束斑直径

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  • 光束整形镜片-方形光斑
    TOP HAT BEAM SHAPING LENS FBS2FBS2系列顶帽光束整形器是单片光学元件，可将高斯激光束转换为方形顶帽状光斑。FBS2是焦点光束整形器，它们在聚焦光学元件的焦平面上产生顶帽状光斑。每个FBS2透镜都设计用于固定的输入光束直径（@1/e² ）和特定操作波长。光束整形透镜可以轻松地集成到光路中的几乎任何位置，甚至可以放置在光束扩展器/望远镜的前面或内部。 FBS2生成具有较长焦深（DOF）的顶帽光斑。对于平顶光斑，焦深约为类似光学设置中高斯光斑的瑞利长度的60%。顶帽宽度约为高斯光斑大小的1.5倍。在此范围内，顶帽状光斑是均匀的，并且峰值强度几乎不变。 由FBS2生成的顶帽状光斑的宽度约为衍射极限高斯光斑大小的1.5倍。顶帽大小取决于聚焦光学元件的焦距（f）、输入激光束直径@1/e² （d）和操作波长（λ）。输出光斑大小通常小于100微米，可以使用额外的聚焦光学元件轻松缩放。 顶帽的大致大小可以通过以下公式计算：2 * λ * f / d或λ / NA，其中NA是聚焦光束的数值孔径。FBS2光束整形器可以与任何目标或F-Theta透镜组合使用。 光斑尺寸：Top Hat width大约为 2 * λ * f / d，其中 f 为焦距，d 为输入光束直径@1/e² Efficiency高达90%Homogeneity约为±2.5%（相对于顶帽台地的平均强度）Side modes (strongest)最强侧模式强度约为线状台地的16.5倍（1.5%的输入能量）Depth of focus (DOF)约为瑞利长度的60% 基底规格：Material熔融石英Transmission99%Damage threshold @ 10 ns1064 nm下10 J/cm² ，532 nm下5 J/cm² ，355 nm下3 J/cm² Dimensions⌀ 25.4 x 3 mm CODEOPERATION WAVELENGTHINPUT BEAM DIAMETER @ 1/E² FBS2-1064-1.01064 nm1.0 mmFBS2-1064-1.51064 nm1.5 mmFBS2-1064-2.01064 nm2.0 mmFBS2-1064-2.51064 nm2.5 mmFBS2-1064-3.01064 nm3.0 mmFBS2-1064-3.51064 nm3.5 mmFBS2-1064-4.01064 nm4.0 mmFBS2-1064-4.51064 nm4.5 mmFBS2-1064-5.01064 nm5.0 mmFBS2-1064-5.51064 nm5.5 mmFBS2-1064-6.01064 nm6.0 mmFBS2-1030-1.01030 nm1.0 mmFBS2-1030-1.51030 nm1.5 mmFBS2-1030-2.01030 nm2.0 mmFBS2-1030-2.51030 nm2.5 mmFBS2-1030-3.01030 nm3.0 mmFBS2-1030-3.51030 nm3.5 mmFBS2-1030-4.01030 nm4.0 mmFBS2-1030-4.51030 nm4.5 mmFBS2-1030-5.01030 nm5.0 mmFBS2-1030-5.51030 nm5.5 mmFBS2-1030-6.01030 nm6.0 mmFBS2-532-1.0532 nm1.0 mmFBS2-532-1.5532 nm1.5 mmFBS2-532-2.0532 nm2.0 mmFBS2-532-2.5532 nm2.5 mmFBS2-532-3.0532 nm3.0 mmFBS2-532-3.5532 nm3.5 mmFBS2-532-4.0532 nm4.0 mmFBS2-532-4.5532 nm4.5 mmFBS2-532-5.0532nm5.0 mmFBS2-532-5.5532 nm5.5 mmFBS2-532-6.0532 nm6.0 mmFBS2-515-1.0515 nm1.0 mmFBS2-515-1.5515 nm1.5 mmFBS2-515-2.0515 nm2.0 mmFBS2-515-2.5515 nm2.5 mmFBS2-515-3.0515 nm3.0 mmFBS2-515-3.5515 nm3.5 mmFBS2-515-4.0515 nm4.0 mmFBS2-515-4.5515 nm4.5 mmFBS2-515-5.0515 nm5.0 mmFBS2-515-5.5515 nm5.5 mmFBS2-515-6.0515 nm6.0 mmFBS2-355-1.0355 nm1.0 mmFBS2-355-1.5355 nm1.5 mmFBS2-355-2.0355 nm2.0 mm 操作要求：输入光束：高斯光束TEM00，M² 为1.4或更好。 光学设置中的光阑：整个光路中的透明孔径应至少比1/e² 时的光束直径大2.2倍。 集成到光路中： 对准：必须在横向方向（平移）上进行对准。绕光轴旋转有助于对准顶帽的方向。 推荐安装：840-0240 X-Y平移定位器。 光学设备：必须具备聚焦光学装置。顶帽在该光学装置的焦平面上产生。 有用的附件：光束扩展器，用于调节光束直径（有效光束直径至FBS2设计输入光束直径）和调节光束直径至所需光斑尺寸。 有帮助的附件：光束剖面仪，用于在对准时检查光束剖面。FBS - Top-Hat Fundamental Beam Mode ShaperWithout FBS Beam Shaper: Gaussian-profile at focal plane使用FBS光束整形器：在焦平面上得到顶帽状光斑。&bull FBS与聚焦系统（FS）配合使用。&bull 顶帽大小仅取决于聚焦光束的波长（λ）和数值孔径（NA）。&bull FBS与FS之间的距离可长达数米。在焦平面上的强度分布：主要FBS优势：&bull 可实现的顶帽大小最小值：≈总是1.5倍于1/e² 的衍射极限高斯光斑大小。&bull 可实现的顶帽轮廓：方形或圆形。&bull 衍射效率： 95%的能量在顶帽中。&bull 均匀性：调制 ±2.5%。&bull 焦深：与高斯光束相似。&bull 对失调、椭圆度和输入直径变化不敏感：±5-10%。 Without FBSshaper: diffraction limited Gaussian profile With FBS shaper: near diffraction limited Top Hat profile 1. 直接放置在聚焦光学元件/物镜前的光束整形器通过在透镜/物镜前引入FBS光束整形器，初始的衍射极限高斯光斑会被转化成均匀的顶帽状光斑。 例如，如果使用直径为5 mm@1/e² 的高斯TEM00输入光束、波长为532 nm和焦距为160 mm的聚焦透镜，则可以获得直径为34 μm的均匀顶帽状光斑。在整个光路中，自由孔径的直径必须至少为11 mm（最好为13 mm）。 1. 放置在光束扩展器前的光束整形器也可以将FBS光束整形器放置在光束扩展器前的光路中。这会导致聚焦光束的数值孔径增大，从而使顶帽状光斑变小。 例如，当直径为5 mm@1/e² 的高斯光束照射到FBS光束整形器后，通过光束扩展器将其扩展到直径为8 mm的光束，在焦距为50 mm的聚焦光学元件/物镜下，用户可以生成直径为7微米的顶帽状光斑。所需的自由孔径随着扩展的光束而增加。对于直径为8 mm的光束，自由孔径必须至少为18 mm。1. 放置在光束扩展器内的光束整形器 还有一种更加灵活的可能性，就是在光束扩展器内引入FBS光束整形器。用户可以通过沿z轴移动整形器来轻松地对光束直径进行微调。CIGS太阳能电池的划线&bull 浪费面积会降低效率，因此需要更小的划线&bull 切割质量会影响效率，因此需要更小的HAZ，无碎片，光滑的边缘&bull 高扫描速度可实现高吞吐量，因此需要更小的脉冲重叠率 P1 – “划线”去除ZnO（1微米）/ CIGS / Mo / PI结构中的前接触。使用激光PL10100 / SH，10 ps，370 mW，100 kHz，532 nm；扫描速度为4.3 m/s，单次扫描。 P3 – “划线” ZnO（1微米）/ CIGS / Mo / PI结构中P3划线的倾斜SEM图片。使用激光PL10100 / SH，10 ps，370 mW，100 kHz，532 nm；扫描速度为60 mm/s，单次扫描。引用： Raciukaitis，JLMN-Vol. 6，No. 1，2011
    供应商： 江阴韵翔光电技术有限公司
    品牌： EKSMA
    价格： 面议
  • 爱必信 全黑底透6孔共聚焦培养板（玻底直径20mm） 培养板/微孔板/滴定板
    "公告提醒：爱必信所有产品和服务仅用于科学研究，不用于临床应用及其他用途提供产品和服务（也不为任何个人提供产品和服务）! 产品描述：产品名称：全黑底透6孔共聚焦培养板（玻底直径20mm）描述: 概况和特点：1、标准细胞培养皿、板和高质量玻璃底的完美结合。革新设计提供了一个独立、平整的底部。2、在体外培养环境下，为高分辨率显微镜提供更清晰的视野。3、共聚焦培养皿由高质量的聚苯乙烯和高透明度硼硅酸盐玻璃制成。4、具有高光学性能的玻璃材料保证了底部的最佳平整度，从而避免了光的去偏振化。 玻璃底特征：1、高透明度硼硅酸盐玻璃。2、玻璃底厚度：0.17mm+-0.02mm。3、最大的光透过范围，无法荧光。4、 超平界。技术指标: 玻底直径：φ20mm形状：圆形共聚焦器皿：全黑6孔板，避光应用: 1、相差显微镜。2、荧光显微镜。3、激光共聚焦显微镜。4、活细胞成像。5、相差干涉显微镜。6、激光发射显微镜。7、荧光原味杂交技术（FISH）产品信息订购： 产品货号 产品名称 规格价格大包装及货期 abs7024 全黑底透6孔共聚焦培养板（玻底直径20mm） 5个/盒 1250.00 立即咨询产品更多信息请进入爱必信网站咨询 "
    供应商： 爱必信(上海)生物科技有限公司
    品牌： 爱必信
    价格： ¥1250
  • 漫反射标准参照板，标准白板，漫反射标准板直径100mm
    1. 产品简介WR-D97-100漫反射白板（漫反射标准参考板，漫反射标准参照板，标准白板，漫反射标准板）材质为改性PTFE，为朗伯特性漫反射表面；外壳材料为阳极氧化铝；具有可水洗、高反射率和稳定性好的特性，可在室外环境下应用。2. 产品外观 3. 产品特点? 维护简单： PTFE材质，可水洗；表面损伤，可修复；? 高反射率： 漫反射高，可见段≥97%；? 高稳定性: 长时间使用，反射率不下降。4. 产品参数产品参数WR-D97-100WR-D97-100-STD保护壳材质金属铝盒金属铝盒外壳直径120mm120mm内部直径100mm100mm厚度20mm20mm波段范围250-2500nm250-2500nm 漫反射率≥92%@250-350nm≥96%@350-1700nm≥92%@1700-2500nm≥92%@250-350nm≥96%@350-1700nm≥92%@1700-2500nm计量证书无有备注： 尺寸公差为 ±0.1mm5. 反射光谱图
    供应商： 上海如海光电科技有限公司
    品牌： 如海光电
    价格： 面议
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  • 蔬菜水果直径测量仪 400-860-5168转1432
    仪器简介：在与植物有关的研究工作中，一个很重要的任务就是了解植物生长、产量和环境因素的关系。为此我们一方面需要有关环境因素的数据(气象，水分，营养等等)，另一方面我们也需要有关植物生理生长方面的数据。 目前，由于测量技术方面的困难，有关植物方面的数据都是不连续的，如年轮宽度，产量，生物量等，这些指标一般都是多种环境因素在一个生长季里累计作用的结果。究竟哪个环境因素，什么时间对这些植物指标起决定性的作用，一般很难客观确定。譬如，某一年的年轮宽度小于往年，你很难说清其成因，是由于春节霜冻，夏季干旱，还是由于秋季低温，等等。生长测量仪正是为解决这个问题而开发生产的。生长测量仪连续测定生长率，即时反应环境因素变化及人为措施给生长带来得影响。在实际使用中，完全可以将生长和气象因素同步观测，这样不但可以准确认定影响生长的关键因素，而且也给数据处理带来极大方便。 工作原理： Dendrometer是一种电子设备，带张力传感器，可监测环境因子对植物水分平衡的影响及茎杆、果实直径的生长。该系统具温度补偿功能。将Dendrometer固定在测量部位，数据可以直读，也可用Datalogger自动记录。Ecomatik公司的Dendrometer是在多项专利的基础上开发出来高质量的测量仪器。其优点在于精确度高，性能可靠，质优价廉。 应用： 不同经营方式(干旱/灌溉程度，施肥方式，耕作方式，间伐方式)与植物生长的关系。 同一植物在不同条件下(土壤，降雨量，海拔，气候)的生长情况。 长期监测树木的生长情况。 气候变化对物候的影响，准确测定生长季的始末。 用DV型测定树干的生长趋势。研究树干在机械力（风力，压力）作用下的变化，在竞争中的趋光性。 连续测量植物体内的含水量。 测定植物体水分饱和的时间。 连续测量植物体内的水势(Xylem waterpotential)。 灌溉控制。根据生长速度确定灌溉时间和灌溉量 研究冬天树干破裂的原因。寻找冬天树干破裂的原因关键是准确确定树干破裂的时间和发生的过程。这两个数据都可用生长仪准确测定。 准确确定霜冻发生的时间。通过测量空气温度一般无法确定霜冻发生的时间，因为不同植物的冰点不一样。但所有植物在遭受霜冻时，其直径都发生剧烈变化。因此通过监测直径变化，可以准确确定霜冻发生的时间。 研究热带植物的生长规律。因热带季节不分明，树木没有年轮，植物生长节奏很难观测。 产地：德国Ecomatik公司技术参数：性能指标: 数据采集器： 型号：U型数据采集器 通道：4个模拟通道 (可同时连接4个生长测量仪) 分辨率：12bit 内存：32K，可存21600个数据 机箱：密封防水箱 接口：RS232 电源供应：碱性电池，保证两年以上供电 传感器 测量范围：11mm，通过重调测量范围可一直扩大 准确性：7&mu m 分辨率：7&mu m 线性：± 0.5% 温度系数：0.04%/℃ 应用环境：温度：-30℃~40℃；湿度：0~100% 重量：13g (不含电缆) 电缆长度：标准电缆长2m，可延长至100m 传感器型号 型号：DF型水果蔬菜直径测量仪 应用范围：水果蔬菜树干及其他球状植物器官的直径 可测量植物的尺寸：直径0~11cm (11 cm可特制) 是否损伤植物：对植物没有损伤 温度系数：极小 材质：不锈钢，铝合金 尺寸/重量：18× 15× 1.5 cm,52g主要特点：特点： 高度精确 自身重量极小(13克),几乎不压迫植物 耗能小，如和专用数采一起，用一个小电池可以连续测量两年以上 适用各种户外条件 直接微米输出，无需标定 已有十年以上的实地使用经验 几乎无需保护维修措施
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    厂商： 北京理加联合科技有限公司
    品牌： Ecomatik
    型号： DF
    价格： 面议
  • DD-L树干直径生长变化记录仪 400-860-5168转4470
    DD-L树干直径生长变化记录仪名称：树干直径生长变化记录仪 型号：DD-L 产地：德国 用途：DD-L树干直径生长变化记录仪是一种测量树干直径变化的设备，传感器重量轻，安装固定的时候不需要依赖太多的压力来进行固定。适用于直径在3~30厘米范围的树干。优点：适用于直径为3-30厘米；测量直径变化；对植物无损伤；对测点压力极小；可抗拒风，雪，下跌小树枝和小果实的影响，保证稳定测量；可按植物的大小订购。 缺点：不适合直径大于30厘米的植物。 技术规格：传感器适用于树杆直径3~30厘米传感器的测量范围11毫米复调测量范围3~30厘米精度±2微米±0.12%（视数据采集器）分辨率0.001微米线性系数1%温度系数0.1微米/度工作环境空气温度：-30~+40℃，空气湿度：0~100 %电缆长度标准2米，可延长100米记录仪传感器连接数量4个分辨率12位存储容量64KB，可存储43000个数据工作温度-20~+70℃（记录中），0~+50℃（启动和下载数据的时候）通讯接口USB供电1节CR2032电池电池电量约1年产地：德国
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    厂商： 点将（上海）科技股份有限公司
    品牌： Ecomatik
    型号： DD-L
    价格： 1万 - 1万元
  • DE80T 树干直径生长变化传感器 400-860-5168转3476
    DE80T 树干直径生长变化传感器产品简介DE80T树干直径生长变化传感器是帮助研究人员、种植者和林业工作者测量树干直径的微变化，使树木水分关系、生长动态等研究变得更容易、更准确，主要被研究人员用来测量茎、干、枝、根或果实的生长情况，较高的分辨率和精确测量可保证数据的准确度，为研究树木在白天、夜晚等气候条件差异下的生长提供重要数据支撑，采用数字的计算方法给出了准确的测量结果，以μm为单位给出植物的日、月、年生长结果。 技术参数 测量范围：0-80mm 分辨率：0.1μm 准确度：±1% 非线性：±0.1% 滑动作用力：8-15N 最小树杆直径：80mm 工作电压：6-15V 信号输出：SDI-12 工作温度范围：-35~+70℃ 工作湿度范围：0-100.00%RH 防护等级：IP66 尺寸：65*85*95mm 重量：220g 线缆长度：10m
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    厂商： 北京博伦经纬科技发展有限公司
    品牌： 博伦气象/BLJW
    型号： DE80T
    价格： 8000元
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  • 束斑直径怎么调？

    我是新手，我好像从来没调过束斑直径，怎么调啊？哪位高手能告诉我都有哪些元素是重峰？做能谱时发现测出的结果不可信，有时候是C的含量很高，有时是O的含量很高，我用的剑桥S－360的电镜，牛津的能谱。刚开始用电镜和能谱，还有很多问题不懂。急盼高人指导

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  • 蓝菲光学推出了LMS-3M直径3米积分球
    光学技术的发展促进了更大更复杂设备的出现，因此蓝菲光学推出了LMS-3M直径3米积分球，用于测量更大光源或发光体的完整光学特性。该积分球遵循LM-79 和 LM-80规范，能够对任何光源、直径达2米的流线形灯具和30厘米左右直径的发光体进行精确的、可重复的测量。 　　3米光源测量积分球容纳底座向上、底座向下、或纵向定位的光源，可以方便有效地测量任何类型的光源，包括长度达2米的荧光灯。还可以对已经装配的或安装在散热片上的光源进行前向或部分通量测量。 　　较大的积分球能够更好地对光线进行充分积分，对设备的光度和色度性能进行更可靠的测试，测量的单位有：总光谱通量（Total Spectral Flux）、光通量（Luminous Flux）、相对色温（Correlated Color Temperature，CCT）、显色指数（Color Rendering Index ，CRI）和色度（Chromaticity）。测量数据仅仅取决于测试设备的有效功率，而不是尺寸、形状或光谱分布。 　　积分球的Spectraflect® 内涂层具有近朗伯（near-Lambertian）特性，可以对光更好地漫射和积分入并减少热点，这方面比其他现有积分球内涂层材料都要好。Spectraflect的反射率值为98%，在可见光谱段，针对低流明光源可以看到更平坦的光谱。 　　LMS-3M可以通过在同一个系统上稍作调整即可测量多种光源和发光体。标准的球体几何构造能用于4pi的测量，配有可选的孔径缩减装置，可以很方便地配置用于2pi的测量。带有挡板的输入和输出端口，还有一个环境空气温度控制器维护和监控测量环境内部的温度，遵循Energy Star要求。新的积分球充分集成了所有蓝菲光学的光度测定和光谱辐射系统和软件，因此当前用户可以方便地进行升级。
    时间： 2010-11-25
    作者： 杨丹丹
  • HORIBA | 只有发丝直径十万分之一的量子点，如何解析它的“光”|科普
    被Science评为年度十大科学突破之一的量子点你了解吗？量子点又称半导体纳米晶，它的三维尺寸在2-10nm范围内，大概是一根头发丝直径的十万分之一，人眼无法看到。它一般由II-VI族元素（如CdSe、ZnSe等）或III-V族元素（如InP、InAs等）半导体材料构成，具有明显的量子效应。由于量子点独特的物理、光学、电学特性，曾被Science杂志评为年度十大科学突破之一。 量子点发光图片来自网络01会发“光”的量子点，有哪些应用？正是在纳米尺度，量子点表现出量子效应——当这些半导体晶体做到纳米尺度，不同的尺寸就可以发出不同颜色的光。例如，量子点发光波长可达850纳米（红光），相对于可见光穿透深度更深，更适合应用于生物体内组织成像。量子点吸收能力非常强，能够大提高灵敏度。它对照明和显示产业将会有重大影响。使用量子点的发光二管，更加接近于自然光，并且发热大大减少。在显示产业方面，据了解，中国的研究处于领先优势，有机会整个显示产业的发展。如此荣耀之事，相信各位读者和我们一样，期待不已。但是问题来了，看不见的量子点，它的“光”如何解析呢？量子点电视图片来自网络02如何解析量子点发光？下面就以英国牛津大学、埃默里大学和乔治亚理工学院的研究成果做一下说明。在这部分，你可以了解到量子点尺寸、组成与对应的能带隙和发射峰值的变化关系。1样本准备本例中使用的CdSeTe量子点[1]，直径范围2.7-8.6 nm。量子点通过沉降和离心纯化处理后室温保存备用。2测试条件吸收光谱由吸收光谱测得 (带宽=1.0 nm)。参照Fendle等人[2]的方法，通过吸收数据获得起始吸收边和能带隙。光致发光光谱（通常所说的荧光光谱）由HORIBA FluoroMax® 高灵敏度荧光光谱仪测得 (λexc = 475 nm，带宽 = 2.0 nm)。所有光谱测量都在光谱仪响应校正下获得的。3结果分析下图是组成相同，尺寸不同量子点的吸收和发射光谱。我们发现吸收和发射波长随量子点直径增大而红移。不同尺寸的CdSe0.34Te0.66量子点的吸收光谱（实线）和光致发光（虚线）谱下面两张图分别是Te含量对能带隙（上图）及发射峰位（下图）的影响。从图中可以发现，量子点组成不同，对应的能带隙和发射峰值也会发生变化。当Te含量为60%时，电子跃迁和荧光带边发射都出现拐点。 能带隙（上图），发射波长（下图）与量子点中Te浓度的关系曲线尽管量子点的尺寸小到纳米级，看不见摸不着，但是通过以上两组实验表征量子点的发光特性，我们可以发现量子点的发光与其尺寸和组成相关。这一重要结论，是通过HORIBA荧光光谱仪获得的。在本实验中，研究人员使用的是FluoroMax® 高灵敏荧光光谱仪，正是由于它高灵敏的特性，可以轻松、快速得到非线性变化的光致发光光谱。因此，如果说“量子点的世界”是神奇、复杂的，经常表现出与宏观世界不同的现象，那么HORIBA荧光光谱仪，就是帮助科研工作者解析量子点世界的“神器”。03致 谢感谢英国牛津大学的Robert Bailey和埃默里大学和乔治亚理工学院的Shuming Nie提供数据和图片。参考文献：[1]R.E. Bailey and S. Nie, J. Am. Chem. Soc., 125, 7100–7106 (2003).[2]Y. Tian, et al., J. Phys. Chem., 100, 8927–8939 (1996). 点击标题，查看往期精华文章上交大新拉曼探针有望精准定位肿瘤君，助力攻克医学难题光谱分析助力锂电池产业突破：拉曼篇（1）锂电池充放电过程正负的研究HORIBA科学仪器事业部结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术，HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如：光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
    时间： 2017-12-21
    作者： HORIBA
  • 我国首次研制出超精密直径和形状综合测量标准装置
    精密回转体零件是构成现代精密机械的最基本、最主要零件之一，也是保证精密装备精度的关键部件。记者12月24日从中国计量科学研究院获悉，经过3年的科技攻关，该院成功研制出国内首台超精密直径和形状综合测量标准装置，已于12月21日通过国家质检总局组织的专家验收。该装置填补了我国在超精密直径和形状综合参数测量的空白，为我国精密仪器制造领域提供技术支撑。 　　据介绍，近年来，随着超精密制造业的高速发展，我国现行的测量水平和装置，已不能满足超精密制造业对精密回转体零件的尺寸精度、几何形状精度、表面质量等的测量需求，限制了超精密仪器生产链的形成。为打破这一困境，中国计量科学研究院承担了“超精密直径和形状综合测量标准装置”课题，选择对生产制造影响最广泛的、最急需统一的关键量——直径和形状进行研究。 　　据课题负责人薛梓研究员介绍，通过对仪器设计的多项共性关键技术的研究，目前课题组已成功研制出超精密直径和形状综合测量标准装置，完成了基于误差分离技术的超精密直径和相关形状评价方法的研究，可实现对回转体类零件的直径、截面圆度、母线直线度、圆柱度等的精密测量。该装置的成功研制及相关形状评价方法的研究，为降低直径和形状测量不确定度、提高我国直径和形状测量水平、有效监控与实现直径和形状量仪的进口及使用提供强有力的技术支撑。对于我国GPS标准的制订和实施、提高我国精密仪器制造业的核心竞争力具有重要意义。
    时间： 2010-12-27
    作者： 秦丽娟
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