光束发散测量仪

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光束发散测量仪相关的厂商

  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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光束发散测量仪相关的仪器

  • 以色列Duma Optronics 公司于1989年成立,是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富,功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型:CCD类型分析仪(最新产品)、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。FocusGage光束发散测量仪 整个系统包括安装在一个扫描束腰附件上的测量探头和一个独立的控制单元(有两个LCD显示操作按钮)。一个外部的VGA显示屏可以和控制单元连接,给出充分的图像显示。这个单元带一个RS232接口与另一台计算机通讯,以及一个FDD数据存储器。性能参数:参数数值光谱范围SiInGaAsUV400-1100nm800-1800nm190-1100nm光束功率范围SiInGaAsUV100μW-1W(自带衰减片)100μW-1mW(自带衰减片)100μW-1mW光束大小(D)9mm(有透镜,Si& UV)12.7mm(无透镜,Si& UV)3mm/5mm(无透镜,InGaAs)分辨率≥10μm焦深精确度±50μm尺寸100x173x415mm机械调节水平角度:±1.5°垂直角度:±1.5°
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  • BeamWatch是一款测量高功率激光光束质量的仪器,可测量激光束腰位置测量激光束腰尺寸、记录激光束腰位置的漂移,无需任何衰减,功率测量范围400W—无上限,波长范围:980-1080nm。高功率激光光束质量测量仪BeamWatch应用: 高功率激光切割 高功率激光焊接 激光器参数标定高功率激光光束质量测量仪BeamWatch性能参数: 型号BW-NIR-1-155BW-NIR-1-55BW-NIR-2-155BW-NIR-2-55波长980nm-1080nm最小功率密度2 Megawatts/cm2最大光斑尺寸12.5mm最小光斑尺寸155um55um155um55um连接电脑方式Gige Ethernet精度束腰尺寸精度±5%束腰位置精度±125um焦点漂移±50um发散角精度±3.5% RMSM2精度±3.5% RMS测量结果空间结果束腰尺寸X & Y、束腰位置X & Y、焦点漂移X & Y、质心X & Y、光标位置处尺寸、光标位置处椭圆度、瑞利长度等光束质量结果M2(X & Y & average)、K(X & Y & average)、BPP (X & Y & average)发散角(X & Y & average)
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  • 美国 DataRay 公司成立于1988年,专业提供激光光束分析仪器,对激光光束的光斑大小,形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析;可提供2D或3D的显示,并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束,帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域:1、通信:光缆加工/熔接、研发2、 材料加工:焊接、蚀刻、切割3、消费设备:光学鼠标4、天文5、激光制造与品控6、光谱学7、3D扫描8、粒子检测9、 LED:室内照明、车头灯10、 LIDAR:AR、VR11、生物医学:眼科手术、激光手术、内部跟踪一、相机型光束质量分析仪基于相机的光束分析系统是使用非常广泛的,它无法获得最高分辨率,但是对于低重复频率脉冲激光、非高斯形状光束或者一般用途的光束分析应用,相机型光束分析仪是很好的选择。此外,Dataray光束质量分析仪通用的C/F-Mount接口设计,使外加衰减片、扩束镜、紫外转换装置、红外转换装置更为方便。各种型号的相机通过选配转接头可以用于特定的波长范围,详见下表。波长范围WinCamDTM-LCMBladeCam2TaperCamD-LCMWinCamD-IR-BB WinCamD-QD 190-1150nm√√×××355-1150nm√√√××355-1350nm√√×××1480-1605nm√√×××350-2000nm × × × ×√2-16μm×××√×规格表型号探测元件总像素百万像素尺寸µ mH * V探测面积mm连续或脉冲S-WCD-LCM-C1” CMOS4.25.5*5.52048*204811.3*11.3CW/脉冲S-BC2-HR1/2” CMOS1.35.2*5.21280*10246.6*5.3CWS-BC2-XHR1/2” CMOS3.13.2*3.22048*15366.5*4.9S-TCD-LCMCMOS4.212.5*12.52048*204825*25CW/脉冲S-WCD-IR-BB-7.5氧化钒微测热辐射计0.3117*17640*48010.9*8.2CW/脉冲≥1kHzS-WCD-QD-1550量子点探测器2.0715*15最大1920*1080最大28.8*16.2CW/脉冲配套软件(全功能且免费!!)功能完善、操作简单 光束质量的1D/2D/3D分析 可测量光束质量指向稳定性、光束发散角 可以进行二次开发①、 新品:中红外光束质量分析仪 WinCamD-IR-BB 产品特点:&bull 2到16μm氧化钒微测热辐射计&bull 探测面:640 x 480或10.88 x 8.16 mm&bull 17μm像素&bull USB 3.0端口供电&bull 14位数模转换&bull 14 ms时间常数——测量脉冲(PRR≥1kHz)或连续波光&bull 采样频率:7.5FPS&bull 无斩波器和TEC冷却&bull 可选配保偏光取样器和透镜组 应用领域 :&bull MIR/FIR/CO₂ 激光轮廓分析&bull 现场分析CO₂ 激光器和激光系统&bull 光学组装和仪器对准&bull 光束漂移记录&bull 高分辨率红外成像 ② 、新产品:TaperCamD-LCM:25mm x 25mm大靶面、355-1150nm产品特点l 355-1150nm,CMOS探测器l 探测面:2048 x 2048或25 x 25 mml 12.5μm像素l USB 3.0端口供电l 12位数模转换,车载微处理器l 25000:1电子自动快门,79us-2sl 信噪比:2500:1l 全局快门,光学/TTL触发器l 隔离脉冲触发和并行捕获功能应用领域l 连续和脉冲激光轮廓分析l 激光器和激光系统的现场维修l 光学组装和仪器对准l 光束漂移记录③、新产品:WinCamD-QD:通信波段光束质量分析仪、400-1700nm / 350-2000nm 产品特点:1. 量子点探测器,1550nm已优化2. 波长范围400-1700nm / 350-2000nm3. 多种探测面可选,标准为640x512(9.5x7.68 mm),可达1920x1080(28.8x16.2 mm)4. 15μm像素5. 14位数模转换6. 全局快门,既可测连续光,也可测脉冲光7. 信噪比:≥2100:1 8. GigE或USB3.0接口应用领域:1. 1550nm激光轮廓分析2. 1550nm激光器和激光系统的现场维修3. 光学组装和仪器对准4. 光束漂移记录5. M2测量产品参数:探测器量子点探测器型号S-WCD-QD-1550 / S-WCD-QD-2000波长范围400-1700 nm / 350-2000 nm分辨率S-WCD-QD-1550/2000: 640x512 S-WCD-QD-1550/2000-L: 1280x1024 S-WCD-QD-1550/2000-XL: 1920x1080有效探测面积S-WCD-QD-1550/2000: 9.5x7.68 mm S-WCD-QD-1550/2000-L: 19.2x15.36 mm S-WCD-QD-1550/2000-XL: 28.8x16.2 mm像元尺寸15 x 15 µ m最小可测光斑~150 µ m信噪比≥2100:1 (33 dB optical / 66 dB electrical)数模转换14位全幅帧速S-WCD-QD-1550: 25 fps S-WCD-QD-1550-L: 25 fps S-WCD-QD-1550-XL: 25 fps快门类型全局快门可测激光器类型既可测连续光,也可测脉冲光 二、扫描狭缝光束轮廓分析仪扫描狭缝轮廓分析系统提供高分辨率,但是要求光束小于1μm且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像,但是在很多情况下XY或XYZθΦ轮廓就可以满足应用要求。型号Beam’R2BeamMap2波长范围Si: 190-1150nmInGaAs: 650-1800nmSi+ InGaAs: 190-1800nmSi+ InGaAs, extended: 190-2500nm可测光斑大小2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)分辨率 0.1 μm or 0.05% of scan range精度 ± 2% ± ≤0.5μm连续或脉冲CW, Pulsed Minimum PRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)]kHzM2测量需要配上电动导轨可直接测量,无需电动导轨最大可测功率1 W Total & 0.3 mW/μm2增益32dB三、M2测量仪:Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M2测量仪,重复精度大大优于行业平均水平,主要用于测量激光器的M2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M2测量模块,可以实现不同波段(190nm~3.9μm),不同光束口径的M2测量系统,为了能够满足不同客户的要求,还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务,这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器,包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。 该系统为自动测量系统,并且整个测量过程不超过2分钟,可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机,以及高精度的自动导轨,从而确保测量的准确性。搭载WinCamD的M2测量仪:M2DU-WCD搭载狭缝式Beam'R2 的M2测量仪:M2DU-BR WinCamD M2 Stage 四、线光斑分析仪Dataray公司独有的线光斑测量仪光斑长度可以达到200mm, 通过在高稳定、高重复性的电动平台上搭载光束质量分析仪,利用先进的图像拼接处理的软件设计,实现大尺寸线光斑的实时测量。Dataray公司提供50mm(LLPS-50)和200mm (LLPS-200)两种行程的线光斑测量仪供客户选择。 产品特点l 光谱范围:190-1150nm(取决于使用的光束质量分析仪,可拓展至163nm-16um)l 分辨率:4um(取决于所使用的的光束质量分析仪)l 线光斑的宽度(最小55um)和长度测量(最大200mm)l 线光斑倾斜角测量l 通过线光斑回归线测量竖直方向圆心 应用领域l 机器视觉l 3D扫描l 条纹扫描l LD激光阵列发光测试l 粒子计数l 水平仪经纬仪设备现场分析 五、大尺寸光斑测量仪DataRay公司通过将激光照射在透射屏上,利用高质量的透镜进行成像,可以实现大尺寸的光斑测量,最大可测光斑可以达到200mm。产品特点l 配置 WinCamD-LCM相机l 光谱范围:355-1150nml 透射屏尺寸:200 x 200 mml 有效像素大小:170 x 170 μml 成像透镜:焦距12.5mm,f/1.4-f/16l 信噪比:2500:1应用领域l 大尺寸激光光束测量l 全强度分布分析l 主/次直径测量六、保偏光取样器保偏光取样器(PPBS)可用于激光光束质量分析系统,它采用正交双楔设计从高功率激光束中分出一小部分光进行测量。PPBS采样的同时保留输入光束的偏振和消除每个空气玻璃界面多次反射的影响,这种精确的激光衰减和分光模式,使得激光形貌不会发生任何畸变,便于后续的光斑分析。产品特点l 波长范围:190-16um(取决于所选光楔)l 最大适用功率:50Wl 通光口径:17.5mml 衰减:~1000:1(取决于波长)l 偏振不敏感应用领域l 激光光斑分析七、其他配件UV转换器ND滤光片红外转换器缩束器显微物镜
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光束发散测量仪相关的资讯

  • CINOGY光束质量分析仪—角度响应校准:应用于大角度发散角的激光光束测量
    Cinogy光束质量分析仪—角度响应校准:应用于大角度发散角的激光光束测量1.1 应用范围有不同种类的应用需要考虑角度响应。这些应用大多使用(非常)发散的光束。在这种情况下,我们在一幅图像中有连续的入射角范围。照相机的灵敏度取决于激光束的入射角,这是由过滤器和传感器造成的。1.2 角度线性原因1.3过滤器这里,我们将只考虑吸收滤波器。如果光束没有垂直入射到滤光器上,则通过滤光器的路径较长。较长的路径导致较强的吸收,因此相机(滤光片和传感器)的响应较低。与过滤器相关的效果是各向同性的。但是,如果滤光器相对于传感器倾斜(取决于相机型号),则会在滤光器倾斜的方向上产生各向异性。入射角αin的线性透射可以用数学方法描述,如果透射指数为垂直光束T0和折射率n已知。因为对吸收性滤光片来说,T0与波长有很大的线性关系,与入射角度有关的相对透射率Trel也与波长密切相关。1.4 传感器角度响应取决于传感器技术、传感器类型、波长和微透镜。通常它不是各向同性的。图1:KAI-16070对单色光(未知波长)的角度线性灵敏度。参考:KAI-16070的 数据表图2 CMX4000白光的角度线性灵敏度如这些示例所示,对于不同类型的传感器,角度响应可能完全不同。因为这种效应还 取决于波长和单个传感器(每个传感器表现出稍微不同的行为),取决于波长的校准是必要的。两个传感器都显示出各向异性。为了考虑校准中的各向异性,需要比仅在x和y方向上更复杂的测量。2 涂层通过一种特殊的涂层,我们可以消除(主要是抑制)传感器本身的角度产生。剩余的影响角度的灵敏度是由滤波器引起的。这产生了以下主要优点:1)剩余的角度响应是各向同性的,这意味着它不再取决于入射角的方位角。2)剩下的角度响应的校正系数更小,因此更不容易出错。下面的图表显示了CinCam cmos Nano 1.001在940nm下的两个角度响应测量值,前面有CMV4000传感器和OD8吸收滤光片。第1张图表中的摄像机采用默认设置,没有特殊涂层。图3:CMV 4000传感器在x(蓝色)和y(橙色)方向的角度响应,前面有OD8吸收滤光片,在940nm处测量。上半部分显示相对角度响应,下半部分显示测量点和蕞佳拟合曲线之间的相对偏差。第二张图中的相机是用特殊涂层制作的。图4:CMV 4000传感器在x(蓝色)和y(橙色)方向的角度响应,该传感器具有特殊涂层,前面有OD8吸收滤光片,在940纳米处测量。上半部分显示相对角度响应,下半部分显示测量点和蕞佳拟合曲线之间的相对偏差。这里,角度响应是各向同性的、平滑的,对于大角度,下降效应不太明显。CinCam CMOS Nano Plus-X针对传感器和外壳正面之间的极短距离进行了优化。这使得入射角度高达65°时的角度响应测量成为可能。3 角度响应的拟合函数拟合函数是Zernike2多项式,其中入射角的正弦用于半径。这些多项式为入射角的任意方向提供了x和y方向的简单插值。用这种方法,我们可以用少量的系数描述高达±60度的测量结果。4 均匀性由于生产原因,涂层并不在任何地方都具有完全相同的厚度。这导致照相机灵敏度的不均匀性增加。这个缺点通过进一步的均匀性校准来补偿。图5:940纳米无涂层传感器(紫色)和均匀性校准后(绿色)的相对灵敏度。5 精度整体精度取决于以下几点:1)拟合精度。2)角度响应的各向同性。3)垂直光束位置(x,y)的精度。4)顶点到传感器的光学距离的精度(z)。5)蕞大角度下的角度响应下降。通过特殊的涂层,我们可以提高拟合精度和角响应的各向同性。此外,大角度灵敏度的相对下降要弱得多。6 RayCi中的校正要求为了根据角度响应校正图像数据,必须满足以下要求:1)角度响应校准数据必须可用于每个波长。该数据由蕞佳拟合的Zernike多项式系数组成。2)为了生成从每个像素到相应入射角的映射,必须知道光束垂直的x和y传感器位置。3)需要传感器和激光焦点位置之间的光学距离。4)CINOGY Technologies提供外壳和传感器之间的光学距离作为额外的校准数据。5)外壳和焦点之间的距离必须由用户提供。6)软件版本必须是RayCi 2.5.7或更高版本。 昊量光电提供的德国Cinogy公司生产的大口径光束分析仪,相机采用CMOS传感器,其中大口径的CMOS相机可达30mm,像素达到惊人的19Mpixel。是各种大光斑激光器、线形激光器光束、发散角较大的远场激光测量的必不可少的工具。此外CinCam大口径光束分析仪通用的C/F-Mount 接口设计,使外加衰减片、扩束镜、紫外转换装置、红外转换装置更为方便。超过24mm通光孔径的大口径光束分析仪CinCam CMOS-3501和CinCam CMOS-3502更是标配功能齐全的RayCi-Standard/Pro分析软件,该软件可用于光束实时监测 、测量激光光斑尺寸 、质心位置、椭圆度、相对功率测量(归一化数据)、二维/三维能量分布(光强分布) 、光束指向稳定性(质心抖动) 、功率稳定性 (绘制功率波动曲线)、发散角测量等 ,支持测量数据导出 ,测试报告PDF格式文档导出等。主要特点: 1、芯片尺寸大,可达36mm 2、精度高,单像元尺寸可达4.6um 3、支持C/C++, C#, Labview, Java语言等多种语言二次开发主要技术指标:RT option: CMOS/ccd-xxx-RT:响应波长范围:320~1150nmUV option:CMOS/CCD-xxx-UV:响应波长范围:150nm~1150nmCMOS/CCD-xxx-OM:响应波长范围:240nm~1150nmIR option:CMOS-xxx-IR:响应波长范围:400~1150nm + 1470nm~1605nm 关于昊量光电昊量光电 您的光电超市!上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品!与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等优质服务,助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念!
  • 美国TSI公司激光流体测量仪器培训及技术研讨会
    LDV/PDPA 、PIV及V3V原理、系统构成与典型应用LDV/PDPA 与PIV硬件安装、调试与维护LDV/PDPA 与PIV软件参数设置与使用实验(加湿器与磁力搅拌器涡流实验)激光流体测量技术在消防与发动机喷嘴,汽车外形,飞机机翼,搅拌槽桨片,大型水坝等机械设计与制造,和湍流、边界层等复杂流动的研究中具有越来越重要的作用。TSI公司是专业的流体测量仪器生产供应商。从1984年进入中国,目前已经成为中国市场占有率最高的流体测量仪器厂家。为了提高用户的应用水平,TSI公司特举办此次研讨会,将系统的介绍LDV/PDPA、PIV及V3V原理、构成及应用,还将进行硬件及软件的实际操作培训。 相位多普勒粒子分析仪(LDV/PDPA)是单点、非接触式、高精度与高响应频率的测量工具,利用流体中运动微粒散射光的多普勒频率与相位变化来获得流体一维至三维速度与微粒粒径信息。 粒子图像测速仪(PIV) 通过对比分析一定时间间隔连续拍摄的两张示踪粒子的图像,获得流场中一平面上两维或三维的速度场。 体三维速度场仪(V3V),将激光流场测量技术带入了一个全新的层面,能在真实的流体立方体积内测量完整的体三维速度场。 会议安排2011年6月21日上午:理论培训及讨论:原理及系统构成介绍、系统各部件介绍与典型应用下午:硬件操作培训:LDV/PDPA(激光器安装及激光准直、分光器与耦合器安装、发散接收探头光斑重合度检验及校正、粒径测量探头安装);PIV(激光器操作、相机操作与系统标定) 2011年6月22日上午:软件操作培训:LDV/PDPA(Flowsizer)、PIV(Insight3G)软件参数设置及基本操作下午:实验:加湿器喷雾及磁力搅拌器会议地点北京市蟹岛绿色生态农庄(蟹岛度假村)电话:010-84324910/12地点:北京市朝阳区蟹岛路1号(首都机场辅路中段南侧)签到时间:6月20日中午后交通:北京市内用户可乘641路公交车直达蟹岛度假村东门,或乘10号线地铁于三元桥倒641路到达;乘飞机到达的用户可从首都机场乘出租车直接前往机场辅路中段南侧蟹岛路1号的蟹岛度假村。
  • 重大科学仪器开发专项三维数字彩色成像测量仪项目启动
    p  9月11日,国家重点研发计划重大科学仪器设备开发重点专项“三维数字彩色成像测量仪”项目启动会在广东深圳举行,该项目旨在提升我国科学仪器设备的自主创新能力和装备水平,进一步推动3D和虚拟现实产业跨部门、跨行业、跨区域研发布局和协同创新。/pp  这一重大专项由国内3D扫描打印和VR/AR领域的领军企业易尚展示牵头,联合清华大学、北京航空航天大学、深圳大学、南京理工大学、河北工业大学、中航工业长城计量所等国内光学领域顶尖研究院所,针对三维测量仪器设备技术和产品的迫切需求,以关键核心技术和部件的自主研发为突破口,研制技术国际领先、具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的结构光三维数字彩色成像测量仪。项目将在赶超国际一流“三维数字彩色成像测量”技术、进行产品迭代升级等方面形成良好的契机和优势,并在树立行业创新标杆方面发挥积极作用。/pp  项目实施后,能大幅提升我国三维数字化科学仪器设备的可持续发展能力和核心竞争力,极大推动我国3D扫描打印产业和虚拟现实产业的发展,为我国博物馆文物三维数字化提供核心装备,加速推动3D虚拟电商发展,提升国内3D创客教育领域的整体装备水平。/pp/p

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  • 【求助】红外光谱仪光束发散,求高手救救我家小强啊~~~

    话说俺们家小强,是一台有点老的红外了,06年参加工作接手它的时候它已经在公司待了6年了。软件要用软盘装,老的插槽,英文的界面,老胳膊老腿的容易耍些小脾气,比如对空气氛围变化敏感,比如对小震动敏感,唉,没有好好地维护啊。但是它真的很好用,也真的很坚强。现在它不能工作了,光束发散。今天刚和一个同事解剖了一下,光路都没什么问题,很大的可能性是分束器出问题了,打电话问厂家他们也是这么认为,说解决的方法只有----更换~~~~更换~~换~~。。~~没有别的办法了么?我们把分束器也解剖了,就这么两块片。没有别的办法了么?能不能烘一下?在什么温度烘多久?能不能进行表面处理?怎么进行?如果要更换,是不是随便找个就行了?有没有国产的溴化钾分束器推荐?设备很老了,没有现成的配件啊。或者哪位好心人有不用的仪器将分束器转让?(岛津FTIR 8300)暴雨狂风下裸体跪求高人指点,救救我家小强啊~~~谢谢了。

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 【资料】测量仪器的计量特性

    测量仪器的计量特性 测量仪器的计量特性是指其影响测量结果的一些明显特征,其中包括测量范围、偏移、重复性、稳定性、分辨力、鉴别力和示值误差等。为了达到测量的预定要求,测量仪器必须具有符合规范要求的计量学特性。 确定测量仪器的特性,并签发关于其法定地位的官方文件,称为测量仪器控制。这种控制可包括对测量仪器的下列运作中的一项、两项或三项: ——型式批准; ——检定; ——检验。 这些工作的目的是要确定测量仪器的特性是否符合相关技术法规中规定的要求。型式批准是由政府计量行政部门做出的承认测量仪器的型式符合法定要求的决定。所谓型式,是指某一种测量仪器的样机及(或)它的技术文件(例如:图纸、设计资料等),实质上就是该种测量仪器的结构、技术条件和所表现出来的性能。 检定是查明和确认测量仪器是否符合法定要求的程序,它包括检查、加标记和(或)出具检定证书。检验是对使用中测量仪器进行监督的重要手段,其内容包括检查测量仪器的检定标记或检定证书是否有效、保护标记是否损坏、检定后测量仪器是否遭到明显改动,以及其误差是否超过使用中最大允许误差等。

光束发散测量仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 测量仪性能指标
    产品特点:测量仪性能指标主要行业/应用测量详细信息* 制药行业 * 食品安全 * 生物农业 * 环境 * 水质* 酸碱水平 * 相关离子的电极电位值(mV) * G4383A 是只包括 3200P 测量仪的套装 * G4391A 的基本套装包括电极、电极支 架和缓冲剂 * G4392A 的组件包括三复合电极、电极 支架和缓冲剂* 环境 * 石油化工 * 食品安全 * 生物学 * 电导率 * 电阻率 * 总溶解固体(TDS) * 盐度 * 当前溶液温度值* G4384A 是只包括 3200C 测量仪的套装 * G4393A 的套装包括 3200C 测量仪、电 极和电极支架 * 环境 * 污水处理 * 自来水水源监测 * 食品安全 * 水产养殖 * 饮料生产 * 生物农业 * 科学研究* 溶解氧浓度 * 水溶液氧的饱和度 * G4385A 是只包括 3200D 测量仪的套装 * G4395A 的套装包括 3200D 测量仪、电 极和电极支架 * 食品安全 * 生物农业 * 石油化工 * 环境保护 * 科学研究 * 疾病控制*电极电位值(mV) * pX 值和离子浓度 * G4396A 是只包括 3200I 测量仪的套装 * 为 G4396A 的套装包括 3200I 测量仪、 pH 电极、电极支架和缓冲剂 * 为 G4397A 的 氟 离 子 测 定 套 装 包 括 3200I 测量仪、氟离子电极、电极支架 和缓冲剂* 水质 * 疾病控制 * 环境保护 * 生物农业 * 科学研究* 可同时测量 pH/pX、离子浓度、离子 电极电位(mV)、电导率、总溶解固 体量、盐度、溶解氧量和温度 * G4378A 是只包括 3200M 测量仪的套装 * G4398A 的套装包括 3200M 测量仪、电 极、电极支架和缓冲剂 测量仪性能指标安捷伦提供了不同测量仪以满足您最具挑战性的应用。测量仪性能指标优势3200P3200C3200D3200I3200M 温度:-5.0-110.0 °C 可在很宽的温度范围内使用 测量模式:连续/定时读取/自动锁定采用一台测量仪即可进行多种方式测量点阵式液晶显示屏 快速获得实验结果 易于初学者使用数字操作键简便的操作适合于各种熟练程度的实验操作人员3200P3200I3200M 缓冲液可自动识别 可选用 NIST 和 GB 标准缓冲液 高阻抗:3 x 1012?可从众多类型电极中选择适合测定您样品的电极溶解氧 测定的准确度:±0.10 mg/L 精确测量和优异的温度补偿功能实现了卓越的溶解氧测定准 确度3200I3200M 为 H+、Ag+、Na+ 和 K+ 提供离子测量模式 NH 、 2 4+ Cl-、F-、NO 、 3- BF 、 4- CN-、Cu +、Pb2+ 和 Ca2+易于更换电极(或离子选择电极),实现多种离子灵活地分析 不同单位之间可以自由转换自动优化测量并保证结果准确离子浓度测量模式:直接读取模式、“标准”添加模式、样品 添加模式和 GRAN 作图添加模式操作方便
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
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