一个 45° 镜面反射探头，用于在样品室外进行采样。这款小巧型附件几乎可以通过光纤与任何光谱仪相连，配有输入和输出 SMA 连接器，可轻松连接到光纤耦合器，如 Harrick FiberMate2™ 。提供一系列 紫外可见光、近红外和中红外光纤，可使用距离光谱仪 1.5 米远的光纤。USB2 摄像机还提供实时成像和样品照片文档。Omni-Spec™ 是检测各种样品的理想选择，包括光学涂层、不透明基板及其薄膜以及反射表面上的污染物。它还非常适合粉末和粗糙表面固体的内联漫反射。与FiberMate2搭配使用的镜面反射光纤探头，适用于无法放入红外光谱仪样品腔中测试的大样品或远距离测试特点：光纤长度：1.5m45°入射角2个标准SMA 905接口适合于中红外、近红外或紫外-可见需要Harrick FiberMate2光纤耦合器可选摄像头用于样品观察 相关附件：MODEL NO. NAMEDESCRIPTIONDMP-PRB Diamond ProbeFM2-XXX FiberMate2 Fiber Optic CouplerOMN-DIF Omni-Diff™ Diffuse Reflection Probe

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

与FiberMate2搭配使用的漫反射光纤探头，适用于无法放入红外光谱仪样品腔中测试的大样品或远距离测试Harrick Omni-Diff™ 漫反射探头可通过光纤与几乎任何光谱仪连接上。这款小巧型附件配有输入和输出 SMA 连接器，可轻松连接到光纤耦合器，如 Harrick FiberMate2。它非常适合对距离光谱仪 1.5 米远的样品进行漫反射分析。Omni-Diff™ 从样品中反射测量辐射扩散，使镜面分量偏离收集光学元件。一系列的光纤可用于 紫外-可见光、近红外和中红外，以及用样品照片记录的数字成像系统。Omni-Diff™ 是检查整洁的粉末的理想选择，此外还有粗糙表面固体，它们因体积太大而无法放入光谱仪中。特征：光纤长度：1.5m2个标准SMA 905接口适合于中红外、近红外或紫外-可见需要MCT检测器需要Harrick FiberMate2光纤耦合器可选摄像头用于样品观察搭配附件：MODEL NO. NAMEDMP-PRB Diamond ProbeFM2-XXX FiberMate2 Fiber Optic CouplerOMN-SPC Omni-Spec™ Specular Reflection ProbeHARRICK公司FIBERMATE2光纤耦合器