轻元素仪

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  • 服务科学,世界领先--赛默飞世尔科技 赛默飞世尔科技(纽约证交所代码:TMO)是科学服务领域的世界领导者。公司年销售额170亿美元,在50个国家拥有约50,000名员工。我们的使命是帮助客户使世界更健康、更清洁、更安全。我们的产品和服务帮助客户加速生命科学领域的研究、解决在分析领域所遇到的复杂问题与挑战,促进医疗诊断发展、提高实验室生产力。借助于首要品牌Thermo Scientific、Applied Biosystems、Invitrogen、Fisher Scientific和Unity Lab Services,我们将创新技术、便捷采购方案和实验室运营管理的整体解决方案相结合,为客户、股东和员工创造价值。欲了解更多信息,请浏览公司网站:www.thermofisher.com。 赛默飞世尔科技中国赛默飞世尔科技进入中国发展已有30多年,在中国的总部设于上海,并在北京、广州、香港、台湾、成都、沈阳、西安、南京、武汉、昆明等地设立了分公司,员工人数约3700名。我们的产品主要包括分析仪器、实验室设备、试剂、耗材和软件等,提供实验室综合解决方案,为各行各业的客户服务。为了满足中国市场的需求,现有8家工厂分别在上海、北京和苏州运营。我们在全国共设立了6个应用开发中心,将世界级的前沿技术和产品带给国内客户,并提供应用开发与培训等多项服务;位于上海的中国创新中心结合国内市场的需求和国外先进技术,研发适合中国的技术和产品;我们拥有遍布全国的维修服务网点和特别成立的中国技术培训团队,在全国有超过2000名专业人员直接为客户提供服务。我们致力于帮助客户使世界更健康、更清洁、更安全。欲了解更多信息,请登录网站 www.thermofisher.com。 联系方式:电话:800-810-5118, 400-650-5118(支持手机)售前咨询电子邮箱:sales.china@thermofisher.com售后服务电子邮箱:cru.cn@thermofisher.com
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    公 司 简 介 上海爱斯特电子有限公司主要从事各种电子仪器特别是X射线类仪器的开发和生产。公司位于人杰地灵的金山区,在国家高速公路G1503亭枫公路出口旁,公司占地12亩,厂房面积7500平方米,固定资产超亿元。公司骨干源于原核工业部263厂,为具有数十年X射线类仪器研制经验的高级技术人员,公司员工80%以上为具有本科以上学历的工程技术人员,具有雄厚的实力。公司自1992年成立以来,已生产DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、硫钙铁分析仪、多元素分析仪、波长色散光谱仪等一万多台,在销售数量上取得了国内外生产X荧光光谱仪的企业从未有过的辉煌。公司还大量生产X射线灌装液位计、X射线测厚仪等。公司用户遍布全国各地,在建材行业,全国有70%以上的水泥厂已使用本公司的XRF分析仪,在石油、环保行业,本公司的X荧光测硫仪市场占有率亦达50%以上,名列前茅。目前公司还涉足冶金、化工、地质、矿山、电子电气、食品机械等多个行业。本公司自1995年起即为上海市高新技术企业,产品按ISO9001质保体系生产,公司每年的科技投入占销售额的15%以上。公司产品无论技术、质量、市场占有率均居国内领先地位,拥有多项专利,部分产品达到甚至超过国外同类产品。其中DM2100型X荧光多元素分析仪被认定为上海市高新技术成果转化项目,并获上海市科技创新基金和国家发明专利。目前本公司所有产品均已不使用同位素放射源,并自获得全国第一张辐射豁免证书后,公司大部分仪器均已获得辐射豁免证书,均为真正绿色环保产品。 主要产品有: 1. DM8116型MWDXRF微量测硫仪。满足国V、国VI对车用汽柴油超低S检测要求,具有超低检测限(300s):0.33 ppm。它采用单色激发波长色散X射线荧光(MWDXRF)分析技术, 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体。它主要用于测量石油及其制品(及其他液体)中S的含量。它符合标准:GB/T 11140、ISO20884、SH/T 0842、ASTM D2622、ASTM D7039、ASTM D7220。2. DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪。满足国V、国VI对车用汽柴油超低S检测要求,具有超低检测限(300s):Si: 0.7ppm, P: 0.4ppm,S: 0.15ppm,Cl: 0.08ppm。它采用单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术,高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体,高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器。它主要用于测量石油及其制品(及其他液体)中Si、P、S、Cl等的含量。它符合标准:GB/T 11140、ISO 20884、ASTM D2622、ASTM D4929、ASTM D7039、ASTM D7220、ASTM D7757、ASTM D7536、ISO 15597、ASTM D6481。3. DM8000型X荧光光谱仪。采用波长色散X射线荧光分析技术(WDXRF),多道同时测量从Na到U的任意十种元素,对大多数元素分析的含量可低至ppm高至100%。关键部件采用进口产品,如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管,Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗,恒温室温度控制精度小于0.1℃,流气系统采用高精度流气密度稳定装置,压力稳定度小于3Pa,由此使本光谱仪具有极高的精度和准确度,达到国际先进水平。4. DM1260型X荧光测硫仪(2019款)。是为满足2019版本的GB/T17040而改进推出的。采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术。它主要用于测量石油及其制品(及其他液体)中S的含量,也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫(S)的含量。它符合标准:GB/T 17040、GB/T 17606、ASTM D4294、ISO 20847。5. DM2100型X荧光多元素分析仪。它是本公司在国内最先开发完成的管激发小型X荧光分析仪,达到甚至超过国外同类仪器的技术水平,是在同档次中唯一得到广大用户认可的,能同时测量Al、Si、S、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。其价格仅为国外的四分之一,目前已有近千家水泥厂使用。6. DM 1240型X荧光硫钙铁分析仪(2014款)。是因水泥企业的要求而研制出的定量分析仪器,主要用于测量熟料和水泥等物料中SO3、CaO、Fe2O3的含量,并通过测量熟料和水泥中CaO的含量来确定混合材的参杂量,通过测量水泥中SO3的含量来控制水泥的质量。7. DM6100型X射线测厚仪。用于钢带、铜带、铝带、铝箔等的非接触式在线厚度测量,填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白,性价比大大优于以同位素放射源作射源的测厚仪,价格仅为国外同类产品的五分之一。本公司还提供非标准型的,可满足绝大部分需用X射线测厚仪的用户的要求。8. DM5110型灌装液位检测仪。管激发,不含同位素放射源,测灌装流水线容器的液位。它是用于饮料、酒行业的质量监控仪器,在国内市场占30%以上的份额,已有数百家厂家使用。9. DM3300型全自动氧弹热量仪。采用当前国际上最先进的电子技术,适应环境能力强,自动化程度高。精心编制的测量程序使测量精度大大提高。液晶显示器全中文菜单操作更简便。适用于水泥厂、电厂、煤矿、洗煤厂、制砖厂、化工厂等产煤用煤企业,应用范围广泛。10.DM2300型X荧光分析仪。采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术,能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素,对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%,还能进行镀层厚度测量。专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量。11. DM1200型钙铁分析仪(2014款)。它是本公司的拳头产品,在国内市场占据70%以上的份额,行销全国各地水泥企业,从十几年前第一代的DM1001、第二代的DM1010、第三代DM1010A到第四代DM1200,本公司已生产近五千台钙铁分析仪,用户近四千多家,可以说在销售数量上取得了国内外生产X荧光分析仪的企业从未有过的辉煌,成为在国内外生产钙铁煤分析仪(X荧光分析仪的一种)最多的企业。它与前三代最大的不同在于它不含同位素放射源,是在全国最先推出的不含同位素放射源的钙铁分析仪。它的另一特点是最快15秒给出结果,分析时间仅为前三代和国内同行的四分之一。12. DM1250型X荧光测硫仪(2014款)。它主要用于测量水泥中的SO3的含量,也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫(S)的含量。它符合国家标准GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。13. DM1230型X荧光铝硅分析仪(2014款)。是本公司推出的国内首创的一种不含放射性同位素的X荧光铝硅分析仪。当本仪器与本公司的钙铁分析仪一起使用时可用同一个样品,与DM2100型X荧光多元素分析仪相比,虽然使用麻烦了一点,但价格不到一半,且由于结构简单可靠性更高了。14.DM5200型χ-γ辐射仪。它是一种环境监测用χ-γ辐射空气吸收剂量率仪,广泛用于建筑材料、进出口商品、运输物品、核医疗、同位素应用的等需要测量放射性剂量率水平的场合。 最近将要推出的主要产品有: 1. DM1262型便携式X荧光测硫仪。具有较低检测限(300s):3.9ppm。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术。它主要用于现场测量石油及其制品(及其他液体)中S的含量,也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫(S)的含量。它符合标准:GB/T 17040、GB/T 17606、ASTM D4294、ASTM D7212、ISO 20847。2019年12月起销售。2. DM2500型MEDXRF水泥全元素光谱仪。采用双曲面晶体和二次靶相结合的单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术。它主要用于水泥企业测量Na以上所有元素的含量。具有高精度、小型化等特点。它符合国家标准GB/T 176。2019年12月起销售。3. DM2402型便携式MEDXRF微量测硫氯仪。满足国V、国VI对车用汽柴油超低S检测要求,具有超低检测限(300s):S: 0.5ppm,Cl: 0.3ppm。小巧轻便,仅5kg左右,便于携带,特别适合对燃料油等油品中的硫含量进行现场分析,如对船舶燃料油的硫检测和燃料油流通环节的硫检测。它采用单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术,高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体,高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器。它主要用于现场测量石油及其制品(及其他液体)中S、Cl的含量。它符合标准:GB/T 11140、ISO 20884、ASTM D2622、ASTM D4929、ASTM D7039、ASTM D7220、ASTM D7536、ISO 15597。2019年12月起销售。4. DM8117型MWDXRF微量测氯仪。具有超低检测限(300s):0.2 ppm。它采用单色激发波长色散X射线荧光(MWDXRF)分析技术, 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体。它主要用于测量石油及其制品(及其他液体)中Cl的含量。它符合标准:ASTM D4929、ASTM D7536、ISO 15597。2020年3月起销售。5. DM2600型便携式MEDXRF重元素光谱仪。它采用多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF)分析技术,高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体,高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器。它主要用于现场测量土壤、空气、水、食品等中重元素的含量。它符合标准:GB15618、HJ780、ISO 13196、ISO 18227、LS/T 6115、GB5749、HJ829、HJ830、ISO 15597。2020年6月起销售。6. DM8133型MWDXRF微量测硫氯仪。满足国V、国VI对车用汽柴油超低S检测要求,具有超低检测限(300s):S: 0.33ppm,Cl: 0.2ppm。它采用单色激发波长色散X射线荧光(MWDXRF)分析技术, 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体。它主要用于测量石油及其制品(及其他液体)中S、Cl的含量。它符合标准:GB/T 11140、ISO 20884、ASTM D2622、ASTM D4929、ASTM D7039、ASTM D7220、ASTM D7536、ISO 15597。2020年7月起销售。 代理品牌及产品有: 上海盛力仪器有限公司生产的:SL201型 半自动压样机,SL301型 样品粉碎机,SL401型 循环水制冷机组,SL501系列 行星式球磨机。 上海宇索实业有限公司生产的:DY511型 全自动多头熔样机,DY501型 电热熔融设备,DY521型 全自动熔样机。
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轻元素仪相关的仪器

  • 轻元素由于其外层电子密度低,元素荧光产额低,是XRF难以进行高灵敏度检测的元素范围。北京安科慧生通过单色化激发技术,实现对轻元素的高灵敏度激发与低背景检测,轻松将轻元素(硅、磷、硫、氯等)的检出限降低到1ppm以内,在石油化工、精细化工、环境保护、制药等领域具有广泛的应用前景。 产品特点:? 高灵敏度 世界上最高灵敏度的轻元素X射线荧光光谱仪,硫LLD:0.2ppm,氯LLD:0.1ppm,硅LLD:0.8ppm,同时可以分析元素周期表中从Na到Ti的区间元素,可以扩展分析C、N、O、F等元素;? 选择性激发 采用高通量全聚焦双曲面弯晶技术,将X射线管出射高强靶材特征谱单色化聚焦入射样品,选择性激发样品中轻元素,降低背景干扰,提升峰背比; ? 轻元素分析一体化 一次样品分析即可精确定量车用燃油中硫、氯、硅的含量,无需样品分析在多台仪器进行各个元素含量分析,缩短分析时间、降低人力物力消耗;? 高稳定性 光路固锁系统XFS(X-Ray Fixed System),工厂精密调谐后,不再产生位移或偏差,最大限度的保证了仪器的长期稳定性;? 低维护、低消耗 无需真空保护膜、无需钢瓶气体、无需复杂的仪器维护,只需要消耗样品杯和样品膜;
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  • DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪满足国Ⅴ、国VI对车用汽柴油超低S检测要求超低检测限(300s): Si: 0.7ppm, P: 0.4ppm,S: 0.15ppm,Cl: 0.08ppm采用 单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体 高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器 合理 kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管 符合标准:GB/T 11140ISO 20884ASTM D2622ASTM D7039ASTM D7220ASTM D7757ASTM D7536ISO 15597ASTM D6481概述DM2400型单色激发能量色散X射线荧光轻元素(Si、P、S、Cl)光谱仪,简称DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪,是本公司集数十年X荧光光谱仪的研究经验,在公司原有的DM系列X荧光测硫仪、X荧光多元素分析仪、波长色散X射线荧光多道光谱仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的XRF光谱仪。它采用以下技术和器件,使采用50W光管的能谱仪DM2400具有出色的再现性和稳定性,超低检出限,实已将现代科技发挥到极致。图1. MEDXRF分析技术原理图单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术X射线荧光光谱仪的检出限LOD(limit of detection)是指由基质空白所产生的仪器背景信号标准偏差的3倍值的相应量,即: (1)式中,Rb为背景(本底)计数强度,N为已知浓度为C的低浓度试样的计数强度,T为测量时间。从式(1)可以看出检出限与灵敏度(N-Rb)/C成反比,与背景Rb的平方根成正比。在测量时间一定的情况下要降低检出限,就必须提高灵敏度和(或)降低背景。传统XRF,无论是EDXRF还是WDXRF,无法实现较低检出限的一个主要原因是X射线光管出射谱中连续轫致辐射的散射使得荧光光谱的连续散射背景较高。 单色激发能量色散X射线荧光 (Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) 分析技术,就是采用光学器件将X射线光管出射谱单色化,进而使得荧光光谱的连续散射背景极大地降低,同时尽可能少的降低甚至于可能的话增加所需激发X射线的单色化的线或窄能量带的强度,从而大大降低了检出限。相比传统的EDXRF降低了1至2个数量级,相比大功率(如4kw)的WDXRF也要低得多。图2.样品的XRF光谱图高衍射效率对数螺线旋转点对点聚焦人工单色晶体将X射线光管出射谱单色化的方法很多,有滤波片法,二次靶法和衍射法等。而衍射法中的双曲面衍射晶体DCC(Doubly CurvedCrystals)是单色化最好和效率最高的。衍射必须满足Bragg定律:nλ=2dsinθ (2)也就是说从源出射的射线其波长必须满足(2)式才被衍射,所以其具有极好的单色化。又由于DCC能将点源聚焦,所以有大的收集立体角,从而有极高的效率。另外,聚焦还能使照射到样品的光斑很小,从而使小面积的半导体探测器Si-PIN或SDD可以接受大部分样品较小面中的荧光射线,也就是说DCC还提高了探测效率。图3. 实线为 X 射线管的出射谱 ,红色为经LSDCC单色化的特征X射线入射谱 DCC按其曲面又分为半聚焦(Johann),全聚焦(Johansson)和对数螺线(Logarithmic Spiral)等。其中半聚焦只是部分满足衍射条件,所以经半聚焦DCC单色化的特征X射线入射谱是最差的。全聚焦是完全满足衍射条件且是点对点聚焦的。但全聚焦DCC的制造工艺极其复杂,除弯曲外它必须有一个磨成R曲面的过程,天然晶体如Si,Ge等是很脆的,极不容易磨制,而人工晶体是不可能磨制的,另外天然晶体通常在非常窄的光谱区域中衍射X射线。导致靶材特征X射线只有一部分被衍射,积分衍射率低 DM2400采用的对数螺线旋转双曲面人工晶体DM30L,是集本公司技术精英经2年的刻苦专研研制而成的专利产品。对数螺线DCC也是完全满足衍射条件的,虽然聚焦不是点对点的,而是点对面的,但由于这个面很小,一般只有2mm左右,所以可认为是点对点的。它用的是DM人工晶体,该晶体的积分衍射率是天然晶体的3到10倍,所以该晶体具有极高的效率。另外,它只需弯曲无需磨制和拼接,制造方便。图4. LSDCC点对点聚焦原理图高分辨率(123eV)高计数率(2 Mcps)的SDD探测器X射线探测器的种类有很多,有正比计数管,Si-PIN探测器和硅漂移探测器SDD等。探测器的分辨率以全能峰的半宽度表示,全能峰的净计数与半宽度无关,但其背景计数与半宽度成正比,所以分辨率越高则检出限越低。正比计数管的半宽度是半导体探测器的8倍左右,所以检出限高8的平方根倍左右。Si-PIN的分辨率比SDD的稍差,且其在高计数率下分辨率急剧下降。所以SDD是其中最好的。DM2400采用德国KETEK公司生产的VITUS H20 CUBE(最高级)SDD探测器,其分辨率小于123eV,有效探测面积20mm2,计数率2 Mcps。最佳kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管激发样品的X射线能量越接近所需分析元素的吸收限,其激发效率就越高。DM30L晶体仅衍射X射线管出射谱中的高强度特征X射线,其有靶材发出。所以合理的选用靶材能得到最高的激发效率。DM2400标准型由于可测量Cl以下的元素,所以选择Ag作为靶材。选定靶材后,在X射线光管最大功率一定的情况下,如50W,合理的光管高压(kV)和电流(mA)组合能达到最大的激发效率。由于采用点对点的聚焦,所以必须采用微焦斑的X光管。由于靶材的特征X射线能量很低,所以必须用薄铍窗X射线管。 DM2400采用50W微焦斑薄铍窗X射线管,标准型选用Ag靶,并对kV、mA进行最佳组合。标定用已知含量的7个含Si、P、S、Cl样品对仪器进行标定,得图5的工作曲线。图5. 含Si、P、S、Cl样品工作曲线这些工作曲线的相关系数γ 均大于0.999,表示DM2400光谱仪的线性误差极小。 准确度为了进一步测试分析的准确性,制备了具有不同硫含量的柴油和轻质油的五个样品,每个样品装入两个不同的样品杯中进行S准确度试验:表2. 用五个未知样品测定S分析的准确度结果样品标称值(ppm)1号样品杯(ppm)2号样品杯(ppm)柴油554.914.82柴油333.023.05汽油222.122.00汽油101010.810.2汽油252524.525.2 表2示出了获得的浓度结果(ppm),以及与标称值的比较。这些结果表示在低浓度水平下,用DM2400光谱仪可以实现S的优异的准确度。精确度对三种,每种各装入七个不同样品杯的汽油样品进行S重复性试验:表1. S汽油样品S分析的重复性测试数据样品杯号第1种样品(ppm)第2种样品(ppm)第3种样品(ppm)11.155.3110.3221.084.929.8930.905.0510.1140.934.789.6751.014.889.5161.035.169.9070.975.269.81平均值1.015.059.89标准偏差0.0860.2010.269RSD8.6%4.00%2.69%这些结果表示在低浓度水平下,用DM2400光谱仪可以实现S的优异的重复性。 特点快速同时–所需测量元素同时快速分析,一般几十秒给出含量结果。低检出限–采用先进MEDXRF技术,LSDCC核心技术,达到超低检出限。具极高的重现性和再现性。长期稳定–采用可变增益数字多道,有PHA自动调整、漂移校正、偏差修正等功能,具极好的长期稳定性。环保节能–射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品,无污染,无需化学试剂,也不需要燃烧。使用方便–触摸屏操作。样品直接装入样品杯,放入仪器后只需按[启动]键即可,真正实现一键操作。高可靠性–一体化设计,集成化程度高,环境适应能力强,抗干扰能力强,可靠性高。高性价比–无需钢瓶气体,运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半。是真正的高性价比产品。适用范围适用于炼油厂、检测及认证机构、油库、实验室测量范围从0.5ppm到10%的各种油品(如汽油、柴油、重油、残渣燃料油等)、添加剂、含添加剂润滑油、以及炼化过程中的产品。亦适用于各行各业任何材料中Cl以下元素的同时测量 主要技术指标测量元素Si、P、S、Cl(可选择B~Cl中的任意元素组合)X射线管电压:≤50keV,电流:≤2mA,功率≤50W,靶材:Ag(Mo、Rh、Pd、Cr等可选)探测器SDD,有效面积:20mm2,分辨率:≥123eV,计数率:≤2Mcps,入射窗:8μm铍 (AP3.3可选)检测限(300s)Si:0.12ppm,P:0.7ppm,S:0.26ppm,Cl:0.14ppm(标准型,1块LSDCC晶体)Si:0.7ppm,P:0.4ppm,S:0.15ppm,Cl:0.08ppm(增强型,3块LSDCC晶体)测量范围检测限的3倍~9.99%线性误差分析精度测S:满足GB/T 11140,ISO20884,SH/T 0842,ASTMD2622、D7039、D7220等的相关要求。 测Si:满足ASTM D7757,SH/T 0706,SH/T 0058等的相关要求。测Cl:满足ASTM D7536,ISO 15597,SH/T 0161等的相关要求。测P:满足ASTM D6481,SH/T 0296,SH/T 0631等的相关要求。系统分析时间1~999s,推荐值:微量测量为300s,常量测量为60s使用条件环境温度:5~40℃,相对湿度:≤85%(30℃),供电电源:220V±20V,50Hz,≤200W测量氛围自充气系统或氦气尺寸及重量540mm×500mm×450mm,35kg注:如用户认为标准型的DM2400不能满足要求,可向本公司提出,本公司可尽可能满足用户的要求。如要求更低的检测限,本公司可将晶体从1块增加到3块以降低检测限为原来的1/1.73。如要求测量F以下原子序数的元素,本公司可为用户选择AP3.3入射窗的SDD。如用户要在高S的基体下测微量Al和Si,本公司可将标准型的Ag靶改为Mo靶,以满足用户要求。
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  • M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如孔径管理系统,高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器(SDD)实现对轻元素碳的检测,高通量脉冲采样,BRUKER孔径管理系统(AMS)可以获取大景深,对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪,具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同,M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下,还可以检测原子数小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。随着功能性的增强,M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中,例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z<11(Na)的元素,无法区分这两种矿物,所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器,M4 TORNADOPLUS可以检测氟(F)、氧(O)和碳(C),从而鉴别这两种矿物。图:鉴别萤石与方解石 左:方解石(红)和萤石(蓝)的元素分布图;图像尺寸:20×12mm2;扫描分辨率:800×460pixels 右:萤石(蓝)和方解石(红)的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深,如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外,由于激发X射线光子的入口和出口角度减小,光束能量依赖性变得不那么明显。图:具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上,元件的高点失焦,显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深,组件聚焦在更大的景深范围内。
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  • 岛津EPMA超轻元素分析之(一)| 超轻元素的电子探针测试难点和岛津解决方案
    电子探针作为显微形态观察及微区成分分析最有效的测试手段之一,在材料分析和地质地矿领域有着非常广泛的应用。但超轻元素的电子探针微区定量测试存在一系列难点,成为限制深入研究的桎梏,也是传统仪器厂商不敢轻易涉足的“雷区”。 岛津电子探针(EPMA-1720 和 EPMA-8050G) 针对超轻元素种种特性,岛津电子探针通过在硬件方面配置兼具高灵敏度和高分辨率的约翰逊型全聚焦分光晶体、采用独有的52. 5°高位特征X射线取出角以及人工合成的各类超轻元素专用分光晶体等全方位优化设计,使得岛津在超轻元素的测试上表现格外优异。 超轻元素分析的难点 电子探针作为微区分析仪器,是利用从试样内部微米级别体积范围内被高能聚焦的入射电子束激发出的特征X射线信号来进行元素的定性及定量分析。超轻元素的特征X射线具有波长长、能量低、易被试样基体吸收等特点,用电子探针精确分析时有如下难点: 1超轻元素的特征X射线质量吸收系数大,譬如在同样的基体中,超轻元素Be的质量吸收系数是Fe元素的几百甚或上千倍,这意味着样品中被激发出的超轻元素特征X射线在从试样内部出射的过程中更容易被基体吸收、衰减程度更大。 2超轻元素的特征X射线波长较长,容易受到其它元素的高次线重叠干扰。如图1所示,C的Ka明显易受到Mn、Ni等元素高次线的干扰。图1 C元素附近的干扰线 3超轻元素原子核外只有两个电子层,其特征X射线由外层电子向内层空位跃迁后产生。当超轻元素与其他元素结合时,外层电子会受到影响,这就造成了不同结合状态下,超轻元素的特征X射线峰位会有所偏移。图2为单质硼与氮化硼样品中B元素特征X射线峰位偏移情况。 图2 B和BN的峰形峰位偏移 4超轻元素的特征X射线波长较长,根据布拉格衍射公式:2dsinθ=nλ,需要晶面间距d更大的分光晶体,而天然矿物中已很难找到可对超轻元素分光的合适晶体。 岛津应对之道 1针对超轻元素特征X射线易被基体吸收的问题,岛津电子探针采用52.5°高位特征X射线取出角设计。 假设特征X 射线产品的深度为单位1 μm 时,取出角为40°的仪器相对于岛津52. 5°取出角,两者的出射路程差可达ΔL = b -a = 1 /sin 40° - 1 /sin52. 5° = 1. 556 - 1. 261 =0. 295 μm。可见,高取出角能够显著的缩短出射路程,极大的减轻超轻元素被基体吸收的程度 另外高取出角还能带来更好的空间分辨率、更少的二次荧光等优势。 2针对超轻元素特征X射线测试灵敏度的问题,岛津配置了兼具灵敏度和分辨率的全聚焦分光晶体。 罗兰圆的半径越大,对特征X 射线的分辨率越好,罗兰圆的半径越小,灵敏度会越好。如果使用半聚焦型的分光晶体,灵敏度和分辨率不能很好地兼顾,如果需要高灵敏度时,只能选择罗兰圆半径较小的分光晶体,同时把特征X 射线检测器前端的狭缝调大,但难免会造成分辨率的变差 而需要高分辨率时,则需要选择罗兰圆半径较大的分光晶体,同时把检测器狭缝缩窄,但会造成灵敏度的下降。而岛津电子探针采用统一4 英寸的全聚焦晶体,无需额外选择和设置,即可获得更好的灵敏度和分辨率。 3针对高次线的影响,岛津对每个分光谱仪使用256个通道的PHA(脉冲高度分析器,Pulse Height Analyzer)可以有效地过滤高次线的干扰。 图3 利用PHA过滤高次线对Be峰的干扰 4针对超轻元素波长较长的特点,岛津开发了超轻元素测试专用的大晶面间距的分光晶体(不同2d值)可供选择,如表1所示。 表1 岛津开发的超轻元素专用分光晶体 总 结 岛津电子探针完美地解决了微区中超轻元素的测试难题,可为材料分析中的微观机理研究提供有力数据支撑;在地学领域,对于研究矿床成因解释、矿产资源评价和新矿物的发现等具有重要意义。 撰稿人:赵同新、崔会杰
  • 岛津EPMA超轻元素分析之(二)| 浙大学者解决超轻元素Be的微区定量
    超轻元素Be 浙江大学饶灿教授团队利用岛津电子探针EPMA-1720H对各种铍矿物进行原位分析,探索定量分析的理想条件,精准分析了羟硅铍石、硅铍石和绿柱石等铍矿物。铍的电子探针精确分析不仅可以深入了解铍的赋存形式,发展铍的成矿理论,也有利于系统认识铍的矿物地球化学性质,相关研究成果发表在《科学通报》上。 超级金属-铍 铍是一种“战略关键金属”,被誉为“超级金属”、 “尖端金属”、 “空间金属”、 “核子堆保护神”,铍在国防和尖端科技中的应用具有不可替代的地位。地学研究领域,铍的准确定量测试对矿物工艺学研究、矿床成因解释、矿产资源评价以及地质过程的推演具有极其重要的意义。 铍测试的难点铍的研究和利用都具有重要的现实意义,但其原位精确地电子探针分析一直是地球科学领域的难题。 1、高次线的干扰“对于常见的铍矿物如绿柱石和硅铍石或羟硅铍石,Si 元素的高次线可能对 Be 的 Kα 线有干扰”; 2、特征X射线峰位偏移“相对于金属铍(峰位 11.4 nm),其它铍矿物的峰位均出现了不同程度右移现象,其中铍的硅酸盐和氧化物的峰位均在 12.0 nm 左右,而铍的硼酸盐矿物(Hambergite 和孟宪民石)的峰位右移较小,在 11.6 nm 左右。” 3、受基体吸收影响很大“绿柱石(13.96 wt.% BeO)、孟宪民石(4.30 wt.% BeO)、羟硅铍石(42.00wt.% BeO)、 Hambergite (53.00 wt.% BeO)、 Bromellite (100.00 wt.% BeO)对应的峰位强度分别为 350 cps、 480 cps、700 cps、2300 cps 和1100 cps,而金属铍的峰强最高,为70350cps。” 解决方案岛津电子探针EPMA-1720H 1、测试的过程选择PHA过滤高次线的干扰影响; 2、分别确定铍矿物中 Be 的特征峰位、合适的背景扣除(BG+和BG-),尽可能选择相同或相似的铍矿物标样; 3、根据需要延长测试时间50-100 s 之间。由于基体效应对超轻元素测试的影响很大,选择配置52.5°高位特征X射线取出角,以及具有高灵敏度的全聚焦晶体的电子探针EPMA仪器,可以保证高精度的测试。 结 论1.优化了铍的最佳分析条件:加速电压为 12 kV、无水铍矿物的分析束流为 100-200 nA、含水铍矿物的分析束流为 50-100 nA、需要选择PHA过滤高次线的干扰; 2.使用上述条件,定量分析了几类主要铍矿物,包括羟硅铍石、硅铍石和绿柱石,均获得了很好的测试结果; 3.同时探讨了铍定量分析的技术问题,如铍的特征 X 射线峰形较平坦、强度不高和发生右移等现象。 用户声音 我国本身铍资源较为匮乏,对外依存度达到80%以上。自然界已发现的含铍矿物约120余种,如绿柱石、磷铍钙石、硅铍石等。Be作为一种超轻元素,由于其特征能量弱、易吸收等原因,其微区原位定量测试非常困难。岛津电子探针的分辨率和灵敏度很高,常规元素的峰形都非常尖锐,对于超轻元素能够很好地检出,这也给含铍矿物的测试带来了很大的机遇和挑战。2019年年底,饶教授在昆明举行的岛津电子探针用户会上,专门就这方面的分析做了报告分享,引起了与会者的关注和热烈讨论。浙江大学饶灿教授 参考文献吴润秋, 饶灿, 王琪. 关键金属铍的电子探针分析[J].科学通报. DOI:10.1360/TB-2020-0082。 撰稿人:赵同新、崔会杰
  • 岛津EPMA超轻元素分析之(三)| 助力新矿物的发现-含有超轻元素的竺可桢石
    日前,由浙江大学地球科学学院饶灿教授课题组发现的、自然界中第一个锂铝氧化物新矿物LiAl5O8,经国际矿物学协会新矿物命名及分类委员会全票通过,获得批准,该矿物被命名为“竺可桢石(Chukochenite)”,以纪念我国著名科学家、教育家、原浙江大学校长竺可桢院士(1890-1974年)。 竺可桢石 竺可桢石具有特殊的晶体结构,在掺入其他杂质后能够发光产生特殊的光学效应。竺可桢石与萤石、云母、金绿宝石、尼日利亚石、绿泥石等矿物一起产出,对铍矿、锡矿等关键金属矿产的指导找矿也具有重要指示意义。 图1竺可桢石在岛津电子探针EPMA-1720H背散射电子像下的形态特征(Ckc - 竺可桢石;Fl - 萤石;Na-M - 钠云母) 专 家 声 音 饶教授回忆当初发现新矿物的情形:当时我们使用岛津电子探针测试此矿物成分时,发现矿物成分总量只有96 wt.% 左右,与已知矿物相差甚远。再排除掉可能有H2O带来的影响,以及对元素精确定量的情况下,经过计算发现,此矿物中阴阳离子很难配平,阳离子偏少。经过反复确认和持续的研究,最终证实了其化学式为LiAl5O8这种含有超轻元素的氧化物矿物。 岛津电子探针EPMA-1720H 据悉,竺可桢石是浙江大学饶灿教授发现的第五种新矿物。自2017年岛津电子探针EPMA-1720H落户浙江大学饶教授团队实验室以来,已协助饶灿教授发现了2种新矿物——锌尼日利亚石和竺可桢石。 表1 浙江大学饶灿教授发现的新型矿物信息新型锌尼日利亚石图2 新型锌尼日利亚石在岛津电子探针EPMA-1720H背散射电子像下的形态特征(Zng – 锌尼日利亚石-2N1S Fl – 萤石 Chb - 金绿宝石 Mgt - 磁铁矿) 经过微区成分定量测试和计算,得到锌尼日利亚石-2N1S的化学式:(Zn0.734Mn0.204Na0.122Ca0.063Mg0.044)∑1.166(Sn1.941Zn0.053Ti0.007)∑2(Al11.018Fe+30.690Zn0.200Si0.092)∑12O22(OH)2 新矿物的发现,提高了我国矿物学基础研究水平,促进了矿物学学科发展,展现了国家基础科技研究的实力。对饶灿教授团队对中国地学研究领域的卓越奉献表示敬意。

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    想买X荧光光谱仪做黄铜炉前检测,测轻元素貌似都是抽真空后才能测量,但是有一家说不用抽真空就能测轻元素,把探头改成SDD探头的就可以(华唯Ux-320s)。这是真的吗?有有用过的朋友吗?或者知道详情的朋友,请大家不吝赐教!

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    聚酯薄膜卷 目录#:TF - 160 尺寸:3“x 300”(76 mm x 91.4 m) 厚度:6μ(0.24 mil) 类型卷一卷连续测量3“x 300”(76mm×91.4m)。特征: 优良的强度 良好的耐化学性 可在卷,表圈 适用于薄计轻元素聚酯薄膜是杜邦公司的注册商标
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    产品详情XRF荧光光谱仪专用测试薄膜英飞思提供不同材料和厚度的专用测试薄膜,以满足应用中的测试需求样品杯的底部覆盖有X 射线透明薄膜。耐化学性取决于薄膜的材料和厚度:下表展示了不同厚度和材质的薄膜对测试不同元素的影响原则上,使用两种材料:聚酯(聚酯薄膜)和聚丙烯(商标名称包含名称片段的薄膜“丙烯”,例如以“lene”结尾的,通常与便宜得多的材料相同聚丙烯薄膜)。薄膜材料的耐化学性不同。虽然聚酯是稳定的对于溶剂、脂肪族化合物和燃料,聚丙烯提供更高的稳定性富含氧气的流体(例如水、聚乙二醇和高沸点油)。聚丙烯特别适用于固体样品的痕量分析,因为它没有主要成分其中的污染。相比之下,聚酯薄膜含有不需要的磷和钙(3.5 µmMylar 对应于纯油(例如清洁白油)中的 50 ppm Ca 和 250 ppm P。薄膜,例如Hostaphan(带有硅污染的聚酯)或聚碳酸酯(不含污染,首选用于燃料分析)受到限制或不再可用。Kapton 对轻元素的荧光辐射不是很透明,因此仅可用于分析具有更高原子序数的元素。
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