高精度光谱仪

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  • 视彩(上海)光电技术有限公司是一家专注于光学视觉检测的高科技公司。 公司以Color Vision品牌的光谱、亮度、色度测量仪器和配套软件为核心产品,为显示、汽车、照明等行业的客户提供精确的测试和自动化服务。 公司的主要产品有成像式亮度计、成像式色度计、光谱式亮度色度计和相配套的软件分析系统。公司研发方向包括高精度的亮度色度测量、显示屏和背光BLU均匀性测量分析、显示屏的缺陷检测、LCD和OLED的Demura、AR/VR/MR/HUD产品的测量、汽车仪表按键背光的测量、发光键盘的亮色度均匀性、汽车照明如尾灯/氛围灯/阅读灯的测试、LED显示屏色彩校正等。
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  • 武汉普赛斯仪表自主研发的高精度台式数字源表、插卡式源表、窄脉冲电流源、VCSEL测试系统等,填补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺,为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合,帮助用户构建自定义解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台,以及相关技术服务,满足行业对测试效率、测试精度,以及低成本的挑战。武汉普赛斯将以服务客户为中心,追求可持续发展,精益求精,坚持不懈,努力将自身打造成行业标杆。普赛斯仪表www.whpssins.com武汉普赛斯电子技术有限公司是一家高科技企业,专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案和自动化测试设备。产品覆盖CHIP、BAR、TO、OSA等器件、光收发模块、BOB等生产线。客户包括:华为、海思、中兴、光迅、海信、正源光子、旭创等,公司旨在为光电器件生产企业提供完美的服务,针对产线生产的痛点问题,模拟现实应用环境,进行半导体光器件性能指标生产监测和测试,实现产品生产过程实时可监控、可追溯。具有综合性、完备性、稳定性、半自动化或自动化等特点,从而提高用户产线产品的生产效率、可靠性、稳定性、一致性。
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高精度光谱仪相关的仪器

  • 产品简介高精度痕量气体分析仪(TGA-327)是一款专为半导体行业空气分子污染分析(AMC)测量氟化氢(HF)而设计的专业仪器,采用光腔衰荡光谱技术(CRDS),具有超高的灵敏度,其检测下限可达ppt级别。不需要现场校准,非常适合连续测量。 该分析仪内部管路都进行了特殊涂层,可以有效的减小氟化氢(HF)分子在管道壁上的吸附,加速测量的响应时间并消除测量偏差。同时分析仪采 用小体积腔设计,能够进一步提升测量速度。 光腔衰荡光谱(CRDS)与离子迁移谱(IMS)和离子色谱传统技术相比,具有探测下限低、响应时间快、无需耗材等显著优势,该分析仪具有更优的长期稳定性和低维护性,是半导体行业AMC连续监测的理想选择。产品特点(1)ppt级别的灵敏度、精度以及准确度(2)免标定,低漂移(3)响应时间快(4)连续监测(5)无耗材成本应用领域半导体行业AMC连续监测、洁净室监测、FOUP监测
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  • 产品简介高精度痕量气体分析仪(TGA-321)是一款专为半导体行业空气分子污染分析(AMC)测量氨气(NH3)而设计的专业仪器,采用光腔衰荡光谱技术(CRDS),具有超高的灵敏度,其检测下限可达ppt级别。不需要现场校准,非常适合连续测量。 分析仪内部管路都进行了特殊涂层,可以有效的减小氨气(NH3)分子在管道壁上的吸附,加速测量的响应时间并消除测量偏差。同时分析仪采用小体积腔设计,能够进一步提升测量速度。 光腔衰荡光谱(CRDS)与离子迁移谱(IMS)和离子色谱传统技术相比,具有探测下限低、响应时间快、无需耗材等显著优势,该分析仪具有更优的长期稳定性和低维护性,是半导体行业AMC连续监测的理想选择。产品特点(1)ppt级别的灵敏度、精度以及准确度 (2)免标定,低漂移 (3)响应时间快(4)连续监测 (5)无耗材成本应用领域半导体行业AMC连续监测、洁净室监测、FOUP监测
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  • 产品简介高精度痕量气体分析仪(TGA-323)是一款专为半导体行业空气分子污染分析(AMC)测量氯化氢(HCl)而设计的专业仪器,采用光腔衰荡光谱技术(CRDS),具有超高的灵敏度,其检测下限可达ppt级别。不需要现场校准,非常适合连续测量。 该分析仪内部管路都进行了特殊涂层,可以有效的减小氯化氢(HCl)分子在管道壁上的吸附,加速测量的响应时间并消除测量偏差。同时分析仪采用小体积腔设计,能够进一步提升测量速度。 光腔衰荡光谱(CRDS)与离子迁移谱(IMS)和离子色谱传统技术相比,具有探测下限低、响应时间快、无需耗材等显著优势,该分析仪具有更优的长期稳定性和低维护性,是半导体行业AMC连续监测的理想选择。产品特点(1)ppt级别的灵敏度、精度以及准确度 (2)免标定,低漂移 (3)响应时间快(4)连续监测 (5)无耗材成本应用领域半导体行业AMC连续监测、洁净室监测、FOUP监测
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高精度光谱仪相关的资讯

  • 高精度光谱定标系统将实现精10厘米/秒精度
    近期,中国科学院南京天文光学技术研究所(以下简称南京天光所)研究员肖东团队设计研制了一种可用于高精度光谱定标的基于真空法珀标准具(FPE)的高稳定定标光源系统。日前,相关研究成果分别发表于《天文学杂志》(The Astronomical Journal)和国际光学工程学会会刊(Proc SPIE)。 《中国科学报》从南京天光所获悉,高精度光谱定标技术是运用视向速度法进行系外行星探测的关键技术之一,具有重要的科学意义。类地行星的探测和研究将定标精度的要求提高到10厘米/秒。 由于FPE对入射角度、腔长和折射率变化敏感,肖东团队从照明、气压和温度稳定性等方面开展研究,严格控制定标谱线稳定性。 肖东团队结合光纤扰模技术的研究基础,通过数值模拟和实验测试定量研究了耦合偏移和光纤扰动对定标光源输出谱线特性的影响,八边形光纤和双光纤扰模器可以极大提高光纤出射场稳定性,从而有效降低这种影响导致的谱线漂移。 在此基础上,肖东团队研制了满足定标谱线设计要求的光机系统和真空恒温系统,预期谱线自身稳定性能到10厘米/秒。后续,团队将利用激光频率梳同步定标技术对此定标光源谱线的漂移特性进行研究,并进一步探索验证此类定标光源的使用方法和实测定标精度。
  • 120万!清华大学高精度光谱椭偏仪采购项目
    项目编号:清设招第2022344号项目名称:清华大学高精度光谱椭偏仪采购项目预算金额:120.0000000 万元(人民币)采购需求:包号名称数量是否允许进口产品投标01高精度光谱椭偏仪1套是设备用途介绍:拟采购的椭偏仪设备将应用于测量各类薄膜的膜厚及光学参数(n,k),对特殊结构的材料具有光学性能分析能力。简要技术指标:Psi和Delta精确度测量:直射测量空气(Psi = 45° Delta = 0°),满足:Ψ≤45°±0.02°,Δ≤0°±0.02°(1.5-5eV);光谱范围覆盖190– 2000nm;入射角:自动量角器,角度可从40°到90°变化,最小步进为0.02°。合同履行期限:合同签订后7个月内交货本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 南京天光所提出高精度光谱定标方法
    天文高分辨率光谱的高精度定标技术支撑着视向速度法探测系外行星的研究,具有重要的科学意义。当前,该领域前沿瞄准类地系外行星探测,对光谱定标精度的要求提高到10 cm/s,这是传统的定标技术无法满足的。要实现这样高的定标精度,需要从多方面突破,尤其是发展新型定标源并探究它们的定标方法。法布里-珀罗标准具(FPE)在进行精细的稳定性控制后可用于高精度波长定标,是备受关注的新型定标源。它的光谱呈现出密集、排列规则的透过峰序列,具有宽广的波长覆盖范围,有望实现优于10 cm/s的定标精度。由于FPE透过峰波长未知,这使单独利用FPE无法定出光谱仪波长的空间分布关系(即波长解),阻碍了FPE定标的实际应用。中国科学院南京天文光学技术研究所研究员肖东团队提出了一种FPE波长解求解方法。将传统波长定标源钍氩灯与FPE相结合,以钍氩灯为FPE提供波长信息,再利用FPE电介质反射膜的穿透深度与波长关系的平滑性质修正钍氩灯波长信息中的误差,在不借助傅里叶变换光谱仪等额外的精密测量设备的情况下实现对FPE透过峰的高精度波长标定。使用标定后的FPE透过峰,可求出光谱仪的高精度波长解。研究利用自主研制的固体腔FPE,在2.16米天文望远镜高分辨率光纤光谱仪(HRS)上对该方法进行实际测试。结果表明,FPE波长解的均方根误差仅0.053 pm,优于钍氩灯波长解的典型均方根误差0.290 pm。相关研究成果发表在《光学学报》上,并获当期优秀论文嘉奖。研究工作得到国家自然科学基金、中科院天文台站设备更新及重大仪器设备运行专项经费的支持。

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  • 高精度压强(真空度)和温度同时控制技术在光谱测量及光谱仪中应用的实施方案

    高精度压强(真空度)和温度同时控制技术在光谱测量及光谱仪中应用的实施方案

    [align=center][color=#990000][img=光谱仪压强控制,690,398]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/07/202107030808077473_8105_3384_3.png!w690x398.jpg[/img][/color][/align][color=#990000]摘要:光谱测量和光谱仪是检测监测中的重要技术手段,为了得到满意的测量精度,光谱仪要求配套高精度的压强和温度传感器、执行机构和PID控制器,并需具有适用范围广、精度高、易集成和成本低的特点。本文将针对光谱仪压强和温度控制的特点,结合上海依阳公司的创新性产品,给出高精度和高性价比的光谱测量和光谱仪温压测控方案。[/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=18px][color=#990000]1. 问题的提出[/color][/size] 光谱测量作为定性、定量的科学分析方法,以其测量精度高、响应速度快的优势成为各种检测监测研究中的重要技术手段,但在实际应用中样品气体的压强和温度变化会对测量结果产生严重的影响,以下是光谱测量中的温压控制方面国内外所做的一些研究工作以及所表现出来的影响特征:[color=#990000](1)压强控制范围[/color] 不同的光谱测量和光谱仪对压强控制范围有着各自不同的要求,如使用气体吸收池的红外光谱仪,吸收峰的强度可以通过调整试样气体的压强(或压力)来达到,一般压强范围为0.5~60kPa。在采用可调谐二极管激光吸收光谱(TDLAS)技术测量大气中二氧化碳浓度时,就需要6~101kPa范围内的稳定压强。在X射线光谱分析仪检测器内压强的精确控制中,要使得工作气体的密度稳定来保证检测器的测量精度,一般压强控制在一个大气压附近或者更高,而激光诱导击穿光谱仪的工作压强最大可达275kPa。由此可见,光谱仪内工作气体的压强控制范围比较宽泛,一般在0.1~300kPa范围内,这基本覆盖了从真空负压到3倍大气压的4个数量级的压强范围。[color=#990000](2)压强控制精度[/color] 在光谱测试中,观察到的谱线强度与真实气体浓度之间的关系取决于气体样品的压强,所以压强控制精度直接决定了光谱测量精度。如美国Picarro公司的光谱分析仪中的压强控制精度±0.0005大气压(波动率±0.05%@1大气压)。文献[1]报道了设定压强为6.67kPa时对吸收池进行控制,经过连续四小时控制,压强波动为±3.2Pa,波动率为±0.047%。文献[2]报道了样品池内气体压强同样被控制在6.67kPa时压强长期波动幅度为7Pa,波动率为±0.047%。文献[3]报道了激光红外多通池压强控制系统的稳定性测量,目标压强设定为60Torr,在150~200s时间内最大波动为±0.04Torr,波动率为±0.067%。文献[4]专门报道了光谱测量仪器的高精度温压控制系统的设计研究,目标压强值为18.665kPa,42小时的恒压控制,最大偏差为5.33Pa,波动率为±0.014%。文献[5]介绍了X射线光谱仪中探测器的恒压控制结果,在工作气体恒压在940hPa过程中,波动小于±2hPa,波动率为±2%。文献[6]介绍了X射线光电光谱仪在0.05~30mbar压强范围内的恒压控制技术,在设定值为0.1mbar时,恒定精度可达±0.001mbar,波动率为±1%。[color=#990000](3)温度控制精度[/color] 在光谱测试中,谱线强度与真实气体浓度之间的关系还取决于气体样品的温度稳定性,而且温度的稳定性同时也会影响压强的稳定性。文献[2]报道了样品池内气体温度控制在室温(24℃)时,温度短期波动为±0.01℃,长期温漂为±0.025℃,波动率为±0.1%。文献[4]报道的光谱测量仪器的高精度温度控制系统中,温度控制在45℃,42小时内的温度波动为±0.0015℃,波动率小于±0.004%。 综上所述,由于样品气体的压强和温度变化是影响测量结果的主要因素,所以在光谱测量以及各种光谱仪中,对样品气体的压强和温度调节及控制有以下几方面的要求: (1)压强控制范围非常宽泛(0.1~300kPa),但相应的测量和控制精度则要求很高,这就对压强测量传感器、控制阀、真空泵和相应的控制器提出了很高的要求,并且这闭环控制系统中的四个组件必须相互匹配,否则很难得到满意的结果。 (2)同样,在温度的高精度控制过程中,也应选择合适的温度传感器、加热装置、电源和控制器,并在温度闭环控制系统中四者也必须相互匹配。 (3)在压强和温度这两个闭环控制系统中,都会用到高精度控制器,为了降低实验成本和光谱仪造价,希望能用一个具有2路同时PID自动控制功能的高精度控制器。 (4)针对不同的光谱测量和光谱仪,其测试结构并不相同,这就要求温压控制系统中的各个部件具有独立性,由此有利于测试装置和光谱仪结构和合理布局和集成。 总之,为了得到光谱测量的满意精度,要求配套高精度的压强和温度传感器、执行机构和PID控制器,并具有适用范围广、精度高、易集成和成本低的特点。本文将针对这些特点,结合上海依阳公司的创新性产品,给出高精度和高性价比的光谱测量和光谱仪温压测控方案。[color=#990000][size=18px]2. 光谱仪压强和温度一体化测控方案[/size]2.1. 控制模式设计(1)压强控制模式[/color] 针对光谱仪上述的压强测控范围(0.1~300kPa),最佳方案是针对具体使用的压强范围选择相应的测控模式,如图2-1所示,针对低压范围建议采用上游控制模式,针对高压范围建议采用下游测控模式,也可以采用上下游同时控制的双向控制模式。[align=center][color=#990000][img=光谱仪压强控制,690,217]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/07/202107030808325845_3021_3384_3.png!w690x217.jpg[/img][/color][/align][color=#990000][/color][align=center]图2-1 压强控制的三种模式[/align] 针对低压采用上游控制模式,可以重复发挥真空泵的抽速,使得真空腔体内的压强可以快速准确的实现恒定控制。针对高压(如1个大气压左右)采用下游控制模式,可以有效控制真空泵的抽速,使得真空腔体内的压强可以快速准确的实现恒定控制,同时还避免了进气口处的样品气体和其他工作气体的流量太大。 如果对进气流量和腔体压强有严格规定并都需要准确控制,则需要采用双向控制模式,双向控制模式可以在某一恒定压强下控制不同的进气流量,但双向控制模式需要控制器具有双向控制功能,这对控制器提出了更高的能力要求。以上三种控制模式的特点更详细介绍,请参考文献[7]。[color=#990000](2)温度控制模式[/color] 同样,温度测控模式也要根据不同的温度范围和控温精度要求进行选择,如在室温附近且控温精度较高的情况下,则需要具有加热和制冷功能的双向控制模式,只有这种模式才能保证足够高的控温精度。如果在高温范围内,也建议采用双向控制方式,即以加热为主同时辅助一定的冷却补偿,以提高控温精度和快速的温度稳定。[color=#990000]2.2. 传感器的选配[/color] 传感器的精度是保证压强和温度测控准确的关键,因此传感器的选择尤为重要。 对于上述范围的压强控制,强烈建议采用目前精度最高的薄膜电容真空计[8],这种真空计的测量精度可以达到其读数的0.2%,全量程内具有很好的线性度,非常便于连接控制器进行线性控制,并具有很高的分辨率和很小的温漂。在实际选型中,需要根据不同的压强范围选择合适量程的真空计,如对于上述0.1~300kPa的压强范围,可以选择2Torr和1000Torr两种规格的真空计,由此对相应压强量程实现准确的覆盖。 对于温度控制而言,当温度不高的范围内,强烈建议测量精度最高的热敏电阻温度传感器,较高温度时也建议采用高温型的热敏电阻或铂电阻温度传感器。如果加热温度超过了热敏电阻和铂电阻传感器的使用范围,则建议采用热电偶型温度传感器。这些温度传感器在使用前都需要进行计量校准。[color=#990000]2.3. 执行机构的选配[/color] 压强控制执行机构是决定能否实现高稳定性恒定控制的关键。如图2-2所示,强烈建议采用线性度和磁滞小的步进电机驱动的电动针阀,不建议采用磁滞和控制误差都较大的比例电磁阀。电动针阀可以布置在进气口和出气口处,也可以根据上游或下游控制模式的选择布置一个电动针阀。如果光谱仪的真空腔体庞大,电动针阀就需要更换为口径和流速更大的电控阀门,以便更快的实现压强恒定控制。详细指标可参见文献[8,9]。[align=center][color=#990000][img=电动针阀和电动调节阀,690,369]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/07/202107030808519287_4900_3384_3.png!w690x369.jpg[/img][/color][/align][color=#990000][/color][align=center]图2-2 小流量电动针阀和大流量电动阀门[/align] 温度控制的执行机构建议采用具有帕尔贴效应的半导体热电片,这种热电片具有加热制冷双向工作模式,配合高精度的热敏电阻和控制器可以实现超高精度的温度控制,非常适合光谱仪小工作腔室的控温。 如果光谱仪工作腔室较大且温度在300℃以下,建议采用具有加热制冷功能的外排式循环浴进行加热,这种循环浴同样具有加热制冷功能,可达到较高的控温精度。 如果光谱仪工作在更高温度,则建议采用电阻丝或光加热方式,同时配备一定的通风冷却装置以提高加热的热响应速度,从而保证温控的稳定性和速度。[color=#990000]2.4. 控制器的选配[/color] 控制器是实现高精度和高稳定性压强和温度测控的最终保障。在压强控制设计中,控制器需要根据所选真空计和执行机构进行选配,选配的详细介绍可参见文献[10]。根据文献的计算可得认为,如果要保证压强测控的精度,必须采用至少16位以上的A/D模数采集器。同样,温度测控的精度保证也是由模数采集器的位数决定。因此,对于光谱仪中压强和温度的控制,建议采用了目前上海依阳实业有限公司开发的精度和性价比最高,并结合了PID参数控制功能的24位A/D采集的控制器,详细内容可参见文献[11]。 按照上述的选型,最终压强和温度的测控方案如图2-3所示。[align=center][color=#990000][img=光谱仪压强和温度控制框图,690,291]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/07/202107030809355503_6326_3384_3.png!w690x291.jpg[/img][/color][/align][color=#990000][/color][align=center]图2-3 光谱仪压强和温度测控方案示意图[/align] 特别需要指出的是,上述的压强和温度控制,基本都采用了双向控制模式,而我们所开发的这款高精度控制器恰恰具有这个功能。另外,在光谱仪实际应用中,压强和温度需要同时进行控制,可以采用两台控制器分别进行控制,但相应的光谱仪整体体积增大、操作变得繁复并增加成本。而目前所建议使用的高精度控制器则是一台双通道的PID控制器,两个通道可以独立同时进行不同PID参数的控制和PID参数自整定,并且每个通道都具有双向控制功能,这有效简化了控制器并降低了仪器尺寸和成本。[size=18px][color=#990000]3. 总结[/color][/size] 综上所述,通过对光谱测量和光谱仪的压强和温度测控要求的分析,确定了详细的温压测控技术方案,并详细介绍了方案确定的依据以及相应所选部件的技术参数指标。 整个技术方案完全能满足光谱测量和光谱仪对压强和温度测控的要求,并具有测控精度高、功能强大、适用范围广、易集成和成本低的特点。除了薄膜电容真空计为进口产品之外(也可选国产真空计),方案中的所有选择部件和仪表都为国产制造。[color=#990000]4. 参考文献[/color](1)牛明生, 王贵师. 基于可调谐二极管激光技术利用小波去噪在2.008μm波段对δ13CO2的研究[J]. 物理学报, 2017(02):136-144.(2)孙明国, 马宏亮, 刘强,等. 参数主动控制的痕量气体实时在线测量系统[J]. 光学学报, 2018, v.38;No.434(05):344-350.(3)许绘香, 孔国利. 采用Ziegler-Nichols-PID算法的激光红外多通池压强控制系统研制[J]. 红外与激光工程, 2020(9).(4)周心禺, 董洋, 王坤阳,等. 用于光谱测量仪器的高精度温压控制系统设计[J]. 量子电子学报, 2020, v.37 No.194(03):14-20.(5)Elvira V H , Roteta M , A Fernández-Sotillo, et al. Design and optimization of a proportional counter for the absolute determination of low-energy x-ray emission rates[J]. Review of Scientific Instruments, 2020, 91(10):103304.(6)Kerherve G , Regoutz A , D Bentley, et al. Laboratory-based high pressure X-ray photoelectron spectroscopy: A novel and flexible reaction cell approach[J]. Review of Scientific Instruments, 2017, 88(3):033102.(7)上海依阳实业有限公司,“真空度(气压)控制:上游模式和下游模式的特点以及新技术“,知乎:https://zhuanlan.zhihu.com/p/341861844.(8)上海依阳实业有限公司,“真空压力控制装置:电动针阀(电控针型阀)”:http://www.eyoungindustry.com/2021/621/29.html.(9)上海依阳实业有限公司,“微波等离子体化学[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]沉积(MPCVD)系统中真空压力控制装置的国产化替代”,知乎:https://zhuanlan.zhihu.com/p/377943078.(10)上海依阳实业有限公司,“彻底讲清如何在真空系统中实现压力和真空度的准确测量和控制”,知乎:https://zhuanlan.zhihu.com/p/343942420.(11)上海依阳实业有限公司,“高精度可编程真空压力控制器(压强控制器和温度控制器)”:http://www.eyoungindustry.com/2021/618/28.html.[align=center]=======================================================================[/align][align=center] [img=,690,345]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/07/202107030804374064_8626_3384_3.jpg!w690x345.jpg[/img][/align]

  • 光声谱仪器中光声池的高精度气体压力控制解决方案

    光声谱仪器中光声池的高精度气体压力控制解决方案

    [align=center][size=16px][img=石英增强光声光谱和光热光谱技术中的高精密压力控制解决方案,600,393]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311130940541042_934_3221506_3.jpg!w690x452.jpg[/img][/size][/align][size=16px][color=#339999][b]摘要:光声池内气体压力的可调节控制以及稳定性是保证光声法高精度测量的关键,但在目前的光声和光谱研究中,对气体样品池内压力控制技术的报道极为简单,甚至很多都是错误的,根本无法实现高精度调节和控制,为此本文提出了可工程化实现的解决方案。基于动态平衡法控制介绍,解决方案采用了高精度真空计、气体流量计、电动针阀和双通道真空压力控制器等,可实现气体样品池的进气流量和真空压力的自动精密控制,并适用于多种气体。[/b][/color][/size][align=center][size=16px][color=#339999][b]===================[/b][/color][/size][/align][size=18px][color=#339999][b]1. 问题的提出[/b][/color][/size][size=16px] 光声法是基于光声效应的一种光谱技术,气体分子吸收特定波长的调制光辐射能量,由振动基态跃迁到激发态,然后通过快速的辐射跃迁或者无辐射跃迁过程回到基态。 气体分子通过无辐射跃迁过程回到基态会产生热能,导致气体温度的变化,相应地引起气体压强的变化,从而产生声波信号,信号的强弱与入射光强和气体吸收大小成正比,检测声音信号即可间接测定气体浓度。在光声法中气体既是被检气体,又是吸收光辐射的探测器,利用同一光声池检测装置,只要改变光源的波长即可对多种气体进行检测。[/size][size=16px] 随着技术的发展出现了许多新型光声光谱检测技术,但光声池始终是所有光声光谱检测仪器中的核心部件,注入光声池内的被检气体压力是影响光声法测量精度的关键因素之一,主要体现在以下两个方面:[/size][size=16px] (1)气体压力的稳定性对测量精度的影响[1,2]。[/size][size=16px] (2)不同气体和浓度的光声法测量过程中,在一个最佳气体压力下时测量精度最高[3]。[/size][size=16px] 由此可见,光声池内气体压力的可调节控制以及稳定性是保证光声法高精度测量的关键,而在光声池压力控制的所有文献报道中,有些仅简单描述了压力控制基本原理,有些所描述的压力控制方法和装置根本无法实现高精度调节和控制。[/size][size=16px] 如文献[3]采用石英增强光声和光热光谱技术测量痕量一氧化碳气体含量的报道中,仅介绍了光声池进样气体方式和压力控制的原理,整个装置和压力控制结构的简单描述如图1所示,图中所示的光声池压力控制尽管包括了真空泵、针阀、压力传感器和压力控制系统(PCS),但压力控制系统的布置位置并不一定正确,既没有明确具体技术细节,也没有显示出压力控制的自动化能力和控制精度能达到什么水平。同样,许多多其他光声法测试技术的研究报道也多是如此简单介绍,并未看到光声池压力控制的详细文献报道。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=文献[3]光声和光热谱检测系统结构示意图,600,527]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311130942538680_3779_3221506_3.jpg!w690x607.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图1 文献[3]光声和光热谱检测系统结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 在河北大学的发明专利CN111595786B“基于光声效应的气体检测系统及方法”中提出了一种详细的光声池内部压力控制方法[4],其结构如图2所示。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=文献[4]基于光声效应检测系统的结构示意图,690,447]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311130943224524_1783_3221506_3.jpg!w690x447.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图2 专利[4]基于光声效应检测系统的结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 在图2所示的光声池压力控制系统中,光声池上设有供气体进入的进气口,进气口通过导管与?30℃的冷肼预浓缩装置相连通,可以去除待测气体中水分的干扰,达到一定的浓缩效果。在光声池上还设有供气体排出的出气口、控制腔体内气压的压力监测口以及压力控制口。在进气口、出气口和压力控制口处均设有单向阀,在出气口和压力控制口处均设有真空泵。在压力监测口设有气体压力传感器,气体压力传感器连接单片机,单片机控制继电器以及一个抽气系统,当腔体内的气压未达到所设置的目标值时,压力传感器传出电信号到控制系统中的单片机来控制继电器闭合,使电机转动,抽气系统运行,保持腔内部的气压值为设定好的目标值,当腔内的气压达到设定目标值时该抽气系统不工作。[/size][size=16px] 由此可见,尽管专利[4]中采用了单片机进行压力的自动控制,但所描述的抽气系统控制是一种最简单的开关式控制方式,这种控制方式在控制精度的稳定性很差,往往会使光声池内的实际压力在设定值上下出现较大波动现象。[/size][size=16px] 另外,这种开关模式在控制过程中存在很大的滞后性,当传感器测量到压力值大于或小于设定值时才发出关闭或启动抽气电机信号,这势必带来控制延迟。而且对于小容积内的气压控制,目前已很少采用调节真空泵转速或开关式真空泵技术,这是因为会很容易影响真空泵寿命。[/size][size=16px] 为了彻底解决光声光谱和光热光谱技术中气体样品池的压力精密控制问题,基于真空压力控制的动态平衡法,即通过自动调节气体样品池的进气和排气流量,使它们能快速达到动态平衡状态,本文将提出以下详细且可工程化实现的解决方案。[/size][size=18px][color=#339999][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 从研究文献所报道的光声光热法气体池内压力控制中,可以得出以下几项技术指标要求:[/size][size=16px] (1)气体池有一进气口和排气后,其中排气口连接真空泵,真空泵提供负压使样品气体通过进气口流入样品池,样品池的这种结构和气体取样方式则说明样品池内的压力一般应该是一个大气压上下的微负压或微正压,即样品池内的气体压力在500~1000Torr的绝对压力范围内,且要小于进气口压力。[/size][size=16px] (2)在文献[3]中报道了对最佳压力的测试研究,得到的最佳压力为600Torr。由此可见,针对不同气体的光声和光热法测试中,需要根据不同气体样品池的结构和具体被测气体寻找到最佳压力值,由此可保证最佳的测试精度。[/size][size=16px] (3)在文献[2,3]中,涉及到了多种气体混合和进气流量的控制,由此可说明在某些光声和光热法测试中需要具备对进气流量的调节,这也就是说,对于气体样品池而言,既要能调节进气流量,还要能调节气体压力且稳定控制。[/size][size=16px] 针对光声光谱和光热光谱技术中气体样品池的压力精密控制问题,特别是实现上述技术指标和功能,本解决方案所设计的气体样品池压力和进气流量控制系统结构如图3所示。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=光声池气体压力和流量控制系统结构图,690,314]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311130943461767_8516_3221506_3.jpg!w690x314.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图3 光声池气体压力和进气流量控制系统结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 如图3所示,整个控制系统主要包含以下几方面的内容:[/size][size=16px] (1)压力控制模式:由于光声池内的压力需要在500~1000Torr的绝对压力范围进行调节和控制,因此解决方案中采用了动态平衡法中的下游控制模式,即恒定进气流量,通过调节排气流量的大小以达到不同的动态平衡,由此来实现不同气体压力的精密控制。进气形式如图3所示可以是单独一种气体,也可以是多种气体混合,各种气体可以通过气体质量流量控制器(MFC)进行流量的精密控制,各路气体进入一个混气罐进行混合后,再注入光声池内。气体的注入则通过排气端真空泵所提供的负压与进气端正压所形成的压力差来实现。[/size][size=16px] (2)压力控制回路:如图3中的蓝色箭头线所示,压力控制回路由1000Torr量程的电容真空计、NCNV-20型电动针阀和VPC2021-2型压力流量控制器组成,其中真空计检测光声池的真空压力并传输给控制器,控制器将传感器数据与压力设定值比较并经过PID计算,输出控制信号给排气电动针阀,实现压力自动恒定控制。[/size][size=16px] (3)流量控制回路:如图3中的红色箭头线所示,流量控制回路由气体流量计、NCNV-120电动针阀和VPC2021-2型压力流量控制器组成,其中控制器通过手动控制方式直接输出控制信号来调节进气电动针阀的开度,使得流量计达到希望值,由此可始终恒定进气流量保持不变。[/size][size=16px] 由此可见,通过图3所示的解决方案控制系统可实现光声池压力和进气流量的独立调节和控制,这种实现的关键部件是电控针阀和双通道压力流量控制器,电控针阀可以快速精密的调节进气和排气流量,而双通道压力流量控制器可直接连接真空计和流量计,实现高精度的真空压力和流量的测量,控制精度能小于读数的±1%,同时还能进行自动PID控制和手动恒定输出控制。[/size][size=18px][color=#339999][b]3. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 综上所述,本解决方案对现有文献所报道的光声池压力控制方法进行了细化,比较而言,本文所提出的解决方案具有以下优势和特点:[/size][size=16px] (1)本解决方案更具有实用性,并经过了试验考核,按照解决方案可很快的搭建起光声池压力控制系统。[/size][size=16px] (2)本解决方案具有很强的适用性和可拓展性,如通过改变其中的相关部件参数指标就可适用于不同范围的真空压力,可满足光声法和光热法中对样品池气体压力的各种控制要求。[/size][size=16px] (3)本解决方案可以通过高压气源的改变来实现不同样品气体的测量,也可进行多种气体混合后的测试,具有很大的灵活性。[/size][size=16px] (4)解决方案中的真空压力控制自带计算机软件,可直接通过计算机的软件界面操作进行整个控制系统的调试和运行,且控制过程中的各种过程参数变化曲线自动存储,这样就无需再进行任何的控制软件编写即可很快搭建起控制系统,极大方便了光谱设备的搭建和测试研究。[/size][size=18px][color=#339999][b]4. 参考文献[/b][/color][/size][size=16px][1] 陈伟根,刘冰洁,胡金星,等.微弱气体光声光谱监测光声信号影响因素分析[J].重庆大学学报:自然科学版, 2011(2):7-13.[/size][size=16px][2] 张佳薇,谈志强,李明宝,等.气体流量对石英增强型光声光谱检测精度的影响[J].科学技术与工程, 2022(003):022.[/size][size=16px][3] Pinto D , Moser H , Waclawek J P ,et al.Parts-per-billion detection of carbon monoxide: A comparison between quartz-enhanced photoacoustic and photothermal spectroscopy[J].Photoacoustics, 2021, 22:100244.DOI:10.1016/j.pacs.2021.100244.[/size][size=16px][4] 娄存广,刘秀玲,王鑫,等.基于光声效应的气体检测系统及方法:CN202010511763.8[P]. CN111595786B[2023-11-10].[/size][size=16px][/size][size=16px][color=#339999][b][/b][/color][/size][align=center][size=16px][color=#339999][b]~~~~~~~~~~~~~~~[/b][/color][/size][/align]

  • 中为ZWL-S6超高精度光谱辐射计,全球同步发布

    随着LED产业日益成熟,国际、国内客户LED产品需求量的增加,消费者对于LED产品品质要求也越来越高,不仅强调发光效率,而且均匀性、一致性、显色性等指标也备受关注。无论是在LED背光领域,还是在LED照明领域,都需要更好光学量测设备,以解决量测方面的应用需要。此前,灵敏度高、测量精度准确,符合国际标准的高端检测设备,一直是国外设备处于主导地位。国内LED企业,为了生产出品质良好的LED产品,一套高端检测设备需要投入几十万甚至上百万,可是在售后的保障方面,由于时空距离,却并不能得到最快的响应。面对这种情况,LED业界对于具有国际水准、符合国际标准的国产高端检测设备充满期待。基于以上的种种原因,杭州中为光电技术股份有限公司(ZVISIONR)作为国际半导体照明装备领域领军企业之一,携手美国海洋光学(Ocean Optics),成功研发出全球领先的ZWL-S6超高精度光谱辐射计,首次真正打破了在高端测试机领域,国外设备厂商垄断的局面。将在满足客户的高端检测需求的前提下,大幅降低设备成本,同时以中为光电强大的服务实力为支撑,全力为中国LED行业加油!中为光电将于2011年8月30日在上海高工G20-LED峰会携手美国海洋光学(Ocean Optics)进行中国LED半导体装备领域设备首次全球同步发布!中为光电基础研究部总监殷源博士将在会议上分享中为光电(ZVISIONR)对于LED检测的最新观点与建议。高端应用环境首选中为ZWL-S6超高精度光谱辐射计系统:ZWL-S6超高精度光谱辐射计支持国际电工委员会(IEC)、国际照明委员会(CIE)、美国能源之星(Energy Star)、中国计量科学研究院(NIM)等权威检测标准;搭载中为F4M专利技术积分球、卓越的驱动电源、极致专业的夹具、权威的标准光源等顶级部件,可组成最高端的ZWL-3140Q超高精度颜色测量系统,能够有效的满足行业检测机构、企业实验室等高端应用环境对于光谱检测精度、稳定性、量测范围、测试速度、外观设计、软件功能等综合性能的高要求。同时,能够有效的降低高端设备的保有成本,为中国LED行业的发展贡献一份力量!

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  • 高精度高稳定性激光调整架
    高精度高稳定性激光调整架5OM60和5OM61是通用的,经久耐用的,超级稳定光学调整架,它提供高达3arcsec分辨率,广泛用于激光镜片调整。高精度高稳定性激光调整架独立倾斜,两水平轴为6°,灵敏度为3秒。线性平移为5mm,灵敏度为1μm。移动三分之一螺线管代替移动插座和枢轴轴承。高精度高稳定性激光调整架采用三个特殊弹簧块预装平台,大大提高工作稳定性。调整架采用螺旋管推动硬化钢座,并预留有一些M6安装孔。高精度高稳定性激光调整架5OM60有一个直径为42mm的通光口径。固定架5OM60和5OM61通过M6螺钉尖端可以安装到各种安装柱上。此外,高精度高稳定性激光调整架5OM60的背面有一个孔,使用该孔5OM60可以以水平面安装,作倾斜平台使用。平台底座有三个孔M10x1用于驱动螺钉,您可以选择使用。标准螺钉的间距为0.5mm。为了有更大的灵敏度,你可以选择要间距0.35或是0.25的螺线管。孚光精仪公司会根据您的要求对标准型号进行修改,即使只下一个订单也会提供该服务。高精度高稳定性激光调整架型号5OM60-SQ2 有一个50.8mm(2英寸)的方形框架5OM61-RN2 有一个50.8mm(2英寸)的环形框架高精度高稳定性激光调整架要用2到3个螺钉安装。有2个驱动螺钉的变体模型有一个直径8的圆球头作为第三个基准点。标准平台配备的螺钉是9S65M。下单不需要特别标明要购买该螺钉。如果您想购买其他螺钉,请在订单里标明,请将要购买的螺钉代号加在平台编号后面。5OM60-2-9S7C 和5OM61-2-9S127M-10高精度高稳定性激光调整架5OM60和5OM61的材质是黑色阳极氧化铝(默认),黑色成品钢(根据要求提供)。重量为0.35kg。高精度高稳定性激光调整架规格细螺钉安装螺纹 M10x1倾斜范围 6°灵敏度 3角秒线性平移 5 mm灵敏度 1 μm
  • PLUTO 高精度纯相位 空间光调制器
    PLUTO高精度纯相位空间光调制器系统 产品概述 PLUTO 纯相位调制器基于反射式LCoS微显示屏,分辨率:1920× 1080像素。结构紧凑,便于集成到光路中。有三种选择,分别是可见波段420nm~810nm、近红外波段800nm~1100nm和通讯波段1550nm。 特殊光学特征 纯相位调制 直到1550nm能实现2&pi 的相位调制 像素大小8&mu m 针对三个波段做了最优化处理 高效率/高填充率 主要参数 显示屏分辨率象素间距填充率寻址速率针频速率信号形式 应用领域 显示应用、成像&投影、光束分束、激光束整形、相干波前调制、相位调制、光学镊子、全息投影、激光脉冲整形等。 标准附件 高精度纯相位LCOS显示面板、数模转换驱动、电源、DVI数据线、RS232数据线、用户使用手册、驱动和应用软件、PCI卡,带2个DVI接口 有效面积 15.36mm× 8.64mm 像素数 1920× 1080 调制器光学头类型 反射式 相位变化范围 2&pi 弧度@420-850nm 像素间距 8um 图像帧速率 60 Hz 工作光谱范围 可见光(420-850nm) 填充因子 87% 调制类型 纯相位调制 标准附件 高精度纯相位LCOS显示面板、数模转换驱动、电源、DVI数据线、RS232数据线、用户使用手册、驱动和应用软件、PCI卡,带2个DVI接口 应用领域 显示应用、成像&投影、光束分束、激光束整形、相干波前调制、相位调制、光学镊子、全息投影、激光脉冲整形等。 The PLUTO phase only SLMs are based on reflective LCOS displays with 1920x1080 pixel resolution. They provide a pure phase shift of 2 Pi up to 1550 nm. The PLUTO devices are packaged in a compact housing (121x73x22 mm) to ensure an easy integration into optical setups. Pixel pitch: 8.0 µ m Resolution: 1920 x 1080 pixel High light efficiency Frame rate: 60 HZ HOLOEYE offers 3 versions optimized for the following wavelengths ranges: PLUTO-VIS: 420 &ndash 850nm PLUTO-NIR: 850 &ndash 1100nm PLUTO-TELCO: 1550nm
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