红外法测量仪

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红外法测量仪相关的厂商

  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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红外法测量仪相关的仪器

  • 红外发射率测量仪ET10,可测量任何不透明材料的发射率;获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时,不同温度下的反射率与波长是不变的,所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来,红外发射率测量仪ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时,将仪器对准测量样品表面,按下扳机即可记录数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。红外发射率测量仪ET10主要特点: 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体:Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用,具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便红外发射率测量仪ET10应用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度红外发射率测量仪ET10技术参数:ET10 便携式红外发射率测量仪 测量参数 定向半球反射比 (DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 发射率波段 2个波段:3~5、8~12μm 入射角 20°法线入射 样品表面: 任何表面,6” 半径凸面,12” 半径凹面 测量时间 10秒/次;90秒预热 IR 源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计,测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境: -25~70℃; 操作环境:0~40℃,非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg,含电池
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  • 发射率测量仪ET100采用积分球反射方法设计,内置积分球、红外光源、微型控制处理器等,采用电池供电、触摸屏显示,具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时,只需将仪器对准物体表面,扣动扳机后,自动进行反射率测量,测量完成后,会在显示屏上显示测量结果,同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内,可供用户后续处理和分析数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。发射率测量仪ET100可以测量20度和60度2个入射角,6个光谱波段的反射率和波段总发射率。发射率测量仪ET100可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。发射率测量仪ET100应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数 ET100 便携式红外发射率测量仪 符合标准 ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比 波段 6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面 测量时间 10秒/次;90秒预热 IR源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计,测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg,含电池
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  • ET10 高精度便携式发射率测量仪,可测量任何不透明材料的发射率;获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时,不同温度下的反射率与波长是不变的,所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来,ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时,将仪器对准测量样品表面,按下扳机即可记录数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。
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红外法测量仪相关的资讯

  • 滨松近红外绝对量子产率测量仪亮相2018先进材料研究国际研讨会
    2018先进材料研究国际研讨会于2018年8月2日至8月5日在中国上海市举行,此次会议由中国材料研究学会、北京理工大学、东华大学和应用物理化学国家重点实验室(陕西应用物理化学研究所)联合主办。研讨会旨在推动中外材料科学与技术科学的发展,扩大中外学者在科学研究层面的合作水平,同时为国内材料研究工作者和博士生提供有关综述和展望近年来新材料最新进展和科研成果的平台。会议现场滨松中国展台滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS C13534亮相了本次会议。绝对法是一种快速而准确测定量子效率的方法,该方法具有低能源消费与高环境保护的特点,所以被广泛应用于先进材料研究。滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS是采用绝对法测量光致发光材料量子产率(PLQY)的集成化全新产品,通过集成光源、分光系统、积分球以及探测器于一体,大大提高了空间利用率,产品的软件操作自动化,让用户可以简单、便捷地使用产品。其可以测量薄膜、粉末以及液体样品,包含样品的激发光谱、发射光谱、量子产率、色度参数、EEM谱。在前代产品的基础上,Quantaurus-QY PLUS C13534增加了可扩展近红外探测器通道以及可扩展外接光源的接口。可扩展的近红外通道可以将量子产率的测量范围扩展至300-1650nm,覆盖市面上发光材料量子效率测量需求波段。与普通双通道探测器不同,滨松的双通道探测器测量结果通过算法拟合,结合JCSS级别的校准技术,可以让双通道结果无缝接合,得到稳定结果。产品的外接光源扩展接口可外接激光器以及高能氙灯等光源,可以轻松测量低量子产率以及上转换发光的材料,满足客户对于低发光效率以及上转换材料的测量需求。滨松近红外绝对量子产率测量仪 Quantaurus-QY PLUS C13534产品涉及领域广泛,包括荧光粉、量子点、有机电致发光材料、金属有机框架材料、PV敏化染料电池片、荧光探针、钙钛矿材料、上转换材料、AIE材料等。凭借优秀的性能以及滨松高效优质的技术支持和产品服务,近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS在研讨会期间受到了与会专家学者的高度关注。
  • 【新品主推】粮食水分测量仪的应用与发展趋势
    点击此处可了解更多产品详情:粮食水分测量仪  随着科技的不断发展,粮食水分测量仪在农业生产中得到了广泛的应用。该仪器利用物理和化学方法,快速准确地测量粮食的水分含量,为农业生产提供了重要的参考依据。    一、粮食水分测量仪的原理    粮食水分测量仪的原理主要基于电学和近红外原理。电学方法主要利用粮食的导电性与其含水量的关系,通过测量粮食的电导率或介电常数来推算其水分含量。近红外原理则是利用近红外光谱技术,通过分析粮食对特定波长光线的吸收和反射特性,来推断其水分含量。    二、电学方法原理    电学方法中,常用的有电阻式和电容式两种。电阻式水分测量仪利用粮食的导电性,通过测量电阻值与水分含量的关系来推算水分。电容式水分测量仪则是利用粮食的介电常数与其含水量的关系,通过测量电容值来推算水分。    三、近红外原理    近红外光谱技术是利用粮食中水分子对近红外光线的吸收特性来推断水分。该技术具有非破坏性、快速准确等优点,但也存在着对样品颜色、颗粒大小等因素敏感的问题。为提高测量的准确性和稳定性,常采用光谱预处理、多元回归等方法进行校正和优化。    四、粮食水分测量仪的应用与发展趋势    粮食水分测量仪在农业生产、粮食储存和加工等领域有着广泛的应用。通过准确测量粮食的水分含量,可以指导农业生产和储粮工作,避免因水分过高导致霉变或水分过低影响口感等问题。未来随着科技的不断进步和应用需求的提高,粮食水分测量仪将向着更加智能化、高精度、快速响应等方向发展。同时,随着物联网技术的普及,粮食水分测量仪将与智能农业系统相结合,实现远程监控和智能化管理,进一步提高农业生产效率和管理水平。    五、结论    粮食水分测量仪作为一种快速、准确的测量方法,对于农业生产具有重要意义。了解其工作原理和应用特点,有助于更好地选择和使用适合的水分测量仪,为农业生产提供科学依据。未来随着技术的不断创新和发展,相信粮食水分测量仪在农业生产和科研领域将发挥更大的作用,为实现农业现代化作出积极贡献。【新品主推】粮食水分测量仪的应用与发展趋势
  • 700万!宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目
    一、采购项目名称:宁波海洋研究院采购红外折射率测量仪及中波红外干涉仪项目二、项目编号:CBNB-20221203三、公告期限:2022年5月31日至2022年6月8日止四、采购组织类型:分散采购委托代理五、采购方式:公开招标六、招标项目概况(货物名称、数量、简要技术要求、采购预算/最高限价):品目号货物名称数量简要规格描述采购预算/最高限价一红外折射率测量仪1台用于测量光学材料的折射率特性,具体详见招标文件450万元二中波红外干涉仪1台用于红外玻璃均匀性检测,球面、非球面以及自由曲面等面型透镜加工精度检测,具体详见招标文件250万元

红外法测量仪相关的方案

  • 科众精密-接触角测量仪在薄膜行业的应用,货发深东莞横沥
    作为专注于薄膜产品的厂家,我们始终致力于为客户提供薄膜表面测试和解决方案。经过严格筛选和测试,终于联系到了科众精密仪器,对试用了他们的水接触角测量仪超过三个月,以确保能够获得准确、可靠的测试结果。KZS-20测量仪器具有完备的性能和合理的软件技术,旨在满足薄膜产品测试的各项需求。无论是表面润湿性能、涂层质量还是薄膜材料的各项性能测试,水接触角测量仪将成为得力助手。它提供简单易用的操作界面,精准的测量结果以及快速的响应速度,能够高效地进行各项测试工作。
  • 如何测量薄膜类样品的水滴角,水滴角测量仪推荐
    使用两种测量技术不进行接触角的测量,通常情况下,在水滴转移后(60 正负10)S内进行接触角的测量,若另有规定,则按食品说明中有关水滴角转移和测量的在最大有效时间来进行测量。1 调整量角器指针合其与度样表面的水滴相切,从而直接用量角器测量接触角。2 用接触角测量仪中的微分圆法或者微分椭圆法,通过水滴图像测量接触角。
  • 生物医疗设备涂层应用-Filmetrics 膜厚测量仪
    Filmetrics 膜厚测量仪的卓越技术,Filmetrics膜厚测量仪提供了范围广泛的测量生物医疗涂层的方案。支架: 支架上很小的涂层区域通常需要显微镜类的仪器。 我们的 F40膜厚测量仪 在几十个实验室内得到使用,测量钝化和/或药物输送涂层。我们有独特的测量系统对整個支架表面的自動厚度测绘,只需在测量时旋轉支架。植入件: 在测量植入器件的涂层时,不规则的表面形状通常是唯一挑战。 Filmetrics 提供这一用途的全系列探头。导丝和导引针: 和支架一样,这些器械常常可以用象 F40 这样的显微镜仪器。 用 F42 可以进行显微区域内厚度的两维测绘。导液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可见光谱不透明性决定了 F20-NIR 是这一用途方面全世界众多实验室内最受欢迎的仪器。

红外法测量仪相关的资料

红外法测量仪相关的试剂

红外法测量仪相关的论坛

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 【原创】OUM-智能Ⅱ型近红外纸张定量水分测量仪

    在造纸行业中,定量水分测量仪是纸张生产过程中监测及控制系统的眼睛,红外定量水分测量仪是一种用于造纸生产线上进行在线连续动态检测纸张定量、水分的专用仪表。仪表采用一个传感器同时测量纸张定量水分两个参数,克服了传统的同位素测量仪对周围环境造成放射性污染,危害人体健康的缺点。仪表传感器采用多光束测量技术,测量面积大,克服了色差变化,环境因素变化对测量精度的影响,从而保证了测量结果的准确性。仪器采用红外线测量原理,不受静电影响。信号全数字化处理,仪器采用进口器件,优化设计,从而进一步保证了工作的稳定性和可靠性。另外,仪表具有四十五种标定曲线存储功能,使得使用更加方便。方便的标准物理量标定,提高了仪表测量的准确性。同时,仪表还具有自检功能和超限报警功能,使用和维护更加方便。仪表配有0~10mA, 4~20mA标准输出接口,还配有国际标准的RS485标准串行输出接口。便于与控制系统及其它记录设备连接。一、仪表结构仪表分为传感器和信号处理两大部分。传感器分为发射探头和接收探头。探头安装于造纸生产线上,主要完成测量光信号的生成、光电信号的转换及信号放大。信号处理单元安装于控制室或其它便于观察的地方,主要完成将探头接收到的数据信号处理,以数字方式显示出被测纸张的定量、水分值。同时,输出信号给控制系统。 发射探头234mm×153mm×266mm传感器结构尺寸: 接收探头232mm×153mm×144mm信号处理单元结构尺寸: 356mm×160mm×400mm二、定量水分测量仪性能指标:★、测量范围:纸页定量10~500g/㎡★、定量测量精度Q: 10g/㎡≤纸页定量100g/㎡ Q ≤±0.5g 100 g/㎡≤纸页定量500g/㎡ Q ≤±1%★、水分测量精度Q′:纸页定量200 g/㎡ Q′≤±0.2% 200 g/㎡≤纸页定量500g/㎡ Q′≤±0.5%★、测量响应时间:t≤50ms★、输出接口配置: 0 ~10mA、 4~ 20mA标准输出信号标准RS485串行通信接口三、仪器适用范围:★、环境要求:环境温度 ≤ 55℃ 环境湿度 ≤ 80%★、工作电压:~220V±10% 50Hz (最好使用稳压电源)★、消耗功率:30W四、仪器配置 发射探头主机:传感器 接收探头信号处理单元 附件:通信电缆(长度根据厂家使用要求而定)电源电缆导纸辊(为防止打断纸页而特殊设计)精密净化交流稳压电源(选配)部分标准件(紧固件)轴流风机(两台)输出配置:标准接口0~10mA 或 4~20mA 标准RS485串行接口五、安装要求将传感器的发射探头与接收探头分别安装在纸张的两侧,发射头和接收头之间的距离为10~15mm,发射探头和接收探头的相对位置不能改变,否则,应对仪表重新标定。六、仪器特点1、仪器电气性能特点:仪器内部所使用的电子元件,都是经过严格老化处理及筛选,其它光学零件终身无需调校。这样使得仪器能长期稳定的工作,使用户使用成本极低。仪器探头为铸铝外壳,其密封性能良好,可安装于恶劣的生产现场。2、仪器可组成检测系统该仪器是一种智能仪器,可提供准确的测量信号,其探头也可作为最基本的测量单元构成一个检测系统。检测系统将探头输出的测量信号通过计算机显示出被测纸页水分的变化情况,系统可将各测量点的数据贮存、打印。3、本仪器安装方便,成本低,并克服了传统的同位素测量仪对周围环境造成放射性污染,危害人体健康的缺点。所以,被广泛应用于造纸行业。七、计算机远程实时动态监控系统该系统将红外线定量水分测量仪输出的定量、水分信号及生产过程中的其它参数传输给计算机。计算机采集这些参数,经过专用程序处理,并将这些参数变化曲线按时间顺序在计算机上显示出来,并能将显示值与曲线存贮起来,以备调用。这样,管理人员办公室可通过计算机随时了解生产过程中的纸张定量、水分变化情况及整个纸机的生产状况,更加方便地指导生产,使产品的产量、质量得以提高。

  • 【资料】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

红外法测量仪相关的耗材

  • testo 835-T1 红外测量仪器
    testo 835-T1 红外测量仪器产品参数:红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器 量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数 光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点 开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度,热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C,不带激光和背光显示)10小时(一般25°C,不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光:30 s仪器:120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年,延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltd style=testo 835-T1 红外测量仪器
  • 在线水分测量仪配件
    在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪,它采用德国高灵敏度光学水分传感器,非常适合测量粉末,颗粒,浆料,糊状物,膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品,测量速度快,测量精度高,测量可靠性强,全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品,具有德国专利的光学水分传感器清洗技术,完全清洁光学传感器探头,解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构,超级耐用无需耗材,使用成本低无需样品准备,直接测量,节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理:近红外反射测量范围:0-90%水分含量测量精度:+/-0.1%测量时间:2秒测量距离:10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸:高达10cm光源:红外LED光源收集器:光电二极管工作温度要求:5-45摄氏度工作电力要求:24VDC, 0.2A,信号输出:0...10V或4...20mA外壳材料:IP65外形尺寸:300x200x160mm重量:2.8kg
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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