欧谱测厚仪

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欧谱测厚仪相关的厂商

  • 厚谱科仪于2020这个特殊的庚子年“诞生”在我国北方明珠、浪漫之都—大连,是分析仪器行业升起的一颗新星。公司凝聚了一个朝气蓬勃、才华横溢、勇于创新的一流团队。公司始终聚焦广大客户客户的需求,在“严谨的态度、创新的理念及务实的精神”指引下,并凭借自身超强的研发力量,志在为广大客户提供有着准确、稳定、可靠、高效、安全、便捷服务的高新技术产品及技术服务。 厚谱科仪产品涵盖了水质实验室分析仪器、油品实验室分析仪器及水质在线分析仪器在内的众多门类,公司能为电力、石化、化工、钢铁、环保、高校以及质检等行业的广大客户提供便捷优质的产品服务。公司的全面详细的售前支持、安全信赖的产品设计及优质快速的售后服务定能为您提供焕然一新的使用体验。 厚谱科仪志在吸纳更多的有志于献身于分析仪器行业的新秀,公司竭尽全力的为他们的快速健康成长保驾护航,愿他们能在公司这片沃土里茁壮成长,最终成为行业翘楚。 厚谱科仪全体人员:怀着“厚德载物,佳谱传世;崇尚科学,智造精仪”的初心,用最“新”的技术,用最“心”的服务,用最“辛”的努力,智造让客户满意的产品,提供让客户满意的服务。公司努力向前,最终实现“始于大连、立足祖国、放眼世界”的这一宏伟目标!
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  • 理学公司是世界上研制和生产X射线科学分析仪器的开拓者。主要产品:X射线荧光光谱仪(XRF),X射线衍射仪(XRD),大小动物3D Micro CT,以及磁流体密封装置等。1951年正式创立理学电机株式会社,此后又相继创立了理学计测株式会社、日本仪器株式会社、理学服务株式会社和株式会社理学等机构。理学公司一直致力于研制和开发X射线科学分析仪器,并为世界科学分析仪器的发展做出了重要的贡献。理学公司的总部设在日本,在美国设有理学-美国公司;在德国设有理学-欧洲公司;在加拿大设有理学-加拿大公司;同时,理学公司在世界七十多个国家设有销售和维修机构。
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  • 德谱仪器是一家以X荧光光谱仪、X射线镀层测厚仪、色谱仪,质谱仪等为核心产品,集研发、制造、销售、专业技术方案提供、实施为一体的高科技集团型企业。依靠源自德国技术专家组成的研发团队,造就了居于国际技术领先地位的X射线 荧光分析产品,用于各类元素的识别、检测以及涂层/镀层的测厚分析。我们的产品已在有色金属材料、地矿、电子、电器、五金、PCB、半导体、通信、电镀、首饰、手表等行业得到广泛应用。同时我们为您提供“一站式”欧盟环保综合解决方案----无卤实验室、ROHS实验室、及欧盟REACH实验室。
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欧谱测厚仪相关的仪器

  • 分体式涂层测厚仪Leeb270 概述 该仪器采用磁性测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等) 本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。 主要功能 ● 具有两种测量方式:连续测量和单次测量方式;● 具有两种工作方式:直接和成组方式;● 具有自动统计功能:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正; ● 存储功能:可存4 个校正工件可保存。分2类工件,每类26组,每组15个,共1560个测值;● 删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存储区内的数据,以便进行新的测量;● 设置限界:对限界外的测量值能自动报警;● 具有电源欠压指示功能,操作过程有蜂鸣声提示,自动关机方式。 技术参数 项目Leeb 270测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±(3%H+1)二点校准±[(1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源1.5V两节外形尺寸163×78×33mm(主机)重量200g外壳材质塑料外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、仪器箱、探头选配标准试片、基体、皮套、探头 符合标准 1、GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度测量 磁性方法2、GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量 涡流方法3、JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪4、JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》5、JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》 测量原理 ● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法,可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。A、 磁性法(F型测头):当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。 磁性法基本工作原理 测量步骤 A)将测头置于开放空间,按一下开机键开机,检查电池电压。说明1:当电池符号满格显示,表示电池电压正常;电池电量小于2格时,请立即更换电池,以保证测量的准确性。 2:长期不用时应将电池取出。开机时正常情况下,开机显示界面所示: “Fe”——F型测头,测试对象为铁性基体 “A”——上次关机前的最后一次测量模式 “数值”——上次关机前的最后一次测量值B)选择适当的校准方法进行标准仪器。C)测量方法:握住滑套将测头与测试面垂直地接触,随着一声蜂鸣声,屏幕显示测量值,提起侧头可进行下次测量。D)关机:按开关机键,或者大约5分钟后仪器自动关机。 注:如果开机仪器自动测试,请按‘校零’键.并进行五试片校准。说明: 1. 如果在测量中测头没有与待测面垂直接触,可能会显示一个误差较大的测值,可以按清除键清除该值; 2.测量三次或多次后,仪器可自动对测量数据进行统计即:平均值、偏差、测量次数、最大测量值、最小测量值。 保养和维修 1、环境要求严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。2、更换电池当屏幕上的电池电量在开机时显示小于2格,就表示应该更换电池。3、仪器维修出现故障时,请用户不要拆机自修。填妥保修卡后,请将仪器交我公司维修部门,执行保修条例。如果能将出现错误的情况简单描述一下,一同寄出,我们将会非常感谢您。 产品展示 证书展示 欧盟CE证书 美国FCC证书 ISO9001证书计量标准考核证书 检定证书1 检定证书2高新技术企业证书 展会 德国斯图加特国际质量控制与仪器仪表展(如上图) 国内展会(如上图) 仓库实力 &bull 公司名称:重庆里博仪器有限公司&bull 公司地址:重庆市北碚区蔡家岗镇嘉德大道99号16幢 &bull 公司简介:重庆里博仪器有限公司是一家集研发、生产销售和售后服务为一体的,从事检测仪器和计量器具的生产型企业。生产系列产品:硬度试验机系列(洛氏硬度计、布氏硬度计、维氏硬度计)、里氏硬度计、涂层测厚仪、超声波(钢板钢管)测厚仪、表面粗糙度仪、超声波(金属)探伤仪、射线探伤仪、磁粉探伤仪、钢丝绳探伤仪、电火花检测仪、巴氏硬度计、韦氏硬度计、邵氏硬度计等。 代理荷兰轶诺硬度计、德国里斯特涂层测厚仪、日立涂层测厚仪、日立光谱仪、美国混凝土防水涂料测厚仪等。
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  • 产品介绍:普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01是安瓿瓶、西林瓶理想测量仪器;具有方便、耐用、精度高、价格低廉等优势。广泛 应用于药检质检、制药、科研、药包生产企业。产品特征:● 针对安瓿瓶而设计● 瓶底、瓶壁厚度测试一机完成 ● 超标准高精度表头 ● 机械式设计简单耐用● 大、小试样灵活可测 ● 液晶数字显示 ● 可连接电脑实现3级管理权限及打印(可选)技术参数:试样范围 0-12.7mm(其他厚度可定制) 分辨率 0.001mm 试样直径 ≤100mm 试样高度 ≤130mm 外形尺寸 250mm(L)*80mm(W)*290mm(H) 重量 5kg产品标准:GB2637-1995、GB/T2639-2008、YBB00332002普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01 普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01
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  • 普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用:测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-硅片测厚仪-PTT-03A 普创-硅片测厚仪-PTT-03A
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欧谱测厚仪相关的资讯

  • 发布欧屹球坑测厚仪新品
    产品简介:球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法,是镀层产品质量控制或研发检测不可或缺的小型装置,用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量,也可对小型的工件进行测量。球坑法球坑仪是实现球坑法测量技术的必要仪器。球磨后,在镀层样品上形成一球坑,通过正确的测量分析,可快速得出镀层的准确厚度。主要特点:球坑法可用于分析镀层厚度、单层厚度及复合厚度。此外,配合POD销盘磨损试验机,可快速准确地测量出镀层磨损率。采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作,使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层(1 μm)的厚度。技术参数:技术规格 参数膜厚测试范围 0.5-100 μm 膜厚测试精度 0.1μm 磨球 标配直径 GCr15 钢球30mm抛光介质 W1级金刚砂研磨膏转速 10~160rpm可调定时范围 1秒~99小时电源电压 220 V AC 50/60 Hz功耗 100 Watts Maximum工作温度 0~40oC外形尺寸 ~400×250×180 mm重量 ~10K g操作电脑 选配CCD数码显微镜 选配/500万像素CCD/20-100倍放大倍数/同轴光源球坑测量软件 选配/适用于32位Windows XP/Windows 7系统质量保证 一年免费/终身维护备注 以上所列技术规格与参数更新恕不另行通知,如有疑问请联系我们创新点:采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作,使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层(1 μ m)的厚度.欧屹球坑测厚仪
  • 喜爱72DL PLUS超声波测厚仪的8个理由
    72DL PLUS™ 超声波测厚仪,一款能够测量超薄和多层材料的高频高速仪器。这款便携式、易于操作的仪器可以解决各行业的广泛性的棘手的厚度测量应用,比如汽车、航空航天、制造和发电等行业。为了帮助您熟悉,本文将探讨我们在您的检测工作流程中采用72DL PLUS测厚仪的主要原因。精密测厚:如何开始与如何进行更高的频率使您能够测量更薄的测试材料。过去,大多数精密超声波测厚仪的最大频率限于为20 MHz左右,最小测量厚度仅为0.005英寸(0.127 mm)左右。现在,72DL PLUS测厚仪驱动频率高达125 MHz,您可以进行超过传统超声波测厚仪最小厚度能力的测量,最小测量厚度为0.001英寸(0.025 mm)或更薄。72DL PLUS测厚仪的高速(高达2 kHz测量速率和60 Hz屏幕刷新)足以优化您的测量工作流程,无论您使用的是高频或低频的探头。这个能力结合用户友好的界面,使72DL PLUS测厚仪成为支持不同频率的大厚度范围测量的利器。以下是推荐采用72DL PLUS测厚仪的八个原因:测量比以往更薄的材料使用72DL PLUS测厚仪,基于应用,可以测量单层材料低至约0.0005英寸(0.0127 mm)。例如,您可以测量低至0.008英寸(0.20 mm)单层钢片和约0.0005英寸(0.0127 mm)单层塑料膜。要注意的是,最小厚度测量能力取决于探头频率、探头类型和待测试材料。一次显示多达6层的厚度激活多层测量软件选项,72DL PLUS测厚仪可以测量一系列多层材料,包括油漆、塑料、金属和涂层。它甚至具有同时显示多达六层厚度的能力,比38DL PLUS ™ 多出两层测量能力。高速厚度测量高速厚度测量对于时间敏感应用(如涡轮叶片测量)非常重要。作为一款测量速度高达2 kHz的高速仪器,极大地提高了生产车间的周转率。通过5种多功能测量视图监测厚度变化虽然我们的手持式测厚仪的屏幕较小,但72DL PLUS测厚仪采用全彩7英寸的触摸屏,具有高可视性。仪器支持五种不同测量视图—A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势线和缩放,以帮助发现和跟踪厚度变化。简易设置简化厚度测量该测厚仪简化了日常厚度测量的仪器设置过程,无需在每次测量之前手动选择和调整设置。只需进入启动屏幕上的“我的应用”菜单,菜单将引导您完成创建应用程序的每个步骤。或者,您可以使用PC接口应用程序从电脑创建应用程序。易于收集、回顾和管理厚度数据内置数据记录和机载文件管理实现了高效的厚度数据采集和处理,而电脑端的PC界面应用程序支持交互工具,便于查看和管理多个设备和部件的数据。通过无线进行连接,仪器可以支持连接到‘云’端,实现工业4.0实践。它能够连接到奥林巴斯科学事业云™ (OSC),助您访问基于云的免费的的功能。工业环境中的更耐用与我们所有的测厚仪一样,该仪器的设计目标是在恶劣的工业环境中延长运行时间。它具有较好的坚固性(MIL-STD-810G),做好意外跌落或冲击的防护,并可抵抗灰尘和湿气(设计符合IP65)。该仪器可在高温和寒冷气候下进行可靠测量,工作温度范围广(–10°C至50°C或14°F至122°F)。兼容各种探头于不同厚度应用72DL PLUS测厚仪与标准频率(0.2–30 MHz)和高频(20–125 MHz)探头兼容。为了支持超薄材料测量的应用,我们扩大了高频探头的产品线。M2102(75 MHz)和M2104(125 MHz)是耐用的接触式探头,可实现非常小的频率衰减和理想的检测范围。其它探头解决方案,包括改进的给水耦合装置,均在开发中,以支持客户的特定需求。OLYMPUS现有的用于超薄材料测量的高频探头的一部分。从左到右:B126给水耦合装置和M2104探头
  • 口服液瓶壁厚测厚仪的应用与原理
    口服液瓶壁厚测厚仪的应用与原理在制药包装行业中,口服液瓶作为药品的主要包装形式之一,其质量直接关系到药品的安全性和有效性。口服液瓶不仅需要具备良好的密封性能,以保持药品的稳定性,还需要有适当的壁厚,以确保在运输和使用过程中的耐用性和安全性。口服液瓶的应用口服液瓶广泛应用于液体药品的包装,包括但不限于口服溶液、糖浆、注射液等。这些瓶子的设计和制造必须符合严格的行业标准和法规要求,以保证药品在储存和使用过程中的质量和安全。壁厚测试的重要性壁厚是口服液瓶质量控制的关键参数之一。过薄的瓶壁可能导致瓶子在运输或使用过程中破裂,影响药品的完整性和安全性。而壁厚不均则可能影响药品的储存稳定性,甚至在极端情况下,可能导致药品泄漏或污染。口服液瓶壁厚测厚仪的作用为了确保口服液瓶的壁厚符合标准,需要使用专业的测厚仪器进行精确测量。口服液瓶壁厚测厚仪是一种专门用于测量口服液瓶壁厚的高精度设备,它能够快速、准确地检测出瓶子的壁厚,帮助制药企业及时发现和解决壁厚问题。容栅传感技术的应用口服液瓶壁厚测厚仪采用先进的容栅传感技术,这是一种机械接触式测量方法,通过测量表头与瓶壁之间的距离来确定壁厚。这种方法提高了测量的准确性和可靠性。测量原理口服液瓶壁厚测厚仪仪的工作原理基于容栅传感器的响应。当测量表头接触到瓶子时,传感器会采集相应的数据。这些数据随后被传输到系统中,通过计算得出瓶壁或瓶底的厚度值。这种测量方式不仅快速,而且可以提供高精度的测量结果。结论口服液瓶壁厚测厚仪是制药包装行业不可或缺的工具。它通过采用容栅传感技术,提供了一种高效、准确的测量方法,帮助企业确保口服液瓶的质量和安全性,从而保障药品的质量和患者用药的安全。本文简要介绍了口服液瓶在制药包装行业中的应用,以及壁厚测试的重要性和测厚仪的作用。通过使用这种高精度的仪器,制药企业可以更好地控制产品质量,确保药品的安全性和有效性。

欧谱测厚仪相关的方案

欧谱测厚仪相关的资料

欧谱测厚仪相关的试剂

欧谱测厚仪相关的论坛

  • 测厚仪的使用常识

    测厚仪示值的因素(1)工件表面粗糙度过大,造成探头与接触面耦合效果差,反射回波低,甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀,耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理,降低粗糙度,同时也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。(2)工件曲率半径太小,尤其是小径管测厚时,因常用探头表面为平面,与曲面接触为点接触或线接触,声强透射率低(耦合不好)。可选用小管径专用探头(6mm ),能较精确的测量管道等曲面材料。(3)检测面与底面不平行,声波遇到底面产生散射,探头无法接受到底波信号。(4)铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大,超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减,被散射的超声波沿着复杂的路径传播,有可能使回波湮没,造成不显示。可选用频率较低的粗晶专用探头(2.5MHz)。(5)探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂,长期使用会使其表面粗糙度增加,导致灵敏度下降,从而造成显示不正确。可选用500#砂纸打磨,使其平滑并保证平行度。如仍不稳定,则考虑更换探头。(6)被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑,造成声波衰减,导致读数无规则变化,在极端情况下甚至无读数。(7)被测物体(如管道)内有沉积物,当沉积物与工件声阻抗相差不大时,测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。 (8)当材料内部存在缺陷(如夹杂、夹层等)时,显示值约为公称厚度的70%,此时可用超声波探伤仪或者带波形显示的测厚仪(比如美国dakota公司的MVX、PVX或者CMX等)进一步进行缺陷检测。(9)温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低,有试验数据表明,热态材料每增加100°C,声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。应选用高温专用探头和高温耦合剂(300-600°C),切勿使用普通探头。(10)层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的,因超声波无法穿透未经耦合的空间,而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备),测厚时要特别注意,测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。 (11)耦

  • 超声波测厚仪是否需要使用耦合剂

    超声波在遇到空气时会急剧衰减掉,为了让排出掉超声波探头和工件之间的空气,采用超声波耦合剂去除。  通常在工厂测量比较光滑的工件表面采用一般机油或其他无腐蚀的液体即可,比较粗糙的表面可采用比较粘稠的黄油,测量完毕一定要把探头表面以及标准块表面耦合剂擦除掉。在同一点重复测量时,每次将探头离开10cm以上,间隔几秒钟后再测,避免被测材料因探头磁化后,影响下次测量结果。  预防措施:正确使用耦合剂。首先根据使用情况选择合适的种类,当使用在光滑材料表面时,可以使用低粘度的耦合剂 当使用在粗糙表面、垂直表面及表面时,应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次,耦合剂应适量使用,涂抹均匀,一般应将耦合剂涂在被测材料的表面,但当测量温度较高时,耦合剂应涂在探头上。  超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。使用超声波测厚仪时,平面调零测平面,凸面调零测凸面,凹面调零测凹面,避免因结构不同而产生测量误差;尽量使用被测材料作为调零基体,避免因不同材料的导磁性不同,而出现测量误差;尽量在被测材料的同一部位调零后,再测相同部位。例如,在工件边缘和中间部位应分别调零;做调零用的表面,要尽量光滑;被测材料表面的粗糙度对测量数值影响很大,假如表面不光滑,应视情况取平均值;测量时,探头要保持与被测料面垂直,否则会产生较大误差。  凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。 由于超声波处理方便,并有良好的指向性,超声技术测量金属,非金属材料的厚度,既快又准确,无污染,尤其是在只许可一个侧面可按触的场合,更能显示其优越性,广泛用于各种板材、管材壁厚、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的情况,因此对冶金、造船、机械、化工、电力、原子能等各工业部门的产品检验,对设备安全运行及现代化管理起着主要的作用。

  • 超声波测厚仪的应用领域介绍

    超声波测厚仪由于处理方便,非金属材料的厚度,并有良好的指向性,超声技术测量金属,既快又准确,无污染,尤其是在只许可一个侧面可按触的场合,更能显示其优越性,超声波测厚仪广泛用于各种板材、管材壁厚、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的情况,因此对冶金、造船、机械、化工、电力、  方法  使用超声波测试误差减少方法,超声波测厚仪被测物表面的光洁度关系很大,一般表面生锈的物体要用砂纸打磨下这样测出厚度更精确,超声波测厚仪对表面有电镀层的、有油漆测量厚度是要选用单晶探头,单晶探头的超声波测厚仪可以回波-回波模式,无需去除油漆涂层而测量厚度。  国家标准  GB11344-1989接触式超声波脉冲回波法测厚  检定规程:  JJF1126-2004超声波测厚仪校准规范  预防及注意  1、正确选用测厚探头  (1)测曲面工件,采用曲面探头护套或选用小管径专用探头(φ6mm),可较精确的测量管道等曲面材料。  (2)对于晶粒粗大的铸件和奥氏体不锈钢等,应选用频率较低的粗晶专用探头(2.5MHz).  (3)测高温工件,应选用高温专用探头(300-600°C),切勿使用普通探头。  (4)探头表面有划伤,可选用500#砂纸打磨,使其平滑并保证平行度。如仍不稳定,则考虑更换探头。  2、对被检物表面进行处理。  通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理,降低粗糙度,同也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。  3、正确识别材料,选择合适声速。  在测量前一定要查清被测物是哪种材料,正确预置声速。对于高温工件,根据实际温度,按修正后的声速预置或按常温测量后,将厚度值予以修正。此步很关键,现场检测中经常因忽视这方面的影响而出错。  4、正确使用耦合剂。  首先根据使用情况选择合适的种类,当使用在光滑材料表面,可以使用低粘度的耦合剂 当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面,应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次,耦合剂应适量使用,涂抹均匀,一般应将耦合剂涂在被测材料的表面,但当测量温度较高,耦合剂应涂在探头上超声波测厚仪用超声波在介质中的脉冲反射对物体进行厚度测试称超声测厚超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发超声测厚仪射电路、接收电路、计数显示电路三部分,由发射电路产生的高压冲击波激励探头,产生超声发射脉冲波,脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收,通过单片机计数处理后,经液晶显示厚度数值,它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的间的一半而得到试样的厚度  自然界的声波以频率可以划分为三大类:次声、声、超声。频率低于20Hz的波动称为次声 频率在20-20kHz之间的波动称为声 频率在20KHz以上的波动称为超声。我们人耳可以听见声但是听不见次声和超声。我们超声医学应用的是超声,频率在MHz数量级。超声和可闻声本质上是一致的,它们的共同点都是一种机械振动,通常以纵波的方式在弹性介质内传播,是一种能量的传播形式,其不同点是超声频率高,波长短,在一定距离内沿直线传播,具有良好的束射性和方向性。  应用

欧谱测厚仪相关的耗材

  • 超声波测厚仪DM4
    超声波测厚仪DM4Krautkramer超声波测厚仪DM4系列,小巧轻便,操作简单,功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式,在被测物表面有油漆时,无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6~300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm;大于99.99mm时为0.1mm; 1000~9999m/s 标准4Hz,最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池,无背光时可使用200小时 -10~50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2~200mm 5MHz 12.1mm -20~60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0~300mm 2MHz 16.2mm -20~60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6~50mm 10MHz 7.5mm -20~60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7~12mm 10MHz 3.0mm -20~60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0~60mm 5MHz 16.2mm 10~600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0~254mm 5MHz 12.7mm 10~540℃ 50mm KBA535 注: 所示温度为厂家理想状态试验所得,实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪TT30超声波测厚仪超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
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