高精度厚度仪

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高精度厚度仪相关的厂商

  • 公司位于长江大桥入口,建宁路98金海市场,交通方便。经营的产品:工程检测及试验仪器(非金属超声波检测仪,数显回弹仪,楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪,基桩检测仪,低应变检测仪,裂缝测宽仪,裂缝测深仪,钢筋锈蚀仪,工程检测工具)测绘仪器(全站仪,经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪);建筑装璜仪器(激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺,投点仪);;勘测仪器(地下管线仪、测深仪);通讯设备(对讲机,手持GPS,RTK GNSS);工业检测仪(接地电阻,漏电开关,红外测温仪,风速计,噪音计,照度计,拉拔仪,金属探测仪)
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  • 深圳市凤鸣亮科技有限公司是一家从事新技术及新产品研发的高科技民营企业。近几年来,公司组建精密测控技术中心,成功地开发出LTG-3系列非接触线激光在线测厚仪、LT-2000系列激光位移传感器,等光学测量产品,解决了在人造生物材料(如角膜材料)的在线非接触测量问题,汽车动力磷酸铁锂电池和锂离子电池生产过程中的电池极片测厚,透明/半透明薄膜、布料,铜箔、铝箔,冷(热)轧钢板,镀锌钢板,防水卷材、板材等厚度的动态在线测量问题。解决了在注塑、橡胶、轧钢、玻璃、纸张陶瓷、石材、机械加工等诸多领域的生产加工过程中对被测物进行快速、高精度动态在线测量和控制的难题,其中,LTG-300测量精度可达+/-0.001mm。13652311601(谢)LTG-150型激光测厚仪测量精度可达+/-0.002mm,LTG-650,测量精度可达+/-0.001mm,还可根据用户需求研制特殊量程的几何量测量传感器,和激光测厚仪。激光非接触在线测厚系统对人与环境无污染,公司以“科技为本,服务无限”为宗旨;以“今天的质量,明天的市场”为动力,全力服务客户,不断创新。所推出的系列产品填补了国内相关行业的空白,其综合性能已达到国内一流水平。我们的目标是利用我们的光电检测产品提高现代制造业的技术含量,在短期内成为光电检测控制及相关产品的主要生产及服务供应商之一,并努力把光电检测技术及产品拓展到更广的领域。联系人:谢生 13652311601;QQ954424712;http://www.szfmlkj.com
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  • 深圳市凤鸣亮科技有限公司是一家从事新技术及新产品研发的高科技民营企业。近几年来,公司组建精密测控技术中心,成功地开发出LTG-3系列非接触激光在线测厚仪、LT-2000系列激光位移传感器,等光学测量产品,解决了在人造生物材料(如角膜材料)的在线非接触测量问题,汽车动力磷酸铁锂电池和锂离子电池生产过程中的电池极片测厚,透明/半透明薄膜、布料,铜箔、铝箔,冷(热)轧钢板,镀锌钢板,防水卷材、板材等厚度的动态在线测量问题。解决了在注塑、橡胶、轧钢、玻璃、纸张陶瓷、石材、机械加工等诸多领域的生产加工过程中对被测物进行快速、高精度动态在线测量和控制的难题,其中,LTG-300测量精度可达+/-0.001mm。13652311601(谢)LTG-150型激光测厚仪测量精度可达+/-0.002mm,LTG-650,测量精度可达+/-0.001mm,还可根据用户需求研制特殊量程的几何量测量传感器,和激光测厚仪。激光非接触在线测厚系统对人与环境无污染,公司以“科技为本,服务无限”为宗旨;以“今天的质量,明天的市场”为动力,全力服务客户,不断创新。所推出的系列产品填补了国内相关行业的空白,其综合性能已达到国内一流水平。我们的目标是利用我们的光电检测产品提高现代制造业的技术含量,在短期内成为光电检测控制及相关产品的主要生产及服务供应商之一,并努力把光电检测技术及产品拓展到更广的领域。联系人:谢生 13652311601;QQ954424712;http://www.szfmlkj.com
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高精度厚度仪相关的仪器

  • 高精度厚度测量仪 400-860-5168转3947
    高精度厚度测量仪随着塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等包装材料的应用,食品保鲜膜等包装品也得到了大量应用。为了确保这些包装材料的厚度和品质,需要使用厚度测量仪器进行检测。本文将介绍一种厚度测量仪器的检测原理,该仪器采用机械接触式进行测量,能够准确地测量各种材料的厚度。 该厚度测量仪器由机械框架、测量头、驱动器、传感器和测量软件等组成。在测量过程中,测量头与被测材料接触,传感器会感知测量头与被测材料之间的距离,并将距离信号传输到测量软件中进行处理和计算。 该厚度测量仪器采用机械接触式进行测量,其检测原理是利用测量头与被测材料接触时,测量头受到被测材料的顶出力,该力会使测量头的位移发生变化。测量头位移的变化量与被测材料的厚度之间存在一定的关系,通过测量位移变化量就可以计算出被测材料的厚度。 具体来说,该厚度测量仪器在测量过程中,将测量头放置在被测材料的表面,并施加一定的压力,使测量头与被测材料紧密接触。当测量头向上移动时,由于被测材料顶出力的作用,测量头的位移将发生变化。该位移变化量通过传感器传输到测量软件中,测量软件根据位移变化量和机械框架的结构参数,计算出被测材料的厚度。 该厚度测量仪器能够准确地测量各种材料的厚度,如塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等。同时,该仪器还可以用于食品保鲜膜等包装材料的厚度检测。由于该仪器采用机械接触式进行测量,其具有以下优点: 1、测量精度高:由于测量头与被测材料直接接触,能够更准确地感知被测材料的厚度变化。2、稳定性好:由于机械结构比较稳定可靠,因此测量的重复性和准确性都比较高。3、适用范围广:可以用于不同材料的厚度检测,如塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等包装材料以及食品保鲜膜等。 技术参数 测量范围 0-2mm (其他量程可定制) 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min(可调) 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张) 接触面积 50mm² (薄膜),200mm² (纸张) 注:薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ~ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ~ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动,无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 高精度厚度测量仪此为广告
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  • 包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪仪器名称:CHY-02测厚仪制造商:山东泉科瑞达仪器设备有限公司仪器品牌:泉科瑞达包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪是一种高精度的测量设备,主要用于测量塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度。以下是对接触式包装薄膜厚度测量仪的详细介绍:包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪产品特征高精度测量:采用机械接触式测量原理,通过精密的位移传感器测量薄膜材料的厚度。自动升降测头:在测试过程中,测量头自动升降,减少人为因素造成的误差。操作简便:配备大液晶屏显示,操作界面直观,支持手动和自动两种测量模式。数据管理:实时显示测量结果,包括最大值、最小值、平均值和标准偏差,方便数据分析。系统标定:配置标准量块用于系统标定,确保测试精度和数据一致性。打印功能:系统支持数据实时显示、自动统计和打印,方便获取测试结果。包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪技术参数测试范围:0~2mm(标配),可选配0~6mm或0~12mm的测量范围。分辨率:0.1μm,确保极高的测量精度。测量压力:17.5±1 kPa(薄膜),50±1 kPa(纸张),适应不同材料的测量需求。接触面积:50mm² (薄膜),200mm² (纸张),可根据测试材料选择。电源:AC 220V 50Hz,符合多数实验室的电源要求。外形尺寸:设备体积适中,便于实验室内安置。净重:大约26kg,便于移动和携带。执行标准该仪器符合多项国家和国际标准,如GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等。包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪应用领域广泛应用于塑料薄膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度测量,适用于包装材料生产过程中的质量控制、研发与技术创新等领域。仪器配置标准配置通常包括主机、微型打印机、标准量块等。可选配件包括专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码等。
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  • 高精度薄膜片材测厚仪 厚度测量仪 仪器简介:行业标准中关于薄膜、片材、铝箔铜箔片等厚度的测量采用的接触式测量方式,济南赛成科技根据GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等标准研发的CHY-CA薄膜测厚仪即为该测量方式。CHY-CA仪器采用进口优质传感器,测厚分辨率高达0.1微米选用优质传动元件,确保了试验结果的稳定性与准确性。赛成 CHY-CA高精度薄膜、片材测厚仪 性能特点: (1)严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制?(2)测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差?支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。(3)实时显示测量结果的大小极限值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断?(4)系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪测试标准ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 应用领域基础应用:薄膜、薄片、隔膜 、纸张、纸板 、箔片、硅片 、金属片 、纺织材料 、固体电绝缘体 、无纺布材料,如尿不湿、卫生巾片材等赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 技术指标测试范围: 0~2 mm(常规)0~6 mm;10 mm(可选)分辨率 :0.1 μm测量速度 :10 次/min (可调)测试压力 :17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积 :50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制进样步距 :0~1000 mm进样速度 :0.1~99.9 mm/s电 源 :AC 220V 50Hz外形尺寸 :461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)净重 :32 kg
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高精度厚度仪相关的资讯

  • 日本精工电子X射线荧光镀层厚度测量仪全新上市
    日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]  通过自动定位功能,可简单迅速地测量镀层厚度。     日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。  对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。  为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。  近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。  精工今后还会通过X射线技术产品的开发,更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。[SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。[主要产品规格] 检测器: 比例计数管 X射线源: 空冷式小型X射线管 准直器: 0.1、0.2mmφ2种 样品观察: CCD摄像头 样品台移动量:250(X)×200(Y)mm 样品最大高度:150mm
  • 精工盈司推出高性能X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9500X系列
    高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司(简称:SIINT,社长:川崎贤司,总公司:千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称:SII,社长:新保雅文,总公司:千叶县千叶市)的全资子公司,其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・ 蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 「SFT9550X」 要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・ 蒸镀等金属薄膜的膜厚・ 组成进行测量管理,就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型化的发展,连接器和导线架等电子部件也逐渐微细化了。与此同时,电镀・ 蒸镀等金属薄膜厚度的测量也要求达到几十微米的极微小部位测量以及达到纳米等级的精度。 「SFT9500X系列」通过新型X射线聚光系统(毛细管)和X射线源的组合,可达到照射直径30μmφ的高能量X射线束照射。以往的X射线荧光膜厚仪由于照射强度不足而无法获得足够的精度,而「SFT9500X系列」则可以对导线架、连接器、柔性线路板等的极微小部位进行准确、迅速的测量。 SIINT于1978年在世界上率先推出了台式X射线膜厚仪,而后在日本国内及世界各地进行广泛销售,得到了顾客很高的评价。此次推出的「SFT9500X系列」是一款凝聚了长期积累起来的X射线微小部位测量技术的高性能X射线荧光膜厚仪。今后将在电子零部件、金属材料、镀层加工等领域进行销售,对电子仪器的性能・ 品质的提高作出贡献。 【SFT9500X系列的主要特征】1. 极微小部位的薄膜・ 多层膜测量通过采用新型的毛细管(X射线聚光系统)和X射线源,把与以往机型(SFT9500)同等强度的X射线聚集在30μmφ的极微小范围。因此,不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。同时,也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。 2.扫描测量通过微小光束对样品进行XY扫描,可把样品的镀层厚度分布和特定元素的含量分布输出为二维扫描图像数据,更方便进行简单快速的观察。 3. 异物分析通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合,可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线,通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析(Al~U)。 【SFT9500X系列的主要产品规格】 SFT9500XSFT9550X样品台尺寸(宽)×(长) 175×240 mm330×420 mm样品台移动量(X)×(Y)×(Z) 150×220×150 mm300×400×50 mm被测样品尺寸(最大)(宽)×(长)×(厚度) 500×400×145 mm820×630×45 mmX 射 线 源空冷式小型X射线管(最大50kV,1mA)检 测 器Vortex半导体检测器(无需液氮)照 射 直 径最小30μmφ样 口 观 察CCD摄像头(附变焦功能)样 品 对 焦激光点滤 波 器Au极薄膜测量用滤波器操 作 部电脑、19英寸液晶显示器测 量 软 件薄膜FP法、薄膜検量線法选 配能谱匹配软件、红色显示灯、打印机测 量 功 能自动测量、中心搜索数 据 处 理Microsoft Excel、Microsoft Word(配备统计处理;测量数据、平均值、最大・ 最小值、CV值、Cpk值等测量结果报告制作(包含样品图像))安 全 功 能样品室门安全锁、仪器诊断功能 【价格】 1,650万日元~(不含税) 【出货开始时间】 2012年2月上旬 【销售目标台数】 50台(2012年度)    Microsoft是美国 Microsoft Corporation在美国及其它国家的登记商标或者商标。 以上本产品的咨询方式中国:精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL:021-50273533FAX:021-50273733MAIL:sales@siint.com.cn日本:【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部 井尾、森TEL:043-211-1185【客户】精工电子纳米科技有限公司分析营业部 营业三科TEL: 052-935-8595MAIL:info@siint.co.jp
  • 安光所团队在气溶胶光学厚度反演方面取得进展
    近期,安光所光学遥感研究中心孙晓兵研究员团队为满足单角度多波段偏振气溶胶探测的需求,提出了一种多波段强度和偏振信息联合利用的最优化反演算法,相关成果发表在学术期刊《Remote Sensing》上。   大气气溶胶光学厚度(Aerosol optical depth, AOD)用来表征气溶胶对太阳辐射的消光作用,在遥感大气校正及细颗粒物污染评估中都具有重要作用。孙晓兵团队提出的反演算法主要利用短波红外波段的偏振信息,在不需要地面先验信息的情况下,对地面和大气信息进行分离,然后使用标量信息来获得最终结果。利用该方法进行地气解耦,避免了地表反射率数据库更新不及时造成的反演误差和时空匹配误差。   研究人员利用搭载在高光谱观测卫星(GF-5B)上的高精度偏振扫描仪(POSP)的观测数据对该算法进行了验证。与不同地区AEROENT站点的AOD产品比对结果表明,该算法能反演不同地表上空的AOD;与MODIS的AOD产品进行比对,验证了算法在不同污染条件下的有效性。   该研究得到了航天科技创新应用研究项目、中国高分辨率对地观测系统项目、中国资源卫星应用中心项目资助。图1 POSP的反演结果与AEROENT产品比对图2 POSP的AOD反演结果(a)与MODIS产品(b)对比(2022年5月4日)

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  • 高精度测厚仪哪个好

    在选择高精度测厚仪这样大型的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密高精度测厚仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,得到了得到了消费者的大力认可,下面我们就来介绍一下,它好在哪些方面吧:   1、操作简单方便  简单方便的设备仪器不管是谁,都会非常喜欢的。如果设备仪器的操作比较繁琐或是需要专业人员来操作。厂家就会考虑很多方面,一来操作繁琐要对工作人员进行一系列的培训,二来请来的专业人员所需要的成本就会有所上升,利益就会相应减少。高精度测厚仪操作十分简单方便,这是厂家选择他们的其中一个理由。  2、能连接数据进行打印  测厚仪有电脑连接接口,在使用的时候可以购买相关软件,从而实现对测两次数据的储存打印,而且相关的软件还能够对测量数据进行统一,用专业的方式显示出来,从而让我们更加简单的了解测量数据机器所具有的特点。  http://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a0aa23fb3.jpg  3、采用国外进口的优质元件  专业的测厚仪传感器部件通常采用的都是国外进口的优质元件,这些优质传感器元件能够让测厚仪的测厚分辨率比普通测厚仪增加很多,这种仪器对于零点一微米的距离都能精准的测量。然而测厚仪里面的优质传动元件也是确保测厚仪工作稳定性和准确性的重要因素。  激光测厚仪是近年来开发出的高科技实用型设备,是用于热轧生产线上实时在线式连续测量成材厚度的非接触式测量设备。它有效地改善了工作环境,具有测量准确、精度高、实用性好、安全可靠、无辐射、非接触式测量等人工测量及其它测量方法无法比拟的优点,并为轧制钢材厚度控制提供了准确的信息,从而提高了生产效率和产品质量,降低了劳动强度。  使用大成精密激光测厚仪以来,具不完全统计,因板厚误差造成的废品率下降了50%以上,创经济效益近千万元,受到各级部门和工作人员的肯定与赞赏。

  • 高精度涂层测厚仪的测量原理

    [url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]是一种常用的检测仪器,具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,被广泛用于制造业、金属加工业、化工业等领域中。特曾测厚仪的原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下,希望可以帮助到大家。  磁感应测量原理  采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。  磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。  电涡流测量原理  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。  采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。  迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料(如钢、铁、合金和硬磁性钢)等物体表面上的非磁性覆盖层厚度(如:油漆、塑料,陶瓷,橡胶,铜,锌、铝、铬、铜等)。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)。

高精度厚度仪相关的耗材

  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 校准级高精度非球面透镜
    校准级高精度非球面透镜1)非球面面形偏移RMS值可达0.25μm2)提供完整的计量数据3)提供0.66和0.50NA透镜我们的TECHSPEC® 校准级高精度非球面透镜提供现成经抛光非球面透镜的zui佳性能和精度。这些组件提供改善的非球面面形、表面质量及中心规范,优于我们的TECHSPEC® 标准高精度非球面透镜,是集成到研发及OEM应用等的理想之选。这些高数值孔径透镜在提高微光检测系统的效率,或需要紧凑的光路应用方面非常出色。每个透镜都编有序号,且提供一套完整的计量数据包。该测试数据包包括在我们的Taylor Hobson Talysurf Profilometer上运行的薄膜测厚仪,球面干涉图,以及直径、中心厚度和中心定位的测试值。有关定制设计的非球面透镜、镀膜要求或批量定价的详细信息,请联系我们的销售部门。Common Specifications涂层:Uncoated基底:L-BAL35直径容差 (mm):+0.0/-0.1中心厚度容差 (mm):±0.10表面质量:20-10中心偏(弧分):技术数据订购信息直径 (mm)有效焦距 EFL (mm)数字孔径 NA中心厚度 CT (mm)产品号2518.750.6610#69-14125250.57.5#69-1425037.50.6619.4#69-14350500.519.4#69-144
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