热流型差示扫描量热仪

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热流型差示扫描量热仪相关的厂商

  • 南京大展检测仪器有限公司位于南京市江宁区百家湖科技产业园,是集科研、生产、销售于一体的高新技术型企业,专业从事差示扫描量热仪dsc、热重分析仪、同步热分析仪、差热分析仪、炭黑含量测试仪、炭黑分散度检测仪、导热仪和介电常数测试仪、热失重分析仪、高温差示扫描量热仪等仪器的研发、制造,产品广泛应用于电力、煤炭、造纸、石化、农牧、医药科研、教学等领域,在众多用户中享有很好的口碑。 南京大展检测仪器是热分析仪器生产厂家,用于dsc差示扫描量热仪、tga热重分析仪、综合热分析仪和导热系数测试仪等仪器的研发和生产,并且有专业的研发、生产、技术和营销团队,我们可提供样品测试、上门调试、售后维修等服务,并且产品2年质保期,可送货上门,期待您的来点咨询。
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  • 上海埃提森仪器科技有限公司,为德国sinmo公司在中国设立的,专门从事研发、生产、检测、销售、技术服务、技术咨询等仪器设备的综合服务机构。德国sinmo公司专业从于自动化仪器设备的生产与贸易。2016年在中国成立莘默(上海)自动化设备有限公司。随后设立我司。企业总部位于德国。“埃提森仪器科技”目前集中致力于对高端检测类仪器设备的研发生产和技术服务,立志成为中国领先的高端检测类仪器生产商和服务商。 “埃提森”使合作伙伴对设备的选择更便捷,使用更高效,竞争更有优势。 “埃提森”为伙伴提供了强大的售前和售后的服务,以及精准与细微的技术培训服务。 诚信为本,精益求精,追求卓越,矢志创新!是“埃提森”的奋斗目标!是全体员工对所有业务合作朋友的承诺! 我司已取得各类检测设备的多项专利。 差示扫描量热仪专利 热重分析仪专利 导热系数测定仪专利公司产品热分析类产品差示扫描量热仪、导热系数测定仪、介电常数测试仪、氧化诱导期分析仪、热重分析仪TGA、同步热分析仪STA、全自动熔点仪、炭黑分散度测试仪、炭黑含量测试仪、便携式灰分含量测试仪等燃烧类产品 水平垂直燃烧测试仪、灼热丝试验机、针焰试验机、多工位漏电起痕试验机、建材及制品单体燃烧设备、数显氧指数测定仪、建材不燃性试验炉等LED检测类产品ALP-01照明护照Pro等
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  • 南京汇诚仪器仪表有限公司是集科研、设计、调试、生产、技术服务于一体的高科技型企业。目前专业从事差示扫描量热仪、差热分析仪、热重分析仪、导热系数测试、炭黑分散度检测仪等仪器的研发、制造。我们以各行业应用为基础,以为高分子材料、电力、煤炭、造纸、石化、农牧、医药科研、教学仪器等领域提供整体仪器解决方案为目标,不懈努力,精益求精。我们更以优良的质量和服务同广大客户携手并进,共谋发展,共创辉煌。
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热流型差示扫描量热仪相关的仪器

  • DSC ( Differential Scanning Calorimeter ):在程序控制温度下,测量输入到试样和参比物的热流量差或功率差与温度关系的一种技术,根据测量方法不同分为热流型和功率补偿型用途:测量包括高分子材料在内的固体、液体材料的熔点、沸点、玻璃化转变、热容、结晶温度、结晶度、纯度、反应温度、反应热等DSC30功能及结构特点:热流型差示扫描量热仪:在程序温度(线性升温、降温、恒温及其组合)过程中,当样品发生热效应时,在样品段和参比物端之间产生了热流差,使用热电偶对这一热流差进行测定,获得相应的图谱整机一体化设计:减少信号损失,抗干扰,重复性好创新型加热炉设计:炉体采用热传导率性能好的纯银金属,通过特殊工艺将特别设计的气氛气路整合在炉体内,既保证了温度的均一性,又提高了吹扫气流的稳定性,从而确保样品变化信号可靠采集及数据分析的准确性特制高灵敏度热电偶:将镍铬丝和镍硅丝和镍铬样品台经特殊工艺焊接在一起,形成高灵敏度的热流传感器。对称的镍铬样品台除了放置样品外,同时也是热电偶的一极,提供敏捷的信号捕捉能力优化的温度控制方法:采用高频PWM方式控制炉温,可控功率分辨率提高到1/40000。 通过BP神经网络动态修正PID参数,改善传统PID鲁棒性,实现大范围高精度温度控制:温控恒温精度±0.03℃,温度准确度0.1℃,升降温线性度准确0.1℃@10℃/min高精度气氛流量控制系统:吹扫气氛流量智能控制,精度高(0.1mL/min);双路气氛,自动切换,流量0-200ml/min可调,提供稳定的实验气路环境高效制冷设备:35分钟内炉温可由550℃降至-40℃,实现较宽温度范围内的可控等速降温,不但提高工作效率,还可更好的测试样品结晶等相变过程提供仪器校正软件、全套校正标样:方便用户自行校正仪器专业智能化热分析分析软件:1、基线、温度、灵敏度校正采用多点校正,高次曲线拟合技术,克服简单线性拟合对非线性校正曲线的误差,用户可自行操作软件进行仪器温度及热焓系数校正;2、冷端补偿保证了温度测量的准确性;3、实验过程实时数据显示,自动缩放;实验数据自动保存,计算结果可导出纯数据以及图片格式;4、图形曲线处理方式灵活,实现多曲线的处理计算,同时合理设置的快捷键及功能键使操作简单明了。5、提供丰富实用的热分析专业计算功能,可实现:★ 焓值、外延起始点结束点温度、峰值温度的计算(Calibrating enthalpy,Texo,Tm)★ 氧化诱导期的计算(Calibrating Toi)★ 玻璃化温度计算(Calibrating Tg)★ 单点计算(Calibrating single point)★ 仪器系统常数校正计算(Calibrating K coefficient)★ DTA\DSC基线拟合(Baseling fitting)及校正★ S基线校正焓值计算
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  • 到梅特勒托利多公司官网详细了解 Flash DSC 2+闪速差示扫描量热仪Flash DSC 2+ 是完全创新型的超高速扫描量热仪(中文名称为闪速DSC),是对传统 DSC 的完美补充,是目前世界上扫描速率最快的商品化DSC扫描量热仪,升温速率达到2,400,000K/min,降温速率达到240,000K/min。该仪器能分析之前无法测量的结构重组过程。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料,例如在注塑过程中快速冷却时出现的结构;极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。Flash DSC扫描量热仪也是研究结晶过程动力学的理想工具,不同的降温速率的应用可影响试样的结晶行为和结构。Flash DSC2+扫描量热仪的心脏是基于MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems微机电系统)技术的芯片传感器(UFS1)。MEMS芯片传感器安置于稳固的有电路连接端口的陶瓷基座上。全量程UFS1传感器有16对热电偶,试样面和参比面各8对。Flash DSC扫描量热仪基于功率补偿测试原理,专利注册的动态功率补偿电路可使超高升降温速率下的测试噪声最小化。传感器的试样和参比面各有热阻加热块,一起生成需要的温度程序。加热块由动态功率补偿控制。热流由排列于样品面和参比面的热电偶测量。 Flash DSC 2+扫描量热仪为快速扫描 DSC 带来了变化。 该仪器可分析以前无法测量的结构重组过程。 Flash DSC 2+ 扫描量热仪是对传统 DSC 的完美补充。 现在,升温速率范围已超过 7 个数量级。它的升温与降温速率极高,为研究热物理转变(如聚合物的结晶与结构重组)和化学过程提供全新的视角。超高降温速率 &mdash 可以制备特定结构的的材料超高升温速率 缩短测量时间、抑制重排过程温度范围宽 可在 -95 至 1000℃ 的范围内测量 扫描量热仪技术参数:温度范围: -95~1000℃升温速率:30~2,400,000℃/min降温速率:6~240,000℃/min最大热流信号: 20mW热流信号噪声: 0. 5&mu W扫描量热仪主要特点:极快的降温速率&ndash 可制备明确定义的结构性能的材料超高的升温速率&ndash 缩短测量时间、防止结构改变极速响应的传感器&ndash 可研究极快反应或结晶过程的动力学超高灵敏度&ndash 可使用低升温速率,测量范围与常规DSC交迭温度范围宽&ndash &ndash 95至450 ° C友好的人体工程学设计和功能&ndash 试样制备快速、容易扫描量热仪应用领域:聚合物等物质的结构形成过程的详细分析、测量快速结晶过程、测定快速反应的反应动力学、研究接近生产条件下的添加剂机理等。扫描量热仪主要型号:Flash DSC 2+到梅特勒托利多公司官网详细了解 Flash DSC 2+闪速差示扫描量热仪查看更多信息 咨询电话:4008-878-788
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  • 材料在紫外辐射下的响应引起了越来越多的兴趣,这归结于很多原因。紫外固化的方法可以降低从涂层中挥发出来的挥发性有机化合物(VOC)的量,另外,有些材料会在紫外光照射下发生分解,而了解这种转变也是至关重要的。PerkinElmer是唯一一家能够提供双炉体、功率补偿型或单炉体、热流型等不同的DSC与紫外联用技术的公司。您可以选择最能买足实验室需求的仪器——研究型实验室可以选择最先进的具有等温控制技术DSC,而价格更实惠的DSC则更适合于企业质量控制实验室。双炉体联用DSC 8000和DSC 8500都是具有独特量热技术的双炉体仪器, 升降温速率可达到750℃/min,同样具有优异的等温性能。对于存在光照影响的量热研究来说,这意味着可以很好的控制光源和反应产生的热, 使样品处于真实的等温状态,有利于精确的动力学研究。 单炉体联用对于质量控制和反应监控来说,不需要非常精确的等温控制,因此价格实惠的热流型或单炉体DSC更适用于这类实验室。DSC 4000可以提供优异的结果。与DSC仪器连接的紫外附件需要双重光管或光纤光缆,可以单独调节每个光管的位置。结合可变光圈的紫外光源,可以非常灵活的调节照射在炉体、样品或传感器上的光强度, 来降低紫外光造成的干扰。下图为一种牙科修复材料在三种不同强度的紫外光下固化的实验结果,根据数据可以计算出样品的固化动力学并选择最优的固化条件。
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热流型差示扫描量热仪相关的资讯

  • 差示扫描量热仪原理简介
    p  差示扫描量热法是在程序控温和一定气氛下,测量流入流出试样和参比物的热流或输给试样和参比物的加热功率与温度或时间关系的一种技术,使用这种技术测量的仪器就是差示扫描量热仪(Differential scanning calorimeter-DSC)。/pp  扫描是指试样经历程序设定的温度过程。以一个在测试温度或时间范围内无任何热效应的惰性物质为参比,将试样的热流与参比比较而测定出其热行为,这就是差示的含义。测量试样与参比物的热流(或功率)差变化,比只测定试样的绝对热流变化要精确的多。/pp  差热分析法是测量试样在程序控温下与惰性参比物温差变化的技术,使用这种技术测量的仪器就是差热分析仪(Differential thermal analyzer-DTA)。DTA是将试样和参比物线性升温或降温,以试样与参比间的温差为测试信号。DTA曲线表示试样与参比的温差或热电压差与试样温度的关系。/pp  现在,DTA主要用于热重分析仪(TGA)等的同步测量,市场上已难觅单独的DTA仪器。/pp  DSC主要有两类:热通量式DSC和功率补偿式DSC。/ppspan style="color: rgb(255, 0, 0) "strong热通量式DSC/strong/span/pp  热通量式DSC是在程序控温和一定气氛下,测量与试样和参比物温差相关的热流与温度或时间关系的一种技术和仪器。热通量式DSC是通过试样与参比物的温差测量流入和流出试样的热流量。/pp  热通量式DSC的测量单元根据所采用的传感器的不同而有所区别。/pp  如下图所示为瑞士梅特勒-托利多公司采用金/金-钯热电偶堆传感器设计的DSC测量单元示意图。传感器下凹的试样面和参比面分别放置试样坩埚和参比坩埚(一般为空坩埚)。热电偶以星形方式排列,以串联方式连接,在坩埚位置下测量试样与参比的温差。试样面和参比面的热电偶分布完全对称。几十至上百对金/金-钯热电偶串联连接,可产生更高的测量灵敏度。传感器的下凹面提供必要的热阻,而坩埚下的热容量低,可获得较小的信号时间常数。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/f02e8309-d24c-4db9-9b02-ba4b239805a5.jpg" title="金_金-钯热电偶堆传感器热通量式DSC测量单元截面示意图.jpg" width="400" height="345" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 345px "//pp style="text-align: center "strong金/金-钯热电偶堆传感器热通量式DSC测量单元截面示意图/strong/pp  如下图所示为美国Waters公司采用的康铜传感器设计的DSC测量单元示意图。康铜是一种铜-镍合金(55%Cu-45%Ni)。康铜与铜、铁、镍/铬等组成热电偶时,灵敏度较高(μV/K较大)。与贵金属铂、金/金-钯等相比,康铜耐化学腐蚀性较差。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/be5eca73-9eb5-41bf-83a6-dd1c6a5325a1.jpg" title="康铜传感器热通量式DSC测试单元示意图.jpg" width="400" height="255" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 255px "//pp style="text-align: center "strong康铜传感器热通量式DSC测试单元示意图/strong/pp  传感器上凸的试样面和参比面分别放置试样坩埚和参比坩埚(一般为空坩埚)。两对热电偶分别测量试样温度和参比温度,测得温差。/pp  热通量式DSC的炉体一般都由纯银制造,加热体为电热板或电热丝。可选择不同的冷却方式(自然或空气、机械式或液氮冷却等)。/pp  热通量式DSC热流的测量/pp  以金/金-钯热电偶堆传感器设计的DSC为例,热流Φ以辐射状流过传感器的热阻 热阻以环状分布于两个坩埚位置下面。热阻间的温差由辐射状排列的热电偶测量。根据欧姆定律,可得到试样面的热流Φ1(由流到试样坩埚和试样的热流组成)为/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/13d50f86-2166-44cc-93f7-4a0dfc48a0e2.jpg" title="DSC-1.jpg"//pp式中,Tsubs/sub和Tsubc/sub分别为试样温度和炉体温度 Rsubth/sub为热阻。/pp  同样可得到参比面的热流Φr(流到参比空坩埚的热流)为/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/66a68742-b966-4f01-80ea-6940d21e12f9.jpg" title="DSC-2.jpg"//pp式中,Tsubr/sub为参比温度。/pp  DSC信号Φ即样品热流等于两个热流之差:/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/8b903427-9007-493f-8229-23065fe62ac7.jpg" title="DSC-3.jpg"//pp  由于温差由热电偶测量,因此仍需定义热电偶灵敏度的方程S=V/ΔT。式中,V为热电压。于是得到/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/54c0c2b1-c913-449b-84db-541255ac821e.jpg" title="DSC-4.jpg"//pp式中,热电压V为传感器信号 Rsubth/subS的乘积称为传感器的量热灵敏度 Rsubth/sub和S与温度有关 令Rsubth/subS为E,E与温度的关系可用数学模型描述。/pp  在DSC曲线上,热流的单位为瓦/克(W/g)=焦耳/(秒· 克)[J/(s· g)],以峰面积为例,热流对时间(s)的积分等于试样的焓变ΔH,单位为焦耳/克(J/g)。/pp  热通量式DSC试样温度的测量/pp  炉体温度Tsubc/sub用Pt100传感器测量。Pt100基本上是由铂金丝制作的电阻。/pp  DSC测试所选择的的升温速率基于参比温度而不是试样温度,因为试样可能发生升温速率无法控制的一级相变。/pp  与热阻有关的温差ΔT对于热流从炉体流到参比坩埚是必需的。该温差通常是通过升高与ΔT等值的炉体温度实现的。炉体温度Tsubc/sub与参比温度Tsubr/sub的时间差等于时间常数τsublag/sub,与升温速率无关。/pp  在动态程序段中,计算得到的温度升高ΔT加在炉体温度设定值上,因而参比温度完全遵循温度程序。/pp  严格来说,试样内的温度与测得的试样坩埚的温度存在微小差别。通过在软件中正确选择热电偶的灵敏度,可补偿该差别。/pp  采用康铜传感器设计的DSC仪器,试样坩埚温度由热电偶直接测量。也需要通过软件中正确选择热电偶的灵敏度,通过修正来获得试样内的温度。/ppspan style="color: rgb(255, 0, 0) "strong功率补偿式DSC/strong/span/pp  功率补偿式DSC是在程序控温和一定气氛下,保持试样与参比物的温差不变,测量输给试样和参比物的功率(热流)与温度或时间关系的一种技术。与热通量(热流)式DSC采用单独炉体不同,功率补偿式DSC以两个独立炉体分别对试样和参比物进行加热,并各有独立的传感装置。炉体材料一般为铂铱合金,温度传感器为铂热电偶。/pp  如下图所示为美国珀金埃尔默公司功率补偿式DSC测量单元的示意图。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/c459d34d-d427-453c-acdf-3a462e04e3e4.jpg" title="功率补偿式DSC测量单元示意图.jpg" width="400" height="263" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 263px "//pp style="text-align: center "strong功率补偿式DSC测量单元示意图/strong/pp  由于采用两个小炉体,与热通量式DSC相比,功率补偿式DSC可达到更高的升降温速率。/pp  功率补偿式DSC对两个炉体的对称性要求很高。在使用过程中,由于试样始终只放在试样炉中,两个炉体的内部环境会随时间而改变,因此容易发生DSC基线漂移。/pp  功率补偿式DSC热流的测量/pp  功率补偿式DSC仪器有两个控制电路,测量时,一个控制升降温,另一个用于补偿由于试样热效应引起的试样与参比物的温差变化。当试样发生放热或吸热效应时,电热丝将针对其中一个炉体施加功率以补偿试样中发生的能量变化,保持试样与参比物的温差不变。DSC直接测定补偿功率ΔW,即流入或流出试样的热流,无需通过热流方程式换算。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/4b2384fe-4770-4f1b-af33-e5d731956a4c.jpg" title="DSC-5.jpg"//pp式中,QsubS/sub为输给试样的热量 QsubR/sub为输给参比物的热量 dH/dt为单位时间的焓变,即热流,单位为J/s。/pp  由于试样加热器的电阻RS与参比物加热器的电阻RsubR/sub相等,即RsubS/sub=RsubR/sub,因此当试样不发生热效应时,/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/13c863c9-be1e-4808-942f-e0765844b444.jpg" title="DSC-6.jpg"//pp式中,IsubS/sub和IsubR/sub分别为试样加热器和参比加热器的电流。/pp  如果试样发生热效应,则输给试样的补偿功率为/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/1fa7ba2d-3a0b-4911-a86b-801d2336f395.jpg" title="DSC-7.jpg"//pp设RsubS/sub=RsubR/sub=R,得到/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/83f06029-71c9-4e13-bf3e-d2c6b64eed1a.jpg" title="DSC-8.jpg"//pp因总电流IsubT/sub=IsubS/sub+IsubR/sub,所以/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/35825b17-b30d-4aa7-9bc8-a8a1ae877397.jpg" title="DSC-9.jpg"//pp式中,ΔV为两个炉体加热器的电压差。/pp  如果总电流IsubT/sub不变,则补偿功率即热流ΔW与ΔV成正比。/ppbr//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(255, 0, 0) "strongDSC仪器性能评价的重要参数/strong/span/ppstrongDSC仪器的灵敏度和噪声/strong/pp  每个传感器都具有一定的灵敏度。灵敏度是指单位测量值的电信号大小,用每度热电压(V/K)表示。例如,室温时的铜-康铜热电偶的灵敏度约为42μV/K,金-金钯热电偶约为9μV/K,铂-铂铑(10%铑,S型)热电偶约为6.4μV/K。/pp  信号的噪声比灵敏度更加重要,因为现代电子装置能将极其微弱的信号放大,但同时也会将噪声放大。噪声主要有三个来源:量的实际随机波动(如温度的微小波动) 传感器产生的噪声(统计测量误差) 放大器和模-数转换器的噪声。/pp  噪声与叠加在信号上的不同频率的交流电压相一致。因此,对于交流电压,噪声可用均方根值(rms)或峰-峰值(pp)表示。rms值得计算式为/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/8355adf9-cd1e-46b0-9538-67ac7bd524e4.jpg" title="DSC-10.jpg"//pp式中,n为信号值个数 xsubi/sub为单个信号值 x为平均信号值。/pp  对于正弦振动,pp/rms比为2 (2.83左右) 对于随机噪声,比值为4~5。/pp  灵敏度与检测极限是不同的。检测极限(常误称为“灵敏度”)指可检出的测试信号的最小变化量。检测极限比背景噪声明显要大,如10倍与rms值(或pp值的2倍)。信号和噪声水平决定最终的检测极限。/pp  值得指出的是,通过数学光滑方法可容易地获得低噪声水平,但这样会同时“修剪”掉微弱却真实的试样效应,所以噪声水平低并不一定表示灵敏度高。/pp  TAWN灵敏度最初是由荷兰热分析学会提出的方法,用来比较不同的DSC仪器。TAWN灵敏度测试法测量一个已知弱效应的试样,用峰高除以峰至峰噪声得到的信/噪比来表征DSC仪器的灵敏度。峰高/噪声的比值越高,DSC仪器的灵敏度越好。/ppstrongDSC仪器的分辨率与时间常数/strong/pp  在很小温度区间内发生的物理转变的分辨率(分离能力)是DSC仪器的重要性能特征。分辨率好的仪器给出高而窄的熔融峰,换言之,峰宽应小而峰高应大。/pp  分辨率的表征方法有多种,常用的有铟熔融峰峰高与峰宽比、TAWN分辨率和信号时间常数等。/pp  由铟熔融峰测定的分辨率=峰高/半峰宽,数值越高表明分辨率越好。TAWN分辨率为基线至两峰之间DSC曲线的最短距离与小峰高度之比,数值越低表明分辨率越好。信号时间常数τ定义为从峰顶降到后基线的1/e,即降63.2%的时间间隔。信号时间常数τ是热阻Rsubth/sub与试样、坩埚和坩埚下传感器部分的热容之和(C)的乘积,τ=Rsubth/subC。显然,较轻的铝坩埚可得到较小的信号时间常数。信号时间常数越小,DSC分辨率越好。/p
  • 差示扫描量热仪的扩展
    p  差示扫描量热仪除常规的热通量式DSC和功率补偿式DSC外,还有数种特殊的应用形式。/ppstrong超快速差示扫描量热仪/strong/pp  超快速DSC是最新发展起来的创新型快速差示扫描量热仪,采用动态功率补偿电路,属于功率补偿式DSC的一类。/pp  瑞士梅特勒-托利多公司于2010年9月推出了世界上首款商品化超快速差示扫描量热仪Flash DSC(中文名称:闪速DSC)。升温速率可达到2400000K/min,降温速率可达到240000K/min。/pp  闪速DSC的心脏是基于微机电系统(micro electro mechanical systems-MEMS)技术的芯片传感器,传感器置于有电路连接端口的陶瓷基座上。如图所示为闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/b5b7573d-a532-4a86-95d9-b7ec0e2ba93d.jpg" title="闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图.jpg" width="400" height="325" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 325px "//pp style="text-align: center "strong闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图/strong/pp style="text-align: center "1.陶瓷板 2.硅支架 3.金属连线 4.电阻加热块 5.铝薄涂层 6.热电偶/pp  试样面和参比面各有电阻加热块,加热块由动态功率补偿控制。补偿功率即热流由排列于样品面和参比面的各8对热电偶测量。热电偶呈星形对称排列,可获得平坦和重复性好的基线。样品面和参比面由涂有铝薄涂层的氮化硅和二氧化硅制成,可保证传感器上的温度分布均匀。传感器面厚约2.1μm,时间常数约为1ms,可保证快速升降温速率下的高分辨率。/pp  在常规DSC中,为了保护传感器,将试样放在坩埚内测试,坩埚的热容和导热性对测量有显著影响。典型的试样质量为10mg。在闪速DSC中,试样直接放在丢弃型芯片传感器上进行测试。试样量一般为几十纳克(ng)。由于试样量极小,必须借助显微镜制备试样。/pp  闪速DSC能分析之前无法测量的结构重组过程。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料,如在注塑过程中快速冷却时出现的结构 极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。不同的降温速率可影响试样的结晶行为和结构,因此闪速DSC是研究结晶动力学的很好工具。闪速DSC在其升、降温低速段可与常规DSC交叠,如闪速DSC的最低升温速率为30K/min、最低降温速率为6K/min。因此,闪速DSC与常规DSC可互为补充,达到极宽的扫描速率范围。/ppstrong高压差示扫描量热仪/strong/pp  将DSC炉体集成于压力容器内,可制成高压差示扫描量热仪。高压DSC一般有3个气体接口,各由一个阀门来控制:快速进气口用来增压 炉腔吹扫气体入口用于进行测试过程中的气流控制 气体出口用于进行压力控制。测试炉内的实际压力由压力表显示。通过压力和气体流量控制器,可实现静态和动态程序气氛下的精确压力控制。/pp  加压将影响试样所有伴随发生体积改变的物理变化和化学反应。在材料测试、工艺过程开发或质量控制中,经常需要在压力下进行DSC测试。高压DSC仪器扩展了热分析的应用。/pp  压力下进行DSC测试可缩短分析时间,较高压力和温度将加速反应进程 可模拟实际反应环境,在工艺条件下测试 可抑制或延迟蒸发,将蒸发效应与其他重叠的物理效应及化学反应分开,从而改进对重叠效应的分析和解释 可提高气氛的浓度,加速与气体的多相反应速率 可在特定气氛下测量,如氧化、无氧条件或含有毒或可燃气体(如氢气) 可通过不同压力下的实验,更精确地测试吸附和解吸附行为。/ppstrong光量热差示扫描量热仪/strong/pp  光量热组件与DSC结合,可生成DSC光量热仪,测量材料在不同温度下用一定波长的光照射引发固化反应所产生的焓变。主要应用于材料的光固化领域,测试光引发的反应。可用于研究各种光敏材料的光效应,如光活性固化过程、光引发反应以及紫外线稳定剂影响、加速测试或老化研究中聚合物稳定性的光强度效应。/pp  如图所示为光量热DSC仪光学部分的示意图。光源一般为紫外线,也可为其他光源,如可见光。通过遮光器的开闭来控制光照时间,光强度由光源控制。光由光纤透过石英炉片(用作炉盖)照射到试样和参比坩埚上,由DSC传感器测量固化反应焓。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/2da48264-bd5e-4dc3-8c3f-1cea1d15ca90.jpg" title="光量热DSC系统的光学设计示意图.jpg" width="400" height="421" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 421px "//pp style="text-align: center "strong光量热DSC系统的光学设计示意图/strong/ppstrong差示扫描量热仪显微镜系统/strong/pp  DSC与装备有摄像技术的显微镜的结合可生成DSC显微镜系统,在DSC加热或冷却过程中可对试样进行光学观察,得到与DSC测试同步的图像信息。这种图像信息对于DSC测试到的现象作出精确的解释往往非常有用,而且显微镜能对极少或无焓变的过程摄录信息,达到极高的测试极限。/pp  典型的应用有粘合剂或固体涂料的流延性测试,薄膜或纤维收缩的光学观察,药物或化学品从溶液结晶、热致变色、汽化、升华及安全性研究,食物脂肪和食用油的氧化稳定性、与活性气体的反应,等等。/ppstrong温度调制式差示扫描量热法/strong/pp  DSC的传统温度程序是以恒定的速率将试样升温或降温。温度调制式差示扫描量热法的升温速率以更复杂的方式变化,是在线性温度程序上叠加一个很小的调制温度。/pp  典型的温度调制式DSC方法有等温步阶扫描法、调制DSC法和随机调制DSC法3种。/pp  等温步阶扫描法的温度程序由一系列等温周期步阶组成。调制DSC方法的温度程序为在线性温度变化上叠加一个周期性变化(通常为正弦)的调制,也可叠加其他调制函数(如锯齿形)。随机调制DSC为最先进的温度调制式技术,它的温度程序是在基础线性升温速率上叠加脉冲形式的随机温度变化。/pp  温度调制技术的优势在于可将热流分离为两个分量,一个对应于试样的比热容,另一个对应于所谓的动力学过程,如化学反应、结晶过程或蒸发过程等。/p
  • 差示扫描量热仪:探索物质热性质的得力助手
    差示扫描量热仪,简称DSC,是一种用于研究物质在加热或冷却过程中的热效应和物理性质变化的精密仪器。它广泛应用于材料科学、化学、生物科学等领域,为科研工作者提供了重要的研究手段。上海和晟 HS-DSC-101 差示扫描量热仪差示扫描量热仪通过测量样品与参比物之间的热流差异,揭示物质在温度变化过程中的热行为。这种仪器能够精确地测定物质的熔点、玻璃化转变温度、结晶度等关键参数,从而帮助研究者深入了解物质的性质。在材料科学领域,差示扫描量热仪发挥着举足轻重的作用。通过DSC分析,研究者可以评估材料的热稳定性,优化材料的合成工艺,以及开发新型功能材料。此外,DSC还可用于研究高分子材料的热降解行为,为材料的安全使用提供有力保障。在化学领域,差示扫描量热仪同样具有广泛的应用。它可以用于研究化学反应的热效应,揭示反应的动力学过程和机理。同时,DSC还可以用于筛选和优化化学反应条件,提高反应的效率和产物纯度。在生物科学领域,差示扫描量热仪同样发挥着重要作用。它可以用于研究生物大分子的热稳定性,为药物设计和生物工程提供重要依据。此外,DSC还可用于研究生物材料的热行为,为生物医学领域的发展提供有力支持。总之,差示扫描量热仪作为一种重要的热分析仪器,为科研工作者提供了深入了解物质热性质的有力工具。随着科学技术的不断发展,DSC将在更多领域发挥重要作用,推动人类社会的进步。

热流型差示扫描量热仪相关的方案

  • 岛津差示扫描量热仪鉴定药物的不同晶型
    DSC-60A Plus型差示扫描量热仪采用通用的热流型工作原理,独立的加热炉可以实现灵敏的温度控制,获得更稳定基线。新型检测器使DSC峰的高度提高,测定更为灵敏,响应性更高。
  • 差示扫描量热仪的实验过程
    差示扫描量热仪DSC是在程序控温下,测量物质和参比物之间的能量差随温度变化关系的一种技术。根据测量方法的不同,又分为功率补偿型DSC和热流型DSC两种类型。常用的功率补偿DSC是在程序控温下,使试样和参比物的温度相等,测量每单位时间输给两者的热能功率差与温度的关系的一种方法。DSC是在控制温度变化情况下,以温度(或时间)为横坐标,以样品与参比物间温差为零所需供给的热量为纵坐标所得的扫描曲线。当试样在加热过程中由于热效应与参比物之间出现温差ΔT时,通过差热放大电路和差动热量补偿放大器,使流入补偿电热丝的电流发生变化,当试样吸热时,补偿放大器使试样一边的电流立即增大;反之,当试样放热时则使参比物一边的电流增大,直到两边热量平衡,温差ΔT消失为止。换句话说,试样在热反应时发生的热量变化,由于及时输入电功率而得到补偿,所以实际记录的是试样和参比物下面两只电热补偿的热功率之差随时间t的变化的关系。
  • 差示扫描量热仪性能比较
    差示扫描量热仪DSC是研究聚合物、药物和含能材料常用的分析技术。在进行一个特定的测试时要考虑使用哪种类型的DSC,最常见的一点就是确定选择功率补偿型还是热流型的。这些仪器常对应于双炉体DSC和单炉体DSC。珀金-埃尔默是唯一能同时提供给消费者两种类型DSC的销售商,因为我们相信两种技术都能具有其优点,用户可以选择最佳类型的DSC以满足他们的特殊需求。一个更普遍的问题是进行一个标准测试时,如何做仪器数据比较?要回答这个问题,可以采用传统的加热-冷却-再加热方法,对一个标准的聚苯乙烯(PS)和低密度聚乙烯(PE)样品进行测试。

热流型差示扫描量热仪相关的资料

热流型差示扫描量热仪相关的论坛

  • DSC差示扫描量热仪的基本原理是什么?

    [font=宋体][size=16px]物质在物理变化和化学变化过程中往往会伴随着热效应,放热和吸热现象反映了物质热焓的变化。差示扫描量热仪就是测定在同一受热条件下,测量试样与 参比物之间温差对温度或时间的函数关系。 [/size][/font][align=center][img]https://img63.chem17.com/9/20220513/637880361804243318698.png[/img][/align][font=宋体][size=16px]差示扫描量热法,是在程序控制温度的情况下,测量输出物质与参比物的功率差与温度关系的一种技术。英徕铂差示扫描量热仪为热流型,纵坐标是试样与参比物的热流差,单位为 [/size][/font][font=宋体][size=19px]mw[/size][/font][font=宋体][size=16px]。横坐标是时间(t)或者温度(T),自左向右 为增长(不符合此规定应注明)。 [/size][/font][font=宋体][size=16px]试样与参比物放入坩埚后,按一定的速率升温,如果参比物和试样热容大致相同,就能得到理想的扫描量热分析图。 [/size][/font][font=宋体][size=16px] [img]https://img63.chem17.com/9/20220513/637880361801435300415.png[/img][/size][/font][font=宋体][size=16px]图中 T 是由插在参比物上的热电偶所反映的温度曲线。AH 线反应试样与参比物间的温差曲线。如果试样无热效应发生,那么试样与参比物间△T=0,则出现如曲线上 AB、DE、GH 那样平滑的基线。当有热效应发生而使试样的温度低于参比物,则出现如 BCD [color=red]顶峰[/color]向下的吸热峰。反之,则出现[color=red]顶峰[/color]向上的 EFG 放热峰。 [/size][/font][font=宋体][size=16px]图中峰的数目多少、位置、峰面积、方向、高度、宽度、对称性反映了试样在所测温度范围内所发生的物理变化和化学变化的次数、发生转变的温度范围、热效应的大小和正负。峰的高度、宽度、对称性除与测试条件有关外还与样品变化过程中的动学因素有关,所测得的结果比理想曲线复杂得多。[/size][/font]

  • 【求助】请问热流型DSC与补偿型DSC各自的优缺点?

    小弟刚开始学习DSC,知道DSC从仪器原理上分为两大类:热流型DSC和补偿型DSC。热流型DSC原理与DTA比较相似:是样品和参比都在一个加热板上,一起被加热。但是通过控制样品和参比的相同温度来测量热流差值,可以说是DTA的定量测量版吧。补偿型DSC在高分子物理的教材上讲DSC原理时候就是介绍的这种,样品和参比分别至于两个仓内,有分别的加热电路和传感电路,亦是保持样品与参比同温,并及时补偿两者的热量差。从谱图上来看,热流型DSC的吸热峰向下,放热峰向上;而补偿型DSC则正好相反。我们公司用的METTLER 822e 应该是热流型DSC。从原理上看,似乎补偿型DSC独立的加热和传感电路似乎测量精度更高些,但不知为何很多厂家仍主打热流型DSC。这两种原理的DSC究竟各有什么优缺点呢?我们在测试使用中对这两种DSC的数据是否需要特别的注意和处理呢?希望有高手帮忙解答~小弟感激不尽~

热流型差示扫描量热仪相关的耗材

  • 热流计(热流仪)-热流传感器
    热流计(热流仪)-热流传感器Heat Flow Meters-Sensors热流传感器: 指利用在具有确定热阻的板材上产生温差来测量通过它本身的热流密度的装置。其输出电势(V)与通过传感器的热流密度(q)成正比。技术参数:热流计(热流仪)-热流传感器泛用低热流用传感器贴在绝热材或保温材等的表面的低热流传感器。常用热流范围: 12~3,500 W/m2常用温度范围: -40~150° CHFM-215N: KR2, KR6HFM-201: TR2-B, TR6-BHFM-215: TR2-C, TR6-C低热流用传感器测量生物或小型机械零件等的表面之热流的小型低热流传感器。常用热流范围: 12~3,500 W/m2常用温度范围: -40~150° CHFM-215N: KM1HFM-201: TM1-BHFM-215: TM1-C表面形高热流用传感器使用磁石把耐久性极佳的高温用高热流传感器固定在炉壁使用。常用热流范围: 350~17,000 W/m2常用温度范围: 70~500° CHFM-215N: K500B, K500B-20HFM-201: T500B-B, K500B-20-BHFM-215: T500B-C埋设形高热流用传感器埋设在炉材,保温材中,进行测量贯流其中的高热流的传感器。常用热流范围: 580~58,000 W/m2常用温度范围: 200~750° CHFM-215N: K750HFM-201: T750-BHFM-215: T750-C水冷面放热用传感器测量水冷过后的炉壁之放热时,所使用的耐蚀性及佳的热流传感器。常用热流范围: 1,200~120,000 W/m2常用温度范围: 0~90° CHFM-215N: KWHFM-201: TW-BHFM-215: TW-C埋设形高热流用传感器(坚固形)适用埋设于高炉,电炉的高温炉壁内的坚牢形高热流探头。常用热流范围: 500~50,000 kcal/m2 &bull h常用温度范围: 200~750° CHFM-201: TF-BHFM-215: TF-C埋设形低热流用传感器使用磁石把耐久性极佳的高温用高热流传感器固定在炉壁使用。常用热流范围: 10~3,000 kcal/m2 &bull h常用温度范围: -40~300° CHFM-201: TG-BHFM-215: TG-C表面形高热流用传感器(坚固形)研发使用为安装在工业炉的铁皮表面的坚牢形高热流探头。常用热流范围: 300~15,000 kcal/m2 &bull h常用温度范围: 70~500° CHFM-201: TT-BHFM-215: TT-C埋设形低热流用传感器(坚固形)适用于埋设在水泥或土壤中的耐水性,耐寒性坚牢形高感度低热流探头。常用热流范围: 10~2,000 kcal/m2 &bull h常用温度范围: -15~150° CHFM-201: TC-BHFM-215: TC-C水冷面放热用传感器(坚固形)研发为安装在高炉水冷面上的坚牢形热流探头。常用热流范围: 1,000~100,000 kcal/m2 &bull h常用温度范围: 0~90° CHFM-201: TV-BHFM-215: TV-C热流计(热流仪)-附件AE1: T750用支架AE2: T500和TW用高处测定杆AE3: T500和TW用手动夹具AE4: T500和TW用固定器具HA2-H: 高温用两面粘着片HA2-L: 低温用两面粘着片
  • 微阵列芯片扫描仪配件
    微阵列芯片扫描仪配件专业为扫描基因芯片,蛋白质芯片等微阵列芯片而设计,是功能强大的高分辨率荧光扫描仪。适合所有微阵列芯片,如DNA芯片,蛋白质芯片和细胞和组织,并适用于各类型的应用研究,如基因表达,基因分型,aCGH,芯片分析片内,微RNA检测的SNP,蛋白质组学和微阵列的方式。微阵列芯片扫描仪配件是完全开放的系统,兼容任何标准的显微镜载玻片25x75mm(玻璃基板,塑料,透明和不透明),可以扫描生物芯片,有3 1.mu.m/像素的分辨率,同时保持高图像质量。能够同时扫描两个检测通道3.5分钟(10.mu.m/像素,最大扫描区域),InnoScan900是市场上最快的扫描器,扫描速率可调节,达10到35行每秒。微阵列芯片扫描仪配件共焦扫描仪配备有两个光电倍增管(PMT),非常敏感,整个工作范围(0至100%)线性完美,允许用户简单地改变PMT,调整2种颜色的荧光信号。使用这种独特的动态自动聚焦系统,提供的是不敏感的基板的变形,整个扫描表面上完美,均匀。微阵列芯片扫描仪有出色光度测定性能,特别是在灵敏度和信噪比方面。微阵列芯片扫描仪有一系列可满足您的应用程序,四扫描器(710,710 U,900 U和900)。该Innoscan® 900和900AL系列(磁带自动加载机)是专为现在和未来的高密度微阵列发展。
  • 单轴检流计光学扫描仪
    单轴检流计光学扫描仪Single Axis Galvanometer Optical Scanners±10° 的光学扫描设计用于在较快扫描速度下稳定定位紧凑的外形适合空间敏感型应用单轴检流计光学扫描仪适用于需要在一个轴上进行光束转向的应用。这些检流计设计为具有紧凑的外形和长寿命轴承,以便在空间敏感的应用中进行高速、高性能的扫描。这些检流计占用的空间很小,因此可以轻松集成到 OCT 系统等大型光学系统中。单轴检流计光学扫描仪采用镀银反射镜,以便在从可见光到红外的输入光束上获得带宽性能。它们的 ±10V 直流模拟命令输入可实现 ±10° 的光学扫描。#11-762包括 6210H 系列检流计(含 5mm 反射镜装配件)、671 系列伺服驱动器,以及从检流计到伺服系统的互连缆线。若要操作驱动板,需要使用电源(#66-911) 和电源线 (#88-170) 此两者单独出售。注意:提供安装座#11-763来安装#11-762。强烈建议操作过程中将散热器与伺服驱动器板连接。热油脂提高伺服驱动板和散热片(不包括)之间的热传导。运行驱动板需要一个正极的和负极电源(不包括)。标题产品编码6210H 5mm Mirror Single Axis Galvanometer Scanner, Protected Silver#11-762
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