龟裂厚度试验板

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龟裂厚度试验板相关的厂商

  • 公司位于长江大桥入口,建宁路98金海市场,交通方便。经营的产品:工程检测及试验仪器(非金属超声波检测仪,数显回弹仪,楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪,基桩检测仪,低应变检测仪,裂缝测宽仪,裂缝测深仪,钢筋锈蚀仪,工程检测工具)测绘仪器(全站仪,经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪);建筑装璜仪器(激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺,投点仪);;勘测仪器(地下管线仪、测深仪);通讯设备(对讲机,手持GPS,RTK GNSS);工业检测仪(接地电阻,漏电开关,红外测温仪,风速计,噪音计,照度计,拉拔仪,金属探测仪)
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  • 扬州市道纯试验机械厂(原江都市道纯试验机械厂)位于江苏省扬州市东郊。本厂专业生产和经营各种试验机,拉力机,万能拉力机,橡胶硬度计,老化试验箱,电子万能试验机,万能试验机,材料试验机,橡胶测试仪器,硫化仪,冲片机,老化箱,切片机,可塑度,橡胶冲击弹性试验机,橡胶低温脆性试验机,门尼粘度仪,阿克隆磨耗机,橡胶疲劳龟裂试验机,压缩应力松驰仪,橡塑密度计,橡胶压缩耐寒系数测定仪,悬臂梁/简支梁冲击试验机,熔体流动速率仪,落锤冲击试验机,热变形维卡温度测定仪等各类试验设备,广泛适合冶金、钢铁、电力、电线、电缆、橡胶、塑料、纺织、造纸、制革、建筑、建材、印刷、食品、医疗、塑料、纺织物、复合材料、大中专院校、军工和科研等各行各业使用。我厂拥有一流的加工生产设备,江苏省著名高校的技术支持,以及先进的管理理念。  我厂一向注重研究和开发新产品,并能为您设计制造特殊用途的测试仪器,以诚为本,将以精良的产品,优质的服务,为您提供一流的检测手段,并以定点企业的信誉保证检测仪器专业制作的优势,真诚地服务于您。我厂质量和售后服务你完全放心,“产品如人品”、“先做人后做生意”等是我公司的经营理念,以良好的服务立足市场。一年内假如出现任何质量问题,免费上门维修。感谢您在百忙之中浏览我厂的网站,欢迎您来考察。顺祝你身体健康,工作顺利。
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  • 深圳衡冠检测技术有限公司是中国领先的材料分析和材料测试解决方案的服务商,公司集研发、生产、销售和服务四位一体,专业提供一流的材料理化分析仪器和全面的材料物理力学测试解决方案.产品包括:导热系数仪、热膨胀仪、多元素化学成份快速分析仪、陶瓷专用检测设备、玻璃/耐火材料/炭素(石墨)试验设备、实验室研磨机、制样设备、实验电炉/工业烧结及烘烤设备等二百多种产品,其中多种产品填补了国内空白。 产品包括:一、日用/建筑/卫生/工程陶瓷检测仪器: 数显式陶瓷砖抗折仪(试验机),多元素快速分析仪,日用陶瓷热稳定性测定仪;陶瓷砖抗热震性测定仪;陶瓷砖釉面抗龟裂试验仪(蒸压釜);数显式陶瓷吸水率仪;陶瓷砖釉面耐磨性仪;陶瓷砖抗冻性测定仪;陶瓷无釉砖耐磨性能测定仪;陶瓷砖冲击试验仪;色差仪, 白度仪,陶瓷砖磨擦系数测定仪;陶瓷平整度、直角度、边直度综合测定仪;陶瓷砖厚度测量仪;致密度仪;数显式可塑性仪;电动坯料抗折仪;瓷胎透光度仪,多孔陶瓷显气率、容重试验仪;全套工程、多孔陶瓷试验仪器等。二、热分析仪器 系列热膨胀仪,系列导热系数测定仪,差热分析仪,蓄热系数仪等。三、玻璃、炭素、耐火材料试验仪器,高温铸造仪器,无机非金属材料理化实验仪器: 硅酸盐化学成份快速分析仪,;材料高温抗折仪;材料高温强度试验仪;影像式烧结点试验仪;材料荷重软化温度测定仪等;阻温特性仪,动态(静态)弹性摸量仪,玻璃析晶电炉, 玻璃软化点测定仪, 水份快速测定仪,高温型壳变形仪,全套炭素材料试验仪器。四、实验室、工业用电炉: 快速升温电阻炉;箱式梯度炉;坩锅炉(熔块炉);恒温干燥箱, 箱式炉,工业烧结炉等。五、实验室制样、研磨设备: 快速研磨机、卧式真空炼泥机;手动、电动制样机, 行星研磨机,破碎机等。
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龟裂厚度试验板相关的仪器

  • 材料表面龟裂检测氙灯老化试验箱 技术参数内形尺寸D×W×Hmm950×950×850外形尺寸D×W×Hmm1460×1280×1950温度范围RT+10℃~70℃(40℃~70℃订货时说明)湿度范围50%~98% R.H黑板温度63℃、100℃±3℃温度波动度≤±0.5℃温度均匀度≤±2℃湿度波动度+2、-3% R.H氙灯灯源水冷式灯管(国产)灯管功率6.0KW降雨时间0~9999min连续降雨可调降雨周期0~240min间隔(断)降雨可调喷水周期18min/102min或12min/48min(喷水时间/不喷水时间)淋雨水压0.12~0.15Mpa 喷水嘴孔径Ф0.8mm加热功率2KW加湿功率1.5KW样品架与灯管距离300~375mm样品试架360度旋转、旋转速率1r/min标准样板尺寸厚10mm×宽75mm×高300mm光谱波长290nm~800nm光照周期连续可调时间0~999H、M、S辐照度全光谱辐照度为550 W/m2,或者340nm处的辐照度为0.3-1.0 W/m2电源要求AC380(±10%)V/50HZ 三相五线制材料表面龟裂检测氙灯老化试验箱 用 途: 主要采用水冷长弧氙灯为光源,通过改变温度(样品架温度、工作室温)、相对湿度、降雨方式等方式,模拟户外气候试验条件的光、热和水的综合组合,对测试材料进行光化能与机械性能的人工老化试验。对主要控制参数为光辐照度、工作室温、样品架温度、相对湿度能闭合回路自动控制。本仪器采用先进的控制器PLC,控制先进、稳定;控制过程中有各种报警信息,维护性好。该装置符合国内氙灯老化试验标准与国际标准ATTCC、ISO、DIN、ASTM等。适应范围广泛,有塑料、涂料、橡胶、纺织品、汽车、建筑材料等。本仪器控制系统有:氙灯自动控制系统;氙灯冷却系统;温度控制系统;湿度控制系统;氙灯保障报警系统组成。材料表面龟裂检测氙灯老化试验箱 箱体材料:箱体内外全部采用不锈钢构成,利用进口先进的激光、线切割等加工设备,外观平整光滑,色泽均匀美观耐用,适应各种恶劣环境。 焊料及焊缝,其机械性能和物理性能,保证试验箱正常高温使用,*高温度可以达到150℃材料表面龟裂检测氙灯老化试验箱 结构:分为三层:上方安装的仪表电器有:循环鼓风电机、水电阻率监控表、氙灯冷却水监控表,变频器等。下方安装了氙灯电源的部件、氙灯冷却水箱、循环水泵等。中部为箱体工作室部分,为双层不锈钢,中间为硬质泡沫,厚度为50mm,保证进行高温试验时,外壁的温度不超过30℃。还有硬件与软件设计双重保护:当工作室温超过93℃,或工作室温超过试验设定温度的(1~100%,用户可自行设定),仪器自动停止,转到冷却循环程序,避免高温样品损坏。
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  • 橡胶疲劳龟裂试验机 400-860-5168转6199
    特点及用途:PL-100橡胶疲劳龟裂试验机用于测定硫化橡胶、胶鞋等材料反复屈挠后的龟裂性能,符合GB/T 13934《硫化橡胶屈挠龟裂的测定》及GB/T13935、GB/T3901、GB/T4495、ISO132、ISO133等要求。数字设定、显示屈挠次数,自动停机,将主机与电器控制设计为一体,每条试样可单独装夹,造型美观、操作方便,为国内最新改进型试验机。 技术参数: 1.下夹持器往复频率:300c/min 2.上、下夹持器可调节最大距离:200mm 3.偏心轮可调节最大距离:50mm 4.下夹器最大距离行程:100mm 5.外形尺寸:700mm×450mm×980mm 6.净重:120k
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  • No.119(德墨西亚)屈挠龟裂和龟裂增长(疲劳)试验机DE MATTIA FLEX-CRACKING AND CRACK GROWTH TESTER测试标准:JIS-K6260、ASTM-D813、BS-903、ISO-132产品介绍:该设备是通过反复给予硫化橡胶及热塑性橡胶弯曲变形,测定其开裂的发生及成长的德墨西亚弯曲开裂试验机。将试片固定在平行放置的上下两片夹盘上,在同一平面上进行往复运动使其弯曲。同时我们还为您提供可以在低温槽内进行试验的L型试验机。
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龟裂厚度试验板相关的资讯

  • 奥林巴斯全新测厚解决方案:使用交互式自定义模板标准化厚度检测
    从创造日常用品到开发尖端技术,制造工业几乎在每个领域都发挥着关键作用。确保产品质量和合规性是这项工作的关键,而工件检测有助于维持这些高标准。为了简化检测过程并优化质量控制工作,我们的工程师开发了一种新的厚度测量功能:交互式自定义模板。72DL PLUS超声测厚仪上提供的交互式自定义模板可在工件图像上显示清晰标注的检测位置,从而为用户进行常规厚度测量提供有用的可视化工具。此文将探究这种交互式自定义模板如何在从标准化厚度检测过程到改进质量控制和促进数据分析等方面为制造工业提供支持。标准化制造工业的厚度检测过程交互式自定义模板使用清晰标注的检测位置提供被检工件的视觉参考标记。管理员可以使用PC界面应用程序,通过几个简单的步骤创建模板:上传工件图像标记要检测的具体位置为检测位置添加自定义名称(可选)选择用于指示厚度测量状态和质量的颜色创建自定义模板后,管理员就可以轻松地将模板发送到生产车间的一台或多台72DL PLUS测厚仪上。通过在多台设备上实施标准化,消除了歧义,让所有检测员都可以遵循相同的流程,对工件进行一致的评估,而不受地点或当班时间的限制。通过PC界面应用程序上的工件创建工作流程,管理员可以在上传的工件图像上添加厚度测量位置(TML),并选择用于指示TML状态的颜色。厚度检测过程的效率和准确性当检测员在72DL PLUS测厚仪上调用工件设置时,仪器会显示待测工件的图像,并清楚标明检测位置。检测员可以使用触摸屏缩放和平移模板,以确认他们正在检测工件上的正确位置。自定义模板的交互特性可在检测过程中提供实时反馈。在记录测量值时,测厚仪会根据厚度测量位置(TML)的状态更新模板的颜色,从而为检测员提供即时的视觉反馈。通过这种交互式功能,检测员可以快速识别潜在的厚度变化或缺陷,从而缩短检测时间,迅速纠正问题。72DL PLUS测厚仪上显示汽车工件图像的交互式自定义模板。相应颜色的TML为生产车间的检测员提供实时反馈。厚度检测培训和支持交互式自定义模板还有益于培训新的检测员,因为模板明确了需要检测的具体位置。在检测数据文件(IDF)中,管理员和检测员等人员都可以轻松复核每个TML的测量值、轴向扫描、报警状态和其他信息,包括其在模板上的检测状态。这些数据可以直接在仪器上或通过PC界面应用程序进行复核。这种设置可促进检测做法的一致性,并方便新检测员遵守既定的检测标准。在PC界面应用程序上复核包含每个TML测量值的检测数据文件,并可在波形视图和工件图视图之间切换。促进厚度检测的数据管理和分析交互式自定义模板还有助于数据管理和分析。测量数据可轻松记录并与模板上的具体位置相关联。数据分析师可以回顾传输到PC界面应用程序的检测数据文件。他们可以研究工件每个TML的厚度趋势,并将这些信息用于质量控制文档、工艺改进和合规目的。PC界面应用程序显示多层测量工件的TML厚度趋势赋能制造工业数据驱动决策通过PC界面应用程序中的报告生成器,数据分析师可以利用一系列检测数据为利益相关方生成报告:工件设置信息检测数据文件统计厚度趋势带TML的工件图像通过这些支持数据驱动决策的全面报告,利益相关方可以根据可靠、全面的数据做出明智的选择。通过使用交互式自定义模板标准化检测、提高效率和准确性、改进培训和促进数据分析,制造商可以优化质量控制工作。我们期待看到这一功能给制造业带来的不断进步和影响。
  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
  • Filmetrics在台湾和慕尼黑成立薄膜厚度测量实验室
    加利福尼亚州圣地亚哥--(美国商业资讯)--Filmetrics 宣布在台湾台南和德国慕尼黑成立薄膜厚度测量实验室。该实验室不仅为亚洲和欧洲提供薄膜厚度支持中心,而且都并网到 Filmetrics 全球支持网来及时为我们的客户提供网络上和电话上的支持。新增设的两个实验室完成了我们的二十四小时全世界支持网来实现实时视频,远程诊断,以及在线“动手”服务。 这在实时支持薄膜厚度测量用户上标志着一个重要进展。  新的实验室将会支持所有的F20应用,包括半导体,太阳能,显示器,以及生物医学工业。Filmetrics 总裁查斯特博士说,“从现在起我们欧洲和亚洲的客户可以享有我们在美国的客户所享有的高水平的支持。并且,我们新的24小时支持网就好像Filmetrics应用工程师每天任何时候都坐在他们旁边。“  Filmetrics仪器用白色光照射薄膜,再根据测量光谱反射来确定薄膜厚度。波长范围可在220到1700纳米之间选择。Filmetrics软件分析收集到的光谱数据,从而确定厚度,光学常数,和其他用户选择的参数。  公司网站 http://cn.filmetrics.com  Filmetrics公司介绍  凭借多年薄膜厚度测量的经验和遍布全球的技术支持中心,Filmetrics提供了简单易用的仪器和无可比拟的支持。总部位于加利福尼亚州圣地亚哥,Filmetrics拥有全系列薄膜厚度测量系统,并不断开发更有效的薄膜测量新产品和技术。Filmetrics成立于1995年,并迅速奠定了台式薄膜测量行业的领导地位。  联系方式:  查斯特博士, Filmetrics, Inc., +1-858-573-9300  电邮:chalmers@filmetrics.com

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龟裂厚度试验板相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 默克 Supelco TLC 硅胶60 薄层层析板 20×20 25块 铝 厚度200μ m TLC 硅胶60 薄层层析板 20×20 25块 铝 厚度200μm
    默克薄层层析产品简介 在高效液相色谱技术发达的今天,薄层层析色谱技术因其成本低廉,快速高效,适用性广( 基本涵盖所有物质包括农药、类固醇、脂类、核苷酸、配糖、碳水化合物、脂肪酸等)依然是广大化学家们热衷的分离检测手段。从1966年开始,德国默克公司就向全世界的化学分析家提供薄层层析预制板。几十年来,默克不断地推陈出新,高效薄层层析板、Lichrospher 球形硅胶薄层层析板,微晶纤维素板,各种改性键合硅胶板等这些对薄层色谱分析有些重要意义的产品,不停地更新并创造着全新的应用领域。默克公司薄层层析产品标的含义F一含有荧光指示剂F254 +366一荧光指示剂激发波长为254和366nmF254一绿色荧光指示剂F254s一蓝色荧光指示剂(对酸稳定)G—粘合剂含硫酸钙H—不含粘合剂P—制备薄层层析R—经特殊工艺进行深度纯化W—耐水根据不同的填料特征,默克公司的薄层层析板分为四大类:常规薄层层析板(TLC),高效薄层层析板(HPTLC),整体化薄层层析板(UTLC),制备薄层层析板(PLC)。各种类型薄层层析板的比较TLCHPTLCUTLCPLC平均粒度10-12μm5-6μm整体化填料25μm粒径分布5-20μm4-8μm整体化填料5-40μm涂层厚度250μm200μm10μm0.5mm,1mm,2mm展开高度10-15 cm3-6 cm1-3 cm10-15 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl5-10 nl5-20μl分析时间20-200 min3-20 min1-6 min20-200 min 根据不同的担体类型,默克公司的薄层层析板分为三类:玻璃层析板,铝薄层析板,塑料层析板。 根据不同涂层类型,默克薄层层析板分为以下:硅胶60、RP-18、RP-8、 RP-2、NH2,DIOL、 CN、氧化铝、微晶纤维素( Cellulose)、聚乙醇胺微晶纤维素、浓缩带薄层板、多肽分析专用HPTC板( ProteoChrom® )、硅藻土、硅藻土/硅胶混合板。常规薄层层析板 通常情况,正相硅胶薄层层析板可以适合绝大多数的物质。默克公司的正相硅胶板采用Silica 60为原材料,通过特有的聚合技术,使薄层板的表面坚硬且光滑。覆盖紧密、光滑的表面使得默克的薄层层析板拥有极好的分离效果。常规TLC参数平均粒度10-12μm粒径分布5-20μm涂层厚度250μm展开高度10-15 cm上样体积1-5μl分析时间20-200 min铝薄板VS玻璃板 由于玻璃层析板体积及重量庞大,运输存放不便,使得使用成本- -支居高不下。很多工艺落后的薄层板由于厚度太大,切割不便,使得使用起来很不方便,安全方面也不易控制。鉴于这种种不利因素,默克公司推出了以铝薄片为底衬的薄层层析板,结合默克公司独.一无二的聚合技术,使得铝薄板在实用性方面大大超越了传统的玻璃板。订货信息Si 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 6020×2025块玻璃1.05721.000110×2050块玻璃1.05626.00015×20100块玻璃1.05724.00012.5×7.5100块玻璃1.15326.0001Silica gel 60 F25420×2025块玻璃1.05715.000110×2050块玻璃1.05729.00015×20100块玻璃1.05714.00015×2025块玻璃1.05808.00015×10200块玻璃1.05719.00015×1025块玻璃1.05789.00012.5×7.5100块玻璃1.15327.00012.5×7.5500块玻璃1.15341.0001Silica gel 60 WF 254s20×2025块玻璃1.16485.0001LuxPlate® silica gel 60 F 25420×2025块玻璃1.05805.000110×2050块玻璃1.05804.00015×20100块玻璃1.05803.00015×1025块玻璃1.05802.00012.5×7.5100块玻璃1.05801.0001Silica gel 60*20×2025块铝1.05553.00015×1050片铝1.16835.0001Silica gel 60 W*20×2025片铝1.16487.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片铝1.05554.000110×2025片铝1.05570.00015×1050片铝1.16834.00015×7.520片铝1.05549.0001Silica gel 60 WF 254s*20×2025片铝1.16484.0001Silica gel 60*20×2025片塑料1.05748.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片塑料1.05735.00014×850片塑料1.05750.0001其中含*项涂层厚度为200μm不含*项为250μmSi 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 40 F25420×2025块玻璃1.05634.0001涂层厚度为250μmW:可耐水F254:含荧光指示剂F254s:含酸稳定的荧光指示剂高效薄层层析板(HPTLC) 和传统的薄层层析板相比,高效薄层层析板拥有不可替代的优势,具体如下:分离速度大大加快,节省约一半的时间灵敏度大幅度提高,约5-10倍重现性更好,色带更窄,适合于定量分析规格参数TLCHPTLC平均粒度10-12μm5-6μm粒径分布5-20μm4-8μm涂层厚度250μm200μm展开高度10-15 cm3-6 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl分析时间20-200 min3-20 minTLC 和 HPTLC 的比较订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC silica gel 6020×1050块玻璃1.05641.000110×1025块玻璃1.05631.000110×10100块玻璃1.05633.0001HPTLC silica gel 60 F 254s20×1025块玻璃1.15696.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×1050块玻璃1.05642.000110×1025块玻璃1.05628.000110×10100块玻璃1.05629.00015×1025块玻璃1.05616.0001HPTLC silica gel 6020×2025片铝1.05547.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×2025片铝1.05548.00015×7.520片铝1.05556.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s20×1025块玻璃1.15552.0001HPTLC silica gel 60 F 254 AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.11764.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.12363.0001New HPTLC Premium Purity Plate20×2025块玻璃1.05648.0001含*项涂层厚度为100μm不含*项为200μmLichrospher 高效薄层层析板默克公司最早将Lichrospher 球形硅胶应用到薄层层析板,这又将薄层层析方法的分离极限提高了一个层次,实现了复杂样品的高通量分析。和传统的HPTLC相比,Lichrospher HTPLC 有以下优势:分离时间更短,约可缩短20%分离效果更好检出限更低订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F25420×1025 plates玻璃1.15445.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F 254s20×2025 plates铝1.05586.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 AMD WR F254s extra thin*20×1025 plates玻璃1.05647.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 RP-18 WF254s20×1025 plates玻璃1.05646.0001
  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
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