近场测量系统

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近场测量系统相关的厂商

  • DMS(国际)有限公司是一家专业从事动态信号分析系统的研发、生产、销售并提供测试解决方案和工程服务的高科技企业。公司总部在香港,在上海、北京、南京、武汉、西安、成都等设有办事处。 公司已和国内多所知名高校长期合作,组建了强大的技术研发团队和 强有力的销售团队,为国内企业和实验室提供优质可靠的动态信号分析系统以及相应的技术解决方案,并成功地引进了迄今国际先进水平的工程测试、检测设备及相关软件。公司产品广泛用于航空、航天、船舶、汽车、电子和通讯及国内各高等院校等众多行业,产品涉及系统集成、工程测试、适合多种应用的数据采集、动态信号分析仪、模态测试系统、振动台控制仪及机器人测试设备等多个方面,赢得了众多客户的赞誉。 “以服务求市场、质量求生存、科技求发展、创新求进步”,公司还是一个“年轻”的公司,其全体员工平均年龄在30岁左右;是一个高素质的公司,其员工大专学历以上者占95%%以上。就是这样一个年轻、高效、团结的集体,通过谦逊的工作作风,灵活的思维方式,不怕苦、不怕累、敢拚敢上的干劲,成为国内测试行业中一流的产品供应商。
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  • 上海博众测量技术有限公司致力于为制药、生命科学、微电子、锂电池、航空航天、钢铁、交通、电力、烟草、空分、净化、除湿干燥等行业的客户提供受控环境、过程气体以及大气环境监测所需的温湿度、露点、压力、二氧化碳及其他气体浓度分析、风速风向等关键控制参数的测量、记录、监测、验证解决方案。我们还可以为客户提供从测量方案设计、测量产品的选型推荐、销售、成套、系统集成、软件编制、IQOQ验证等软硬件产品,并可为所供产品或系统提供在生命周期的内的维保及计量校准服务。因为我们专业、诚信所以值得您的信赖!品牌及合作伙伴:l 芬兰VAISALA : 温湿度、露点、二氧化碳、油中水分、 大气压、风速风向等气象测量产品l 英国MICHELL : 湿度发生器、镜面露点仪、碳氢露点及氧气测量、干燥等标准设备l 美国GE DRUCK : 压力测量传感器及变送器、压力及电信号校验设备l 美国SETRA: 微差压测量变送器、微差压开关、微差压校验仪l 美国TSI: 便携式室内空气参数测试仪器、便携式粉尘仪、质量流量计等l 加拿大VERITEQ :高精度温湿度一体记录仪 、高精度温度度记录仪、热电偶记录仪 模拟 信号记录仪、EMS监测系统、GMP/FDA/GSP温湿度分布、验证l 德国TESTO : 持式多功能测量仪表l Airmonic :温湿度、露点、结露预警、二氧化碳、气象、IAQ、烟气排放、压 力等环境及过程流体的数据测量、传输、监测、记录、分析的方案 提供和系统集成,以及成套业务l Bodhi: 露点测量变送器、二次显示仪表、一体化监测处理系统、一体化测量变送器、便携式采样系统、温湿度监测系统、室内空气品质测量变送器等
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近场测量系统相关的仪器

  • 2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s,在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能(s-SNOM)。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm,广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合,没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射,空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整,无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征,得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作,被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学,力学,电学和磁学测量:l 纳米热分析模块(nanoTA, SThM)l 洛仑兹接触共振模块(LCR)l 导电原子力显微镜镜(CAFM)l 开尔文电势显微镜(KPFM)l 磁力显微镜(MFM)l 静电力显微镜(EFM)10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像;优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图(上图),和相应的近场光谱(下左图)。pNTP分子层的近场光谱(图下右)。
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  • SIG 系列分布式光度计,可以直接得到LED 等光源的近场光线数据Ray DATA,从而通过权重法超高精度模拟不同距离下的远场数据,测试数据可以直接导入Zemax、LightTool、TracePro 等光学设计软件;可以了解你芯片的发光特点,改进封装设计工艺,提高出光效率;对于LED 应用,无需再为LED 光学模型重建而苦恼;让你轻松实现业界领先的光学设计; SIG400光源近场分布测试系统
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  • 光源近场测量系统Gonio-2Pi主要功能该设备可以实现光源的远场测试,另外通过可选附件,可以拓展测试光源的近场,多光谱Raydata,BSDF等测试,实现一站式完全光源的全数据表征;光源近场测量系统Gonio-2Pi主要应用对于LED车灯照明,医院照明灯,通常通过封装多种波长的芯片和荧光粉来提升光色参数品质,通过灯具混光设计,来得到优质的照明品质;Gonio-2Pi提供多波长的近场/远场的Raydata测试,可以提供各波长的光线集模型,从而为高品质的照明灯具设计提供光线模型; 多芯片封装LED芯片近场测试左上:488nm芯片辐射图像;中上:488nm芯片光线集;右上:83.5°C面的光强角度分布;左下:630nm芯片辐射图像;中上:630nm芯片光线集;右上:83.5°C面的光强角度分布;技术规格Gonio-2PiSi 版本BSDF版本尺寸(臂长)1500mm x 875mm x 2070mm占地尺寸2215 mm x 875 mm电气柜尺寸600mm x 550mm x 1300mm重量350kg(主机)+100kg(电气柜)工作距离700mm可调850mm 可调XL 版本角分辨率10-4°内部,10-2°外部探测器Luca成像亮度计滨松PMT动态范围12Bits/18Bits可选探头Spec’3-光谱仪Spr’3-光谱辐射度计frc’3-辐射度计/光度计光谱高质量V(λ)RGB或者多色Ray Data光源白光光源/半导体激光器空间分辨率0.03mm输出格式通用orf格式,支持主流的光学模拟软件
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近场测量系统相关的资讯

  • 中科大“太赫兹近场高通量材料物性测试系统”项目启动
    p  4月6日上午,由国家自然科学基金委组织、中国科学技术大学教授陆亚林承担的国家重大科研仪器研制项目“太赫兹近场高通量材料物性测试系统”项目启动会在中国科大召开。启动会后,联席召开了管理工作组和监理组会议。/pp  管理工作组专家组组长由清华大学教授、中科院院士南策文担任。/pp  国家自然科学基金委工程与材料学部副主任车成卫宣布项目正式启动,并指出了设立国家重大科研仪器研制项目的重要意义。同时,他就国家重大科研仪器研制项目的定位、要求、设想、管理体制、项目管理部门、项目组织部门和项目依托单位职责等进行了说明。/pp  中国科大副校长朱长飞代表依托单位致辞,表示中国科大将大力支持该项目实施。/pp  在中科院院士南策文的主持下,管理工作组和监理组听取了项目负责人陆亚林所作的有关项目总体工作安排以及2017年度计划的项目启动工作详细报告。随后,三位分总体负责人也就各自负责的分总体工作安排作了报告。/pp  报告完成后,与会专家和负责人与项目组成员就项目工作安排、项目组织实施、可能面临的关键问题及技术难点等进行了热烈交流和讨论,对项目实施提出了建设性意见和建议。大家强调,项目实施过程中应重点关注系统集成的难度,充分运用多种方式研究各分系统间的相互干扰问题,做好风险防控 项目设计和研制过程中要注重仪器研制与重大科学问题的关联,充分考虑仪器的稳定性、可靠性和实用性 项目依托单位应进一步加强对项目组在人力、物力、基础条件等方面的支持。/pp  最后,管理工作组和监理组经过讨论和现场考察后认为,项目立项目标明确,总体设计方案合理,五年研制计划可行 2017年度工作计划具体,组织实施管理办法可靠 项目承担单位具有很好的学科支撑条件和先进的公共科研设施,为该项目的实施提供了良好的工作平台。管理工作组和监理组认为,该项目具备了启动研制工作的充分条件,一致同意尽快启动该仪器的研制工作。/pp  “太赫兹近场高通量材料物性测试系统”于2016年11月获批实施,期限自2017年1月起,至2021年12月。项目目标为研制一套全新的太赫兹近场高通量材料物性测试系统,系统将通过集成可调谐预聚束太赫兹自由电子激光与宽谱脉冲光源、探针和样品双扫描模式等核心技术,实现在可控温度、矢量磁场、电场等条件下对功能材料在宽太赫兹谱段范围的复光学常数的高空间时间分辨、高灵敏测量,并通过复光学常数与功能材料的特征物性之间的共性关联,揭示与之直接关联的功能材料特征物性,可以实施材料物性精密测量和快速材料筛选,仪器研制成功后有望在材料基因组工程、功能材料等方面的研究上获得重要应用,对进一步发现新材料将起到十分重要的作用。/ppbr//p
  • 纳米所重大项目:深紫外扫描近场光电探针系统研制
    p/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="648" colspan="4"table width="600" border="1" align="center" cellpadding="0" cellspacing="0"tbodytr/tr/tbody/table/td/trtrtd width="122"p成果名称/p/tdtd width="526" colspan="3"p style="text-align:center "深紫外扫描近场光电探针系统/p/td/trtrtd width="122"p单位名称/p/tdtd width="526" colspan="3"p style="text-align:center "中科院苏州纳米所/p/td/trtrtd width="122"p联系人/p/tdtd width="157"p刘争晖/p/tdtd width="149"p联系邮箱/p/tdtd width="220"pzhliu2007@sinano.ac.cn/p/td/trtrtd width="122"p成果成熟度/p/tdtd width="526" colspan="3"p■正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产/p/td/trtrtd width="122"p合作方式/p/tdtd width="526" colspan="3"p□技术转让 □技术入股 □合作开发 ■其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"pstrong成果简介: /strongbr/ 本设备在国家自然科学基金委重大科研仪器研制项目(自由申请)的支持下,自2014年起,针对波长200~300 nm的深紫外波段微区光电性质测试分析这样一个难题,研制一套深紫外扫描近场光电探针系统。将深紫外共聚焦光路引入到超高真空扫描探针显微镜系统中,采用音叉反馈的金属探针,在纳米尺度的空间分辨率上实现形貌和紫外波段荧光、光电信号的实时原位测量和综合分析,为深入研究这一光谱范围半导体中光电相互作用的微观物理机制、实现材料的结构和性质及其相互关系的研究提供新的实验系统,目前国内外均未有同类设备见诸报道,为国际首创。该系统中创新性研制的闭环控制低温超高真空原子力显微镜扫描头、波长在200nm-300nm可调谐的深紫外脉冲光源、基于原子力显微镜的深紫外光电压谱测试和分析方法、深紫外近场荧光寿命的高空间分辨测试和分析方法等核心设备和技术均为本项目单位自主研制,具有完全自主知识产权。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"pstrong应用前景:/strongbr/ 近年来,深紫外,特别是280nm以下日盲波段的半导体探测和发光器件,以其巨大的经济军事应用价值,逐渐成为研究重点。然而,相较于可见光半导体光电器件,深紫外波段半导体光电器件的性能包括光电转换效率、探测灵敏度等距人们的需求还有较大差距。其中一个重要原因是缺乏究深紫外半导体材料中光电相互作用的微观物理机制的有效研究手段。而本设备的研制将极大地丰富超宽带隙半导体材料和器件研究的内涵,推进相关材料和器件的发展。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all "pstrong知识产权及项目获奖情况:/strongbr/ 本设备相关的装置和技术均申请了发明专利保护,其中已获授权11项,已申请尚未获得授权6项,如下所示: br/ 已授权专利: br/ 1、一种扫描近场光学显微镜 br/ 2、材料的表面局域电子态的测量装置以及测量方法 br/ 3、半导体材料表面缺陷测量装置及表面缺陷测量方法 br/ 4、材料界面的原位加工测试装置 br/ 5、多层材料的减薄装置及减薄待测样品的方法 br/ 6、界面势垒测量装置及测量界面势垒的方法 br/ 7、导电原子力显微镜的探针以及采用此探针的测量方法 br/ 8、半导体材料测量装置及原位测量界面缺陷分布的方法 br/ 9、材料表面局部光谱测量装置及测量方法 br/ 10、采用原子力显微镜测量样品界面势垒的装置以及方法 br/ 11、制备金属针尖的装置及方法 br/ 已申请未授权专利:br/ 1、半导体材料表面微区光电响应测量装置及测量方法 br/ 2、一种同时测量表面磁性和表面电势的方法 br/ 3、超高真空样品转移设备及转移方法 br/ 4、用于近场光学显微镜的探针及其制备方法 br/ 5、探针型压力传感器及其制作方法 br/ 6、阴极荧光与电子束诱导感生电流原位采集装置及方法 br/ 此外本设备研制相关软件著作权登记1项:“中科院苏州纳米所原子力显微镜与光谱仪联合控制软件”。/p/td/tr/tbody/tablepbr//pp/p
  • 国内首套真空太赫兹波段近场光学显微系统在电子科技大学太赫兹中心成功安装
    太赫兹有着光明的应用前景,还是一片未开垦的处女地。电子科技大学太赫兹中心自成立以来,为太赫兹科学研究搭建了更高的合作发展平台,也标志着我国以“国际前沿、”为目标的太赫兹科学研究迈入了崭新阶段。2018年6月,应电子科技大学太赫兹中心对真空环境下进行太赫兹近场光学研究的需求,QD中国工程师配合德国neaspec公司立即展开积响应并为客户量身定制了套真空太赫兹波段近场光学显微系统(HV-THz-neaSNOM),并已成功安装。 图1:电子科技大学太赫兹中心安装调试现场 图2:真空太赫兹波段近场光学显微系统(HV-THz-neaSNOM) 电子科技大学太赫兹中心原有一套大气环境太赫兹波段近场光学显微系统(THz-neaSNOM),空间分辨率~50nm、宽太赫兹时域近场响应波段0.5-2.2THz。由于更进一步的科研需要,客户需在更加严格的真空条件下进行太赫兹实验。为了满足客户的实验需求,德国neaspec公司在原有大气环境THz-neaSNOM的基础上,结合新的低温散射式近场光学显微镜(Cryo-neaSNOM)技术,设计了新的真空腔体系统,改进了原子力显微镜布局,并重新设计了光路,终成功研发出了套真空太赫兹波段近场光学显微系统(HV-THz-neaSNOM)。该套系统成功地继承了德国neaspec公司THz-neaSNOM的设计优势,采用保护的双光路设计,完全可以实现真空环境下太赫兹波段应用的样品测量。HV-THz-neaSNOM在实现30nm高空间分辨率的同时,由于采用0.1-3THz波段的时域太赫兹光源(THZ-TDS),也可以实现近场太赫兹成像和图谱的同时测量。这大地满足真空环境中太赫兹近场光学研究的需求,可以减少大气中水对太赫兹波段的吸收影响,能更好地保持样品的洁净,为用户进一步集成真空设备提供了基础。 图3:系统理论培训 图4:现场实时操作培训 太赫兹波有强的穿透性,对不透明物体能完成透视成像,用来做半导体材料、生物样品等的检测是其应用趋势之一。该套真空太赫兹波段近场光学显微系统(HV-THz-neaSNOM)的集成,将在生物应用、半导体元器件和相变材料载流子等研究及领域都有着广阔的应用前景,有望为广大太赫兹科研工作者提供更多实际研究工作中的便利和支持。

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  • 近场热辐射表征中的保护热板法测试技术

    近场热辐射表征中的保护热板法测试技术

    [color=#990000]摘要:本文介绍了近场热辐射基本概念,并针对两平板之间的近场热辐射测试,介绍了经典导热系数保护热板测试方法在近场热辐射表征中的应用。[/color][size=18px][color=#990000]一、近场热辐射现象[/color][/size]如果两个相邻物体的温度不同,则它们之间则存在热辐射传递,可以用众所周知的普朗克黑体辐射理论来准确估计此辐射热流,条件是两物体之间的距离要远大于辐射的平均波长。目前已经确定的是,当物体间距小于辐射波长时,普朗克理论会失效,而这种距离则称之为近场,近场热辐射是指与物体间距小于特征波长区域的辐射, 热辐射强度随着与辐射体间距的减小而呈指数规律快速增大,如图1所示。[align=center][img=近场辐射测量,600,496]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112311018508887_5199_3384_3.jpg!w690x571.jpg[/img][/align][align=center][color=#990000]图1 辐射热流密度随距离的变化[/color][/align][size=18px][color=#990000]二、近场辐射热流测量[/color][/size]为了对近场热辐射进行表征,一般是在真空中测试两个微小间距的平行板。随着平板间距减小,辐射热流逐渐受到干涉波和消散波的影响,辐射热流会随之增强。近场辐射热流密度测量装置是基于保护热板法(GHP),该方法通常用于测量隔热材料的导热系数,如图2所示,图中的样品1在近场辐射测量中则是真空间距。[align=center][color=#990000][img=近场辐射测量,690,296]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112311019195377_8070_3384_3.jpg!w690x296.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#990000]图2 经典防护热板法测量原理[/color][/align]选择保护热板法的依据是这种方法是一种绝对测量方法,可以精确控制热损失,这对热辐射测量至关重要。辐射热流测量装置中,图2所示的辅助绝热板将由一个热电堆温差传感器代替,由此可以更精确地控制热损失。两板之间的平行度和距离控制是测量装置的关键条件,我们采用三个独立控制的压电致动器以纳米量级来变化板之间距离,并用电容传感器监测两板之间三个位置点的绝对间隙值。该装置的研制将能够精确测量近场热辐射的热流密度。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

近场测量系统相关的耗材

  • 太赫兹近场探针
    Eachwave推出的低温砷化镓光电导太赫兹近场探针系列是新一代的高性能光电导型微探针,利用此太赫兹近场探针,样品表面的近场太赫兹电场可被以被空前的分辨率测量,信号质量好,噪声低。这些太赫兹探针可以无缝的与激发波长低于860nm的THz-TDS系统配合使用。THz近场探针提供了一个低成本的解决方案,可将您的THz-TDS升级为高分辨率的近场扫描成像系统。产品特点:— 市场上最小的太赫兹近场探针— 专利设计— 空间分辨率可达3um— 探测频率范围:0-4THz— 适用于所有基于激光的THz系统— 安装可兼容标准的光机械组建— 集成过载保护电路横向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-X-HRHRS最小空间分辨率3um20umPC gap size1.5um2um暗电流 @1V 偏置电压光电流1uA0.6uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP纵向场太赫兹近场探针规格参数TeraSpike TD-800-A-500GN最大空间分辨率8 um8 umPC gap size5 um2 um暗电流 @1V 偏置电压光电流0.5uA0.1 uA激发波长700..860mW平均激发功率0.1-4mW接头类型SMP反射式太赫兹近场探针 反射式太赫兹近场探针是一款收发一体化的太赫兹近场探针产品。探针具有双天线结构,此结构极大的缩短了太赫兹的传输路径,可有效的应用于太赫兹近场时域谱测试以及成像测试系统中。规格参数型号暗电流@1V偏压光电流激发波长平均激发功率链接头TeraSpike TD-800-TR.5 0.5uA700-860nm0.1-4mW2×SMP适用于1550nm波长的太赫兹近场探针规格参数型号脉冲上升时间带宽激发波长激发功率悬臂材料TeraSpike TD-1550-Y-BF0.01-2.5THz700-1600nm0.1-4mWInGaAs(n-type)
  • LED光电测量系统配件
    LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统,它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射,光度学,色度以及效率参数。为了测量各种光源,孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具,光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备,使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量,使用积分球可以更为有效地收集光辐射,而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置,以满足标准测量的要求,能够适应外部光源测量的需要,融入最好的输出功率等级和精度的测量工具,也可根据用户的要求提供定制系统,更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates(x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上,这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据,精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口,用户能以所需电压或电流范围扫描测试)×集合所有电学和光谱参数,用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标;*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成:光谱仪,光纤,积分球,样品台,仪表,数据接口,软件光谱范围:200-850nm或 350-1000nm探测器:2048像素Si CCD阵列采光周期: 1毫秒--65秒光谱分辨率:1.5nm(FHWM)电压源 测量范围:±5μV - ±200V电流源测量范围:±10pA - ±1A电源要求:110/230VAC,系统尺寸:320x360x180mm系统重量:9.8kg
  • 孔径测量系统
    飞纳孔径统计测量分析系统将飞纳电镜和孔径测量统计分析系统结合在一起,孔径的可视化分析变得非常容易。快速、操作简单并能得到高分辨率图像的飞纳电镜集成孔径分析系统,创造出统计分析孔洞数据的强大工具。孔径测量系统应用领域- 电池薄膜行业- 制药行业- 过滤行业- 筛网行业- 生物行业- 化工行业- 造纸行业- 烟草行业- 纺织行业- 陶瓷行业- 食品行业- 有孔材料行业孔径测量系统功能孔径统计分析测量系统是基于飞纳电镜的孔径分析工具,用户直接从飞纳电镜获取拍摄的图片并对孔洞直径、面积等一系列参数进行统计测量,实现样品孔径可视化分析,并生成数据统计报告。应用该系统,可以在建模、研发和质量控制中有新的发现和创新孔径测量系统优势- 直接从飞纳电镜获取图片- 快速生成分析图像- 便捷的操作,提高工作效率- 无限制的图像采集,可轻松存储于网络或优盘,便于共享、交流- 附有高清图片的统计学数据- Phenom的易用性和对环境的良好适应力,用户可以将试样最大程度视觉化
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