稀土杂质元素

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稀土杂质元素相关的耗材

  • SPI 能谱标样15种稀土元素标样6mm×25mm
    【产品详情】此能谱标样包含15种精选的稀土元素物质,每种材料的晶粒内部和晶粒间具有高度的同质性,并且在真空、大气环境和电子束中均性能稳定。标样底座为直径25mm,高度6mm的不带磁性的不锈钢圆柱形样品台,底座具有理想的导电性和高真空度兼容性,每个标样都带法拉第杯。保存方法:标样不使用时,建议放置在恒温干燥箱中保存。 15种稀土元素物质列表如下:序号标样名称(中文)标样名称(英文)分子式1钇金属Yttrium metalY2氟化镧Lanthanum fluorideLaF33氟化铈Cerium fluorideCeF34氟化镨Praseodymium fluoridePrF35氟化钕Neodymium fluorideNdF36钐金属Samarium metalSm7氟化铕Europium fluorideEuF38钆金属Gadolinium metalGd9铽金属Terbium metalTb10镝金属Dysprosium metalDy11钬金属Holmium metalHo12铒金属Erbium metalEr13铥金属Thulium metalTm14镱金属Ytterbium metalYb15氟化镥Lutetium fluorideLuF3 【规格详情】产品规格证书15种稀土元素标样一套原厂证书一套产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • 元素分析仪配件Elementar SA501170稀土氧化铜
    元素分析仪配件Elementar SA501170稀土氧化铜Rare earth copper oxide
  • 元素分析仪配件 LECO 力可 501-170稀土氧化铜
    元素分析仪配件 LECO 力可 501-170稀土氧化铜Rare earth copper oxide

稀土杂质元素相关的仪器

  • SciAps X系列 XRF 是专为现场金属材料分析,野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备,采用的X射线荧光技术,分析速度快,结果准确,操作简单,整体设计适用野外高温,雨淋,多尘等多变的作业环境。具有以下特点:分析速度快且精度高X系列XRF 分析仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器;采用了新进的硬件及软件.体积小,轻便便于携带便携X射线分析仪器的使用者希望新一代的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合,轻,,分析速度更快,分析效率更高的手持式X射线分析仪器X系列问世了。重约1.34斤。高清显示技术采用术显示屏,结果在所有光照条件下都清晰可见质量好,耐用 独特不锈钢防护罩,SciAps X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术,极大的降低了X分析仪损坏的风险,降低了后期拥有成本。操作简单,兼容性好的操作平台SciAps X 系列分析仪与手机一样运行安卓系统,操作简单,兼容性好,可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接,分享与打印测试结果。SciAps XRF X-555 软件特点及应用软件特点:与X 系列的其它仪器相比,SciAps X-550 采用一种新的X射线管及全新的分析方法,该方法将现场材料分析的速度又提高了一个档次,且一步降低了贵金属元素的检测限值。卓越的性能始于的手持式XRF技术,由55千伏X射线管引领,可对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检测限。从Mg到U,多达三个自动光束设置在整个周期表中提供性能。所有这些都在一个坚固的仪器中,配备的软件和出色的散热性能。主要应用:采矿一流的轻元素性能,可实现镁、铝、硅、磷和硫等元素的超低检测限,同时还具有足够的功率,可在探路者Ag、Sn、Sb和稀土元素等重元素上实现令人印象深刻的精度,再加上稀土元素检测功能,构成采矿的工具。 可以立即对露天矿场的爆破孔样本进行即时筛查,从而减少了对矿场实验室的依赖。 实验室测试分析前对样本进行预筛选,以最大程度地提高实验室检测效率。 辨别矿化趋向及异常现象,定义钻孔位置,扩展土壤样本的勘察边界。 采用适当抽样方法,提高对地下矿石品位的控制能力。 矿石品位和过程控制 及时分析矿样元素及含量,对矿石交易价格提供理论依据 对储矿堆材料的分析有助于制造厂的配料和给料操作。 对进料、沉淀物、精矿及尾料进行实时分析。 分析精矿和金条中的杂质元素。 在铜厂和贵金属厂中,作为液体比重测定过程的一部分,对废液进行检测环境土壤XRF质量保证与质量控制(QA/QC)在金属制造行业中,材料、半成品、成品的质量保证与质量控制(QA/QC)是必不可少的,混料或使用不合格材料必给企业带来损失。SciAps 便携式XRF 合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的机械制造商的各种制造业,已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的首选仪器。稀土地质调查,矿产普查与勘探SciAps X系列分析仪的机身设计坚固耐用,性能稳定,精度高,可以在各种艰苦条件下正常操作,是野外探矿及矿区现场品位分析不可或缺的设备。 支持野外目标区域现场,大范围,大量采样测样,获取该区域岩石、碎片、土壤、沉积物等定性化学成份及定量性数据结果,结合GPS 功能和专业软件,绘制目标区域元素含量分布图,为目标区域矿产资源预测、勘查、评价及开发利用提供第一手的地化信息。 为矿权交易,分配勘探的预算经费提供第一手的地化信息。油气勘探现场检测钻机取出的各类样品,即时给出样品种元素的种类及含量,帮助地质专家及工程师及时判断需钻孔的位置,深度,在泥浆录井,高级勘探与钻井等等领域应用广泛环境治理和治理可以使用X系列分析仪,分析仍在使用和已经关闭的矿场(山)或附近场地的土壤、沉积物、灰尘、尾矿中的元素及含量,为环境监控治理提供数据依据。各环监部门可使用X系列分析仪快速检测目前区域法规规定需控制的金属元素重量及含量,收集并归档环境监控的量化记录。地矿相关专业学术科研与教育X系列分析有助于完成大学校园内实验室中进行的实验,支持本科生和研究生完成科研项目,并在日常的教学活动中,帮助地矿相关专业教师完成教学任务。由于X系列分析XRF分析仪可以迅速提供结果,因此不仅可以帮助学生们了解现代分析方式,辨别各种样本,而且还可以加深学生们对矿物沉积以及与矿床研究相关的矿石成因等知识的了解。 X555系列分析的优势2018年X系列分析经过多品牌性能评估,多层级筛选比较, 成功入围美国各大石油公司及其检测单位采购名录,产品具有以下优势:1. X系列发布时间2018年3月,是目前市面上新款手持XRF分析仪,拥有的运算方法和技术的元器件,体积更小,重量更轻2. 2秒就可以出测试结果,目前市面上畅销的仪器均为10年左右研发的产品,速度相对比较慢,需10-15秒才能完成一个样品测试;因此一台X系列分析仪的效率约等于5-7台畅销仪器效率3. 在检测量一定的情况下,因X射线管理论寿命已固定,X系列分析仪单个样品分析时间缩短,所以X射线管使用时间延长,X分析仪后期拥有成本变低。关键元素的稳定性及检测极限变得更低,特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰,而55千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线,测试结果更加可靠准确。SciAps X-555分析仪技术规格尺寸与重量外形尺寸:184x114x267mm;重量=1.35KG(带电池2.98磅)环境要求-12℃到55℃★激发源★探测器25mm2SDD探测器(有效面积)应用矿石成分分析X射线过滤多位置滤波器, 优化光束分析范围38个标准元素: La, Ce, Pr, Nd, Sm Eu, Gd, Y, Ti, V, Cr, Mn,Fe, Co, Ni,Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Te, Ag, Cd, Sn,Sb, Ba, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, U。可根据用户需求添加其它元素。可根据用户要求添加。★显示器2.7英寸彩色电容触摸屏- 400MHz高通Adreno 3062D/3D图形加速器★通讯/数据传输同过Wifi,蓝牙,USB连接到打印机,手机,PC电脑等 设备。处理器CPU1.2GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, 随机存储:2GB LPDDR3,存储16GB eMMC脉冲处理器数字化率在80 MSPS 8K通道MCA USB 2.0,用于高速传输数据到主机处理器。数字滤波在FPGA中实现的高通量脉冲处理20ns - 24us的峰值时间。电源可内置充电锂离子电池,换电池时不需要关机;客户可根据需要直接连外接交流电源供电。校准和牌号基本参数法。支持经验系数法修正校准检验外置316不锈钢用于校准验证和能量验证安全双重密码保护,使用时输入密码(用户级)和仪器内部设置密码(管理员)法规CE, RoHS, USFDA 注册, 加拿大 RED 法规
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  • K-7000稀土元素分析仪 400-860-5168转6124
    K-7000稀土元素分析仪主要用途: 手持式矿石分析仪秉承科迈斯多年的手持式X荧光光谱仪研发经验,科迈斯K-7000手持矿石分析仪引入数字多道技术,使检出限更低、稳定性更高、适用面更广,性能媲美台式机;小巧便携的体积在探矿、找矿以及各类地址矿样多种元素的检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用,使探矿工作变得简单、轻松。K-7000手持矿石分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。测试过程对样品要求低,但是测试结果准确 能准确分析高浓度样品,避免了验证性的实验室测试。科迈斯KMX-RAY手持式光谱分析仪可实时提供含有稀土元素(REE)的地质样品的数据。这17种稀土元素对绿色能源和几乎所有行业的生产都至关重要,促进了在国内生产更多这些金属的需求。因此,实时识别这些材料具有很大的市场价值。K-7000手持式光谱分析仪具有出色的检出限,可检测许多可量化的稀土元素,可在现场有效地勘探和识别稀土元素。K-7000手持式XRF软件可以检测一些稀土元素:镧(La)、铈(Ce)、镨(Pr)、钕(Nd)、钪(Sc)、钇(Y) ,以及一些靠近稀土元素的元素:钍(Th)、铀(U)、铯(Cs)和钡(Ba)。K-7000在检测各种矿石样品(包括氟碳酸盐和次生磷酸盐)时,表现出非常高的性能。氟碳酸盐通常是氟碳铈矿石,可提供钇、铈和镧 而磷酸盐通常是独居石,不仅含有镧、铈、错和钕,还含有较重的稀土元素钐和钆,以及放射性较弱的钍。K-7000对关键元素的稳定性及检测极限变得更低,特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰,而50千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线,测试结果更加可靠准确。K-7000规格表主要配置1矿石分析仪主机1套:2标准样品1个 3原装可充电锂电池2块 4充电座及电源线 5U盘(32G)1个 6加强型聚丙烯膜5片 7标准手提防潮防震箱一只。标配模式矿石模式 选配模式:合金分析模式、土壤分析模式自诊断功能仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断,并会生成日志,便于快速排查出故障操作系统Window CE 6.0操作系统,安全、放心测试方法基本参数法,支持经验系数法修正点触或扣动扳机控制测试开始,测试过程无需长扣扳机。根据客户需求,也可以一直按着扳机测试样品。滤光片配置8个滤光片,可根据测试元素自动切换:激发源大功率微型直板X射线管,W靶材,4W大功率X射线管,管电压50KV,电流最大可达100μA 采用KMX技术,更高X射线计数率,超低电子噪声设计。每次测试前,不需要外部标样,自动能量校准核查 探测器美国Moxtek Si-pin (6 mm2)180ev检测元素38个标准元素:La,Ce, Pr,Nd, Sm, Eu, Gd,Y,Ti,V,Cr,Mn, Fe,Co, Ni,Cu,Zn,As, Se, Sr,Rb, Zr,Nb,Mo,Te, Ag,Cd,Sn,Sb,Ba, Ta,W,Au, Hg,TI,Pb,Bi,U。根据用户需求添加其它元素。K-7000性能优势1、X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌上型电脑),从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色,并具有极好的升级潜力。2、使用了先进的和多用途的x射线资料模式采用康普顿常态化校正方法,可以利用“内部标准”来进行定量分析,而不需要进行专门的校正。3、基本参数分析:采用半定量分析方式,适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。4、实验校正法:利用“校正曲线”进行校正,允许使用用户产生的校正曲线。5、配备了光谱高点识别软体,可在显示幕查看光谱6、对比光谱,参考内置标准完成比较分析。
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  • 总览ZBLAN光纤是由ZrF4、BaF2、LaF3、AlF3和NaF等重金属氟化物组成的复合玻璃光纤。与广泛应用的石英光纤相比,ZBLAN光纤具有传输波长范围宽(0.35μm~4μm)和掺杂稀土离子发射效率高等特点。对于光纤激光器和放大器的应用,为了优化其效率,通过一种独te的光纤制造技术,筱晓光子推出低成本生产出高质量(特别是低损耗)的氟化物纤维双包层光纤,具有特定的d型芯可以设计和制造定制光纤的激光和放大器Mid-IR supercontinuumLVF非线性单模光纤由于其优良的性能,可以实现非常平坦和宽带的输出光谱。(中红外超连续介质激光器)中红外光谱和光学测量VF提出了用于光学安装的标准单模和多模光纤连接电缆。荧光LVE制造用于荧光研究的定制稀土掺杂氟化物玻璃块。晓光子提供全系列ZBLAN光纤产品,可定制波长0.04μm~0.35μm,纤芯与包层从50μm~1000μm可定制,也可定制红外线解决方案。稀土 Ho钬/Pr镨掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤,稀土 Ho钬/Pr镨掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤 通用参数产品应用光纤激光器光纤放大器类型掺稀土双包层光纤光纤类型双包层氟化物光纤掺杂元素Pr,Nd,Ho,Er,Dy,Tm,Yb,其它掺杂浓度(ppm mol)500-50000包层形状圆,八角形,长方形纤芯数值孔径0.16,0.21,0.26涂覆层数值孔径0.5截止波长(um)2.5芯径(um)2涂覆层直径(um)圆形:123/200/500(直径)八角形:123/200/500(对角线长度)矩形:123/200/500(对角线长度)包层直径(um)460,480,600第二层涂覆层厚度(um)30第二层涂覆层材料氟树脂包层材料UV固化丙烯酸脂实验测试半径1.25cm,2cm,6cm标准型号参考型号稀土掺杂稀土浓度(摩尔ppm)芯径(μm)Core NACutoff(nm)第一层包层直径(μm)包层形状第二层包层直径(μm)CladdingNA包层吸收(dB/m)ZDF-16/250-10E-CEr10,00016±20.12±0.02@ 3500 nm 2850250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm0.3-0.8@ 980 nmZDF-18/250-60E-CEr60,00018±20.12±0.02@ 2700 nm 3400250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm2-3@ 980 nmZDF-30/300-60E-CEr60,00030±20.12±0.02@ 2700 nm 5350300±15圆形460±300.50±0.02@1000nm4-5@ 980 nmZDF-7.5/125-40T-CTm(铥)40,0007.5±1.50.14±0.02@ 2000 nm 1700120±3圆形210±200.50±0.02@1000nm1-2@ 800 nmZDF-8.5/125-2H40T-CHo(钬)Tm2,00040,0008.5±2.00.14±0.02@ 2000 nm 2000123±4圆形195±150.50±0.02@1000nm1-2@ 800 nmZDF-10/125-30H2.5P-CHoPr(镨)30,0002,50010±10.17±0.02@ 3000 nm 2400123±3圆形210±100.50±0.02@1000nm1-2@ 1150 nmZDF-20/250-40E2.5D-CEyDy 镝40,0002,50020±30.13±0.02@ 3000 nm 4100250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm1-2@ 980 nmZBLAN玻璃的折射率(芯,典型)HBLAN玻璃的折射率(用于包层,典型)ZBLAN玻璃的材料分散性(芯,典型)HBLAN玻璃的材料分散性(用于包层,典型)背景损耗和发射波长通过选择稀土元素和激发波长,得到不同波长的光发射。虽然芯在长波长区域具有较低的损耗,但在第一包层中的传播光在1.7um处造成更大的损耗,而由于吸收用于第二包层的氟基UV树脂而导致更多波长损耗。DCFF配置订购信息例如:DCFF-2/125-P-30-0.21-0.52/125------2=芯径 125=涂覆层直径P ----------P=掺杂稀土元素30 ---------30=第二层涂覆层厚度0.21--------0.21=纤芯数值孔径0.5 --------0.5=涂覆层数值孔径
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稀土杂质元素相关的方案

  • iCAP TQ ICPMS测定高纯稀土氧化铈中 镨、和钆杂质元素
    高纯稀土通常是指纯度高于99.99%的稀土金属或其氧化物,具有特殊的物理化学性质, 在高科技领域和军工领域有着广泛的应用。高纯稀土材料中存在的其它稀土杂质元素常会对最终产品的功能产生影响,因此,必须严格控制高纯稀土的杂质。本实验采用iCAPTQ ICPMS测定纯度为99.99999%(6N,行业上通指稀土杂质元素含量)高纯氧化铈中的镨和钆元素杂质。
  • iCAP TQ ICPMS测定高纯稀土氧化铕中铥杂质元素
    iCAP TQ 三重四极杆ICPMS利用 Q1的iMS智能化质量筛选功能可有效地将高纯稀土基体离子进行剔除,然后通过Q2碰撞反应池中加入特定的反应气体,如氧气或者氨气,将待测稀土杂质离子或者基体氧化物离子的质量数进行迁移,解决了质量数重叠干扰。方法可以在不同测定模式之间切换,采用标准溶液外标法并结合内标元素校正,避免了复杂的基体匹配及潜在污染的问题,可以满足5N及以上的高纯稀土氧化物中稀土杂质的测定要求。Reaction Finder 软件工具能够自动为分析任务确定较优测量模式,帮助用户方便地建立方法,节省了日常方法建立所消耗的时间。实验数据表明,赛默飞世尔的iCAPTQ ICPMS能够完全满足此类样品的分析测试要求。
  • ICP-MS 测定高纯稀土中的其它稀土杂质元素
    稀土元素质量数从 89 到 175,质量数跨度大,各元素的电离能也有很大区别。所以在内标元素的选择上不能用单元素作为内标,选择多元素虚拟内标会很好的校正不同稀土元素之间的基体效应的差异。

稀土杂质元素相关的论坛

  • 【推荐讲座】 ICP-MS/MS 直接测定高纯稀土中杂质稀土元素及干扰消除机理研究

    [align=left][b]推荐讲座: [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]/MS 直接测定高纯稀土中杂质稀土元素及干扰消除机理研究 [/b][/align][align=left][b]举行时间:2017/11/29 10:00[/b][/align][align=left][b]立即免费报名:[/b][url=http://www.instrument.com.cn/webinar2017/meeting_3096.html][b][color=blue][/color][/b][/url][b][color=blue][url]http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3081.html[/url][/color][/b][/align][align=left][b]主讲人:[/b][/align][align=left]曾祥程,安捷伦原子光谱应用工程师,从事无机元素分析8年,专注于原子光谱在食品,环境,制药等领域的应用研究工作,并在元素形态、价态分析领域有一定的研究。[/align][align=left][b]主要内容:[/b][/align] 稀土(rare earth)有“工业维生素”的美称。现如今已成为极其重要的战略资源。 由于稀土元素性质的相似性,高纯稀土中其它稀土杂质的检测是最为困难的。 目前,高纯稀土中其它稀土杂质元素分析主要采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)和质谱法([url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url])。 在 ICP-OES分析中,由于稀土主基体的谱线十分密集,对杂质元素的谱线干扰非常严重,一般只能测定纯度在 99. 9% 以下产品中的稀土杂质元素,难以满足更高纯度要求。 与 ICP-OES 相比,传统单四极杆[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url] 由于具有更低的检出限,近年来已广泛应用于高纯稀土的分析,但仍然存在由于主基体带来的质谱干扰问题,对于特定的杂质元素无法直接测定。 在高纯稀土分析中,对于干扰严重的元素目前通常采用分离基体的方法 ,痕量稀土分析物与稀土基质的分离可以通过利用螯合树脂以在线或离线方式去除基质来实现,或者运用基体干扰系数校正,但是这种技术非常费时而且需要根据被分离的基质元素定制分析方法,步骤繁琐,对方法测定结果的影响因素多。对于纯度为5个9及以上的稀土产品,需要快速准确的杂质分析方法。Agilent作为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]/MS的开创者,最先推出高纯稀土中痕量稀土杂质直接分析的方法,利用该技术同时能够对干扰消除机理进行研究。

  • 【天瑞仪器报-优秀文稿】ICP-AES法测定氧化铥中14种稀土杂质元素研究

    【天瑞仪器报-优秀文稿】ICP-AES法测定氧化铥中14种稀土杂质元素研究

    ICP-AES法测定氧化铥中14种稀土杂质元素研究郑建明摘 要: 采用ICP-2000等离子发射光谱仪对纯度99.8%~99.99%的氧化铥中14种稀土杂质的分析线和基体效应进行了分析。详细考察了谱线干扰情况,选定了合适的分析谱线,并测定了14种稀土杂质的方法检出限(0.002~0.181 μg/mL),同时通过样品测量分析了基体匹配效应。该方法简单、快速、准确,对实际样品的测定具有一定的参考价值。关键词: 稀土; 氧化铥; ICP- AES随着工业及高科技的发展, 稀土金属和氧化物已经在发光材料、磁性材料、激光器、新型光电源等各个领域获得广泛应用。稀土金属用作反应堆的结构材料和控制材料, 起着其他化学原料不可替代的作用。稀土重要地位的日益体现, 使得对稀土分析的要求也越来越高。氧化铥作为价格昂贵的稀土氧化物, 市场需求量日益递增。因此,对氧化铥中稀土杂质的全分析显得十分必要。本文采用ICP-2000等离子发射光谱仪, 通过谱线描迹考察了纯Tm2O3基体对其余14种稀土杂质元素的谱线干扰情况,归纳出了合适的分析谱线,并选择以上谱线制作工作曲线,得出每个元素在纯Tm2O3中的方法检出限。同时,通过比较纯Tm2O3基体和无Tm2O3基体中14种元素的标准曲线和样品测量结果,分析基体匹配效应。该方法简单、快速、精密度好,检出限低,应用于实际样品的测定,结果满意。1 实验部分1 .1 仪器及试剂  ICP-2000等离子体发射光谱仪(江苏天瑞分析仪器股份有限公司)(主要工作参数见表1),实验室级超纯水器(南京易普易达科技发展有限公司),DB-3不锈钢电热板(金坛市杰瑞尔电器有限公司)。高纯氧化铥,质量分数大于99.99%

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  • 国之重器 | 稀土——iCAP TQ ICPMS分析高纯稀土中痕量稀土杂质
    "工业的维生su"稀土元素被誉为"工业的维生su",具有丰富的磁、光、电等特性,在现代高新技术产业和功能材料中起到了至关重要的作用。这些材料主要包括稀土永磁材料、稀土催化材料、发光材料、贮氢材料、磁制冷材料、光导纤维、磁光存储材料、巨磁阻材料、稀土激光材料、超导材料、介电材料等,在航空、航天、信息、电子、能源、交通、医疗卫生等领域得到了广泛的应用。高纯稀土通常是指纯度高于99.99%的稀土金属或其氧化物。高纯稀土材料中存在的其它稀土杂质元素常会对最终产品的功能产生影响,随着提炼技术的不断改进,使得稀土氧化物纯度可达到6N(行业上通指稀土杂质元素含量),从而对于痕量稀土杂质测定方法提出了更高的要求。针对高纯稀土中的杂质检测会有下面难点。主基体的浓度太高,会干扰杂质元素的检测对于高纯稀土中的杂质检测,往往样品是5N(99.999%)及以上级别含量非常低,需要仪器有足够高的灵敏度案例分析测定6N级高纯稀土氧化钆(Gd2O3 )中的14种稀土杂质目前氧化钆中稀土杂质检测方法主要依据国标GB/T18115.7中的电感耦合等离子体发射光谱法( ICP-OES) 和质谱法( ICP-MS)。在ICP-OES分析中,由于Gd的谱线十分密集,对其他稀土杂质元素的谱线干扰非常严重,测定范围在0.001%-0.05%之间,难以满足更高纯度要求。单杆ICP-MS 质谱法具有更低的检出限,但Gd具有7个天然丰度同位素,当采用SQ-ICP-MS方法进行氧化钆中其它稀土杂质元素分析时,Yb和Lu将受到严重的[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd16 17 18 O]+和[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd 16 17 18 OH]+类多原子类干扰,在现有的GB/T18115.7标准方法中,针对氧化钆中镱和镥的测定制定了采用C272柱分离钆基体后再进行ICP-MS法测定方案,各杂质元素的最di定量下限可达0.0001%,能够实现近5N级钆纯度的测定。但这种分离技术非常费时,步骤繁琐,对方法测定结果的影响因素多。"赛默飞三重四极杆ICPMS"赛默飞三重四极杆ICPMS不经任何基体分离手段,能轻松解决高纯稀土元素中杂质元素检测的干扰问题,为高纯稀土质量提供有力质量控制手段。(点击查看大图)实验测定结果(点击查看大图)iCAP TQ 三重四极杆ICPMS-高纯稀土元素检测利器超qiang抗干扰能力利用 Q1的iMS智能化质量筛选功能可有效地将高纯稀土基体离子进行剔除,然后通过Q2碰撞反应池中加入特定的反应气体,如氧气或者氨气,将待测稀土杂质离子或者基体氧化物离子的质量数进行迁移,解决了质量数重叠干扰。简单操作赛默飞Qtegra™ 智能科学数据处理软件(ISDS™ )通过自带的Reaction Finder 软件工具,能够自动为分析任务确定最you测量模式,帮助用户方便地建立方法,节省了日常方法建立所消耗的时间。为全国稀土行业的客户提供解决方案赛默飞采用iCAP TQ ICPMS/MS三重四极杆质谱仪无需采用繁杂的分离稀土基体技术,就能轻松去除基体元素形成的干扰,从而准确测定稀土杂质元素的含量,为全国稀土行业的客户提供解决方案以满足行业发展的迫切需求。如需合作转载本文,请文末留言。
  • 稀土检测杂质干扰多?iCAP TQ系列ICP-MS/MS来攻克
    稀土检测杂质干扰多?iCAP TQ系列ICP-MS/MS来攻克关注我们,更多干货和惊喜好礼 赛默飞iCAP TQ系列赛默飞iCAP TQ系列的ICP-MS/MS能很好的满足环境客户的需求,对于研究人员,iCAP TQ系列ICP-MS/MS可轻松联用,拥有超强抗干扰能力及保证准确的结果,为您的实验室提供了无限的研究能力——探索发展中的市场,拓宽研究领域。对于环境企业客户及三方检测客户,iCAP TQ系列ICP-MS/MS以其操作简单、低维护等特性将常规分析提高到一个新的水平,轻松应对z具挑战的基质样品,让iCAP TQ ICP-MS/MS不再是科研人员的专属。iCAP TQ系列ICP-MS/MS将会让我们的客户充分享受高性能仪器带来的极jia体验。 iCAP™ TQ ICP-MS/MS 随着工业的发展,越来越多的稀土元素应用在不同领域,像电子,医疗等,稀土元素越来越多地出现在河流等地表水中,尤其是医院周围,有相关报道证实,稀土元素为人体非必需微量元素,且长期低剂量暴露或摄入可能会对人体健康或体内代谢产生不良后果。在一些稀土矿区,村民的癌症比例也异常偏高。所以我们需要检测出环境中稀土元素的含量。现有的方法有很多用的是ICP或者单杆的ICP-MS。但是由于方法干扰,无法保证测定结果的准确。 在新出的拟立项国家标准项目公开征求意见稿中,“稀土金属及其氧化物中稀土杂质化学分析法 第6部分:铕中镧、铈、镨、钕、钐、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇的测定”中新增了ICP-MS/MS的方法,电感耦合等离子体串联质谱(ICP-MS/MS)的问世使铕及氧化铕中的铥元素的检测更加快速、简便。不需要预分离铕基体,直接进行ICP-MS/MS测定,稀土元素的检测下限达到0.1μg/g。ICP-MS/MS这项新技术应用于稀土铕产品中分析检测,解决高纯铕稀土中痕量稀土铥杂质元素的直接分析的技术难点。 稀土元素检测时可能遇到的干扰 以稀土中Er元素含量的检测为例166Er 是含量z高的同位素 (33.60%)虽然 150Nd 和 150Sm 不是这两种元素中含量z高的同位素,但使用KED模式时可以观察到明显的干扰 iCAP TQe进行样品分析使用iCAP TQe进行样品分析,对水样进行酸化和过滤,采用的条件 iCAP TQe ICP-MS/MS 结果哥伦比亚河玄武岩中的稀土元素检测结果 针对稀土元素,都得到了高回收率,REE检测限达到sub ppt,可在超痕量水平下进行灵敏可靠的分析。 除了稀土元素这些容易干扰的元素可以给出准确结果外,其它元素使用iCAP TQ ICP-MS/MS 也可一起得出结果。 所测的所有元素都得到了非常好的回收率,样品覆盖了广泛的浓度范围(~20 mgL-1至200 mgL-1)! 除了干扰消除,iCAP TQ的优异表现会超出您的想象:N.1高效率高通量iCAP TQ还能提高实验室效率,提高分析通量 NO.2无以伦比的稳健性内标回收率在80-120%之间,连续10小时,样本偏差为±3% NO.3更高检出限对于低含量污染物,可以直接进样进行准确检测。 O 对等或者检出限稍微高一点+ 检出限改进系数 2 ++ 检出限改进系数 5 +++ 检出限改进系数 10 iCAP TQ 系列 ICP-MS/MS将会成为环境科研及环境常规检测的有利工具。 “码”上下载 填写表单即刻获取【赛默飞iCAP™ TQ ICP-MS样本】 如需合作转载本文,请文末留言。 扫描下方二维码即可获取赛默飞全行业解决方案,或关注“赛默飞色谱与质谱中国”公众号,了解更多资讯+
  • 稀土元素四分组效应研究取得重要进展
    中科院广州地球化学研究所赵振华研究员及研究小组在对河北省张家口东坪特大型金矿中钾化-硅化碱性正长岩研究中,发现了一种新类型的稀土四分组效应—MW复合型,该研究成果已作为科学通报2010年第15期封面文章发表。  赵振华研究员是国际上最早发现和研究高分异花岗岩及水岩作用过程中稀土元素四分组效应的地球化学家之一。他发现的稀土四分组效应—MW复合型显示了M型和W型稀土四分组效应同时出现在同一类岩石(矿石)中。对该种岩石中磷灰石和锆石单颗粒矿物的稀土组成原位分析一致显示了熔体结晶(岩浆)及热液流体交代叠加作用,并可能至少有两期热液活动。它揭示了具有MW复合型稀土四分组效应的东坪特大型金矿形成过程中熔体-流体共存及富Cl, CO2和Si, K, Al, 高温、中低盐度热液流体交代作用的叠加。该新发现丰富了稀土四分组效应的类型和内容,并为探讨与碱性岩浆的金成矿作用提供了新资料。  稀土四分组效应(tetrad effect)是由于镧系元素4f电子层1/4, 1/2, 3/4, 至完全充满状态其化学性质的差异性变化造成的。即La-Ce-Pr-Nd, Pm-Sm-Eu-Gd, Gd-Tb-Dy-Ho 和Er-Tm-Yb-Lu化学性质分组,Nd/Pm, Gd, Ho/Er 为分界点,每4 个稀土元素为一组,各组在化学过程呈现出更相似的性质。在球粒陨石标准化图解中形成四组上凸或下凹的曲线,分别称为M型和W型四分组效应,它完全偏离了岩石中常见的线性分布规律。在已有研究中发现的高演化岩浆岩、水溶液和热液成因矿物中M型和W型稀土元素四分组效应均是分别单独存在的。
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