全反射光谱仪

天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果

极端环境衰减全反射附件是全球唯一的为极端环境使用而设计制造的ATR附件，它可以耐受250摄氏度的高温和800帕斯卡高压的测量环境并兼具方便更换清洗ATR晶体的功能。极端环境衰减全反射附件的特点让广大用户随意更换ATR晶体而不必购买安装支架。极端环境衰减全反射附件特点采用独一无二的45度ZnSe单内反射元件，与另外两个光学镜片底座组合而用，用于光束进入样品和返回仪器探测器，ATR附件这种设计最大程度地减少光束能量损失，平均透过率可达百分之八十五以上。ATR附件采用了Kalrez垫片密封，从根本上消除了环氧树脂密封带来的问题。垫片不会与样品发生任何反应，从而避免了光谱曲线出现假峰或能量消退等问题。采用双控制器配置，方便抽样的自主管理和监测。可选方案：1.不带加热和加压功能的液体流动盒（使用平面顶板或液体流经）；2.加热范围为0-200摄氏度的液体盒；3.非加热液体流动盒；4.Ge或ZnS晶体用于衰减全反射,ATR附件,衰减全反射附件。极端环境衰减全反射附件可选FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）ATR附件 该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有附件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR附件配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

测量反射光的比色皿①外形尺寸：Φ34×25 ，容积：12.0ml； ②外形尺寸：Φ50×30，容积：32.0ml； ③外形尺寸：Φ60×40.5 ，容积：73.0ml。

测量反射光比色皿?

多重衰减全反射附件是 一种高效率的红外傅立叶变换光谱仪多重ATR附件，不需要频繁准直校正，特别适合日常使用。多重衰减全反射附件包括组合式平/槽顶板（每个都配有80x10x4mm 45度ZnSe 梯形ATR元件）、平板夹具、挥发物盖子、 清除剂组件。多重衰减全反射附件特点顶板非常容易取掉，因而非常方便快速清洗 以及与其他部件交换使用。多重ATR附件顶板采用针式固定方法，不仅保证重复操作精度，而且确保使用的方便性和分析精度。还有多种选项，ATR衰减全反射材料就有ZnS,Ge,Si,KRS-5,AMTIR和CdTe等选择，入射角有30，45和60度等选择。配备了100ml和500ml流经顶板和较高温度环境使用的配件包。可选: FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）多重衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统. 组合型HATR Part No #9110 多重ATR附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 多重衰减全反射附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 多重ATR附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

P-TIP 光纤探头 更加丰富的反射、透射、固体荧光、液体荧光、吸收光纤探头 P-TIP是复享仪器的光纤探头系列产品，涵盖了反射、透射、固体荧光、液体荧光和吸收等多种光纤探头。对于光谱测量，选择合适的光纤探头和选择合适的光谱仪、光源以及光纤同等重要。由于光纤探头的复杂性，我们提供各种光纤探头的试用。在您选择好合适的产品再行购买。欢迎致电复享仪器400免费电话。 P-TIP-0045漫反射荧光光谱探头 在P-TIP-0045漫反射光纤探头中，我们安装了两片高品质的滤光片，一片安装于激发光路，用于消除激发光源除主峰外的杂峰，另一片安装于收集光路，用于滤除荧光辐射光谱中的激发光成分。因此，P-TIP-0045探头除了可以测量漫反射光谱，还可以检测固体表面的荧光光谱。更多信息访问：http://wwww.ideaoptics.com

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。太赫兹棱镜THz ATR Prisms我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5

漫反射光纤探头产品简介：德国art photonics公司提供多种特殊设计荧光探头，采用分叉或多通道分叉光纤束结构，具有“照明”管脚通道，将光从光源照射到样品，“收集”管脚，把反射光收集进分光计，光谱仪。区别于传统探头“6环绕1”的光纤束结构，art photonics探头采用“7环绕1”和“9环绕1”的设计。因为采用结构，收集反射信号和背散射信号要比传统的高得多。对于特殊的应用场景，可提供7 + 12设计:7根随机照明光纤和12根随机收集光纤。所有荧光探头的发光光纤都采用金属涂层光纤，使得发光光纤之间的串音干扰会被抑制，信噪比远高于采用聚合物涂层荧光探针。荧光光纤探针可有两根、三根或四根光纤等光纤分叉管脚设计，采用圆对圆(R/R)或圆对线(R/L)结构。产品应用：实时反应监控 / 过程分析技术(PAT) / 结晶监控与筛选 / 特性分析 / 生物制药 / 生物燃料开发与生产产品特点：* 7+1, 9+1设计；* 金属涂层光纤抑制光纤相互间串音干扰；* 兼容所有光谱仪，分光计；* 探头直径尺寸薄至0.5mm；* 可定制各种探头, 光纤束结构产品示意图：产品技术参数：9+1 结构探头类型（9+1）100/50(9+1) 200/100探头光纤束9根环绕照明光纤-50/55/70P1根铝涂层收集光纤-100/110/140ALNA = 0.22 ± 0.029根环绕照明光纤-100/110/125P1根铝涂层收集光纤-200/220/270ALNA = 0.22 ± 0.02探头直径0.5—0.9 mm0.9—1.2 mm探头长度2.5-100 mm探头材料不锈钢、钛+PEEK组成保护套金属涂层PVC+Kevlar增强管、?3.2毫米连接头SMA 905(可提供FC/PC或ST)总长：两根腿长2m(可达20m)0.5m分叉Y型分叉，1.5m长度工作温度20℃至80℃(采用PEEK套管:-70℃-200℃)弯曲半径120mm长时间压力10bar（可定制）

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。 太赫兹棱镜THz ATR PrismsDownload THz Prisms Datasheet (PDF, 33 KB)我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5 Prisms are manufactured upon request. For price quotation and delivery please fill in our Request form.The finished parts of different dimensions are available from stock and supplied within a week.

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享科技为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享科技R3反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　更多优惠信息： http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=R3应用案例典型光谱测量系统示意图产品特点1、丰富的模块化附件方便用户自由组合配置。2、方便用户标准化测试方案，优化实验方案3、通过固定光纤，探头，光源和光谱仪减少用户占用资源。更多信息访问：http://www.ideaoptics.com/.clear{ clear:both }.right{ width:717px }.shang{ margin-bottom:20px font-size:12px }.shang tr td{ padding:10px 0px line-height:24px }a:link {text-decoration: none }a:visited {text-decoration: none }a:hover {text-decoration: none }a:active {text-decoration: none }#nav li{ font-size:12px }/*New Nav Style*/#nav_wrap { width:710px margin:20px auto }#nav{ background:url(images/nav_bg.gif) repeat-x height:39px position:relative width:710px margin:0px auto }#nav .l{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px 0px width:2px float:left}#nav .r{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -4px 0px width:2px float:right}#nav .bt_qnav { float:right }#nav .bt_qnav a{ width:31px line-height:39px display:block padding:9px 2px 0 0 }#nav .c{ float:left margin:0 padding:0}#nav li { float:left list-style:none }#nav li .v a{ width:100px line-height:33px text-align:center display:block color:#FFF background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -87px 6px font-family:"Microsoft Yahei" }#nav li .v a:hover,#nav li .v .sele{background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px -52px color:#116406 line-height:42px font-size:14px}#nav .kind_menu { line-height:24px top:39px position:absolute color:#656565 border:1px solid #cccccc width:708px left:0px font-size:12px }#nav .kind_menu tr td { padding:0px 10px font-size:12px }#nav .kind_menu table{color:#656565 margin:20px auto display:block font-family:"宋体" left:0px }#nav .kind_menu span { font-size:10px color:#cecece line-height:30px *line-height:26px float:left }#tmenu{ margin:20px }.bt{ color:#0099FF font-size:14px font-weight:bold }.yi,.er,.san,.si,.wu,.liu{ background-color:#e9f4fe padding:0px 10px height:80px margin-bottom:15px line-height:20px }.clear{ clear:both }.xbt{ background-color:#ecf6ff padding:5px 10px margin-bottom:15px }.xbt a{font-size:14px font-weight:bold color:#333333 width:80px border-right:1px solid #cccccc text-align:center float:left }.xbt a:hover{color:#0066FF }.cpgs,.xlxh,.yyaj,.cptd,.gjjs,.cpxn{ display:block border-bottom:1px dashed #cccccc font-size:12px font-weight:bold color:#FF6600 padding:10px margin-bottom:10px }

衰减全反射探头筱晓光子供应衰减全反射探头，基于硫化物(CIR，1.5-6.0μm)和银化物(PIR，4.0-18.0μm)光纤开发而成。该系列衰减全反射探头具有如下特点：近红外/中红外透过率高、流动液体测量无盲区、恶劣工业环境工作稳定、使用所有光谱仪/自动化过程控制接口。衰减全反射探头应用广泛，包括：实时在线监控、过程分析技术、远程聚合控制、结晶过程监测。ATR-ProbeSpecificationProbe typeDiamond ATRZnSe ATRCubic Zirconium ATRTransmission range5.2-17μm+3.2-4.5μm3.2-17μm1.5-6.5μm600-47500px-1+2300-77500px-1600-77500px-11550-166250px-1Fiber typePIR-900/1000(AgCl:AgBr)PIR-900/1000(AgCl:AgBr)CIR-500/550(As-S-glass)Temperature range-150°C/+140°C-150°C/+140°C-150°C/+90°CPressure200Bar10Bar100BarTotal length1.5m, options: 1 to 5mShaft length230mm, options: 100 to 500mmShaft diameter12mm, 6.3mm, options: 3mmShaft materialHastelloy C22Length of legs300mm, options: 100 to 500mmProtective tube materialLiquid tight SS-conduit, KOPEX-tubeMinimal bending radiu130mmInput/output connectorLong SMA, options: any other typeCompatible process interfaceCeramat-FOS or SensoGate-FOS

高性能反射光栅λ/4反射波前出色的尺寸公差槽间距公差高性能反射光栅设计用于提供一致且可预测的性能。这种高度的可重复性简化了OEM系统的设计，并且降低了对枯燥的校准调整的需求。这些光栅具有λ/4的反射波前和高达90%的衍射效率，设计为可满足严苛应用的需求。高性能反射光栅带有裸铝膜，适用于300至1850nm的选件。注意:裸铝膜很容易碎，因此在处理时必须非常小心。通用规格有效孔径 (%):90构造 :Ruled Grating涂层:Bare Aluminum基底:Float Glass厚度 (mm):6.00 ±0.3基底上的刻划区域居中 (mm) :±1反射波前, RMS:λ/4凹槽与边缘对齐 (°):±0.15槽间距公差 (%) :产品信息槽/mm闪耀波长 (nm)尺寸 (mm)产品编码15030012.5 x 12.5#37-11715030025.0 x 25.0#37-12830076012.5 x 12.5#37-11830076025.0 x 25.0#37-129300120012.5 x 12.5#37-119300120025.0 x 25.0#37-130300170012.5 x 12.5#37-120300170025.0 x 25.0#37-131400130012.5 x 12.5#37-121400130025.0 x 25.0#37-13250056012.5 x 12.5#37-12250056025.0 x 25.0#37-133600185012.5 x 12.5#37-123600185025.0 x 25.0#37-134120030012.5 x 12.5#37-124120030025.0 x 25.0#37-135120040012.5 x 12.5#37-125120040025.0 x 25.0#37-136120075012.5 x 12.5#37-126120075025.0 x 25.0#37-137120090012.5 x 12.5#37-127120090025.0 x 25.0#37-138技术数据

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436

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一种可以改善您的分析应用的并可扩展的漫反射附件。Selector 漫反射附件采用优化的偏轴光路，可以选择性地收集漫反射信号，而且漫反射信号最大化，而镜反射信号最小化。为了便于样品研究，提供各种不同的样品杯，包括一个直径为11mm的样品杯、一个直径为4mm的微量样品杯以及一个斜杯。如果需要，可以使用斜杯来收集所有的信号（包括漫反射和镜反射信号）。另外，还有直径为12mm的摩擦垫，样品与摩擦垫摩擦，样品就分散在摩擦垫上，然后将摩擦垫放在样品架上，并放在Selector漫反射附件采样区域。Selector根据光谱仪光束方向的不同，有不同光束方向相匹配的设计，并安装在相应的底板上。明确了要配套的光谱仪，Selector底板会随Selector漫反射附件一起提供。The Environmental Chamber原位样池则使Selector漫反射部件得到更进一步的扩展。特 点具有漫反射和全反射功能最小的校准工作量简单的样品处理备有大量杯、微量杯及斜杯Diabraze摩擦垫上样应 用粉末样品难处理的固体样品可分散到KBr中的液体样品适合光谱仪品牌型号Analect FX6200, RFX40/65Biorad FTS7,40,60,65,100,135,155,165,175,185,ExcaliburBomem M100 series (110,120)Bomem MB100 series (155,157)Bruker IFS25, 45, 55, 48, 66, 85, 88, Vector 22Bruker IFS113Jasco (All Jasco models)Jeol (All Jeol models)Mattson Alpha, Polaris, Cygnus, SiriusMattson Galaxy Series 1000, 1020 (As Unicam Analytical (Philips) 9600)Mattson Galaxy Series 2000, 3000, 4000, 5000, 6000, 7000, Genesis Series, RS, InfinityMattson 8000(Old) (3&rdquo beam height)Mattson 8000(New) (3.5&rdquo beam height)Midac (All Midac models)Nicolet 500, 700, 710, 740, 800, 5PC, 5SXC, Magna, Protege,Avatar, NexusNicolet 6000, 60DX, 60SX, 60SXB, 170SXNicolet 205Nicolet 5DX, 5SX, 1MX, 5MX,10DXNicolet Impact 400Perkin Elmer PE1700, PE1800Perkin Elmer PE1700 with ShuttlePerkin Elmer PE2000, Spectrum 2000, GXPerkin Elmer PE2000, Spectrum 2000, GXPerkin Elmer PE1600 External BenchPerkin Elmer PE Spectrum OneShimadzu 8000, 8100, 8200, 8300, 8400, 8500, Prestige 21Unicam Analytical (Philips) 9600 (As Mattson 1000 series)Unicam Analytical (Philips) 9800 (As Nicolet 500 series etc)Any Other Spectrometers详细资料请联系我公司！

ATR附件基于光内反射原理而设计。从光源发出的红外光经过折射率大的晶体再投射到折射率小的试样表面上，当入射角大于临界角时，入射光线就会产生全反射。事实上红外光并不是全部被反射回来，而是穿透到试样表面内一定深度后再返回表面。在该过程中，试样在入射光频率区域内有选择吸收，反射光强度发生减弱，产生与透射吸收相类似的谱图，从而获得样品表层化学成份的结构信息。原理示意图

ATR附件基于光内反射原理而设计。从光源发出的红外光经过折射率大的晶体再投射到折射率小的试样表面上，当入射角大于临界角时，入射光线就会产生全反射。事实上红外光并不是全部被反射回来，而是穿透到试样表面内一定深度后再返回表面。在该过程中，试样在入射光频率区域内有选择吸收，反射光强度发生减弱，产生与透射吸收相类似的谱图，从而获得样品表层化学成份的结构信息。原理示意图

可变角原位25次衰减全反射ATRFT-IR或色散仪高灵敏度ATR检测特点入射光30°-60°可调25次反射适用于FT-IR或色散仪样品架配两个引脚标准 3” x 2” 样品架盘多种晶体可选可互换样品架(固体，液体，凝胶)25次反射 ATR可变入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款竖直方向的ATR晶体附件，入射光在30度-60度快速简单可调。通过调整样品架及晶体装置到适宜的位置，架体后方保持与刻度板设定角度相符。标准晶体架(P/N GS11001)用于固体样品，可选配液体架(P/N GS11003)及凝胶架(P/N GS11002)。为测量25次反射需保证样品覆盖梯形晶体正反两面。KRS-5是标配的ATR附件晶体，可选配一系列其他晶体如：ZnSe, Ge 及Si 以扩展样品操作能力及附件研究范围。四块反射镜通过调整角度及倾斜度反射、收集晶体的红外光。附件配备标准的3” x 2”架盘适配于市面上仪器的样品室，另外底座一角配备了支撑脚。支撑脚高度可调，保证附件在样品室内的平稳。支撑脚可通过翼形螺母锁住应用? 固体? 液体? 凝胶? 涂层及薄膜多深度研究订购信息GS11000入射光可调25次反射ATR附件含固体架及45度角KRS-5 晶体可选配件GS11001 25次反射ATR固体架GS11002 25次反射ATR凝胶架GS11003 25次反射ATR液体架耗材GS11004 KRS-5晶体 (45°)GS11006 Ge晶体(45°)GS11009 Si晶体(45°)GS11014 ZnSe晶体(45°)GS11008 PTFE垫圈液体架用（1大、1小，5套）

透射反射探头是最新的单程透射探头和双程透射反射光纤探头，与任何光谱仪和光度计兼容使用，透射反射探头用于工业和实验室的反应监测。透射反射探头功能应用可以在从紫外到中红外光谱范围内使用，用于液体中的远距离透射光谱。灵活强大，可应用在恶劣环境下的工业应用，如反应监测，PAT，结晶生成和筛选，用于生物制药分析和生物燃料的开发和生产。

30°镜面反射附件特点30°固定入射角便捷的水平样品台(20.8mm 小孔总直径)适用于粉末样品适用于色散光及高光强FT-IR最小对齐网格30°镜面反射附件镜面反射是通过检测光滑或平坦样品表面类似镜面的反射光的一种无损分析技术。当入射光和反射光角度相同时认为是镜面反射。反射光强度和入射光角度、样品折射率、表面粗糙程度及样品吸光能力相关。固定角镜面反射附件P/N GS19820提供固定的30°角射向固体表面的入射光以得到任何平坦样品表面上的光谱信息。(此方法不能用于液体或凝胶的分析)固体样品由附件顶部的小孔加入。入射光由一片固定的镜片反射到样品表面，通过镜面反射到镜片上，最后到达检测器。使用参比镜片(推荐)收集参比光谱随后得到样品的光谱。我们提供两种不同直径的小孔塞(5/10mm)减小样品表面的研究面积。样品在小孔塞及样品室大小的限制下保持平整，适宜集中研究。应用：表面涂层分析(光学高分子材料) 缺陷及杂质局部分析 易碎样品订购信息GS1982030°角镜面反射附件包含以下配件：光学元件，镜面反射镜片，样品小孔塞(直径5/10mm)

衰减全反射棱镜ATR Prism屹持光电提供各种衰减全反射棱镜ATR Prism元件，用于全内反射测量。通常，当样品难以用透射分析时，使用反射光谱法。顶置ATR系统适用于凝胶、薄膜和细粉分析。使用不同的顶板ATR系统分析难以处理的易挥发或敏感样品。它们还用于提供温度敏感分析和聚合物膜迁移，以及表面取向和反应动力学研究。单反射ATR系统使用高吸收和小样本进行静态或流动分析。当红外辐射进入具有较高折射率和良好透射率的材料时，发生内部反射。如果入射角超过临界角（等式1），则与晶体紧密接触的样品吸收能量。全内反射条件：其中n1，n2- 两种介质的折射率。如果系统使用多个反射附件，则仪器的光束反复反射，并且每次反射都会吸收一些能量。当光束离开晶体并到达检测器时，它包含来自样品的光谱数据。结果可以记录吸收光谱。以下因素会影响ATR频谱：入射光波长 样品和ATR晶体的折射率 瞄准角 晶体与样品接触的效率。ATR晶体由足够硬的材料制成，具有高折射率，晶体配置为允许内部反射。使样品与ATR晶体保持接触，并记录光谱作为晶体透射曲线和样品吸收曲线的叠加。图1衰减全反射棱镜ATR Prism光传播。屹持光电提供几种几何形状的定制ATR组件：梯形、平行四边形、杆和半球。使用各种材料：ZnSe、Ge、Si和蓝宝石。所有材料和产品均符合严格的控制标准，包括光谱特性和一般性能要求以及规格控制。Download ATR Elements Datasheet(PDF, 107 KB)

仪器主要指标及成套性：测量紫外反射光谱用途：用于精密分析仪器附件

仪器主要指标及成套性：测量红外反射光谱（光栅红外用）用途：用于精密分析仪器附件

单次反射ATR附件是一个高价值低价格预准直矫正的单次衰减全反射附件，与较为高价的单次反射附件相比，该单次反射ATR附件的灵敏度足够定量和定性分析。单次衰减全反射附件特点采用独特的45度ZnSe内部反射元件结合两个镜片用于光束导入到样品中并返回到仪器探测器中。这种设计最大可能地减少能量损失，透过的光能量可达百分之八十五。单次反射ATR附件还具有其它很多特色，它非常方便地从安装机构上装卸、清洗和更换ATR晶体尽管这些安装架都有顶板。这种方便性就可以使得其与其他ATR晶体互换而不需要购买完整的顶盖板.单次反射ATR附件可选FTIR光谱仪反射组件 （PartNo. #9000 ）单次衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 单次衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具. 我们推出的MIRacle 组合型水平单次反射ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单次衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

单层掠角镜反射附件：单层/掠角镜反射附件是一款两用的采样附件：在空气/液体界面的单层薄膜红外光谱研究；薄膜在固体反射表面的掠角反射。该附件可以很容易地从一种模式转换成另一种模式，只需更换样品架即可。红外光束通过安装在可移动的蝴蝶臂上的两个镜子投射到样品区域，一个镜子是固定的，转动蝴蝶臂即转动镜子，第二个镜子是可以调整的，倾斜和旋转，有一定的曲率半径，将光束在样品区域聚焦。有一个类似的&rdquo 蝴蝶&rdquo 臂/镜子来采集镜反射光，并将光投射到检测器上。掠角角度范围可调，8º 至85º ，没有像大多数光谱仪一样的杂散光。提供的孔径光圈来重新修正光束形状，确保在样品位置是掠角或近似掠角，提高该附件的性能。由PTFE特制的液体样品槽，用于放置干兴趣的液体样品。对于固体表面的采样分析，可以采用另一个方法：平板样品台，将该样品台放在单层/掠角反射附件的液体槽中。

产品特点：80 Spec 掠入射角型镜面反射附件(PIKE)这种附件用来测定相对较薄的膜和单分子层。样品朝下放置，然后对薄膜的光谱进行测定。本品包括基础光学部件、样品罩和偏振支架。10 Spec 镜面反射附件(PIKE)这种附件建议用来按照ASTM标准E1585 - 93 测定玻璃反射率。本品也可用来测定包括军用仪器、反射光学仪器、防反射(AR)镀层表面以及其他反射性和非反射性材料在内的各种表面的近正态反射率。订货信息：80 Spec 掠入射角型镜面反射附件(PIKE)产品描述Spectrum One/100/400/65Spectrum TwoFrontier80 Spec 掠入射角型镜面反射附件L1272248L1272248L127224810 Spec 镜面反射附件(PIKE)产品描述Spectrum One/100/400/65Spectrum TwoFrontier10 Spec 镜面反射附件L1272247L1272361L1272247

Selector™ 漫反射附件可根据您的应用选配升级的漫反射样品系统Specac的漫反射附件实际上测试效果非常优秀，在设计上，我们采用2个弧面反射镜，轴向光写设计，将所有反射信号全部包裹住，样品放置也非常方便，这样的设计使得测试效果非常理想。特点：漫反射/总反射光采集能力最小化对齐能力简单的样品处理大型、微型、带倾斜角度的样品杯人造金刚石研磨垫特殊底座选项扩展样品处理能力Selector™ 附件漫反射方法基于收集样品各个方向的散射光，Specac公司的Selector™ 附件采用轴向光学构造，选择性收集漫反射光，排除镜面反射光干扰。我们提供各种规格的样品杯，包括标准11mm直径、微型4mm直径及带倾斜角度的样品杯。倾斜角度样品杯用于收集总反射、漫反射及镜面反射组分。另外我们还提供直径12mm的磨料样品杯用于磨料的快速、简单样品制备。Selector™ 附件配备可与样品接触的磨料盘，整个附件安装在底座上。轴向光学设计提供额外空间可用于添加其他专业附件。环境类样品室为Selector™ 附件提供更强大的样品处理能力。? 粉末? 顽固性固体? 不适用KBr的液体样品订购信息GS19900 Selector™ 漫反射附件漫反射系统包括以下配件：专用底座的光学元件微型样品杯(4mm 直径)两个标准样品杯 (11mm 直径)20个磨料样品杯(12mm 直径)2个磨料样品杯架适用于采集总反射光的带倾斜角度样品杯

镜面反射组件（7201#）为FTIR红外光谱仪提供80度的镜面反射角,是理想的红外镜面反射附件.镜面反射组件功能特点镜面反射是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择. 30度的入射角用于测量比较常见的样品, 而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知, 那么比较适合选用, 它的可变角度范围为30-85度, 适合全部镜面反射的分析。这些附件都配有参考镜片,帮助用户获取背景光谱。,这些附件的设计都注意消除杂散光保证最小的能力损失。如果使用线网型偏振片,灵敏度还能进一步提高.本镜面反射组件和红外镜面反射附件仅仅提供80度的镜面反射角,. 30度和可变角度的附件可以另外购买.Specular Reflectance is a technique for analyzing transparent films which usually yield weak spectra by ordinary transmission techniques. Applications include surface coatings on reflecting substrates film thickness measurements by interference fringes and reflectivity coefficient determinations of metals. The application is the determining factor when deciding which angle of incidence should be selected. A 30 degree angle of incidence is normally chosen for more routine samples which have coating thicknesses in the micrometer range.镜面反射组件可选附件: 镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该红外镜面反射附件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片. 镜面反射附件,镜面反射组件,镜面反射光谱仪,红外光谱镜面反射,货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统镜面反射组件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 红外镜面反射附件由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 红外镜面反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.