高精度光谱仪

产品简介高精度痕量气体分析仪（TGA-327）是一款专为半导体行业空气分子污染分析（AMC）测量氟化氢(HF)而设计的专业仪器，采用光腔衰荡光谱技术（CRDS），具有超高的灵敏度，其检测下限可达ppt级别。不需要现场校准，非常适合连续测量。 该分析仪内部管路都进行了特殊涂层，可以有效的减小氟化氢(HF)分子在管道壁上的吸附，加速测量的响应时间并消除测量偏差。同时分析仪采 用小体积腔设计，能够进一步提升测量速度。 光腔衰荡光谱（CRDS）与离子迁移谱（IMS）和离子色谱传统技术相比，具有探测下限低、响应时间快、无需耗材等显著优势，该分析仪具有更优的长期稳定性和低维护性，是半导体行业AMC连续监测的理想选择。产品特点（1）ppt级别的灵敏度、精度以及准确度（2）免标定，低漂移（3）响应时间快（4）连续监测（5）无耗材成本应用领域半导体行业AMC连续监测、洁净室监测、FOUP监测

产品简介高精度痕量气体分析仪（TGA-321）是一款专为半导体行业空气分子污染分析（AMC）测量氨气(NH3)而设计的专业仪器，采用光腔衰荡光谱技术（CRDS），具有超高的灵敏度，其检测下限可达ppt级别。不需要现场校准，非常适合连续测量。 分析仪内部管路都进行了特殊涂层，可以有效的减小氨气(NH3)分子在管道壁上的吸附，加速测量的响应时间并消除测量偏差。同时分析仪采用小体积腔设计，能够进一步提升测量速度。 光腔衰荡光谱（CRDS）与离子迁移谱（IMS）和离子色谱传统技术相比，具有探测下限低、响应时间快、无需耗材等显著优势，该分析仪具有更优的长期稳定性和低维护性，是半导体行业AMC连续监测的理想选择。产品特点（1）ppt级别的灵敏度、精度以及准确度 （2）免标定，低漂移 （3）响应时间快（4）连续监测 （5）无耗材成本应用领域半导体行业AMC连续监测、洁净室监测、FOUP监测

产品简介高精度痕量气体分析仪（TGA-323）是一款专为半导体行业空气分子污染分析（AMC）测量氯化氢(HCl)而设计的专业仪器，采用光腔衰荡光谱技术（CRDS），具有超高的灵敏度，其检测下限可达ppt级别。不需要现场校准，非常适合连续测量。 该分析仪内部管路都进行了特殊涂层，可以有效的减小氯化氢(HCl)分子在管道壁上的吸附，加速测量的响应时间并消除测量偏差。同时分析仪采用小体积腔设计，能够进一步提升测量速度。 光腔衰荡光谱（CRDS）与离子迁移谱（IMS）和离子色谱传统技术相比，具有探测下限低、响应时间快、无需耗材等显著优势，该分析仪具有更优的长期稳定性和低维护性，是半导体行业AMC连续监测的理想选择。产品特点（1）ppt级别的灵敏度、精度以及准确度 （2）免标定，低漂移 （3）响应时间快（4）连续监测 （5）无耗材成本应用领域半导体行业AMC连续监测、洁净室监测、FOUP监测

MCG-1000光谱仪是浙大三色与德国知名光学公司共同研发，在德国生产的研究级快速光谱辐射计。内部光学系统采用德国蔡司公司的专利陶瓷结构，探测器采用当前国际上最高精度的科学级CCD（日本HAMAMATSU制造），分光器为平场校正的凹面光栅，具有极宽的光谱范围（200nm~980nm），毫秒级的测量速度和研究级的测量精度。该设备既具有低杂散光性能，又能一次紫外可见全谱快速测量，广泛应用于测量光源或物体的光谱功率分布、色温、色品坐标、主波长、峰值波长、色纯度、色容差、显色指数、光通量、辐射功率等光度、色度量的快速高精度测量。

771系列高精度激光频谱分析仪771系列高精度激光频谱分析仪及波长计适合于用户在测试激光波长的同时希望分析激光的频谱信息。本设备可测试连续激光，准连续激光（重频10MHz）和脉冲激光（重复频率50KHz，脉冲宽度50ns）；375nm-12um波段均有合适的型号；用户可以非常方便的获得高精细度激光纵模结构，纵模稳定性，激光线宽等信息。771系列高精度激光频谱分析仪产品特点：●既可测量激光波长，又可同时分析激光的频谱信息；●可以获得高精细度激光纵模结构，纵模稳定性，激光线宽等信息；●波长绝对准确度高达±0.2ppm；●内置稳频He-Ne激光器实时校准 ；●工作范围可见光-远红外可选；●便捷的预准直光纤输入口；●USB接口电脑通讯，且提供指令包用于客户二次开发； 产品型号771A771B被测激光类型连续激光，准连续激光（重频10MHz）和脉冲激光（重复频率50KHz，脉冲宽度50ns）波长范围VIS：375-1100nmNIR：520-1700nmIR：1-5umMIR： 1-12umVIS：375-1100nmNIR：520-1700nmIR：1-5umMIR： 1-12um绝对精度 ±0.2ppm±0.75ppm±0.0002nm@1000nm±0.0008nm@1000nm±0.002cm-1@10,000cm-1±0.008cm-1@10,000cm-1±60MHz@300,000GHz±225MHz@300,000GHz频谱分辨率标准分辨模式：4GHz(8GHz for IR)高分辨模式：2GHz(4GHz for IR)内置校准源稳频He-Ne激光器标准He-Ne激光器显示位数9位8位显示单位nm，um，cm-1，GHz，THz输入方式VIS/NIR：光纤耦合输入IR／MIR：准直光输入 (带指示光)预热时间15分钟无需预热体积(H×W×L)VIS/NIR：142mm×165mm×381mmIR／MIR：191mm×165mm×381mm

品牌： 利特斯型号： 高精度光电直读光谱仪 WL8A制造商：贵阳利特斯仪器有限公司产品说明贵阳利特斯仪器有限公司是专业从事光学仪器研发、生产、销售、技术服务的高科技企业。公司具有自主研发能力，拥有多名光谱专家，在光学仪器、分析仪器领域有很强的技术优势。公司具有先进的加工工艺及质量保证体系。贵阳利特斯仪器有限公司高精度光电直读光谱仪 WL8A，广泛应用于金属冶炼和加工生产中做质量控制和质量检验。一、 高精度光电直读光谱仪 WL8A技术参数：一）光 源 ●高压受控引燃点火，确保光源的稳定性 ●分析精度高 ●火花架采用充氩保护 ●电容：0.25μF、0.5Μf、2μF、5μF 6μF ●电感：35μH、50μH、300mH、1H ●频率：100Hz，200Hz，400 Hz●放电电压：200V 300V 400V 可控 二） 高精度光电直读光谱仪 WL8A读出系统 ●采用多次分段积分法 ●12位A/D转换器，每秒25次高速采样，确保采集精度 ●前置单板机控制，标准的工业RS232接口。非常方便与标准计算机配接 ●读出系统精度：RSD≤0.1%●自带仪器各部分故障诊断功能，配接全中文windows分析软件，可自动完成故障诊断●接收采用日本Hamamatsu（滨松）光电倍增管 三） 高精度光电直读光谱仪 WL8A光学系统 ●巴邢—龙格架法，光栅焦距750mm 独立悬挂真空系统●波长范围：λ150nm-800nm●德国Zeiss（蔡司）光栅 刻线：2400g/mm 焦距：750mm 闪耀波长：190nm ●基本通道10个。(配置可达64个通道) ●光电倍增管高压1000V稳定度0.01% (负载变化100%)●特殊工艺加工的10um --70um 独立可调出射狭缝，精度高。四） 高精度光电直读光谱仪 WL8A样品台●火花台尺寸为110 X 75mm●放电室特殊设计，十分便于激发和省氩气●封闭火花室设计，避免火花辐射对人员的伤害●激发电极为钨电极或银电极五） 高精度光电直读光谱仪 WL8A分析软件●全中文windows下运行分析软件，设置分析参数，激发、冲洗、予燃爆光时间选择●自动完成●自动数据采集。二乘原理自动拟合工作曲线●分析曲线自动二点或单点标准●自动控样校正，一条分析曲线，可以选择多点控样校正●输出方式可选：强度、强度比率、浓度、校正浓度●在同一点可重复一次或多次激发，删除一次或多次激发结果●自动计算平均值，SD和RSD●校正元素间的干扰和背景修正●公用的标准物质库●测试结果可打印输出、存盘保存。打印格式可自己编排，也可生成Word文档等。进行保存●测试结果可以通过网络和计算机标准口进行远距离传输●软件附带故障诊断和自测试程序。自动生成的数据文件，可以远距离对仪器故障进行判断六）附件选项●特殊样品的分析夹具●铸铁白口化取样模七）供电电源●220V±10% 单相 10A 2KVA 要求有仪器接地线八）工作环境●温度范围: 5 ~ 42℃ 相对湿度：小于 75%九）数据处理系统 ●标准配置的品牌计算机 ●RS232通讯口、打印机十）外形尺寸（单位：mm） ●1250（L）×850（D）×1150（H） ●总重量：200kg 十一)氩气要求：●纯氩气, 99.999% 氩气减压阀（专配减压阀）●气压＞4MPa 出口仪器气压0.5MPa●铜管传输 高精度光电直读光谱仪 WL8A用于以下材料分析： ●黑色金属、生铁、铸钢、钢 ●C，Si，Mn，P，S，Ni，Cr，Ti,……等 ●有色金属、铝、锌、铜、镍、钴、镁、铅及其合金 ●Si，Fe，Cu，Mg，Mn，Ni，Pb，Sb，Bi，……等 ●特种合金

GL Spectrolux 光谱照度计能几秒钟内在LED显示屏上产生精确的测量结果，进行快速评估。手持便携式的光谱照度计可用于评估照明设施和LED灯具的快速控制，甚至支持应用和销售工程师去定量突出现代照明系统。光谱照度计应用于高端实验室、研发和进料质量控制，为照明专业人员提供简单可靠的光谱辐射照度测量仪，为行业应用需求提供相应的解决方案。稳健设计，性能优异，价格亲民手持光谱光度计：LED和其他光源技术需求快速发展，很多简单光谱辐射计不能满足高精度测量，作为光度测量仪器的引领者，我们设计的光谱照度计，在各种光源专业测量中，提供简单使用的专业光源测量的方案。光谱照度计是基于我们流行的Spectis 1.0 Touch而设计的,这个简单型号是为了即时测试照度、均匀性、色温、色坐标、光谱功率分布、LED显色指数、PAR/PPFD等而设计的。每一个设备都是经过校准的可溯源到国际参考标准，并配备实验室级别的测量探头，用于出色的精度和重复性测量，为工业设置新价格和性能标准。简单的照明检测：使用这个光谱照度计用于现场即时测量或者新光源的校准并提供带有具体设计要求的安装说明。质量光源产品：能控制你的光源产品和原件的质量，使用这个设备来检测你买的元件如：LEDs，驱动，镜头。当你展示它们给客户或终端用户的时候，为什么不使用这个设备作为一个销售工具去展示你的产品的优势。评估简单与调整：如果你在把舞台灯的色温精度、显色指数，或者是博物馆和工作室灯的设置到合适的照度值，这款设备很容易分析和调整光源参数。可在木板上测试均匀性选项，也是一个便携的手持式光度计。光谱照度计用途：在GL，我们致力于开发广泛应用的光测量专业仪器，打破正常的技术界限。我们的便携式测光度是为日常用户而设计的，不仅仅是高端实验室、研发或进料质量控制。随着LED照明市场变得更具竞争力，更专业的安装和解决方案提供给市场，可靠的现场测量需求也在增加。我们紧凑的装置有许多实际应用，为照明专业人员提供了一个简单但可靠的光谱测光表。这个手持的光谱照度计可以用于评估照明设施和LED灯具的快速控制，甚至支持应用和销售工程师去定量突出现代照明系统对客户的优势。最后，它也可以被用于对竞争对手的产品和设备竞争力的评估。反馈速度快：现代电子技术和高效的设计能在几秒钟内产生非常精确的结果。所有重要的指标都显示在LED显示屏上，让你更快地做出更好的评估。一流的特性：自成一体的手持式光谱仪暗电流补偿DIN B类测量头光度和辐射校正指标：可以测量以下参数：照度(lux)英尺烛光[fcd]光谱功率分布 380-780nmCRI-根据CIE的显色指数 以及IES的TM30相关色温[K]根据CIE 1931的色坐标光子通量密度的计算和光合有效辐射 [μmol]低价格，高性能：工业上最好的DIN B级余弦校准测量头是一个标准的附件，根据朗伯-余弦定律，使得光度测量仪能测量180度的测量环境。经久耐用：尽管Spectrolux光谱照度计价格吸引，并没有牺牲材料的质量。欧洲设计制造，这些构造坚固的设备无与伦比，为经受得起严峻考验而做好了准备。GL Spectrolux 光谱照度计特性：可信赖的，精确的，清晰直观的光谱仪器Spectrolux光谱照度计有着精确可靠的光学性能的同时，价格也很亲民。可靠的光测量不再局限于专家或外部实验室。我们预先配置独有校准的光测量仪器能提供快速而精确的结果。强大的报告和分析能力：包括的Spectrosoft Connect软件能对结果进行基本分析，并输出重要的数据报告。升级到我们行业领先的Spectrosoft Analysis Suite软件，使您的分析达到新的高度。这一灵活、易于使用的工具提供了完全自定义报告选项，扩展的分析功能，以及独特的工具如照明审核自动化和光谱混合器。规格光谱范围340-780nm探测器CMOS 成像传感器像素数256物理分辨率~ 1.7nm波长重复性0.5nm积分时间5ms to 10s模数转换16 bits信噪比1000:1杂散光2*10E-3光谱辐射精度*4%照度**1 lx to 200.000 lx辐照度0.03 to 600 w/m2色彩坐标（x.y）的测量不确定性0.0015*校准后绝对测量不确定度。预期的不确定性对应于覆盖概率为95%，覆盖系数k＝2。**低于5lx的测量可能需要定制后才可获得注明规格，请与技术销售人员讨论。注：仪器、固件及软件规格如有变更，恕不另行通知。 GL OPTIC数据表中的所包含的信息以任何形式提供的产品信息都经过精心准备，并包含真实的信息。请注意，由于文字和/或其他错误或现有技术的更改，可能会出现差异。我们建议在使用该产品之前与GL OPTIC联系，以获得最新的产品规格。GL Spectrolux 光谱照度计能几秒钟内在LED显示屏上产生精确的测量结果，进行快速评估。手持便携式的光谱照度计可用于评估照明设施和LED灯具的快速控制，甚至支持应用和销售工程师去定量突出现代照明系统。光谱照度计应用于高端实验室、研发和进料质量控制，为照明专业人员提供简单可靠的光谱辐射照度测量仪，为行业应用需求提供相应的解决方案。

HAM-300 高精度光谱雾度计主要用于材料透光率、雾度以及材料在特定光源下光色性能测试，一体化设计，夹持样品的空间大，满足不同尺寸样品的测试需求，依据ASTM D1003，GB/T 2410，ISO14782、JIS K7136、JC/T2130-2013，JIS K7105-81等标准的要求。? 主要特点l 采用高精度制冷型光谱仪，实现380-780nm波段光谱、雾度和透光率的精确测量；l 一体化设计，操作简单；l 配备功能清晰的上位机软件，使用方便，结果清晰；l 内置积分球采用远方特有的诗贝伦涂层，性能更加稳定，寿命更加长久。? 主要技术指标：l 测量功能：光谱透射率曲线、总透光率、散射透光率、平行透光率、雾度、色坐标、色温、黄色指数YI等l 透射照明/接收条件：0/d；l 测量腔体容积：长度≤A4纸大小，厚度≤150mml 标准光源：满足CIE标准照明体A、C和D65及客户自定义光源。l 透光率测量范围：0%-100.00%l 适用的被测样品范围：长*宽≤A4纸大小，厚度≤150m

主要包括：1）远方HAM-300高精度光谱雾度计硬件2）远方雾度分析系统软件V2.00_HazeSuiteHAM-300 高精度光谱雾度计主要用于材料透光率、雾度以及材料在特定光源下光色性能测试，一体化设计，夹持样品的空间大，满足不同尺寸样品的测试需求，依据ASTM D1003，GB/T 2410，ISO14782、JIS K7136、JC/T2130-2013，JIS K7105-81等标准的要求。主要特点采用高精度制冷型光谱仪，实现380-780nm（可定制380nm-1000nm）波段光谱、雾度和透光率的精确测量；一体化设计，操作简单；配备功能清晰的上位机软件，使用方便，结果清晰；内置积分球采用远方特有的诗贝伦涂层，性能更加稳定，寿命更加长久。主要技术指标：测量功能：光谱透射率曲线、总透光率、散射透光率、平行透光率、雾度、色坐标、色温等透射照明/接收条件：0/d；测量腔体容积：长度≤A4纸大小，厚度≤150mm标准光源：满足CIE标准照明体A、C和D65及客户自定义光源。波长范围：380nm-780nm（可定制380nm-1000nm）；波长准确度：±0.3nm；波长重复性：±0.2nm波长间隔：可到1nm 透光率测量范围：0%-100.00%透光率准确度：≤±1%；分辨率：0.01%测量重复性：≤0.1单位，分辨率：0.01雾度全程零点漂移：≤0.1 单位（预热后5分钟内）。适用的被测样品范围：长*宽≤A4纸大小，厚度≤150mm。照明/样品孔径尺寸：Φ16mm/Φ20mm；外形尺寸（宽×高×长）340mm×356mm×624mm? 典型应用：

SCD-2000采用世界先进的全息凹面平场光栅（590g/mm）具有极宽的光谱范围（280nm~900nm），毫秒级的测量速度和实验室的测量精度。经像差校正的凹面平场光栅提供卓越的光谱。无反光镜，再加上谱面上一体安装的优质带通滤光器，杂散光达到世界上任何平场光谱辐射计的最低值。在高等级光谱仪中，任何反光镜、透射光学装置的介入都会明显增加杂散光。该设备既具有极低杂散光性能，又能一次全谱快速测量，是优于同类仪器的显著特点。广泛应用于测量光源或物体的光谱功率分布、色温、色品坐标、主波长、峰值波长、色纯度、色容差、显色指数、光通量、辐射功率等光度、色度量的快速高精度测量。

仪器简介: HPCS6500高精度光电检测系统，台式光纤光谱仪，整机采用铝合金底盘，嵌入式系统，高精度制冷CCD，10.1寸彩色液晶触控屏，人机交互使用更方便。该系统具有内置高精度光谱仪，起爆测试仪，精密直流电源，交流电源，高精度数字功率表。一台机器代替传统五台机器的测试系统，简单操作方便快捷。光色电综合测试系统HPCS6500高精度光色电综合测试系统，整机采用合铝金机箱，内嵌高速处理器，10.1寸彩色液晶屏，全屏电容触摸，方便人机交互。系统内置高精度光谱分析仪，频闪和启动测试仪，精密直流稳压恒流电源，精密交流变频测试电源，高精度电参数测量仪，一台机器就是传统的5台机器组成的测度系统。无需要电脑即可直接操作使用。设备详细信息1、HPCS6500快速光色电一体式测试系统● 内置60V,5A恒流源。A、应用功能：●基于windows操作系统人机交换界面良好；标准SMA905光纤接口，CCD高速光谱；精度高，测试快，使用方便；可连接打印机打印测试报告，Excel保存数据，利于分析；一台主机配置相关装置，完全满足光源的光色电各种性能测试与分析等相关试验。适用于实验室、质检部门研发测试，也可使用于生产线快速测试.自动化集成度高，分档设定。B、性能参数：● 测量LED的光谱功率分布,色品坐标,相关色温,显色指数,色温差、色域指数、逼真度指数、峰值波长、光谱半宽度、主波长、色纯度、光通量、光效、光色电性能参数；● 仪器智能化程度高，测试稳定性，重复性高，完全满足CIE对光和颜色的测量要求；●技术指标如下：名称功能参数范围速度测试速度5ms-2s光参数测试光通量测量范围10mlm～50000lm光度测量精度一级波长范围380~780nm波长准确度±0.3nm色参数测试色温测量范围1000K—100000K分辩率1K色温准确度±0.5%色品坐标准确度±0.0015显色指数测量范围0-100显色指数测试误差±(0.5%rd+0.5)色容差准确度±0.5SDCM 仪器软件操作界面： 2、高分子导光纤维● 用于积分球与HP系列光谱分析系统的光信号传输。 3、OSRAM通用标准光源（色温/光通量） ● 在标定的工作电流下具有稳定的可复现的色温（光谱分布）及光通量，用于光谱分析系统的色温（光谱分布）及光通量定标，量值可溯源至中国计量院； 4、测光积分球(特殊工艺喷涂) 1.5米积分球 0.3米积分球 ● 设计完全符合相应国际及国内标准的要求,内壁涂层主要材料选用分析纯硫酸钡（BaSO4）,化学稳定性好，日久不易泛黄；球体材料选用冷轧钢板，不易变形；底座高度可调，能确保积分球的水平放置；多个接口可满足光源多项测试同时进行。（以实物为准） 5、一体式数字电参数测量仪（交直流适用型）技术特性：● 四窗口显示：电压、电流、功率、功率因数/频率；● 所有测量值均为“真有效值”； 自动设置量程；● 具备交流、直流、交直流测量功能功能计量/范围计量精度备注电压DC：75V/150V/300V/600V0.5级±（0.4%+0.1%+1）AC ：35/75V/150V/300V0.5级电流DC：0.5A/2A/8A/20A0.5级AC ：0.3A/1.2A/5A/20A0.5级功率因数-1.000~1.0000.5级基频45Hz-130Hz，带宽：5KHz0.5级 6、精密交流稳压变频电源 ●高精度稳频稳压,旋钮式快速调节电压、频率 ●高精度显示：电压、电流、频率、有功功率、功率因数●电路方式：IGBT/PWM脉冲宽度调制方式●交流输入：单相220V/50Hz,60Hz●输出频率：45～70Hz●负载稳压率：±0.5%●波形失真度：≤1.5%(阻性负载)●频率稳定度：≤0. 01%●反应时间：顶峰值2ms●数位频率表：4位数 解析度0.1Hz●数位电压表：4位数 解析度0.1V●数位电流表：4位数 解析度4A以下：0.001A 4A以上：0.01A●数位功率表：4位数 解析度200W以下：0.1W 200W以上：1W●功率因数：4位数 解析度0.001●保护装置：输入无熔丝开关、输出无熔丝开关、电子电路快速侦测过电压、过电流、过载、过高温&短路并自动跳脱保护及告警装置。●电路方式：IGBT/PWM脉冲宽度调制方式●交流输入：单相220V/50Hz,60Hz●输出顶峰电流：0-150V档为4.2A；0-300V档为2.1A； 7、高精度一体式光谱仪 ● 整套光电仪器合成壹个整体，节省空间。不仅读数接线方便，而且美观大方，易于控制操作，抗电磁干扰性能更好，配合10.1寸大屏幕散热风扇，符合国际潮流。 8、LED灯珠测试夹具 ●采用铝合金、优质塑胶材料，精湛工艺制作，散热性好。配合积分球，用于单颗LED贴片固定，大小可调，安装操作方便，测试效率高。

leetes高精度火花直读光谱仪WL8A-Pro 高精度火花光电直读光谱仪WL8A-Pro广泛应用于金属冶炼、加工中的质量检验与控制 稳定、高效外形尺寸：1200×850×1150mm重量：200kg高精度火花光电直读光谱仪WL8A-Pro可用于以下材料分析：v 黑色金属：生铁、铸铁、铸钢、钢及钢合金等v 有色金属：铝、锌、铜、镍、钴、镁、铅等v 特种合金 高精度火花光电直读光谱仪WL8A-Pro的全中文分析软件全频双脉冲变相火花参数设置，单脉冲能量采集自动设置参数激发、冲洗、预燃曝光时间自动采集数据最小二乘原理自动拟合工作曲线自动分析结果曲线二点或标准化单点自动计算均值SD与RSD自动校正标样一条分析曲线，多点控样校正校正元素间的干扰和修正背景输出方式多样强度、强度比率、浓度、校正浓度、专用报表输出格式故障诊断程序自测试，可远程数据包诊断故障分析结果可编辑打印、保存、网络输出高精度火花光电直读光谱仪WL8A-Pro产品说明火花台尺寸：110×75mm放电室特殊设计，便于激发和省氩气封闭火花室设计，避免火花辐射火花激发系统：激发误差是直读光谱仪分析中的主要误差，对火花激发系统中光源稳定性要求异常严格。WL8A-Pro 的火花光源采用业内前沿的激发光原理，具有以下特点：v 激发电路中无电阻部件，不发热，提高热稳定性；v 低压火花放电，增加系统可靠性v 减少维护保养，仅需清洗火花架检测器：光电倍增管（PMT和SiPMT）光源：全频数字火花激发光源，确保光源的稳定性分析精度高火花架采用充氩保护放电双脉冲可调:1us--200us（软件控制）电感：20uH、50uH、100uH频率：100--1000Hz 连续可调（软件控制）放电电压：100V、200V、300V可调光学系统：巴邢--龙格架法，光栅焦距750mm独立悬挂真空系统波长范围：150nm--800nm10um--70um 独立高精度可调出射狭缝读出系统：超高速数字采集器，100万次/秒，采用多次分段积分法和单火花信号采集16位A/D转换器，100khz/秒高速采样，确保采集精度自动故障诊断，全中文windows 分析软件leetes高精度火花直读光谱仪WL8A-Pro的应用领域冶金、铸造、机械、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空、核电、金属有色冶炼、加工和回收工业中的分析。铸造行业:主要用作铸造过程中的（炉前炉后）金属和合金材料中的元素分析和组分检测,便于质量控制和出厂品质 废品回收行业:主要用作检测回收物品中某些元素的含量多少，辅助确定废料的进出价格 零件加工行业:主要用作进厂原材料品质的鉴定和加工成品的成分变化检测 高校、理化实验室:主要用作进厂原材料品质的鉴定和加工成品的成分变化检测 金属加工和制造业：用于金属原材料、半成品和成品的质量控制，例如钢铁、铜、铝、锌等金属制品的检测和分析。 航空航天工业：用于飞机发动机、火箭发动机、飞行器部件等材料的分析和检测，以确保其性能和质量。高精度火花光电直读光谱仪WL8A-Pro的可检测基体铁基、铜基、铝基、镍基、钴基、镁基、钛基、铅基、锡基、银基等。

MCS-1000 采用世界领先的平场凹面光栅和低杂散光M型光学结构，具有极低杂散光、高衍射效率；配合日本HAMAMATSU电子冷却科学级二维CCD列阵探测器，以及低噪声、高灵敏度放大器，使该光谱仪具有极宽的光谱范围，毫秒级的测量速度和实验室级的测量精度。该设备的硬件全部在日本精密光学实验室装调，与同类CCD光谱仪相比，具有更高的可靠性、更高的测量精度；尤其对各种光谱类型的LED测量，同时具有毫秒级的高速、高精度的光度和色度测量性能。MCS-1000具有内置触发和外置触发功能，可以方便地测量脉冲光源、LED瞬态发光特性等。

HY-UVA8000S高精度超微型光纤光谱仪简介：尺寸(L,W,H): 89mm x 63mm x 27mm重量： 0.2kg功率：1W波长精度 :±0.1nm波长范围：165nm~1100nm适用范围辉因科技研发的超小尺寸光纤光谱仪，更加易于手持及小型设备集成。适用于光谱分析、颜色测量、LED分光、分光光度计、色谱、污水处理、卫星遥感等行业。项目参数备注尺寸(L,W,H)89mm x 63mm x 27mm重量0.2kg功率1w光学系统非对称光学系统（变形切尔尼-特纳系统）通用光学平台结构扩展光学检测器滨松系列背照式CCD/Sony/东芝探测器采样点2048/3648波长范围165~1100 nm可定制200~400/200~800/400~1100nm动态比15000:1 (typical)优于Maya2000，可替代QEPro量子效率700纳米时约85%；1000纳米时为40%波长带宽1nm/(50um狭缝和600线光栅)狭缝也可定制 ，配合不同有光栅和狭缝可实现0.2nm-5nm带宽调节波长准确性±0.25nm波长线性度99.97%波长重现性±0.１nm杂散光0.02 % 以下 （220 nm，NaI）0.02 % 以下 （340 nm，NaNO2）1 % 以下 （198 nm，KCl）噪声水平小于0.00005 Abs灵敏度50000counts 汞灯 at 200us吸光度测试范围0.00001AU~4AU0.01mAU~4000mAU测试速度积分时间+10ms采集一帧数据7ms+3ms传输时间积分时间100us~60s100微秒~60秒USBDEV1路Usb2.0通信接口( 带USB芯片隔离)可选usb3.0通信USB供电支持USB供电，不需单独连接电源光电隔离带光电隔离隔离静电AD电压输入高精度16位AD外部扩展口10针外部扩展口，支持脉冲氙灯，最大频率可到1000HZ 支持串口(RS232 波特率115200)、独立供电、双向触发、可为工业用户提供USB插针接口通信指令自定义优化指令设计，对外提供通过测试开发库包含.net格式、及C/C++DLL格式，提供示例源码。可用于二次开发。标准支持软件标准HYCCD-AnalySystem测试系统可在Win XP,Win Vista、Win7、Win8、Win10使用扩展软件可以与HY-DataAnalysis色谱工作站连接。支持全部输入输出功能，并支持数据处理功能，定量计算，分析打印报告等！可在Win XP,Win Vista、Win7、Win8、Win10使用

HY-UVA8000科学级高精度微型光纤光谱仪简介：尺寸(L,W,H): 110mm x 70mm x 40mm重量： 0.5kg功率：1W波长精度 :±0.1nm波长范围：165nm~1100nm适用范围辉因科技研发的小尺寸科学级高敏光纤光谱仪，灵敏度更高，噪声更小。适用于光谱分析、颜色测量、LED分光、分光光度计、色谱、污水处理、卫星遥感等行业。项目参数备注尺寸(L,W,H)110mm x 70mm x 40mm重量0.5kg功率1w光学系统非对称光学系统（变形切尔尼-特纳系统）通用光学平台结构扩展光学检测器S11639背照式CCD采样点2048波长范围165~1100 nm可定制200~400/200~800/400~1100nm动态比15000:1 (typical)优于Maya2000，可替代QEPro量子效率700纳米时约85%；1000纳米时为40%波长带宽1nm/(50um狭缝和600线光栅)狭缝也可定制 ，配合不同有光栅和狭缝可实现0.2nm-5nm带宽调节波长准确性±0.25nm波长线性度99.97%波长重现性±0.１nm杂散光0.02 % 以下 （220 nm，NaI）0.02 % 以下 （340 nm，NaNO2）1 % 以下 （198 nm，KCl）噪声水平小于0.00005 Abs灵敏度50000counts 汞灯 at 200us吸光度测试范围0.00001AU~4AU0.01mAU~4000mAU测试速度积分时间+10ms采集一帧数据7ms+3ms传输时间积分时间100us~60s100微秒~60秒USBDEV1路Usb2.0通信接口( 带USB芯片隔离)USB供电支持USB供电，不需单独连接电源光电隔离带光电隔离隔离静电AD电压输入高精度16位AD外部扩展口10针外部扩展口，支持脉冲氙灯，最大频率可到1000HZ 支持串口(RS232 波特率115200)、独立供电、双向触发、可为工业用户提供USB插针接口通信指令自定义优化指令设计，对外提供通过测试开发库包含.net格式、及C/C++DLL格式，提供示例源码。可用于二次开发。标准支持软件标准Ｈyccd-AnalySystem测试系统可在Win XP,Win Vista、Win7、Win8、Win10使用扩展软件可以与HY-DataAnalysis色谱工作站连接。支持全部输入输出功能，并支持数据处理功能，定量计算，分析打印报告等！可在Win XP,Win Vista、Win7、Win8、Win10使用

高精度紧凑型光谱共焦传感器探头IFS2406系列，以其超高的测量精度和紧凑的几何尺寸脱颖而出。该系列光谱共焦传感器适用于测量反光面和透明物体，探头也可以用于检测透明薄膜，板材和涂层的厚度。源于其特别的轴向和径向测量方式，IFS2406-2.5适合真空环境应用以及其他多种应用领域。-量程(mm):2.5|10-线性度最大0.75μm-分辨率最大0.024μm-距离检测-微小测量光斑-真空适用探头

普创/paratronix高精度玻璃偏光应力仪-SG-03S产品介绍：普创/paratronix高精度玻璃偏光应力仪-SG-03S采用高精度角度编码器测量角度， 测量数据直接显示在显示屏上，具有测量精度高、直观易 读、无需校准、绿色节能等优点，是替代传统度盘式应力仪的最佳选择。测试原理：普创/paratronix高精度玻璃偏光应力仪-SG-03S是应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应 用1/4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确的测 量出玻璃的内应力数值。产品特征：● 针对传统度盘式应力仪及数显应力仪进行了针对性改进，提高了测量精度和应用体验，具有测量精度高、无需校零及绿色节能等先进特点 ● 高精度测量： 本产品采用高精度绝对式角度编码器进行测量， 测量精度优于2nm ● LED显示屏双数值显示：显示窗采用高清晰 LED 显示屏，可同时显示测量角度及光程差数值， 用户可直观获得所需数据， 测量直观易读 ● 暗视场无需校准。采用了绝对式编码器， 偏振场的暗视场总是处于零角度点， 因此无需用户校对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差 ● 绿色节能：采用更加节能环保的LED光源，相对传统光源节能80%以上 ● 产品模块化设计，符合人体工程学操作，便于维护和维修技术参数：测量精度 ±2nm 复零误差 ±2nm 光程差示值 0.1nm 角度示值 0.1゜ 偏振场直径 150mm 视场光亮度 120cd/m2 检偏镜旋转角度 360°（±180°） 偏振场间距调整范围 150-330mm 光源 LED 色温 3500K 功率 ＜8W 电压 AV 220V 50Hz 体积 270 L * 290 D * 530 H(mm) 重量 ＜8kg产品标准：● GB/T 4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》 ● GB/T 12415 《药用玻璃容器内应力检验方法》 ● GB/T 15726 《玻璃仪器内应力检验方法》● JC/T 655 《石英玻璃制品内应力检验方法》 ● YBB00162003 《国家药品包装容器（材料）方法标准 内应力测定法》 ● ASTM C148 (Standard Test Methods for Polariscopic Examination of ● Glass Containers)（玻璃容器偏振镜检查的试验方法）普创/paratronix高精度玻璃偏光应力仪-SG-03S 普创/paratronix高精度玻璃偏光应力仪-SG-03S

普创/paratronix高精度玻璃偏光应力仪-SG-03S产品介绍：普创/paratronix高精度玻璃偏光应力仪-SG-03S采用高精度角度编码器测量角度， 测量数据直接显示在显示屏上，具有测量精度高、直观易 读、无需校准、绿色节能等优点，是替代传统度盘式应力仪的最佳选择。测试原理：普创/paratronix高精度玻璃偏光应力仪-SG-03S是应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应 用1/4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确的测 量出玻璃的内应力数值。产品特征：● 针对传统度盘式应力仪及数显应力仪进行了针对性改进，提高了测量精度和应用体验，具有测量精度高、无需校零及绿色节能等先进特点 ● 高精度测量： 本产品采用高精度绝对式角度编码器进行测量， 测量精度优于2nm ● LED显示屏双数值显示：显示窗采用高清晰 LED 显示屏，可同时显示测量角度及光程差数值， 用户可直观获得所需数据， 测量直观易读 ● 暗视场无需校准。采用了绝对式编码器， 偏振场的暗视场总是处于零角度点， 因此无需用户校对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差 ● 绿色节能：采用更加节能环保的LED光源，相对传统光源节能80%以上 ● 产品模块化设计，符合人体工程学操作，便于维护和维修技术参数：测量精度 ±2nm 复零误差 ±2nm 光程差示值 0.1nm 角度示值 0.1゜ 偏振场直径 150mm 视场光亮度 120cd/m2 检偏镜旋转角度 360°（±180°） 偏振场间距调整范围 150-330mm 光源 LED 色温 3500K 功率 ＜8W 电压 AV 220V 50Hz 体积 270 L * 290 D * 530 H(mm) 重量 ＜8kg产品标准：● GB/T 4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》 ● GB/T 12415 《药用玻璃容器内应力检验方法》 ● GB/T 15726 《玻璃仪器内应力检验方法》● JC/T 655 《石英玻璃制品内应力检验方法》 ● YBB00162003 《国家药品包装容器（材料）方法标准 内应力测定法》 ● ASTM C148 (Standard Test Methods for Polariscopic Examination of ● Glass Containers)（玻璃容器偏振镜检查的试验方法）高精度玻璃制品偏光应力仪-SG-03S普创/paratronix 高精度玻璃制品偏光应力仪-SG-03S普创/paratronix

RA-620高精度数字式折光仪/糖度计Refractometer / Brix Meter 测量范围(nD): 1.32000~1.58000。温度控制: 帕尔帖恒温控制5~75°C。术语和定义:光线自一种透明介质进入另一种透明介质时，产生折光现象，这种现象是由于光线在各种不同的介质中进行的速度不同造成的。折光率系指光线在空气中传播的速度与在其它物质中传播速度之比值。折光率refractive index在钠光谱D线、20°C的条件下，空气中的光速与被测物中的光速的比值或光自空气通过被测物时的入射角的正弦与折射角的正弦的比值。方法原理:当光从折光率为n被测物质进入折光率为N的棱镜时，入射角为i，折射角为r，则:Sin i / Sin r = N / n…(1)在折射仪中，入射角i= 90°，代入式(1)得:1 / Sin r = N / nn = N Sin r…(2)棱镜的折光率N为已知值，则通过测量折射角r，即可求出被测物质的折光率n。RA-620高精度数字式折光仪/糖度计 标准方法:SH/T 0724-2002 液体烃的折射率和折射色散测定法SH/T 0205-1992 电气绝缘液体的折射率和比色散测定法GB/T 6488-2008 液体化工产品 折光率的测定(20°C)GB/T 614-2021 化学试剂 折光率测定通用方法ASTM D1218-21 Standard Test Method for Refractive Index and Refractive Dispersion of Hydrocarbon Liquids(液态烃的折射率和折射分散度的测试方法)ASTM D5006-11(2021) Standard Test Method for Measurement of Fuel System Icing Inhibitors (Ether Type) in Aviation Fuels(测量航空燃料中燃料系统结冰抑制剂(醚型)的试验方法)ASTM D1569, ASTM D1992, ASTM D2140, ASTM D4056, ASTM D4095, ICUMSA:GS 4/3-13, OIML:R 124 ISO 1743:1982 Glucose syrup - Determination of dry matter content - Refractive index method(葡萄糖浆固体物质的含量测定折光率法)RA-620高精度数字式折光仪/糖度计 主要特点：1. 全自动折光仪具触摸式液晶屏，同时显示折光率、糖度、浓度。2. 内置帕尔贴自动恒温控制，外形轻巧，操作容易，测定速度快。3. 使用高亮度LED光源使用寿命长，测量棱镜为蓝宝石材质耐磨损。4. 全自动折光仪，符合GLP规范，存储测量结果、检查和校正纪录。5. 输入折光率和温度对照表或多项式，自动补偿至需求温度折光率。6. 内置糖度换算表。可输入折光率和浓度对照表或多项式换算浓度。7. 标配样品防挥发盖板，可防止易挥发性的样品造成检测时的影响。8. 外接数字式密度计和多样品自动进样器，同时测量密度和折光率。9. 中文的界面，简易直观的操作，高精度的测定结果和超高性价比。RA-620高精度数字式折光仪/糖度计 技术参数：测定方式: 光折射臨界角检出方式。光源: LED钠光谱D线(589.3nm)。测量范围: 折光率: 1.32000～1.58000nD, 白利糖度(Brix): 0.00～100.00%(ICUMSA1974)。准确度: 折光率: ±0.00002nD，白利糖度(Brix): ±0.014%(0～85%)。重复性: 折光率: ±0.00001nD，白利糖度(Brix): ±0.007%(5%)，±0.01%(≧5%)。分辨率: 折光率: 0.00001nD，白利糖度(Brix): 0.001%(5%)，0.01%(≧5%)。温度控制范围: 5～75°C，内置帕尔贴控温装置。温度分辨率: 0.01°C。最小样品量: 0.2mL。接触样品材质: 蓝宝石棱镜，不锈钢SUS316样品台。显示: 4.7寸彩色背光液晶显示器。控制方式: 触摸屏控制方式。触摸屏: 中文、英文或日文操作系统。数据存储: 测量方法: 100组，测量结果: 300组，校正/检查记录: 20组。外部存储: U盘存储。温度补偿: 可输入温度换算表或转换系数，执行温度补偿。浓度换算: 可输入100组折光率和浓度换算表或输入换算系数，执行浓度换算。浓度转换: 内置可溶性固形物含量(Brix)和果葡糖浆(HFCS42/55/90)转换表。界面: LAN，USB，RS-232C。电源: AC100～240V，50/60HZ, 20W。或外接充电电池。尺寸: 191(W)x281(D)x161(H)mm。重量: 约5公斤。

Redback Systems公司推出的RS系列高精度中阶梯光栅光谱仪（由杭州谱镭光电技术有限公司代理）基于先进的中阶梯光栅技术和新一代的索尼STARVIS CMOS传感器技术，具有很高的近红外灵敏度，其波长分辨率达到pm量级！这意味着RS系列中阶梯光栅光谱仪对信号光谱波长变化敏感，可以实现光谱的精细分辨，是光谱应用的理想选择。Redback Systems 高精度中阶梯光栅光谱仪RS10KRS系列中阶梯光栅光谱仪使用中阶梯光栅和次级交叉色散元件（与中阶梯光栅矢量正交旋转）的组合，将输入光高度分散到2D CCD或CMOS阵列上。这种布置允许同时实现宽光谱覆盖范围和高光谱分辨率。RS系列光谱仪因其卓越性能，适用于元素光谱分析、量子源光谱、等离子体光谱等应用。RS系列光谱仪应用-等离子体光谱-光源特性（激光器纵模检测）-荧光、弱光探测-拉曼光谱探测-原子、分子光谱仪-干涉测量光谱（光纤传感）RS10k光谱应用实例下面的光谱展示了RS10k中阶梯光栅光谱仪的性能。每个光谱都是在单次拍摄中采集的，包含450-1030 nm范围内的数据。等离子体光谱：SF6/O2 等离子体光谱在微纳加工中，需要了解等离子体室中的变化。 RS10k 光谱仪可以看到光指纹，实时揭示化学和表面科学正在发生的情况。下图为ARC量子计算和通信技术卓越中心（悉尼新南威尔士大学）的一些测试结果，他们正在为量子计算机微加工硅。光源特性测试：二极管激光器纵模检测下图显示了中心峰值波长为 650±20 nm 的廉价光纤故障检测器的光谱。原子分子光谱仪：太阳光谱太阳光谱包括数千条吸收线，由太阳大气中的不同元素引起，可用于研究太阳的成分和温度。下图显示了太阳光谱的300nm 宽部分和突出特征（例如双峰钠）的详细图。太阳光谱是在将单模光纤指向太阳时获取的。RS系列光谱仪配套软件Redsolve 通过配套的光谱仪软件，用户可以实现数据实时记录、光谱细节分辨、颜色模式转换、数据导入导出、软件二次开发等功能。 记录功能使用安装向导安装 Redsolve 后，只需单击一下即可记录数据。如果需要调整设置以改善单模光纤的光耦合，可以打开实时取景以近乎实时地查看变化。细节分辨 光谱仪记录了大量数据。Redsolve专注于构建一个界面，使用户可以探索数据的更精细细节。用户可以根据需要创建任意数量的感兴趣区域（ROI），它们将在获取新数据时自动加载新数据。同时，RedSolve 始终显示完整的跟踪轨迹。导出导入功能 数据以常规、可读、无附加字符串的.csv 格式保存。软件内置了一个简单的绘图工具。如果您想可视化或探索已记录的数据，只需将保存的.csv 文件加载回 Redsolve。颜色模式转换软件适配性强，针对用户的实验场景不同，可以在浅色模式和深色模式自由之间切换，以进行弱光实验。二次开发基于 Python 的 API 可以轻松实现测量自动化，并将光谱学无缝集成到您的工作流程中。根据后处理和分析捕获数据。RS系列高精度光谱仪优点-体积小，结构紧凑，RS10k光谱仪仅有手机大小-探测范围几百纳米-大带宽下可达到pm量级分辨率-接入光信号不依赖极化-免许可控制软件(RedSolve)-Python API接口(RedMote)RS系列高精度光谱仪主要参数指标产品型号RS10k光谱范围450-1030 nm分辨力（R=λ/dλ）17000-10000波长稳定性＜10 pm/℃波长精确度＜50 pm信噪比350:1光纤输入单模光纤 FC/PC接口探测器非制冷CMOS 曝光时间0.001-60 s暗电流＜ 0.5 e-/pixel/s读出噪声＜ 2 e-/pixel(rms)数据获取速率高达10Hz体积（H×W×L）40mm×78mm×120mm

Redback Systems公司推出的RS系列高精度中阶梯光栅光谱仪（由杭州谱镭光电技术有限公司代理）基于先进的中阶梯光栅技术和新一代的索尼STARVIS CMOS传感器技术，具有很高的近红外灵敏度，其波长分辨率达到pm量级！这意味着RS系列中阶梯光栅光谱仪对信号光谱波长变化敏感，可以实现光谱的精细分辨，是光谱应用的理想选择。Redback Systems 高精度中阶梯光栅光谱仪RS40K型号RS40k探测波长范围430-950 nm。RS40k 可以同时记录整个 VIS-NIR 范围内的光谱。RS系列光谱仪提供了高达几十pm量级的分辨率，体积小巧紧凑易于集成，内部无机械活动部件，提高了系统的稳定性，采用单模光纤FC/PC接口收集光信号，探测范围内的光谱分辨率（R=λ/dλ）均可达到10000以上，其配套的软件具有强大的数据处理能力。RS系列光谱仪应用-等离子体光谱-光源特性（激光器纵模检测）-荧光、弱光探测-拉曼光谱探测-原子、分子光谱仪-干涉测量光谱（光纤传感）RS40k光谱应用实例下面的光谱展示了RS40k中阶梯光栅光谱仪的性能。每个光谱都是在单次拍摄中采集的，包含430-950 nm范围内的数据。钍-氩光谱钍氩 （Th-Ar） 通常用于校准高分辨率光谱仪。这些元素在紫外、可见光和近红外线中发出明亮、清晰的窄光谱线。通过将少量钍和氩加热到高温，使它们发光。由此产生的光谱包含100条明亮的发射线，可用作识别和测量光谱中其他光源波长的精确参考。钠谱钠光谱中突出的特征是明亮的黄色线对，称为钠双峰。双合态是由钠原子中两个能级之间的电子跃迁引起的。588.9950 nm （Na-D2） 和 589.5924 nm （Na-D1） 的两条谱线在 R~40,000 分辨力下易于识别且分离良好。霓虹光谱当对装有氖气的管子施加高压时，气体被激发并发光，产生独特的光谱。霓虹灯光谱由明亮、发光的红色、橙色、黄色、绿色、蓝色、靛蓝色和紫色线条组成。这些颜色对应于氖气发出的特定波长的光。霓虹灯光谱中突出的颜色是深红橙色。RS系列光谱仪配套软件Redsolve 通过配套的光谱仪软件，用户可以实现数据实时记录、光谱细节分辨、颜色模式转换、数据导入导出、软件二次开发等功能。记录功能使用安装向导安装 Redsolve 后，只需单击一下即可记录数据。如果需要调整设置以改善单模光纤的光耦合，可以打开实时取景以近乎实时地查看变化。细节分辨 光谱仪记录了大量数据。Redsolve专注于构建一个界面，使用户可以探索数据的更精细细节。用户可以根据需要创建任意数量的感兴趣区域（ROI），它们将在获取新数据时自动加载新数据。同时，RedSolve 始终显示完整的跟踪轨迹。导出导入功能 数据以常规、可读、无附加字符串的.csv 格式保存。软件内置了一个简单的绘图工具。如果您想可视化或探索已记录的数据，只需将保存的.csv 文件加载回 Redsolve。颜色模式转换软件适配性强，针对用户的实验场景不同，可以在浅色模式和深色模式自由之间切换，以进行弱光实验。二次开发基于 Python 的 API 可以轻松实现测量自动化，并将光谱学无缝集成到您的工作流程中。根据后处理和分析捕获数据。RS系列高精度光谱仪优点-体积小，结构紧凑-探测范围几百纳米-大带宽下可达到pm量级分辨率-接入光信号不依赖极化-免许可控制软件(RedSolve)-Python API接口(RedMote)RS系列高精度光谱仪主要参数指标产品型号RS40k光谱范围430-950 nm分辨力（R=λ/dλ）44000-32000波长稳定性＜5 pm/℃波长精确度＜20 pm光纤输入单模光纤 FC/PC接口探测器制冷sCMOS 曝光时间0.001-20 s暗电流0.2 e-/pixel/s读出噪声1.9 e-/pixel(rms)数据获取速率（1）高达5Hz体积（H×W×L）105mm×320mm×292mm

高精度智能旋光仪MCP 100/200/300/500MCP系列是一款运用于研究和工业领域的高端智能化旋光仪。该仪器可通过准确测量液体样品的旋光度，利用公式来表征光学活性物质的浓度或比旋度。强大的帕尔贴自动温控系统使旋光管内的样品快速达到温度平衡。无线ToolmasterTM 智能识别系统能够自动识别旋光管和标准石英管，从而确保可靠、可追踪的测量结果和校准数据。FillingCheckTM 自动进样检查与视频成像技术，可给您提供进样过程和进样结束后旋光管样品的实时图像。多波长扩展：MCP配备标准波长589nm，并提供UV/VIS/NIR范围内其他波长。测量过程中只需通过用户界面选择波长即可在几秒内自动切换波长。测量范围：± 89.9° OR精度：0.001°到 0.0001°准确度：≤ 0.01° (MCP 100)≤ 0.005° (MCP 200)≤ 0.003° (MCP 300)≤ 0.002° (MCP 500)温度控制：10 °C 至 45 °C（帕尔贴温控系统）

仪器简介：RA-620高精度自动折光仪/糖度计 Refractometer/Brix Meter RA-620高精度自动折光仪/糖度计 术语和定义: 光线自一种透明介质进入另一种透明介质时，产生折光现象，这种现象是由于光线在各种不同的介质中进行的速度不同造成的。折光率系指光线在空气中传播的速度与在其它物质中传播速度之比值。 折光率refractive index 在钠光谱D线、20℃的条件下，空气中的光速与被测物中的光速的比值或光自空气通过被测物时的入射角的正弦与折射角的正弦的比值。 RA-620高精度自动折光仪/糖度计 方法原理: 当光从折光率为n的被测物质进入折光率为N的棱镜时，入射角为i,折射角为r,则: Sin i / Sin r = N / n&hellip &hellip &hellip ..(1) 在折射仪中，入射角I = 90° ，代人式(1)得: 1 / Sin r = N / n n = N ? Sin r&hellip &hellip &hellip &hellip &hellip &hellip .(2) 棱镜的折光率N为已知值，则通过测量折射角r即可求出被测物质的折光率n。 RA-620高精度自动折光仪/糖度计 符合: SH/T 0724 液体烃的折射率和折射色散测定法 SH/T 0205 电气绝缘液体的折射率和比色散测定法 GB/T 6488 液体化工产品 折光率的测定(20℃) GB/T 614 化学试剂 折光率测定通用方法 ASTM D1218 Standard Test Method for Refractive Index and Refractive Dispersion of Hydrocarbon Liquids(液态烃的折射率和折射分散度的测试方法) ASTM D1747 Standard Test Method for Refractive Index of Viscous Materials(粘性材料折射指数的测试方法) ASTM D1807 Standard Test Methods for Refractive Index and Specific Optical Dispersion of Electrical Insulating Liquids(电绝缘液体折射指数和比光散度的试验方法) ASTM D5006 Standard Test Method for Measurement of Fuel System Icing Inhibitors (Ether Type) in Aviation Fuels(测量航空燃料中燃料系统结冰抑制剂(醚型)的试验方法) ISO 1743:1982 Glucose syrup - Determination of dry matter content - Refractive index method(葡萄糖浆固体物质的含量测定折光率法)技术参数：RA-620高精度自动折光仪/糖度计 测定方式: 光折射臨界角检出方式。 光源: LED钠光谱D线(589.3nm)。 测量范围: 折光率: 1.32000～1.58000nD, 糖度: 0.00～100.00%。 准确度: 折光率: ± 0.00002nD，糖度(Brix): ± 0.014%。 重复性: 折光率: ± 0.00001nD，糖度(Brix): ± 0.01%。 分辨率: 折光率: 0.00001nD，糖度(Brix): 0.01 %。 温度控制范围: 5～75℃，内置帕尔贴控温装置。 温度分辨率: 0.01℃。 显示: 4.7寸彩色背光液晶显示器。 控制方式: 触摸屏控制方式。 界面: LAN, USB, RS-232C。 电源: AC100～ 240V，50/60HZ, 20W。 尺寸: 191(W)x281(D)x161(H)mm。 重量: 约5kg。主要特点：上市时间：2009年7月 创新点:日本京都电子工业株式会社(KEM)新一代折光仪(RA-620/RA-600)，是设计成操作容易和节省空间的液体折光率测定仪。共有高精度型的RA-620，宽范围型的RA-600两种型号。RA-620实现世界最高水平的高精度，准确度为± 0.00002。RA-600具有1.3200-1.700宽广的测定范围。外观是以前型号(RA-520N/RA-500N)的一半，占地面积是A4纸所容纳的尺寸。消耗电力20W为以前型号的一半。 关于功能方面，采用彩色液晶显示器和触摸式面板，USB和LAN为标准界面，应付各种扩充的装置。 日本京都电子工业株式会社(KEM)是日本唯一国家标准认可的折光率标准液制造厂商。可使用折光率标准液检查折光仪(RA-620/RA-600)，给用户提供高精度、高可信度的分析结果。

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

产品简介HGA-431高精度温室气体分析仪是灵析光电利用中红外（Mid-IR）光腔衰荡光谱（CRDS）技术自主研发、生产的高精度分析仪，可同时测量N2O、CO、H2O三种气体浓度的专业分析仪，采用中红外(Mid-IR)光腔衰荡光谱（CRDS）技术，可在1至1500ppb范围达到ppt级精度。该分析仪虽然尺寸小，却能达到优异的灵敏度。分析仪独有的内部控温、控压算法，让分析仪具备了优异的精度、准确度、低漂移性能，为客户提供稳定到极致的测量。产品特点HGA-431测量水汽，采用专有算法来校正样气中水汽的稀释效应，并输出 N2O、CO的干摩尔分数。采用中红外(Mid-IR)光腔衰荡光谱（Cavity Ring Down Spectroscopy, CRDS）技术，可在1至1500ppb范围达到ppt级精度。该分析仪虽然尺寸小，却能达到优异的灵敏度。分析仪独有的内部控温、控压算法，让分析仪具备了优异的精度、准确度、低漂移性能，为客户提供稳定到极致的测量。（1）优异的长期稳定性和超低漂移 （2）ppt级别的灵敏度、精度以及准确度 （3）三种气体（N2O、CO、H2O）同时检测（4）算法校正水汽稀释效应 （5）测量精度满足WMO标准应用领域HGA-431可广泛应用于城市环境监测、区域环境监测、行业碳排放定量检测等场景中的气体浓度在线实时监测，助力我国实现双碳战略目标。

1/2米单色仪特点与应用： 通过RS232或IEEE-488接口与电脑连接 狭缝可调 三光栅可实现在很宽光谱范围内高效率的扫描 可出厂设置为单色仪或摄谱仪 双向扫描，光栅分辨率为定值 搭配 SP 滤光轮能实现滤光片自动转换 适合拉曼和吸收研究，探测器特性和薄膜测量等 M48-S 是一个完全计算机控制单色仪。便利的使用指令快速而简便的控制三光栅转台，电动狭缝，电动滤光轮。仪器工作方式可设置成恒定光谱分辨率。在这种模式下，狭缝的宽度会自动调整以修正因为波长改变而引起的色散变化，这样就可以保证恒定的光谱带宽。器件表面经过氧化处理，表面防热处理加上SP直接光栅驱动使设备具有可靠性和耐用性。每种器件在出厂时都经过校准和鉴定。 特征 描述 设计 Czerny-Turner. 标准三光栅转台 焦距 480mm f/#: 7.8 波长驱动:电脑控制涡轮驱动，双向 波长精密度 0.007nm (在1200g/mm 光栅) 波长准确度 ± 0.3 nm (在1200 g/mm光栅) 扫描速度 1 to 1200nm/minute (在1200g.mm 光栅) 漫射光 0.01% 在 220nm 狭缝 电脑控制；宽 10&mu m to 3000&mu m高 2mm to 20mm 最大分辨率 0.03nm (with 1200 g/mm 光栅) 光栅 一到三个光栅(68 x 68mm 标准, 68 x 84mm 可选)软件 使用软件和LabView驱动 电源 100 - 240V, 50/60Hz, 60W220/230/240V, 50/60Hz @ 0.5A 可选 接口 串口 重量 45磅 质保 一年 可选配置 DKBS &ndash 双向 狭缝 DKGPIB - IEEE-488通信接口(内部) DK2400手持控制仪 IR480 &ndash 镀金件 DK2PORT -一分二光纤端口 AB300 -自动滤光片轮

产品简介HGA-341高精度温室气体分析仪是灵析光电利用光腔衰荡光谱（CRDS）技术自主研发、生产的高精度分析仪，可同时测量CO2、CO、CH4 、H2O四种气体浓度。分析仪独有的内部控温、控压算法，让分析仪具备了优异的精度、准确度、低漂移性能，可提供稳定到极致的测量。测量性能满足WMO标准，测量灵敏度达到十亿分之一（ppb），在数月运行中的漂移可以忽略不计。分析仪测量水汽，采用专有算法来校正样气中水汽的稀释效应，并输出 CO2 、CO和 CH4 的干摩尔分数。产品特点HGA-341采用光腔衰荡光谱（Cavity Ring Down Spectroscopy, CRDS）技术，可在有限的光腔内实现长达20千米的有效测量光程，因此该分析仪虽然尺寸小却能达到优异的灵敏度。（1）优异的超低长期漂移（2）ppb级别的灵敏度、精度以及准确度（3）四种气体（CO2、CO、CH4、H2O）同时检测（4）算法校正水汽稀释效应（5）测量精度满足WMO标准应用领域HGA-341可广泛应用于城市环境监测、区域环境监测、行业碳排放定量检测等场景中的气体浓度在线实时监测，助力我国实现双碳战略目标。

1pT高精度光泵磁力仪1pT高精度光泵磁力仪/磁力计微弱的磁场和它的微小扰动都蕴含着很重要的信息，这促使我们去寻找测量这些物理量的方法。铷光泵磁力仪就是高精密测量的一个实例。它是量子磁力仪的一种，广泛应用于航空磁测、海洋监测、地质勘探（矿产资源开发、考古）、地震预报、甚至医疗卫生系统等领域。实用型光泵磁力仪无论在军事还是民用磁测领域，都具有非常重要的应用价值与前景。1pT高精度光泵磁力仪/磁力计相比于其它磁力仪，铷谱灯光泵磁力仪拥有很多优势：铷原子塞曼 能级跃迁谱线强度大，灵敏度可高达pT/Hz1/2量级，也很适用于飞行器搭载实测等。铷光泵磁力仪的原理： 铷原子的超精细结构能级在外部磁场的作用下会出现塞曼分裂现象，分裂的大小与磁感应强度成比例，精确测定塞曼子能级间的频率，即可计算出此时外部磁场的大小 因为由光泵作用排列好的原子磁矩，在特定频率的交变电磁场的作用下，又将产生共振吸收作用，打乱原子的排列情况。发生共振吸收现象的电磁场的频率与样品所在点的外磁场强度成一比例关系，故测定这一频率就可以测出外磁场的值。常用的工作元素有；钾(K39)；铷(Rb87，Rb85)；铯(Cs133)；氦(He4，He3)等。光泵磁力仪按线路结构特点又可分为跟踪式及自激式两大类。这类磁力仪的特点是灵敏度高，可达±0.01伽马（即nT），可以测定总磁场强度的绝对值，没有零点掉格及温度影响，工作时不需准确定向，适于在运动条件下进行高精度快速连续测量。1pT高精度光泵磁力仪/磁力计特点:光泵磁力仪同质子旋进磁力仪一样，它也是属于磁共振类仪器。但光泵磁力仪利用的原理是电子的顺磁共振现象。而质子旋进磁力仪利用的是核磁共振。光泵磁力仪是实际生产和科学技术应用中灵敏度较高的一种磁测仪器，相比于质子旋进磁力仪，该磁力仪具有以下特点：（1）灵敏度高，一般为0.01nT量级，理论灵敏度高达0.01～0.0001nT；（2）响应频率高，可在快速变化中进行测量；（3）可测量地磁场的总向量口及其分量，并能进行连续测量1pT高精度光泵磁力仪/磁力计规格参数：灵敏度：1 pT/√HZ测量范围：20000nT-100000nT一般偏差：0.3nT测量频率：1000Hz闭环带宽：30Hz传感器角度范围：±45°工作温度范围：-20℃ to +40℃1pT高精度光泵磁力仪/磁力计可用用于航磁方向，独立设备不需要与无人机的导航或电气系统进行任何集成。它可以在任何地形条件下在很低的高度进行精确的航磁测量。使用Geoscan地球物理系统，您可以探索磁场的体积参数。这可以通过高差测量和垂直剖面计算实现。新的数据分析和解释方法允许创建具有突破性真实性水平的地磁模型。用无人机进行航空磁测量自动飞行模式近地机动近距离飞行零自身磁场的影响自动数据处理预过滤处理磁场变异站数据的使用二维均匀网格插值的数据地理参考可视化分析和导出创建与等值线的磁场地图导出到.geotiff文件工作阶段：磁场垂直梯度磁场异常地形建模航拍照片调查更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

产品描述MicroD系列高精度激光测距仪采用激光频率调制技术，将周期性脉冲叠加在激光束上，通过寻找距离周期的小零点获得距离信息。通过采用精密光学调制技术，提高调制频率、增加频率带宽和频率分辨力使得MicroD避免了传统激光测距仪的固有电学缺点，提升了传统绝对距离测量技术的精度，使得测距精度优于10μm。外界环境条件尤其气温、气压和相对湿度的变化也会较大程度影响采用激光技术进行测距的精度，MicorD系列激光测距仪可配置综合气象站，可对不同外界环境条件下激光波长的影响进行补偿。功能特点1、高精度绝对距离测量MicroD系列高精度激光测距仪采用精密光学调制技术，提高调制频率、增加频率带宽和频率分辨力，避免传统激光测距仪的固有电学噪声，提升绝对距离测量技术的精度，使得测距精度优于10μm。2、望远镜辅助瞄准系统配置高倍率望远镜，符合人眼安全标准的ClassII 633nm指示光，精细光束结构调节装置，在机信号强度指示器组合望远镜辅助瞄准系统，迅速将测量光束对齐到远距离标靶上。3、支持360°任意方向测量通过采用单向底座和回转底座，支持单向和360°任意方向两种测量形式，每种测量底座都具有光束微调装置。回转底座还具有±15°俯仰瞄准范围，精密的回转轴心使得测量范围扩大1倍。4、气象站环境补偿配置高精度综合气象站，采集气温、气压和相对湿度等环境参数，实现对激光波长的自动补偿，极大减少外界环境条件对测量精度的影响。5、可编程数据接口仪器测量软件具有距离测量管理、反射光强度监视、测点重复精度、设置环境参数补偿等功能，并提供可编程数据接口，方便二次开发。部分技术指标型号MicorD600基本规格主机尺寸(mm)255×85×204底座尺寸(mm)单向底座122×194×77回转底座Φ216×185整机重量5.6Kg防护等级IP53测量性能最大测量半径60米最小测量半径2.5米测量精度±10μm (全程)测量方向单向360度俯仰范围±15°环境要求工作温度0℃~40℃相对湿度0~95%,无凝露电源供电供电类型交流电电源220±10%VAC,50/60Hz,5A,60W如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

产品简介HGA-331高精度温室气体分析仪是灵析光电利用光腔衰荡光谱（CRDS）技术自主研发、生产的高精度分析仪，可同时测量CO2、CH4 、H2O三种气体浓度。分析仪独有的内部控温、控压算法，让分析仪具备了优异的精度、准确度、低漂移性能，可提供稳定到极致的测量。测量性能满足WMO标准，测量灵敏度达到十亿分之一（ppb），在数月运行中的漂移可以忽略不计。分析仪测量水汽，采用专有算法来校正样气中水汽的稀释效应，并输出CO2、CH4 的干摩尔分数。产品特点HGA-331采用光腔衰荡光谱（Cavity Ring Down Spectroscopy, CRDS）技术，可在有限的光腔内实现长达20千米的有效测量光程，因此该分析仪虽然尺寸小却能达到优异的灵敏度。（1）优异的长期稳定性和超低漂移 （2）ppb级别的灵敏度、精度以及准确度 （3）三种气体（CO2、CH4、H2O）同时检测 （4）算法校正水汽稀释效应（5）测量性能满足WMO标准应用领域HGA-331可广泛应用于城市环境监测、区域环境监测、行业碳排放定量检测等场景中的气体浓度在线实时监测，助力我国实现双碳战略目标。