高分辨仪

国内首推科学级制冷型高分辨率ICCD 相机，在像增强器与科研制冷型的CCD相机之间，采用高分辨率的镜头耦合方式耦合成像， 获得60lp/mm 空间高分辨率，实现对高分辨率成像或高分辨瞬态光谱采集。 ● 科学级制冷型ICCD● 18mm口径二代高效像增强器● 宽光谱响应范围：S20:200-850nm & S25R：400-1100nm● 光学快门： 3ns● 延迟与门控调节精度：10ps● 阴极门控*高外同步频率 300KHZ ● 内置时序控制器DDG● 高空间分辨率：Std 50lp/mm，Option :60lp/mm● CCD芯片： 高分辨2750*2200像素阵列● 位深： 16bit● 制冷温度： -10℃ @ 风冷● 配合高分辨光谱仪实现瞬态光谱采集● 专业化数据采集控制软件独特亮点制冷型ICCD-10度芯片制冷温度，有效减低芯片暗噪声，安静读出超快光学门宽3ns 阴极光学门宽，实现**测量内置DDG内置精度10ps 门控与延迟控制发射器，方便随心控制自动步进STEP延迟和门控自动Step 步进功能，一键完成时间分辨光谱采集高空间分辨率高空间分辨率像增强器及镜头耦合，获得60lp/mm 空间分辨IOC 模式300kHZ阴极快门外同步频率，IOC 芯片累积模式提升信噪比Binning and ROI实现芯片FVB Binning以及 多通道光谱同时采集专业化软件采集控制&光谱仪控制，数据处理专业化界面，简单快捷ICCD像增强型高分辨率相机技术参数 CCD相机像素阵列2750*2200阵面尺寸12.48*9.98mm (15.972 mm Diag.)像素大小4.54um*4.54um传感器类型CCD Sensor读出噪声5e-暗电流0.02e- / pixel / s @-10℃位深16bitBining& ROIFVB: 垂直方向全Binning光谱模式& 多通道 ROI及FVB数字接口UBS2.0像增强器MCP光阴极S20BS25R有效口径18mm18mm光谱范围200-850nm400-1100nm峰值量子效率20% @440nm22%@720nm等效噪声（EBI） 2 x 10-7 lux @ 20 °C ± 2 °C 5 x 10-7 Lux光子增益1*1041.4*104荧光屏P20 /P43P43空间分辨率标准：50lp/mm ； 高分辨率选项： 60lp/mm光学门控宽度3ns （Mesh）Fast10ns, Slow 100ns内部DDG 控制延迟和门宽调节范围0-10s延迟和门宽调节精度10ps同步接口外触发输入，触发输出，直接触发输入（Direct gate）触发信号触发阈值 1-5V， 阻抗50欧姆，抖动100ps触发固有延迟40ns @ Direct gate , 120ns@ Ext外触发*增强器光阴极量子效率曲线型号选择SIC: Scientific Intensified Camera● 18/25 18或25m 口径增强器● U/F/S Ultrfast gate =3ns , Fast gate 10ns, Slow gate: 100ns● UV/VN：UV-VIS 200-900nm；VIS-NIR : 400-1100nm● 6M/4M : 600万像素 CCD 2750*2200 400万像素sCMOS 2048*2048● L/F: L高分辨镜头耦合 F 高通量光纤面板耦合 ICCD像增强型高分辨率相机常见型号列表

产品简介：SIRIX适用于气体同位素比的高分辨测试，先进的多接收系统，ATONA放大器系统，以及高灵敏度和高质量分辨率的光谱仪，是团簇同位素测试的理想选择。设计特点：&bull 多达9个独立驱动的法拉第接收器，允许灵活的选择同位素分析。&bull 离子光学系统，27cm大半径的90°磁铁提供了足够的质量色散&bull 宽大的飞行管确保没有来自离子反射的背景干扰&bull 高质量分辨率(500,10%波谷)，保证碳氢化合物的干扰从峰值中心被消除&bull MRP大于5000&bull 大动态范围和低噪音的ATONA允许法拉第接收器精确测量1e-7A至1e-17A的离子信号 &bull 测量48CO2/44/CO2的准确度在100min内优于10ppm&bull ATONA的稳定性在超过40小时的周期里小于1ppm,并且背景极低&bull 减少了校正的需求，显著提升了测试样品的效率 使用SIRIX测量二氧化碳团簇同位素，m/z 44到m/z 49应用领域：碳酸盐岩，团簇同位素，古气候重建，地球化学

SYNAPT XS高分辨率质谱仪没有研究，就制定的决策，容易是盲目的在科研领域，研究进展缓慢和成本不断上升俨然已成为一项挑战。SYNAPT XS质谱仪具有极致灵活性，可提供更大的选择自由度，能够打破这些壁垒，支持任何应用的科学创新和技术成功。 • 创新技术作为基石，提供最优异的分析性能• SONAR和HDMSE提供一套独特的工具包，用于解析复杂混合物• 离子淌度功能大大增加了峰容量和分析选择性• CCS测量可提高化合物鉴定的准确性创新技术提供最优异的分析性能凭借沃特世高级质谱“SELECT SERIES”传承下来的技术基石，内置先进的创新技术，确保使用该平台的科学家处于质谱分析的最前沿，同时维持SYNAPT的易用性和成熟的客户端工作流程。StepWave XS重新设计的分段四极杆传输光学元件，提升棘手化合物的分析灵敏度，同时进一步提高分析稳定性。Extended ToF 针对最复杂的样品，提供兼容UPLC的质量分辨率、耐受各种基质的动态范围和定量分析结果，同时提供卓越的性能指标。更大的分析选择自由度为有效解决固有难题，分析人员对各种分析策略的需求不断增加，因此，SYNAPT XS将高性能与极致灵活性相结合。竞争对手的系统大多存在入口选项有限、扫描功能局限性或需要多个平台等问题。与之相比，只有沃特世能够提供全方位的高性能LC-MS解决方案，该方案经过专门设计，能够提供更大的分析选择自由度以支持科学研究。SONAR和HDMSE提供了一套独特的工具包，用于解析复杂混合物完整的分析策略需要结合适当的互补技术才能得到更全面的数据信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非数据依赖型采集(DIA)操作模式，分析人员能够利用互补机制，以独一无二的方式解析复杂混合物。两种类型的采集均提高了分析峰容量，提供“清晰明了”的碎片数据，但它们基于不同的分子特性。这提供了一种真正独有的研究工具包，适用于深入解析复杂混合物。离子淌度和CCS测量传统质谱仪基于m/z分离组分。SYNAPT XS还支持在离子淌度实验中，使用分子大小、形状和电荷作为其碰撞截面(CCS)的函数，对分子进行分离。 除离子淌度能提供额外的分离维度、增加峰容量和分析选择性以外，CCS测量还可提供额外的分子标识。离子CCS的测量结果有助于确定离子名称或研究其结构。运用离子淌度技术，显著提高了科学家分析复杂混合物和复杂分子的范围和可信度。CID与ETD碎裂功能TriWave的双碰撞室结构可进行碰撞诱导解离(CID)和/或电子转移解离(ETD)碎裂，且分辨率高、质量测定准确，能够拓展MS/MS检测能力。 高解析度四极杆包括4 KDa、8 KDa或32 KDa质量数范围，适用于从小分子到大分子的MS/MS分析TAP碎裂时间校准平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS设计所独有的采集模式。它使用户能够利用TriWave配置，允许将IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作为两个单独的碰撞室运行。得到的CID-IMS-CID仪器操作有助于对组分进行超高可信度的结构表征。TAP碎裂与传统MSn或MS/MS技术相比，具备卓越的碎片离子覆盖率、灵敏度和准确性，在构建完整结构方面有着不容置疑的优势。