在线厚度测试仪

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在线厚度测试仪相关的厂商

  • 上海摩尼测试仪器有限公司是实验室、便携式和在线分析检测仪器的专业供应商。我们致力为环境监测、教育科研、水文水利、化工制药以及工业实验室等众多领域长期提供世界著名品牌的分析检测仪器设备、解决方案和技术服务。 公司环境分析部现为美国Teledyne Isco、美国Xylem WTW、美国ITS、美国ASA、美国TraceDetect、德国Merck、荷兰Rhosonics等行业知名品牌的特约代理商和技术服务中心。
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  • FISCHER — 让测量变得简便! 现今,FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。 HELMUT FISCHER集团是一家受德国基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)和材料测试仪的全球性集团公司。集团总部位于德国和瑞士,在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和多个全球用户应用实验室,在全世界设有近50个分公司。??位于德国总部的基地,用于生产、物流、研发及客户应用??南通菲希尔测试仪器有限公司是HELMUT FISCHER集团在中国大陆地区设立的唯一子公司,全权负责FISCHER产品在中国地区的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务。FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪、电涡流法测厚仪、电磁感应测厚仪、库仑法(多层镍电位差)测厚仪,除此之外还有包括 微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)、电导率测试仪、铁素体含量测试仪、孔隙率测试仪 和 针孔测试仪 等在内的多种测试仪器。 FISCHER 公司生产的各类仪器,广泛应用于航天工业、航空工业、造船工业、港口机械、电镀工业、显像管流水线、电子工业(包括印制电路行业、半导体工业)、汽车工业、石油化工、黄金珠宝、手表、大专院校、科研单位、第三方测试机构等众多行业。 南通菲希尔测试仪器有限公司成立于1997年,位于中国上海,至今已在东莞建立了分公司;在北京、西安、青岛、厦门设立了办事处;并在成都、昆山、苏州、南京、宁波等地建立了售后服务点。FISCHER中国的应用实验室更是在2011年获得了ISO/IEC17025:2005认证。 “让用户满意”是公司的一贯宗旨,FISCHER将以一流的服务来赢得用户的信赖。选择FISCHER仪器,为您产品的超高品质提供保障。 认证在 FISCHER,产品和服务的认证和持续改进至关重要。这也是Helmut Fischer GmbH,Institut für Elektronik und Messtechnik 能够通过 ISO 9001 认证的原因。自 1997 年起,我们的质量管理体系已符合 DIN EN ISO 9001:2008 标准。 获得认证的校准实验室 获得认证的校准实验室2003 年,Helmut Fischer 成为了第一个根据 DIN EN ISO/IEC 17025 标准而获得的“表面尺寸”量值认证的德国公司。因此,公司有资格代表德国认证机构 DAkkS 来检验校准标准片,并为其出具证书供用户使用。校准标准片如可用于:例如,对 X 射线荧光仪器进行校准;从而极大地提高了测量的可靠性。 Germany: DIN EN ISO/IEC 17025 USA: ISO/IEC 17025:2005 & ANSI/NCSL Z540-1-1994 Switzerland: ISO 17025 SCS & STS DIN 成员(德国标准化学会) 自 2016 年 3 月 1 日起 FISCHER 成为 DIN 成员。公司自愿遵守标准化自律守则,提升总体经济竞争力。 应用实验室凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。在遍及欧洲、亚洲和美国的七个应用实验室中,我们的技术专家会为客户在正确选择仪器、开发测量方法及确定合适的测量程序方面提供支持。 凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。 所有 Fischer 集团内部的应用实验室之间都已建立联系,同时也与各高校、机构及企业建立了合作关系。这样稳定的知识交流体系能够确保获取到全球最前沿的专业知识,同时也能够应对特殊咨询。除提供客户定制培训(可以在我们的实验室进行也可以在您的公司进行)外,我们的技术专家也非常愿意协助您对测量结果进行分析。 Helmut Fischer 博物馆企业家 Helmut Fischer博士的专业知识、工作热情、发明家精神以及卓越的执行力是公司成功发展的源动力。他的成功故事从 1953 年在斯图加特创建的技术车间开始。现今,Fischer 作为业务遍及全球的大公司,已成为工业测量技术领域的领导者之一。持续改革与永无止境的创新是其从始至终一直坚守的明确目标。Helmut Fischer 研发的首款测量仪器 位于总部的博物馆展示了公司创始人,同时也是公司长期所有人 Helmut Fischer博士的成功人生。参观者们受邀来感受公司从小工厂成长为国际性解决方案提供商的发展历程,以及了解 Fischer产品从最初创意到最终投入市场的整个过程。Helmut Fischer 博物馆的常客:当地的在校学生 ????????更多详情请访问公司官网:http://www.helmutfischer.com.cn
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  • 400-860-5168转4077
    上海华龙测试仪器有限公司是智能化、数字化、自动化试验机产品专业生产企业,是经国家批准授权的“中华人民共和国进出口企业”。 1999年通过 ISO9001(1994版)国际质量体系认证,2002年通过 ISO9001(2000版)中国和美国国际质量体系认证。2000年被上海市政府认定批准为“上海市高新技术企业”。2008年被国家科学技术委员会等部委认定批准为“国家高新技术企业”。2002年起连续被上海市浦东新区质量技术监督局授予企业 “质量管理先进集体”称号。2007公司研发中心年被上海市浦东新区人民政府认定批准为“浦东新区企业技术开发机构”和2004-2006年度“浦东新区先进集体”,被上海市政府授予2004-2006年度“上海市劳模集体”, 2007年公司被浦东新区人民政府考核评定为“浦东新区科技创新基地”在全国各省区重点城市设置26个营销技术服务中心,在美国、法国、西班牙、新加坡、马来西亚、香港设立了国外营销代理机构。产品广泛应用于航空航天、国防军工、机械制造、车辆船舶、钢铁冶金、电线电缆、塑料橡胶、建筑建材、大专院校、科研院所、商检质检等国民经济各领域,对各类金属、非金属、构件、成品、新材料的各项物理力学性能测试、分析和研究。企业现有员工300余人,其中大专以上学历员工为161人,16年来,企业共研发完成79大系列800余个产品种的试验机,先后有四大系列产品荣获“上海市重点新产品”,两大系列产品荣获“国家重点新产品”,八大系列产品被市科委评定为“上海市高新技术成果转化项目”。产品遍布国内各省区,并远销美国、德国、西班牙、南非、韩国、巴基斯坦、巴布亚新几内亚、马来西亚、泰国、新加坡等国际市场。上海华龙测试仪器有限公司位于上海市浦东新区川沙经济园区,企业占地23500 m2,建筑面积16800m2,绿化面积3800 m2,企业资产总计9600余万元,具有科研办公大楼、电装调试楼、工装工艺楼、总装车间、机加车间、下料车间、冷作车间、计量室、样机室等齐全的生产和办公设施。本公司拥有大型精密镗床、微控线切割、龙门刨床、数控铣床、卧式数控车床、高精外圆磨床、平面磨床、数控氩弧焊、剪板机、折弯机等各类精密加工设备和检测设备386台套。企业年产试验机生产能力可达1500余台。我公司研发的所有产品均具独立自主知识产权,拥有38项“中华人民共和国专利”。在提高产品质量,提升品牌价值的同时,公司注重工艺、工装设计,提高标准化、系列化、规范化能力,将产品研制生产的全过程纳入ISO9001质量体系,全面进行受控管理。公司将竭诚为国内外客户,为世界计量检测工作的发展,做出新的贡献。
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在线厚度测试仪相关的仪器

  • 薄膜厚度测试仪 薄片厚度测量仪 厚度测量仪 厚度仪 测厚仪 _______________ 产品详情 ______________ 薄膜厚度测试仪是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器,但不适用于压花的薄膜和薄片。 产品特点薄膜厚度测试仪外型美观,结构科学合理,使用可靠. 产品应用薄膜厚度测试仪主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试,还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试. 技术标准薄膜厚度测试仪参照执行标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》,该标准修改采用标准ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》. 产品参数测量范围:0~10mm分度值0.001mm;测头端部的力:(1)上测头的测量面为¢6mm平面,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.5~1.0N;(2)上测量面为(R15—R50)mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5N. 产品配置主机一台 济南恒品专业生产纸制品包装检测仪器,印刷包装检测仪器,塑料包装检测仪器,各种试验设备及产品。 其它产品:纸箱抗压试验机,纸张耐破度仪,电子压缩试验仪,电子拉力试验机,密封性测试试验机,试验机,捆绑机,打包机,厚度测定仪,白度色度测定仪,白度测定仪,可勃吸收性测定仪,可勃取样刀,层间结合强度测定仪,纸浆打浆度测定仪,定量取样刀,MIT耐折度测定仪,纸板挺度测定仪,纸板挺度测定仪,数控电动离心机,瓦楞纸板边压(粘合)试样取样刀,环压取样刀,平压取样器,边压导块,剥离试验架,环压盘,瓦楞原纸起楞器,纸张柔软度测定仪,纸板戳穿强度测定仪,纸张水分仪,单臂包装跌落试验台,双翼跌落试验机,纤维标准解离器型,胶带初性测试仪,持粘性测试仪,环形初粘性测试仪,电子剥离试验机.,胶粘剂拉伸剪切试验机,密封性测试仪,摩擦系数测定仪,透光率雾度测定仪,干燥箱,油墨印刷摩擦试验机,反压高温蒸煮锅,正压密封试验仪、瓶盖扭矩测定仪、热封试验仪。标准光源,光泽度仪等。
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  • 厚度测试仪 400-860-5168转4961
    PTT-03A厚度测试仪产品简介:产品特征:PTT-03A厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量;可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制;嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验标准化,模块化,系列化的设计理念,可大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制 高精度测厚传感器,精度高重现性好可采用标准厚度计量工具标定、检验多种测试量程可选实时显示测量结果的最-大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断高精度薄膜厚度测试仪技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选)分辨率 0.1μm (1μm可选)测试速度 1~25次/min测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验)精度 ±<0.3μm测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)约净重 30Kg
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  • 玻璃瓶厚度测试仪_壁厚底厚仪CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上,增加了稳固瓶子的托盘,避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏,微电脑控制,自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示,保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节,让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印,上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件,曲线图显示,数据保存,EXCEL统计,打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理,数据统计及审计功能满足行业要求。玻璃瓶厚度测试仪_壁厚底厚仪测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术,通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据,进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准: YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
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在线厚度测试仪相关的资讯

  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期,国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》,这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步,另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此,作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津,按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明,岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器:岛津SPM-9700HT02图像分析软件:WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下:利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线,轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向(X轴)。将3条轮廓线数据导出,利用EXCEL软件进行处理,分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算:利用标准中的公式计算公式图片来源:《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
  • 扫描电镜测试法:我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
    近日,由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。(文末附下载链接)该标准规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法,适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施,对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》详细内容标准下载链接:https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1198352.shtml

在线厚度测试仪相关的方案

在线厚度测试仪相关的资料

在线厚度测试仪相关的试剂

在线厚度测试仪相关的论坛

  • 【原创】天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演

    天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演为了答谢新老客户对天瑞仪器公司的支持,天瑞仪器特隆重推出新一代产品——Thick800镀层厚度测试仪,为进一步向大家介绍该仪器的非凡功能和领先科技,并为新老客户提供仪器、技术、服务方面的全套解决方案,增进天瑞仪器公司与新老客户的交流。天瑞仪器有限公司(中国)特举办—— 注:1.本次会议我们将提供午宴及精美礼品一份。 2.本次活动的最终解释权归天瑞仪器有限公司(中国)所有。 天瑞仪器公司总部2008-5-4

在线厚度测试仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 偏振测试仪
    偏振测试仪确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向方便轻巧的手持式设计验证偏振片校准的理想选择在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众TECHSPEC® 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性,如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片,其中包含设计用于测试线性偏振光,以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片,本测试仪可识别偏振旋转方向,以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC® 偏振测试仪适用于识别正确偏振片,或验证应用中是否精确对准。为获得优良效果,请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。注意:安装偏振测试仪时,建议使用#54-997.产品信息类型波长范围(nm)厚度(mm)透射率(%)长度 (mm)宽度 (mm)产品编码Polarization Tester400 - 7000.7542200.0020.00#37-699
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