稀土杂质元素

SciAps X系列 XRF 是专为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，采用的X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。具有以下特点：分析速度快且精度高X系列XRF 分析仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器；采用了新进的硬件及软件.体积小，轻便便于携带便携X射线分析仪器的使用者希望新一代的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合，轻，，分析速度更快，分析效率更高的手持式X射线分析仪器X系列问世了。重约1.34斤。高清显示技术采用术显示屏，结果在所有光照条件下都清晰可见质量好，耐用 独特不锈钢防护罩，SciAps X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术，极大的降低了X分析仪损坏的风险，降低了后期拥有成本。操作简单，兼容性好的操作平台SciAps X 系列分析仪与手机一样运行安卓系统，操作简单，兼容性好，可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接，分享与打印测试结果。SciAps XRF X-555 软件特点及应用软件特点：与X 系列的其它仪器相比，SciAps X-550 采用一种新的X射线管及全新的分析方法，该方法将现场材料分析的速度又提高了一个档次，且一步降低了贵金属元素的检测限值。卓越的性能始于的手持式XRF技术，由55千伏X射线管引领，可对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检测限。从Mg到U，多达三个自动光束设置在整个周期表中提供性能。所有这些都在一个坚固的仪器中，配备的软件和出色的散热性能。主要应用：采矿一流的轻元素性能，可实现镁、铝、硅、磷和硫等元素的超低检测限，同时还具有足够的功率，可在探路者Ag、Sn、Sb和稀土元素等重元素上实现令人印象深刻的精度，再加上稀土元素检测功能，构成采矿的工具。 可以立即对露天矿场的爆破孔样本进行即时筛查，从而减少了对矿场实验室的依赖。 实验室测试分析前对样本进行预筛选，以最大程度地提高实验室检测效率。 辨别矿化趋向及异常现象，定义钻孔位置，扩展土壤样本的勘察边界。 采用适当抽样方法，提高对地下矿石品位的控制能力。 矿石品位和过程控制 及时分析矿样元素及含量，对矿石交易价格提供理论依据 对储矿堆材料的分析有助于制造厂的配料和给料操作。 对进料、沉淀物、精矿及尾料进行实时分析。 分析精矿和金条中的杂质元素。 在铜厂和贵金属厂中，作为液体比重测定过程的一部分，对废液进行检测环境土壤XRF质量保证与质量控制（QA/QC）在金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。SciAps 便携式XRF 合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的机械制造商的各种制造业，已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的首选仪器。稀土地质调查，矿产普查与勘探SciAps X系列分析仪的机身设计坚固耐用，性能稳定，精度高，可以在各种艰苦条件下正常操作，是野外探矿及矿区现场品位分析不可或缺的设备。 支持野外目标区域现场，大范围，大量采样测样，获取该区域岩石、碎片、土壤、沉积物等定性化学成份及定量性数据结果，结合GPS 功能和专业软件，绘制目标区域元素含量分布图，为目标区域矿产资源预测、勘查、评价及开发利用提供第一手的地化信息。 为矿权交易，分配勘探的预算经费提供第一手的地化信息。油气勘探现场检测钻机取出的各类样品，即时给出样品种元素的种类及含量，帮助地质专家及工程师及时判断需钻孔的位置，深度，在泥浆录井，高级勘探与钻井等等领域应用广泛环境治理和治理可以使用X系列分析仪，分析仍在使用和已经关闭的矿场（山）或附近场地的土壤、沉积物、灰尘、尾矿中的元素及含量，为环境监控治理提供数据依据。各环监部门可使用X系列分析仪快速检测目前区域法规规定需控制的金属元素重量及含量，收集并归档环境监控的量化记录。地矿相关专业学术科研与教育X系列分析有助于完成大学校园内实验室中进行的实验，支持本科生和研究生完成科研项目，并在日常的教学活动中，帮助地矿相关专业教师完成教学任务。由于X系列分析XRF分析仪可以迅速提供结果，因此不仅可以帮助学生们了解现代分析方式，辨别各种样本，而且还可以加深学生们对矿物沉积以及与矿床研究相关的矿石成因等知识的了解。 X555系列分析的优势2018年X系列分析经过多品牌性能评估，多层级筛选比较, 成功入围美国各大石油公司及其检测单位采购名录，产品具有以下优势：1. X系列发布时间2018年3月，是目前市面上新款手持XRF分析仪，拥有的运算方法和技术的元器件，体积更小，重量更轻2. 2秒就可以出测试结果，目前市面上畅销的仪器均为10年左右研发的产品，速度相对比较慢，需10-15秒才能完成一个样品测试；因此一台X系列分析仪的效率约等于5-7台畅销仪器效率3. 在检测量一定的情况下，因X射线管理论寿命已固定，X系列分析仪单个样品分析时间缩短，所以X射线管使用时间延长，X分析仪后期拥有成本变低。关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而55千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。SciAps X-555分析仪技术规格尺寸与重量外形尺寸：184x114x267mm；重量=1.35KG（带电池2.98磅）环境要求-12℃到55℃★激发源★探测器25mm2SDD探测器（有效面积）应用矿石成分分析X射线过滤多位置滤波器， 优化光束分析范围38个标准元素: La, Ce, Pr, Nd, Sm Eu, Gd, Y, Ti, V, Cr, Mn,Fe, Co, Ni,Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Te, Ag, Cd, Sn,Sb, Ba, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, U。可根据用户需求添加其它元素。可根据用户要求添加。★显示器2.7英寸彩色电容触摸屏- 400MHz高通Adreno 3062D/3D图形加速器★通讯/数据传输同过Wifi，蓝牙，USB连接到打印机，手机，PC电脑等 设备。处理器CPU1.2GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, 随机存储：2GB LPDDR3,存储16GB eMMC脉冲处理器数字化率在80 MSPS 8K通道MCA USB 2.0，用于高速传输数据到主机处理器。数字滤波在FPGA中实现的高通量脉冲处理20ns - 24us的峰值时间。电源可内置充电锂离子电池，换电池时不需要关机；客户可根据需要直接连外接交流电源供电。校准和牌号基本参数法。支持经验系数法修正校准检验外置316不锈钢用于校准验证和能量验证安全双重密码保护，使用时输入密码（用户级）和仪器内部设置密码（管理员）法规CE, RoHS, USFDA 注册, 加拿大 RED 法规

K-7000稀土元素分析仪主要用途: 手持式矿石分析仪秉承科迈斯多年的手持式X荧光光谱仪研发经验，科迈斯K-7000手持矿石分析仪引入数字多道技术，使检出限更低、稳定性更高、适用面更广，性能媲美台式机；小巧便携的体积在探矿、找矿以及各类地址矿样多种元素的检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用，使探矿工作变得简单、轻松。K-7000手持矿石分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。测试过程对样品要求低，但是测试结果准确 能准确分析高浓度样品，避免了验证性的实验室测试。科迈斯KMX-RAY手持式光谱分析仪可实时提供含有稀土元素(REE)的地质样品的数据。这17种稀土元素对绿色能源和几乎所有行业的生产都至关重要，促进了在国内生产更多这些金属的需求。因此，实时识别这些材料具有很大的市场价值。K-7000手持式光谱分析仪具有出色的检出限，可检测许多可量化的稀土元素，可在现场有效地勘探和识别稀土元素。K-7000手持式XRF软件可以检测一些稀土元素:镧(La)、铈(Ce)、镨(Pr)、钕(Nd)、钪(Sc)、钇(Y) ，以及一些靠近稀土元素的元素:钍(Th)、铀(U)、铯(Cs)和钡(Ba)。K-7000在检测各种矿石样品(包括氟碳酸盐和次生磷酸盐)时，表现出非常高的性能。氟碳酸盐通常是氟碳铈矿石，可提供钇、铈和镧 而磷酸盐通常是独居石，不仅含有镧、铈、错和钕，还含有较重的稀土元素钐和钆，以及放射性较弱的钍。K-7000对关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而50千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。K-7000规格表主要配置1矿石分析仪主机1套:2标准样品1个 3原装可充电锂电池2块 4充电座及电源线 5U盘(32G)1个 6加强型聚丙烯膜5片 7标准手提防潮防震箱一只。标配模式矿石模式 选配模式:合金分析模式、土壤分析模式自诊断功能仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断，并会生成日志，便于快速排查出故障操作系统Window CE 6.0操作系统，安全、放心测试方法基本参数法，支持经验系数法修正点触或扣动扳机控制测试开始，测试过程无需长扣扳机。根据客户需求，也可以一直按着扳机测试样品。滤光片配置8个滤光片，可根据测试元素自动切换:激发源大功率微型直板X射线管，W靶材，4W大功率X射线管，管电压50KV，电流最大可达100μA 采用KMX技术，更高X射线计数率，超低电子噪声设计。每次测试前，不需要外部标样，自动能量校准核查 探测器美国Moxtek Si-pin (6 mm2)180ev检测元素38个标准元素:La,Ce, Pr，Nd, Sm， Eu, Gd，Y，Ti，V，Cr，Mn, Fe，Co, Ni，Cu，Zn，As, Se, Sr，Rb, Zr，Nb，Mo，Te, Ag，Cd，Sn，Sb，Ba， Ta，W，Au， Hg，TI，Pb，Bi，U。根据用户需求添加其它元素。K-7000性能优势1、X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌上型电脑)，从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色，并具有极好的升级潜力。2、使用了先进的和多用途的x射线资料模式采用康普顿常态化校正方法，可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。3、基本参数分析:采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。4、实验校正法:利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。5、配备了光谱高点识别软体，可在显示幕查看光谱6、对比光谱，参考内置标准完成比较分析。

总览ZBLAN光纤是由ZrF4、BaF2、LaF3、AlF3和NaF等重金属氟化物组成的复合玻璃光纤。与广泛应用的石英光纤相比，ZBLAN光纤具有传输波长范围宽（0.35μm~4μm）和掺杂稀土离子发射效率高等特点。对于光纤激光器和放大器的应用，为了优化其效率，通过一种独te的光纤制造技术，筱晓光子推出低成本生产出高质量（特别是低损耗）的氟化物纤维双包层光纤，具有特定的d型芯可以设计和制造定制光纤的激光和放大器Mid-IR supercontinuumLVF非线性单模光纤由于其优良的性能，可以实现非常平坦和宽带的输出光谱。(中红外超连续介质激光器)中红外光谱和光学测量VF提出了用于光学安装的标准单模和多模光纤连接电缆。荧光LVE制造用于荧光研究的定制稀土掺杂氟化物玻璃块。晓光子提供全系列ZBLAN光纤产品，可定制波长0.04μm~0.35μm，纤芯与包层从50μm~1000μm可定制，也可定制红外线解决方案。稀土 Ho钬/Pr镨掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤,稀土 Ho钬/Pr镨掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤 通用参数产品应用光纤激光器光纤放大器类型掺稀土双包层光纤光纤类型双包层氟化物光纤掺杂元素Pr,Nd,Ho,Er,Dy,Tm,Yb,其它掺杂浓度（ppm mol）500-50000包层形状圆，八角形，长方形纤芯数值孔径0.16,0.21,0.26涂覆层数值孔径0.5截止波长（um）2.5芯径（um）2涂覆层直径（um）圆形：123/200/500(直径)八角形：123/200/500(对角线长度)矩形：123/200/500(对角线长度)包层直径（um）460,480,600第二层涂覆层厚度（um）30第二层涂覆层材料氟树脂包层材料UV固化丙烯酸脂实验测试半径1.25cm，2cm，6cm标准型号参考型号稀土掺杂稀土浓度（摩尔ppm）芯径(μm)Core NACutoff(nm)第一层包层直径(μm)包层形状第二层包层直径(μm)CladdingNA包层吸收(dB/m)ZDF-16/250-10E-CEr10,00016±20.12±0.02@ 3500 nm 2850250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm0.3-0.8@ 980 nmZDF-18/250-60E-CEr60,00018±20.12±0.02@ 2700 nm 3400250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm2-3@ 980 nmZDF-30/300-60E-CEr60,00030±20.12±0.02@ 2700 nm 5350300±15圆形460±300.50±0.02@1000nm4-5@ 980 nmZDF-7.5/125-40T-CTm(铥)40,0007.5±1.50.14±0.02@ 2000 nm 1700120±3圆形210±200.50±0.02@1000nm1-2@ 800 nmZDF-8.5/125-2H40T-CHo(钬)Tm2,00040,0008.5±2.00.14±0.02@ 2000 nm 2000123±4圆形195±150.50±0.02@1000nm1-2@ 800 nmZDF-10/125-30H2.5P-CHoPr(镨)30,0002,50010±10.17±0.02@ 3000 nm 2400123±3圆形210±100.50±0.02@1000nm1-2@ 1150 nmZDF-20/250-40E2.5D-CEyDy 镝40,0002,50020±30.13±0.02@ 3000 nm 4100250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm1-2@ 980 nmZBLAN玻璃的折射率（芯，典型）HBLAN玻璃的折射率（用于包层，典型）ZBLAN玻璃的材料分散性（芯，典型）HBLAN玻璃的材料分散性（用于包层，典型）背景损耗和发射波长通过选择稀土元素和激发波长，得到不同波长的光发射。虽然芯在长波长区域具有较低的损耗，但在第一包层中的传播光在1.7um处造成更大的损耗，而由于吸收用于第二包层的氟基UV树脂而导致更多波长损耗。DCFF配置订购信息例如：DCFF-2/125-P-30-0.21-0.52/125------2=芯径 125=涂覆层直径P ----------P=掺杂稀土元素30 ---------30=第二层涂覆层厚度0.21--------0.21=纤芯数值孔径0.5 --------0.5=涂覆层数值孔径

总览ZBLAN氟化物光纤的特点之一是各种稀土掺杂物，比如Tm、Pr和Er的高效率光发射。光纤用掺稀土的单模ZBLAN光纤抽芯光放大器、ASE光源和光纤激光器作为增益介质。稀土Ey/Dy镝掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤( FL ZDF系列),稀土Ey/Dy镝掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤( FL ZDF系列) 通用参数产品应用光纤激光器光纤放大器类型掺稀土双包层光纤光纤类型双包层氟化物光纤掺杂元素Pr,Nd,Ho,Er,Dy,Tm,Yb,其它掺杂浓度（ppm mol）500-50000包层形状圆，八角形，长方形纤芯数值孔径0.16,0.21,0.26涂覆层数值孔径0.5截止波长（um）2.5芯径（um）2涂覆层直径（um）圆形：123/200/500(直径)八角形：123/200/500(对角线长度)矩形：123/200/500(对角线长度)包层直径（um）460,480,600第二层涂覆层厚度（um）30第二层涂覆层材料氟树脂包层材料UV固化丙烯酸脂实验测试半径1.25cm，2cm，6cm标准型号参考型号稀土掺杂稀土浓度（摩尔ppm）芯径(μm)Core NACutoff(nm)第一层包层直径(μm)包层形状第二层包层直径(μm)CladdingNA包层吸收(dB/m)ZDF-16/250-10E-CEr10,00016±20.12±0.02@ 3500 nm 2850250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm0.3-0.8@ 980 nmZDF-18/250-60E-CEr60,00018±20.12±0.02@ 2700 nm 3400250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm2-3@ 980 nmZDF-30/300-60E-CEr60,00030±20.12±0.02@ 2700 nm 5350300±15圆形460±300.50±0.02@1000nm4-5@ 980 nmZDF-7.5/125-40T-CTm(铥)40,0007.5±1.50.14±0.02@ 2000 nm 1700120±3圆形210±200.50±0.02@1000nm1-2@ 800 nmZDF-8.5/125-2H40T-CHo(钬)Tm2,00040,0008.5±2.00.14±0.02@ 2000 nm 2000123±4圆形195±150.50±0.02@1000nm1-2@ 800 nmZDF-10/125-30H2.5P-CHoPr(镨)30,0002,50010±10.17±0.02@ 3000 nm 2400123±3圆形210±100.50±0.02@1000nm1-2@ 1150 nmZDF-20/250-40E2.5D-CEyDy 镝40,0002,50020±30.13±0.02@ 3000 nm 4100250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm1-2@ 980 nmZBLAN玻璃的折射率（芯，典型）HBLAN玻璃的折射率（用于包层，典型）ZBLAN玻璃的材料分散性（芯，典型）HBLAN玻璃的材料分散性（用于包层，典型）背景损耗和发射波长通过选择稀土元素和激发波长，得到不同波长的光发射。虽然芯在长波长区域具有较低的损耗，但在第一包层中的传播光在1.7um处造成更大的损耗，而由于吸收用于第二包层的氟基UV树脂而导致更多波长损耗。DCFF配置订购信息例如：DCFF-2/125-P-30-0.21-0.52/125------2=芯径 125=涂覆层直径P ----------P=掺杂稀土元素30 ---------30=第二层涂覆层厚度0.21--------0.21=纤芯数值孔径0.5 --------0.5=涂覆层数值孔径技术参数光纤损耗谱

一,氟化物单模掺铥ZBLAN光纤 ( 0.3-4.50μm)ZFG光纤重金属氟化物组成的复合玻璃光纤。与广泛应用的石英光纤相比，ZFG光纤具有传输波长范围宽0.03μm~4.5μm具有掺杂稀土离子发射效率高等特点。在光纤激光器和放大器的应用领域，为了优化其效率，通过一种独te的光纤制造技术，筱晓光子特推出低成本生产出高质量（特别是低损耗）的氟化物纤维单模光纤，具有特定的D型芯可以设计和制造定制光纤的激光和放大器Mid-IR supercontinuumLVF非线性单模光纤由于其优良的性能，可以实现非常平坦和宽带的输出光谱。(中红外超连续介质激光器)中红外光谱和光学测量。筱晓光子提供全系列ZFG光纤产品，可满足苛刻的光纤激光器的需求，可定制截止波长，纤芯直径，包层直径等，筱晓光子为您提供全方位红的外线解决方案。 光纤类根据数量价格,合同金额原则上不低于3500元光纤类根据数量价格,合同金额原则上不低于3500元 氟化物单模掺铥ZBLAN光纤 ( 0.3-4.50μm),氟化物单模掺铥ZBLAN光纤 ( 0.3-4.50μm) 通用参数型号ZFG SM [0.95](Tm3 5000) 3/125 纤芯直径3μm包层直径125μm第二包层直径N/A数值孔径0.23掺杂离子TmF3浓度(mol)5000ppm截止波长0.9μm短期弯曲半径≥15mm长期弯曲半径≥45mm衰减曲线三,稀土钬/铥掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤( FL ZDF系列)ZBLAN氟化物光纤的特点之一是各种稀土掺杂物，比如Tm、Pr和Er的高效率光发射。光纤用掺稀土的单模ZBLAN光纤抽芯光放大器、ASE光源和光纤激光器作为增益介质。稀土钬/铥掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤( FL ZDF系列),稀土钬/铥掺杂 ZBLAN双包层氟化物裸光纤( FL ZDF系列) 通用参数产品应用光纤激光器光纤放大器类型掺稀土双包层光纤光纤类型双包层氟化物光纤掺杂元素Pr,Nd,Ho,Er,Dy,Tm,Yb,其它掺杂浓度（ppm mol）500-50000包层形状圆，八角形，长方形纤芯数值孔径0.16,0.21,0.26涂覆层数值孔径0.5截止波长（um）2.5芯径（um）2涂覆层直径（um）圆形：123/200/500(直径)八角形：123/200/500(对角线长度)矩形：123/200/500(对角线长度)包层直径（um）460,480,600第二层涂覆层厚度（um）30第二层涂覆层材料氟树脂包层材料UV固化丙烯酸脂实验测试半径1.25cm，2cm，6cm标准型号参考型号稀土掺杂稀土浓度（摩尔ppm）芯径(μm)Core NACutoff(nm)第一层包层直径(μm)包层形状第二层包层直径(μm)CladdingNA包层吸收(dB/m)ZDF-16/250-10E-CEr10,00016±20.12±0.02@ 3500 nm 2850250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm0.3-0.8@ 980 nmZDF-18/250-60E-CEr60,00018±20.12±0.02@ 2700 nm 3400250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm2-3@ 980 nmZDF-30/300-60E-CEr60,00030±20.12±0.02@ 2700 nm 5350300±15圆形460±300.50±0.02@1000nm4-5@ 980 nmZDF-7.5/125-40T-CTm(铥)40,0007.5±1.50.14±0.02@ 2000 nm 1700120±3圆形210±200.50±0.02@1000nm1-2@ 800 nmZDF-8.5/125-2H40T-CHo(钬)Tm2,00040,0008.5±2.00.14±0.02@ 2000 nm 2000123±4圆形195±150.50±0.02@1000nm1-2@ 800 nmZDF-10/125-30H2.5P-CHoPr(镨)30,0002,50010±10.17±0.02@ 3000 nm 2400123±3圆形210±100.50±0.02@1000nm1-2@ 1150 nmZDF-20/250-40E2.5D-CEyDy 镝40,0002,50020±30.13±0.02@ 3000 nm 4100250±13圆形460±300.50±0.02@1000nm1-2@ 980 nmZBLAN玻璃的折射率（芯，典型）HBLAN玻璃的折射率（用于包层，典型）ZBLAN玻璃的材料分散性（芯，典型）HBLAN玻璃的材料分散性（用于包层，典型）背景损耗和发射波长通过选择稀土元素和激发波长，得到不同波长的光发射。虽然芯在长波长区域具有较低的损耗，但在第一包层中的传播光在1.7um处造成更大的损耗，而由于吸收用于第二包层的氟基UV树脂而导致更多波长损耗。DCFF配置订购信息例如：DCFF-2/125-P-30-0.21-0.52/125------2=芯径 125=涂覆层直径P ----------P=掺杂稀土元素30 ---------30=第二层涂覆层厚度0.21--------0.21=纤芯数值孔径0.5 --------0.5=涂覆层数值孔径

牛奶杂质度测定仪，牛奶杂质度分析仪、鲜乳杂质分析仪、乳品杂质测定仪牛奶杂质度测定仪，牛奶杂质度分析仪、鲜乳杂质分析仪、乳品杂质测定仪技术参数：主要用途：用于乳品，牛奶杂质度的测试检测速度：800样品/小时每一滤膜可测500ml牛奶溶液牛奶杂质度测定仪，牛奶杂质度分析仪、鲜乳杂质分析仪、乳品杂质测定仪标准配置：主机、 标准滤纸、结果比对卡

锂离子电池的性能与正极材料的质量息息相关，当在正极材料中存在铁（Fe）、铜（Cu）、铬（Cr）、镍（Ni）、锌（Zn）、银（Ag）等金属杂质时，这些金属会先在正极氧化再到负极还原，当负极处的金属单质累积到一定程度，其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜，造成电池自放电。负极材料中的杂质元素同样严重影响电池的电化学性能，有可能刺穿隔膜，造成安全隐患。如何精准高效确认磁性杂质的来源，以此优化生产工艺呢？ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类，以此判定是哪个生产环节出了问题。可根据不同的检测需求，灵活定制自动分析流程常见自动化分析方案仅是能谱软件中的一项功能，可更改的参数很少，无法根据客户的需求灵活调整，也无法满足客户特殊户需求。ParticleX 是一套独立运行的系统，自动分析流程、杂质分类规则、报告生成样式等都可以根据实际需求灵活定制，会给每个客户定制一套针对性解决方案。长寿命 CeB6 晶体灯丝，确保自动化分析的流畅运行常见电镜灯丝材料为钨，寿命较短（仅为100小时左右），并且灯丝后期会熔断，导致分析过程立刻终止。CeB6 灯丝寿命超过1500小时（厂家质保），灯丝后期不会发生熔断，确保了自动化分析的流畅运行。另外，CeB6 灯丝亮度更稳定，因此其结果准确性也更高。多项设计，保证高通量快速运行 100 × 100 mm 大尺寸样品台，可一次放置多个样品，一键自动全分析 三仓分离的真空设计，抽真空时间小于 1 分钟，换样速度极快 全自动电动马达台，保证位置移动的快速、精确软硬件一体化设计，保证了软硬件的协调工作 软件可以充分调用硬件权限，并针对性优化； 电镜和能谱一体化设计，工作距离一致，避免频繁调节电镜或能谱工作距离，大大提升操作便捷性； 售后问题可以在一家解决，避免互相推诿。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有专业的服务团队，提供优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪 行业需求塑料原材料（树脂、粉末）中如果夹杂不同的颜色，可能会对下游客户带来伤害，现在越来越多的下游加工用户对上游供应商提出产品外观的需求，比如黄色指数、黑点、黑斑粒、色粒、大小粒、拖尾、连粒等都必须达到一定的要求。 对于一些高端客户或透明的、白色的产品客户来说，原料里的杂色多少将非常影响生产工艺和最终产品的品质。把这些瑕疵挑出来，分析原因，优化工艺，并在生产环节中增添相关设备来剔除瑕疵，是高品质用户的一致需求。 在全球最新光学、影像学和图形分析数学模型的基础上，我们的产品生来就具备了先进性，自动化和准确性成为了基础，更简单的操作和更多的功能成为了客户选择的原因。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪描述 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪是对粉末或粒子进行检测分析后统计杂色和异形数量级分布的系统，从大量的产品中实时检测不同颜色及形状的杂质，同时通过报告的形式向用户提供各种杂质尺寸和颜色信息等。 一套Calpas系统可以检测的项目包括： 1、粉末（例：PVC）中的杂质； 2、粒子（例：PP、PE、ABS）中的杂质，包括黑点、异色； 3、粉末和粒子外的纤维杂质，外来杂质； 4、高透或高反射粒子（例：PC/PMMA）中的黑点、异色、凝胶点等； 5、粒子自身的尺寸和形状。 Calpas杂质扫描检测仪组成主要包括：高性能高速相机（CCD或用户指定）；照明强度可调的粒子专用4光源阴影辅助照明系统（产品的透明度不同，粒径不同，光源照明有多种选择）；进料速度可调的三维振动进料系统；可同时分析杂质颜色尺寸以及粒子自身尺寸及形状的分析软件。 该系统还可选配杂质自动分拣装置，进料轨道自动清洁装置，整机防尘装置等，如用户有特殊应用需求，可进行量身定做，一切以满足用户检测需求为最终目的。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪操作简便，软件界面友好，一键式全自动操作即可自动进料、检测、生成检测报告，软件可安装于普通家用电脑，检测过程噪音小，速度快，重复性高，配备Calpas标准板用来对仪器检测尺寸数据定期校准。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪的主要特点：1. 一台机同时测量黑点、杂色、异形等各种功能；2. 样品平铺滚动经过，非常快速；3. 能自定义多种杂质并命名；4. 高性能的高速相机；5. 照明亮度可调；6. 噪音低；7. 可调节产品供给速度和供给量的自动产品供给装置；8. 对检测出的杂质进行实时分析，自动登入杂质画面储存窗口，分析各种杂质信息。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪产品性能：1. 高速图像分析：500g粉末/3分钟；1kg颗粒/2分钟。2. 测量范围：50~30,000μm，用户自定义可分不同尺寸等级。3. 照明：根据阁下样品特点选择不同的照明条件，比如中心LED照明（粉末产品），方形LED照明（粒子产品），特殊照明（高透粒子）等，照明强度可手动调节。4. 进料系统：三维进料系统，可通过调节振动幅度及进料高度来调节进料速度。5. 报告：自动生成产品检测报告，显示杂质粒子异形、异色以及瑕疵点尺寸信息，杂质图片。6. 性能：STD＜1%（粉末）；STD＜5%（颗粒） ISO14484

真空型矿产元素分析仪EDX 9000B矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

EDX-9000B XRF Spectrometer能量色散X荧光光谱仪矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

型号ST-1540ST-1540机械杂质测定仪适用于测定石油产品中的各类轻、重质油、润滑油及添加剂的机械杂质的含量。根据GB/T511《石油产品和添加剂机械杂质测定法（重量法）》设计制造的专用仪器。可广泛应用于电力、石油、化工、高校、商检及科研等部门。 生产厂家北京旭鑫仪器设备有限公司 功能特点l 液晶屏汉字显示l 采用新的单片微机技术l 实现按标准要求的升温速率，温度升温快l 精密铂电阻作为测量元件，控温精度高l 具有恒温功能，自动化程度高，操作简单技术参数适用标准GB/T511控温范围室温～100℃控温精度±1℃显示方式液晶汉字显示加热功率300W相对湿度10%～80%Rh环境温度5℃～45℃电源电压220V±10％ 50Hz

型号ST-1540ST-1540机械杂质测定仪适用于测定石油产品中的各类轻、重质油、润滑油及添加剂的机械杂质的含量。根据GB/T511《石油产品和添加剂机械杂质测定法（重量法）》设计制造的专用仪器。可广泛应用于电力、石油、化工、高校、商检及科研等部门。 生产厂家北京旭鑫仪器设备有限公司 功能特点l 液晶屏汉字显示l 采用新的单片微机技术l 实现按标准要求的升温速率，温度升温快l 精密铂电阻作为测量元件，控温精度高l 具有恒温功能，自动化程度高，操作简单技术参数适用标准GB/T511控温范围室温～100℃控温精度±1℃显示方式液晶汉字显示加热功率300W相对湿度10%～80%Rh环境温度5℃～45℃电源电压220V±10％ 50Hz

碎屑、杂质分析仪MK2（棉型），可检测100克以内棉纤维样品中碎屑、杂质及微尘含量。也可用于检测合成纤维中非纤维组分的含量，或对纤维进行开松、除杂处理以备进一步测试。该分析仪采用气流分析原理将纤维与非纤维组分进行分离。 碎屑、杂质分析仪MK2（毛型），可检验原毛、毛条及废毛中纤维组分及其它外来物质的含量，也可用于细度测试前的试样准备。还可用于检测贵重纤维如开司米（羊绒）、安哥拉毛等纤维的制绒率（制成率），或用于测定合纤长纤维中非纤维组分的含量。

Funke-Gerber 提供二款乳品杂质分析仪，分别是手动杂质分析仪SEDILAB和全自动杂质分析仪SEDILAB-E。手动款简便易于操作，可固定于桌沿，就通过手动方式将500ml牛奶泵过滤纸，再讲滤纸对比标准读数卡，读出最终结果。该款产品经济实惠，但检测效率较低。自动款带有压力泵，可用于连续检测样品，每小时可处理800个样品。每次样品需用500ml牛奶，通过滤纸和标准读书卡的对比，得出最终结果。价格稍贵，单工作效率高且检测省事省力。

BS3B型微机三通道元素分析仪 三元素分析仪采用冷光源技术提高了仪器的易用性和分析结果的准确性，适用于对金属等材料中的硅、锰、磷、镍、铬、铜、稀土、镁、铜、铁、铝、钒、钨、钛等多种元素的含量分析，可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需要。三元素分析仪技术指标：◇测量范围：锰0.10%-15.00% 硅0.10%-5.00%磷0.005%-0.80% 铬0.010%-25.0%钼0.010%-6.00% 镁0.010%-0.99%（以上元素均可相应扩大测量范围）三元素分析仪性能特点：◇冷光源技术，进口硅光电池，自校零点和满度值；◇采用单片机控制，可储存15条曲线；◇采用精密触摸式键盘，键音提示，设计快捷功能，操作更简单；◇仪器机外熔样，操作简单，无阀门和管道老化，使用寿命处长；◇更换不同冷光源可扩大测量元素的种类和含量范围。

XRF Scanner 样芯元素扫描分析系统是由瑞典 ITRAX 公司在原有CoreScanner 的基础上研制生产，主要用于岩矿样芯及沉积样芯元素快速精确高灵敏度扫描分析，分为 SC 单样芯扫描分析系统（每次装载一个样芯）和 MC 多样芯（每次可装载多个样芯进行分析）扫描分析系统两个版本。原理系统采用XRF和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析。 主要技术特点2 与其他XRF扫描仪相比，Itrax XRF扫描仪为所有元素提供了单位时间和长度的最佳XRF数据质量，以及更高的样品通量2 可对样芯一次性扫描分析从 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素） 浓度及分布2 测量不使用氦气，降低运行成本2 结实耐用，轻松完成 24小时/7天 无人值守操作2 Itrax扫描仪是唯一一款可在一次扫描中确定所有元素的XRF扫描仪，同时为每个确定的元素提供最佳数据2 Itrax XRF是唯一一台在连续样品扫描中不会因降低或升高扫描头而降低能力的XRF扫描仪2 非接触式分析与非常小的扫描头相结合，使Itrax XRF扫描仪非常擅长处理样品裂缝和斜坡——而不会破坏样品和数据2 对于XRF分析，Itrax每单位步长分析所需时间仅为1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步长也是如此，与其它设备相比，具有无可比拟的高通量优势2 Polyflat™ X-光聚集技术，非接触性元素扫描分析，Micro X-光束对每个点精确扫描分析并可进行平均，如沿样芯每厘米的平均浓度或整个样芯的平均浓度2 可分析元素相位分布及相关关系2 具 RGB 高分辨率彩色镜头及 LED 光源、样品条码扫描器2 软件包功能非常强大应用案例一通常情况下，页岩具有丰富的地质化学组成和痕量金属元素，可以反映其沉积环境、起源、成岩作用等。ITRAX 实验室应客户需求利用 XRF Scanner,以每点（point）每秒 1厘米 的步进速度，对波罗的海 Oland 岛的页岩进行了扫描分析，分析记录了 2400 个点的元素数据（每个点代表页岩样芯剖面 1cm 的测量数据）， 发现有 30 多种元素，包括一些主要元素如Al、 Si、K、Ca、Ti、Fe，微量元素如 P、Cl、S、Mn、Rb、Sr，及痕量元素 V、Cr、Ni、Cu、Zn、 As、Br、Y、Zr、Mo、Nb、Ba、Pb、Th、U。结果表明，页岩样芯富含典型的粘土元素如Al、 K、Ti和Rb，同时TOC（总有机碳）代理元素如V、Ni、Mo及U也很典型。这意味着成岩作用在水底部缺氧、富含硫化物。 应用案例二另一个案例为来自澳大利亚塔斯马尼亚州的富于稀土元素的岩矿样芯，XRF Scanner不仅给出了样芯各种元素的浓度，还可以显示样芯剖面各种元素的浓度分布，而且通过元素浓度相关分析，可以识别鉴定矿相（Mineral phases），如本样芯 Y（钇） 与所有其它记录到的稀土元素（如 Nb、Ce、Pr、Nd、Dy）存在高度相关关系，这意味着 XRF 谱线中所有稀土元素都属同一矿相。 主要技术指标1) 尺寸MC：1900?1200?1650 mm，长?宽?高，包括支架S C：1900?700?1650 mm，长?宽?高，包括支架2) 重量MC：500 kgS C：420kg3) 电力需求：230 v/50Hz 16A，可根据用户需求定制4) 样品长度：最大为1 m，可根据用户需求定制5) 样品直径：最大120 mm，可根据用户需求定制为150 mm6) 样品容量MC：8个，与样品直径相关S C：1个7) 扫描步进：标准 1mm-10mm，可客户定制 0.1mm 步进（更高空间分辨率）8) X-光管：50 瓦铑阳极 X-光管，预期寿命 50000 小时9) XRF：135eV 分辨率，100,000 counts/秒，非接触性扫描10) 其它用户可订制部分*更高通量XRF计数300,000 counts/秒*UV荧光成像模块

XRF Scanner 样芯元素扫描分析系统是由瑞典 ITRAX 公司在原有CoreScanner 的基础上研制生产，主要用于岩矿样芯及沉积样芯元素快速精确高灵敏度扫描分析，分为 SC 单样芯扫描分析系统（每次装载一个样芯）和 MC 多样芯（每次可装载多个样芯进行分析）扫描分析系统两个版本。原理系统采用XRF、数字X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析。 主要技术特点2 与其他XRF扫描仪相比，Itrax XRF扫描仪为所有元素提供了单位时间和长度的最佳XRF数据质量，以及更高的样品通量2 可对样芯一次性扫描分析从 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素） 浓度及分布2 测量不使用氦气，降低运行成本2 结实耐用，轻松完成 24小时/7天 无人值守操作2 Itrax扫描仪是唯一一款可在一次扫描中确定所有元素的XRF扫描仪，同时为每个确定的元素提供最佳数据2 Itrax XRF是唯一一台在连续样品扫描中不会因降低或升高扫描头而降低能力的XRF扫描仪2 非接触式分析与非常小的扫描头相结合，使Itrax XRF扫描仪非常擅长处理样品裂缝和斜坡——而不会破坏样品和数据2 对于XRF分析，Itrax每单位步长分析所需时间仅为1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步长也是如此，与其它设备相比，具有无可比拟的高通量优势2 Polyflat™ X-光聚集技术，非接触性元素扫描分析，Micro X-光束对每个点精确扫描分析并可进行平均，如沿样芯每厘米的平均浓度或整个样芯的平均浓度2 可分析元素相位分布及相关关系2 具 RGB 高分辨率彩色镜头及 LED 光源、样品条码扫描器2 软件包功能非常强大应用案例一通常情况下，页岩具有丰富的地质化学组成和痕量金属元素，可以反映其沉积环境、起源、成岩作用等。ITRAX 实验室应客户需求利用 XRF Scanner,以每点（point）每秒 1厘米 的步进速度，对波罗的海 Oland 岛的页岩进行了扫描分析，分析记录了 2400 个点的元素数据（每个点代表页岩样芯剖面 1cm 的测量数据）， 发现有 30 多种元素，包括一些主要元素如Al、 Si、K、Ca、Ti、Fe，微量元素如 P、Cl、S、Mn、Rb、Sr，及痕量元素 V、Cr、Ni、Cu、Zn、 As、Br、Y、Zr、Mo、Nb、Ba、Pb、Th、U。结果表明，页岩样芯富含典型的粘土元素如Al、 K、Ti和Rb，同时TOC（总有机碳）代理元素如V、Ni、Mo及U也很典型。这意味着成岩作用在水底部缺氧、富含硫化物。 应用案例二另一个案例为来自澳大利亚塔斯马尼亚州的富于稀土元素的岩矿样芯，XRF Scanner不仅给出了样芯各种元素的浓度，还可以显示样芯剖面各种元素的浓度分布，而且通过元素浓度相关分析，可以识别鉴定矿相（Mineral phases），如本样芯 Y（钇） 与所有其它记录到的稀土元素（如 Nb、Ce、Pr、Nd、Dy）存在高度相关关系，这意味着 XRF 谱线中所有稀土元素都属同一矿相。 主要技术指标1) 尺寸MC：1900?1200?1650 mm，长?宽?高，包括支架S C：1900?700?1650 mm，长?宽?高，包括支架2) 重量MC：500 kgS C：420kg3) 电力需求：230 v/50Hz 16A，可根据用户需求定制4) 样品长度：最大为1 m，可根据用户需求定制5) 样品直径：最大120 mm，可根据用户需求定制为150 mm6) 样品容量MC：8个，与样品直径相关S C：1个7) 扫描步进：标准 1mm-10mm，可客户定制 0.1mm 步进（更高空间分辨率）8) X-光管：50 瓦铑阳极 X-光管，预期寿命 50000 小时9) XRF：135eV 分辨率，100,000 counts/秒，非接触性扫描10) 其它用户可订制部分*更高通量XRF计数300,000 counts/秒*UV荧光成像模块

德国Gerber公司 杂质度测定仪SEDILAB-E, 德国盖博, 进口杂质度测定仪, 牛奶杂质度测定仪 进口 杂质度测定仪,手动杂质度过滤机 特点： &rarr 用于乳品，牛奶杂质度的测试 &rarr 检测速度：800样品/小时 &rarr 每一滤膜可测500ml牛奶溶液 &rarr 杂质度板直径：32mm 德国Gerber公司 手动杂质度过滤机SEDILAB 特点： &rarr 手动杂质度测试，操作简单 &rarr 带可装在桌子上的夹具 &rarr 固体金属设计，坚固耐用 &rarr 检测量：500ml牛奶溶液

产品简介：适用领域空气分离制氧过程控制分析、炼钢用氧气中烃类杂质分析。产品详情：☆ 适用领域空气分离制氧过程控制分析、炼钢用氧气中烃类杂质分析。☆ 分析成份及检测限☆ 仪器特点◆ 以国产一代高性能、高稳定性GC6210或GC6210T气相色谱仪为基础，运行可靠稳定。◆ 采用氢火焰离子化检测器(FID)检测，气体六通阀或注射器进样，二根填充柱分离，排除了主峰氧的干扰。◆ 配有4或8升铝瓶装多组份标准混合气，方便分析定量。◆ 双通道色谱工作站，支持Windows 98/2000/XP操作系统，色谱分析谱图储存、数据处理、报告打印随心所欲。

型号ST-1540ST-1540机械杂质测定仪适用于测定石油产品中的各类轻、重质油、润滑油及添加剂的机械杂质的含量。根据GB/T511《石油产品和添加剂机械杂质测定法（重量法）》设计制造的专用仪器。可广泛应用于电力、石油、化工、高校、商检及科研等部门。 生产厂家北京旭鑫仪器设备有限公司 功能特点l 液晶屏汉字显示l 采用新的单片微机技术l 实现按标准要求的升温速率，温度升温快l 精密铂电阻作为测量元件，控温精度高l 自动化程度高，操作简单技术参数适用标准GB/T511水浴控温范围室温～100℃水浴控温精度±1℃漏抖控温范围室温～100℃漏斗控温精度±1℃控温显示液晶汉字显示加热功率300W相对湿度10%～80%Rh环境温度5℃～45℃电源电压220V±10％ 50Hz

● 一台仪器便可完成棉包中杂质的全面分析● 操作简单,适用于原棉和棉条测试● 全自动,快速,大容量测试● 同时检测,测量和分级棉花杂质,粘性,成熟度和细度● 高度灵活的操作设计,每个实验都可以独立运行.● 作为一台高效能检测仪器,它可以清楚地反映出棉花质量的真实情况, 协助工厂确定合理的生产工艺，从而保证纱线质量.CONTEST的工作原理非常独特,它真实模拟纺纱生产中的梳理工序.使用简单,操作人员只需准备3.5g 样品并将其制作成10m的纤维薄网.首先,纤维薄网会进到"碎片测试单元",通过HD图像分析棉籽壳,棉结,杂质.然后,纤维薄网被输送到"粘性测试单元", 在那里,纤维薄网被挤压经过2个加热辊筒,沾附在辊筒上粘性物质,通过光学原理被检测,辊筒可以自动清洁.接下来,纤维薄网被重新收计算出马克隆值,通过重复压缩法测试出成熟度.● Fragment Tester碎片测试单元● Stickiness Tester粘性测试单元系统组成● Fineness and Maturity Tester细度和成熟度测试单元● Software测试软件参考标准● 马克隆值: ISO 2403● 粘性: DIN EN 14278-3 旋转辊筒装置的自动热检测法● 棉结:ASTM D5866

型号：ZD-D4名称：微机元素分析仪主要性能特点• 适用于钢铁材料，合金材料中各元素的测定；• 采用精密触摸键盘，32键音响提示，设计多种快捷功能键，操作 更为简便；• 采用冷光源新技术，选用进口硅光电池，避免灯泡易烧或过热造 成数据不稳定等问题；• 采用微机控制及处理数据，储存15条工作曲线，并可输入日期和 炉号，进行曲线修正，具有断电数据保护等功能；• 采用”智能动态跟踪”和”标准曲线的非线性回归”技术，结果数显 直读，自动打印；• 功能完备，从建立标准曲线，调用曲线、测试含量、打印、储存 于一体的完整性和强大的数据处理功能；• 仪器设计合理，变更单色光源，比色杯、称样量可扩展测量元素 和扩大含量范围。注：ZD-D3为16键操作 ZD-DL为有色金属分析仪主要技术指标• 测量范围：0~1.999A吸光度值 0~99.99%浓度值• 测量精度：符合GB/T223-88标准• 可测元素：硅、铉、磷、铭、镣、钥、铜、钛、稀土、镁• 电源电压：220V±10% 50HZ

SP-BS-1908 型杂质黑点检测仪 用途Application按相关国家标准分析树脂片或颗粒的杂质黑点的大小、数量，以及黑点颗粒占比数。This equipment evaluates the number and size of blackspot,as well as the ratio of blackspot in beads,for resin sheet or pelletin accordance with relevant industry standard or code.适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒，如PP、PE、PVC、PPS 等等。Applicable for inspection and analysis for transparent or semitransparent or even opaque materials,such as PP,PE,PVC,PPS，etc.也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。Also can be used to detect and analyze black spots or defects of inner quality in transparent film. 技术指标Specifications1. 测量规格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按选用的标准，可在软件界面选定。2. 最小检测目标： 0.1mm3. 检测精度： 小于0.035mm4. 检测面积：不小于200×200mm5. 器皿大小：200mm×200mm 净面积，用于颗粒黑点检测。6. 放大倍数：20 倍7. 光密度:不小于6000 流明8. 光源要求: 24V/60W9. 供电电源：220V,50HZ10.外形尺寸：约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm) 仪器功能特点1. 测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。 SP-BS-1908 型 黑点检测仪Detects the size and quantity of blackspot,as well as the ratio of BS in beads.2. 可提供黑点、损坏颗粒，以及膜片质地纹路的分布图谱。Provides mapping of blackspots or inner quality,as well as the defected bead.3. 黑点或膜片质地分布可放大和缩小。Ability to zoom in and out to view blackspot or striation in sample. Showing in detail the texture shape of it.4. 被测目标可分类计数和统计。Counting and classification of the targets being measured.5. 按适用的标准自动生成检测报告。Automatically generates Inspection Report based on different standard or code.6. 报告和图谱可打印可储存。Report and Mapping is printable or can be saved.7. 进样方向与屏幕显示的走向一致，友好的界面视觉感。Sample feeding direction is same as the moving direction of display on the computer screen with friendly interface design.8. 颗粒以透明器皿为载体，批次检测。Bead is inspected by using transparent tray in batch.9. 透明薄膜直接平铺在检测平台上进行检测，无需对薄膜作黑化或贴纸处理。Transparent film is directly spread on the inspection platform for detecting,without any pretreatment by blackening or paperback stick process. 仪器的配置☆ SP-BS-1908M 杂质黑点检测仪Type of SP-BS-1908 Blackspot Detector. ☆ 标准板Standard Plate for Calibration.☆ 透明器皿 (测颗粒用) Transparent tray （ be used for bead inspection）☆电脑工作站Working Station of Computer.☆ 应用软件 Application Software.

高性价比 在同类吸收光谱中检测指标范围最广泛，从非金属到金属均可测试；测定范围最大，从超痕量到高含量均可有效定量；仪器价格在吸收光谱中最低，而灵敏度精度及准确度和稳定性均达到吸收光谱的顶级。 高精密度 实际样品含量测多次实验，相对误差RSD均小于5%以内，实际操作均在1%至3%之间 高准确度 因检测体系，均为直接法测定，加标回收率实验均在95%以内；如与被测同组分国家或国际标准物质样品参比，准确度最高可达98% 高灵敏度 标准单质元素溶液（按照国际纯粹与应用化学联合会IUPAC1997通过并在1998年发表的《分析术语纲要》IUPAC Compendium of Analytical Nomenclature中规定的方法实验验证）周期表上90%的元素检出限均小于10PPB，40%的元素均达到2.5PPB，有部分指标已达到0.5PPB 摩尔吸光系数&epsilon 均达到10的5次方以上（L/mol/cm） 高选择性 其他干扰共存元素允许量对被测元素量最高可达几千倍之多，因此，大部分分析体系不需要分离，萃取和富集，可在实际生产指导检测中实现快速的定量分析；使用酸碱消解样品，不管是酸溶还是碱溶，均不影响定量分析，可以令快速检测制样简便化，与其他大部分光谱只能采取酸溶比较，制样的步骤大大简化，达到真正的高速定量分析。 适用范围极宽 从非金属元素，到过渡元素，以及贵金属元素，稀土及碱土金属元素，有害元素及有益元素，均可一机解决 低维修率 因其仪器制造原理，光栅的发展历史已历经百年以上，发展至今光栅已趋于完美，在化学分析行业中应该说是最经典的稳定体系，成熟的检测方法已超过任何一个光谱上百倍；而实际使用维修率远远低于任何的其他类型光谱仪器，并具有高耐受性，对环境要求低，对供能要求低等无可比较的优势。 可测元素： 银，铝，砷，金，硼，钡，铋，钙，镉，硅，铈组稀土，稀土总量，钴，铜，铬(VI)和总铬量，铁，镓，锗，汞，铟，铱，镁，锰，钼，铌，镍，铅，钡，钯，铂，锑，钪，锡，锶，钽，碲，钍，钛，铊，钒，钇，锌，非蛋白氮，磷，总氮，氨氮等。还有更多元素详情请咨询我们！ 光谱应用热线：全国直拨统一号码 950133377889 （周一至周五 9:00至17:30） 微信二维码

纸尿裤杂质检测仪/婴儿纸尿裤杂质测定仪/成人纸尿裤杂质测定仪一，用途用于检测纸尿裤在一定的强光照射下，光线透过试样其内部残留的杂质主要是用来测试纸尿裤，纸尿片纸尿垫护理垫正常组分及形态以外的物质，比如尖锐物品，金属，陶瓷，玻璃，砂砾，塑料片等使用的仪器是婴儿纸尿裤杂质测定仪二，符合标准：GB/T 28004.1-2021附录C、GB/T 28004.2-2021附录C等。三，产品特点：1、光源为LED可调节光源。2、彩色触摸屏显示、控制，中、英文界面，菜单式操作模式。3、核心控制部件采用意法公司32位单片机组成多功能主板。4、删除方式采用选中删除，方便删除任意一条测试结果。5、仪器表面采用静电喷漆，经久耐用整机外观造型美观大方，便于清洁6、进口特铝拉丝面板、并配有金属按键。三，原理如下需要配备照明装置的工作台，而且是在可调节的透射光照射下观测被测试试样。标准杂质图片，不锈钢剪刀等。四，实验步骤：1.任取2 片试样,将一个试样平铺在照明装置(C.2.1)工作台表面,四角用夹子或魔术贴固定好,在透射光下检查试样面层、芯层和背面可见的杂质,眼睛观察时的明视距离为250 mm~300 mm。可根据试样厚度调整LED灯的照度。2. 对于芯层中的杂质,用不锈钢剪刀(C.2.2)剪开试样面层后,通过对比标准杂质图片鉴定杂质的大小。用不同标记圈出不同面积的杂质,通过对比标准杂质图片(C.2.3)鉴定试样上杂质的面积大小，也可采用按不同面积的大小，分别记录同一面积的杂质个数。3. 对于成团的杂质,例如塑料膜、无纺布碎片等,应将其展开后再通过标准杂质图片鉴定杂质的面积大小。婴儿纸尿裤杂质测定仪的结果的要求，任意一片尿裤中不应有大于5.0平方毫米的杂质。

颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1 产品概述 粒子扫描系统 MP-C1（彩色摄影机）是专为塑料聚合物工业开发的，也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模生产时，产品质量是决定性因数。材料无缺陷不仅是一个美学问题，在多数情况下还是一个绝对的品质要求。对于聚合物工业公司来看，生产出最高质量的产品意味着超越他人的高竞争力与高效率。运用当今最新的科技发展成果，我们设计出简单易用的，建立在光学记录和处理基础上的自动质量控制系统。他更加快捷准确并节约劳动力。为了发现并消除生产某种缺陷的原因。必须要掌握最精确的第一手资料。这就是需要准确和持续地获得关于特定缺陷的颜色，尺寸，出现频率等方面的详细资料。MP-C1 可以检测透明和不透明粒子，由 3-CCD 彩色摄影机获得的影像由图形处理器通过特定的软件加以处理和评估。此软件提供了多种层面的调节选项，使得用户可以完全可以按单独的要求进行系统配置。对于污点和异物颗粒（同纯净无污染材料颜色不同）的检测。可以通过教学工具对色度差异进行分级。检查过程可以经由显示器观察，可见的缺陷被标记出并标注索引，特别重要的图形可储存。测验结果可以通过多种图表和表格表示，并有彩色打印机打印。数据，软件的调整，检测时间和持续时间均易获得，可方便日后评估和长期评估。此系统可通过现成的软件界面被集成到任何内部数据处理系统中，例如经由以太网。该系统也易于维护，其中含一个全自动的自清洁单元，它可以在不同的可调节的间隔清洁粒子进料器和光学检测舱。1，产品的引文完全自动化快捷的粒子扫描系统 MP-C1（彩色摄影机），可以对实验室产品颗粒进行质量检测以及生产线产品质量的流程控制。 2，设备说明20 微米到 200 微米之间是摄影机像素的标准配置。它每小时可以处理出 2 公斤甚至到 60 公斤重的透明和不透明的粒子，当然是取决于被检产品颗粒的规格和材料。以下是摄像机的规格与处理量比较（20um: 1-3kg/h；40um：2-6kg/h；60um：6-12kg/h等）。你们可以针对配置规格来选者贵公司所需要得摄影机。针对 MP-C1这一款的粒子扫描系统，我们把电脑与摄影机系统的连接线长度预留在3米。然后设定以分辨率在 40 微米的标准开始，在测试 80 微米，然后120 微米到最后 200 微米等10个规格(客户也可以自定义）。根据测量结果我们得到以下一组数据，并作为技术参数。 3，仪器的组成部分-机械的共鸣感应装置-摄像机等的配置：USB 3 CMOS resolution：1600x1200，60f/s；-像素尺寸：pixel size 4.5um；-光学配置：Color calibration module；-PC控制电脑的模拟器，硬件设备:SDD SanDisk UltraII SDSSDHII-120G-G25；HDD Western Digital Blue WD10EZEX 1TB Motherboard Gigabyte GA-Z97X-UD3H GB DDR3-RAM处理器Processor：Intel Core i7 i7-4790K Quad Core 4x4.0 GHZ 电源：Coolermaster G750M 750W - 软件操作系统：Windows& (or higher). Powered by Mishell@- 整套电路的连接 - 17 寸大的显示屏（辐射小），监控器设备- 键盘，鼠标- 各种硬件软件的解读文件 主要的技术资料 芯片彩色摄影机设定摄影机的像素： 1600x1200像素,60f/s, Pixel size 4.5um检测精度： 20um起光学尺寸： USB 3 CMOS 影像传送率： 60f/s功率的消耗量： 18W适宜的工作环境温度： 15到 40 oC设备尺寸： 50 x 60 x 50cm重量： 32kg灯光的配件 ： LED 强光源 常规下的理论 当选定分辨率在 20 微米的标准摄影机，可以准确快捷的获取生产流程中微粒的影像，从而计算出产品的总质量（杂物分类统计）。对于这种规格的摄影机而言每小时检测出的总处理量可达到 2 公斤到 60 公斤不等 。同时也取决于产品本身的材料和规格性能。带有图像处理器的高效率的瞬时捕捉实时图像处理电脑的尺寸： 19 寸长 4HE主体部分的尺寸： 500*600*500* mm3 (长*宽*高)电压/功率： 约在 230V/110V 380VA重量： 约在 32公斤 颗粒杂质和形状扫描仪二合一：现场安装调试图：

来因科技杂质度过滤机 乳品杂质度过滤仪特点：IN-ZZ杂质度过滤机是专用产品，使用方便、可靠。过滤后奶液供生产继续使用，降低成本；机器噪音低，过滤效果好。IN-ZZ杂质度过滤机是公司按照国家标准GB/T5313.1—5413.32《乳、乳制品的检验方法》中关于杂质度的测定而专门制造。此仪器是在di一代杂质过滤机ZA-GB1（ZA-GB1依据GB5413.30-1985）,di二代杂质过滤机ZA-GB2（ZA-GB2依据GB5413.30-1997）的基础上依据GB5413.30-2016研发生产的zui近第三代杂质度过滤机。HL-GB2杂质度过滤机避免了机械式ZA-GB1过滤机皮带维护麻烦，耗材贵的麻烦。也在ZA-GB2基础上改进电机，并按新标准GB5413.30-2016进行改动，更好的满足了GB5413.30-2016要求，更耐用，免维护，并配。杜绝了1代产品恼人的噪音使用更加持久耐用，并配配了全部使用配件，更全，更方便使用。一 接好电源插头，打开电源开关。电源开关上的指示灯亮。二 将杂质度过滤棉板置于漏斗底座的过滤网上。将出水管置于下水道。三 将预过滤之样品倒入漏斗内，按动启动按钮。四 取下过滤棉板与标准板对照，即可得出该样品的杂质度含量。来因科技杂质度过滤机 乳品杂质度过滤仪基本参数:电源------------------------------------------------------------220V/50Hz输出功率-------------------------------------------------------------50W流量---------------------------------------------------------------2.5L/nt容量---------------------------------------------------------------500ml重量---------------------------------------------------------------约5Kg外型尺寸------------------------------------------300 x 200 x 100mm过滤板直径------------------------------------------32mm烘干皿内径------------------------------------------32mm标准对照版采用国家乳制品监督检验中心研制的杂质度对照版，国家版本编号 GB5413.30-2016。杂质度过滤机配置：主机一台，乳品铝皿盒二个，杂质度过滤板一盒，杂质度标准板一张，杂质度标准板使用说明一份，杂质度过滤机使用说明书一份，实验规范一份，合格证一张）选配：乳品专用电子温度计，乳稠计

LEA-500 激光全元素分析仪可在几分钟内分析元素周期表中的所有元素LEA-500 是一款功能强大的现代化仪器，结合了光谱学，激光和软件方面的创新技术，可对样品中的所有化学元素进行测量，以及进行二维、三维元素分布成像和深层分析 通用性(分析不同材料时无需重启仪器) 简便快速的分析(几乎不需要样品制备) 最高的分析灵活性(样品形状和大小的变化可能是无限的) 分析速度快 测量范围广(从 0.1ppm~100%) 高精度测量和稳定性 每个样品分析的成本低，消耗品最少LEA-500 是研究，创建新材料和加工技术的理想工具最广泛应用的最便捷，最有效的分析技术 玻璃，陶瓷，水泥 黑色和有色金属冶金，合金和炉渣 地质行业，矿物，矿石 钾盐和肥料 纯金属中的痕量杂质 塑料和橡胶 建筑材料，粘土、沙子 土壤，环保行业 原材料的提取和加工 化学试剂 药用原料 生物材料 考古文物 半导体行业 农业(食品、饲料、茶叶、植物)快速多元素定性和定量分析 一次同时测量轻元素和重元素 宽浓度范围内的高灵敏度和高精度测量 使用 XYZ 电动位移台和视频成像系统分析样品上的设定点 XY 位移台步进精度为:1um 分析点的尺寸为:50um~1.2mm 可分析杂质和缺陷 可逐层分析 分析深度：1um~100um 涂层和薄膜分析能力 可以 10um 扫描步长绘制样品表面的元素含量分布图 可分析固态和粉末状样品 可分析的最少样品量：50ng 可分析的最大尺寸：75×75×40mm 不需要更改样品的聚合状态 通过初始激光脉冲可清洁样品表面二维元素分布成像LEA-500 是科学研究，创建新材料和加工技术的理想工具仪器的光学设计可以分析小范围不均匀样品中的化学成分，提供元素分布成像和逐层分析。 LEA-500 的独特功能可为每个客户的独特应用提供最佳分析结果：比如：检测地质材料中的化学元素，分析金属合金中杂质含量分布的不均匀性，检测杂质和缺陷的化学成分，分析元素浓度。焊接接缝、建筑建材中有害化学物质的深层浓度分析，石材建筑和玻璃的质量控制等。LEA-500 的独特设计使其成为具有高分析性能和最低检测限的极具吸引力的仪器 双光束光学设计 热稳定结构 光谱范围:175-800 nm 高通量无像差系统，焦距为 500 mm 色散0.5nm/mm(对于3600l/mm光栅)至 1.0 nm / mm(对于 1800 l / mm光栅) 在保护气体的气氛中运行通过以下方式可提供高达 0.01 ppm 的检出限和高重现性: 双脉冲纳秒激光器作为双脉冲的光谱激发源 高能量和空间稳定性 在非常宽的范围内自动控制能量和空间参数新设计的仪器允许在一个激光脉冲中记录大部分可检测元素可靠的设计，创新技术可实现最大的准确性和稳定性，符合最高质量标准。独特的样品室设计，可选装自动进样器 用 100 倍视频摄像机选择分析区域 真空系统可至1mm汞柱 分析系统有气氛保护 电动多位(12 位)样品架 同时加载各种样本并自动切换样本 二维元素分布成像完整的分析软件包，用于校准，评估和报告 全自动测量  只需单击一下即可启动整个分析循环  在分析过程中自动聚焦在样品表面上  样品表面观察，选择任何点或区域进行分析 化学元素分布的三维成像分析 逐层元素分析 光谱数据库

QL－BS1000全能精密元素分析仪采用光源波长连续可调技术提高了仪器的应用范围和分析结果的准确性。只要有元素的光度分析方法，就可用本仪器进行分析，因而可以适用于黑色和有色金属及其合金等各种材料中的硅、锰、磷、镍、铬、铜等多种元素的含量分析，可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等面对各种材料多元素分析的需要。全能精密元素分析仪技术参数：1 测量范围：锰0.10～15.00％、硅0.10～5.00％、磷0.005～0.80％、铬0.01～25.0％、钼0.101～6.00％、镁0.010～0.100％、镍0.010～30.0％、稀土0.01～0.100％、&hellip &hellip 2.波长范围： 400-800nm（波长连续可调）3. 波长准确度： ± 3nm4 分析时间：两分钟左右5 分析误差：锰：符合GB/T223.63-88标准磷：符合GB/T223.59-87标准硅：符合GB/T223.5-97标准6 分析方法：采用机外溶样，光电比色法。7 标样曲线：记忆贮存9条曲线，采用回归方法，建立曲线方程。8 输入输出方式：薄膜专用输入键盘，LED数码管显示式打印输出。全能精密元素分析仪主要特点：1. 采用元素分析仪可调波长光源系统，实现波长连续可调，从而使产品的应用范围达到全功能的水平，可以根据被测材料元素的要求，方便的迅速设定所需波长，可用于各种材料及其合金的多种元素分析。2. 产品不仅波长连续可调，而且精度大幅提高，从传统元素分析仪的波长误差一般20nm提高到现在的3nm，因而可以使产品在扩大应用范围的同时，提高分析检测的准确度。3. 采用单片机实现程序控制和数据处理。能快速、准确地测出钢铁和有色金属中多种元素的质量分数，自动化程度高，定量加液准确可靠，试剂量少等特点，提高了分析的准确度和精密度，能直接显示质量分数并打印。4. 采用冷光源技术、进口光电元件，自校零点和满度；5. 单片微机控制、快捷功能键、快速更换不同厚度比色杯,可储存9条曲线；6. 机外溶样、操作方便，没有阀门和管道老化，延长使用寿命。

磁致伸缩现象是铁磁性物质在外磁场作用下，其尺寸伸长，去掉外磁场后，其又恢复原来的长度。磁致伸缩效应可用磁致伸缩系数λ来描述。稀土金属间化合物磁致 伸缩材料的λ达到500~2000ppm，比磁致伸缩金属与合金和铁氧体磁致伸缩材料的λ大1~2个数量级，因此称为稀土超磁致伸缩材料，其磁致伸缩应变 λ比PZT材料大5~25倍。稀土超磁致伸缩材料磁致伸缩应变时产生的推力很大，直径10mm的稀土超磁致伸缩棒材，磁致伸缩时产生约200公斤的推力。 湖南天功测控研制的超磁系列专利产品：《信号源可控的超磁致伸缩换能器驱动电源》已获国家发明专利证书，专利号：ZL2016108241081。 仪器用途： 一般用于桥梁检测与混凝土质量测检。 仪器特点： 1、TGM-RGM型稀土超磁致伸缩换能器使用高性能的Terfenol-D超磁伸缩材料，其结构和控制电路经过优化设计； 2、TGM-RGM型稀土超磁致伸缩换能器发射功率大，在同步信号控制下，重复性好，便于增强采集； 3、TGM-RGM型稀土超磁致伸缩换能器与电火花震源、锤击震源相比，具有起跳点陡，读数误差小等优点； 产品参数：TGM-RGM型稀土超磁致伸缩换能器技术参数 产品配制： TGM-RGM型稀土超磁致伸缩换能器（原名：TH-CCJ系列稀土超磁致伸缩换能器）由超磁换能器、超磁换能器激励源、数据线构成。超磁换能器超磁换能器激励源 典型应用： TGM-RGM型稀土超磁致伸缩换能器应用在桥梁预应力管道注浆质量无损检测，如下图所示，在30到50米的梁板锚头两端分别用本超磁换能器激发弹性波和用加速度传感器接收弹性波，提高了信号的稳定性和检测结果的重复性。 注：TGM-RGM型稀土超磁致伸缩换能器的激发模块集成在仪器中，由仪器软件控制调整其输出能量的大小。