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欧谱测厚仪

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欧谱测厚仪相关的仪器

  • 分体式涂层测厚仪Leeb270 概述 该仪器采用磁性测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等) 本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。 主要功能 ● 具有两种测量方式:连续测量和单次测量方式;● 具有两种工作方式:直接和成组方式;● 具有自动统计功能:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正; ● 存储功能:可存4 个校正工件可保存。分2类工件,每类26组,每组15个,共1560个测值;● 删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存储区内的数据,以便进行新的测量;● 设置限界:对限界外的测量值能自动报警;● 具有电源欠压指示功能,操作过程有蜂鸣声提示,自动关机方式。 技术参数 项目Leeb 270测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±(3%H+1)二点校准±[(1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源1.5V两节外形尺寸163×78×33mm(主机)重量200g外壳材质塑料外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、仪器箱、探头选配标准试片、基体、皮套、探头 符合标准 1、GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度测量 磁性方法2、GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量 涡流方法3、JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪4、JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》5、JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》 测量原理 ● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法,可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。A、 磁性法(F型测头):当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。 磁性法基本工作原理 测量步骤 A)将测头置于开放空间,按一下开机键开机,检查电池电压。说明1:当电池符号满格显示,表示电池电压正常;电池电量小于2格时,请立即更换电池,以保证测量的准确性。 2:长期不用时应将电池取出。开机时正常情况下,开机显示界面所示: “Fe”——F型测头,测试对象为铁性基体 “A”——上次关机前的最后一次测量模式 “数值”——上次关机前的最后一次测量值B)选择适当的校准方法进行标准仪器。C)测量方法:握住滑套将测头与测试面垂直地接触,随着一声蜂鸣声,屏幕显示测量值,提起侧头可进行下次测量。D)关机:按开关机键,或者大约5分钟后仪器自动关机。 注:如果开机仪器自动测试,请按‘校零’键.并进行五试片校准。说明: 1. 如果在测量中测头没有与待测面垂直接触,可能会显示一个误差较大的测值,可以按清除键清除该值; 2.测量三次或多次后,仪器可自动对测量数据进行统计即:平均值、偏差、测量次数、最大测量值、最小测量值。 保养和维修 1、环境要求严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。2、更换电池当屏幕上的电池电量在开机时显示小于2格,就表示应该更换电池。3、仪器维修出现故障时,请用户不要拆机自修。填妥保修卡后,请将仪器交我公司维修部门,执行保修条例。如果能将出现错误的情况简单描述一下,一同寄出,我们将会非常感谢您。 产品展示 证书展示 欧盟CE证书 美国FCC证书 ISO9001证书计量标准考核证书 检定证书1 检定证书2高新技术企业证书 展会 德国斯图加特国际质量控制与仪器仪表展(如上图) 国内展会(如上图) 仓库实力 &bull 公司名称:重庆里博仪器有限公司&bull 公司地址:重庆市北碚区蔡家岗镇嘉德大道99号16幢 &bull 公司简介:重庆里博仪器有限公司是一家集研发、生产销售和售后服务为一体的,从事检测仪器和计量器具的生产型企业。生产系列产品:硬度试验机系列(洛氏硬度计、布氏硬度计、维氏硬度计)、里氏硬度计、涂层测厚仪、超声波(钢板钢管)测厚仪、表面粗糙度仪、超声波(金属)探伤仪、射线探伤仪、磁粉探伤仪、钢丝绳探伤仪、电火花检测仪、巴氏硬度计、韦氏硬度计、邵氏硬度计等。 代理荷兰轶诺硬度计、德国里斯特涂层测厚仪、日立涂层测厚仪、日立光谱仪、美国混凝土防水涂料测厚仪等。
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  • 产品介绍:普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01是安瓿瓶、西林瓶理想测量仪器;具有方便、耐用、精度高、价格低廉等优势。广泛 应用于药检质检、制药、科研、药包生产企业。产品特征:● 针对安瓿瓶而设计● 瓶底、瓶壁厚度测试一机完成 ● 超标准高精度表头 ● 机械式设计简单耐用● 大、小试样灵活可测 ● 液晶数字显示 ● 可连接电脑实现3级管理权限及打印(可选)技术参数:试样范围 0-12.7mm(其他厚度可定制) 分辨率 0.001mm 试样直径 ≤100mm 试样高度 ≤130mm 外形尺寸 250mm(L)*80mm(W)*290mm(H) 重量 5kg产品标准:GB2637-1995、GB/T2639-2008、YBB00332002普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01 普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01
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  • 普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用:测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-硅片测厚仪-PTT-03A 普创-硅片测厚仪-PTT-03A
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  • 一、超声波测厚仪产品概述:本仪器是智能型超声波测厚仪,采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多个领域。二、超声波测厚仪技术参数:项目单位性能指标和功能显示方法高对比度的128*64液晶显示,高亮度EL背光;测量范围mm0.75 ~ 600.0(钢)材料声速m/s1000 ~ 9999分辨力mm0.01示值精度误差mm测量范围 0.28 ~ 3.3时,分辨力0.01,允许误差±0.05测量范围3.3 ~ 99.99时,分辨力0.01,允许误差±(1‰H+0.04)测量范围100.0 ~ 300.0时,分辨力0.01,允许误差±3‰H测量范围300.0 ~ 600.0时,分辨力0.01,允许误差±5‰H注:H为测量的厚度测量周期单点测量时每秒钟6次;校正模式配机试块4mm自动校正 /用户自定义校正(单点校正 /双点校正)测量功能最小读数俘获、平均测量、设限测量、差值测量 等软件功能可选测量模式R-B1(发射脉冲至一次回波)动态测声速功能可利用输入已知厚度,动态扫查测读被测工件的声速智能电源功能开机闲置一段时间后,仪器会自动关机电池低压指示蜂鸣器校准提示、超限提示存储40组测厚数据(仅测量值,声速值)40组参数数据集(包括测量值、仪器设置等参数)语言中文/英文 可选单位制式公制(mm)/英制(inch)可选工作时间h≥30供电模式二节5号电池工作温度℃-10 ~ 40重量g约245g(含电池)尺寸mm145mm×74mm×32 mm(高×宽×厚)三、超声波测厚仪主要功能:l适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度;l可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的探头使用;l已知厚度可以反测声速,以提高测量精度;l具有耦合状态提示功能;l有EL背光显示,方便在光线昏暗环境中使用;l有剩余电量指示功能,可实时显示电池剩余电量;l具有自动休眠、自动关机等节电功能;l小巧、便携、可靠性高,适用于恶劣的操作环境,抗振动、冲击和电磁干扰;四、超声波测厚仪工作原理:本超声波测厚仪对厚度的测量,是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体,一部分超声信号被物体底面反射,探头接收由被测体底面反射的回波,精确地计算超声波的往返时间,并按下式计算厚度值,再将计算结果显示出来。式中: H-测量厚度; v-材料声速;t-超声波在试件中往返一次的传播时间。
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  • 普创-PTT-02薄膜测厚仪 400-860-5168转4961
    产品简介:PTT-02薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池 隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备用途:塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均,会影响到阻隔性、拉伸强度等性能;对 材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 重复性 0.4μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张); 接触面积 50mm2(薄膜); 200mm2 (纸张);薄膜、纸张任选一种,非标可定制 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用:测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。普创-PTT-02薄膜测厚仪 普创-PTT-02薄膜测厚仪
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  • 超声波测厚仪 400-860-5168转4655
    一、超声波测厚仪HCH-2000C+概述:HCH-2000C+型测厚仪内部电路采用最新数字电子技术与微电脑技术,外部采用金属机壳制造而成,仪器 体积小、功耗低、功能强、抗摔打、抗振动、触摸按键操作更直观,是您在实际应用中的仪器。使用本仪器可以方便无损地检测锅炉、压力容器、管道、金属工 件、玻璃、塑料、有机玻璃等的厚度。  二、产品性能  超声波测厚仪HCH-2000C+技术指标:  1、测量范围:0.7-350mm(45#钢)  2、显示精度:0.1mm  3、测量误差:1%×厚度值±0.1mm  4、测量方式:手动存储测量  5、存储容量:600个测量点  6、探头频率:5MHz  7、声速范围:1000--9990M/S  8、电源范围:1.2-1.5V碱性电池或充电电池  9、外型尺寸:122*50*24mm3  10、藕合指示:被测件与探头藕合良好时,  显示屏左上侧显示如右图:  11、使用环境:温度-10°C~60°C 相对湿度小于90%  12、自动断电:本仪器待机五分钟将自动关机  三、HCH-2000C+型测厚仪配置单  1、HCH-2000C+型主机 1台  2、探头 ( φ8 ) 1支  3、耦合剂 1瓶  4、七号电池 2节  5、使用说明书 1份  6、保修卡、合格证 1份  7、手提箱 1只  测厚仪HCH-2000C+选配件:高温、铸铁、小管径探头  选配件: 高温、铸铁、小管径探头
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  • 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用:测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A
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  • 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪,金属镀层测厚仪,应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间:60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源:交流 220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确,维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确 ● 一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化 ● 七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计,辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术,保证 X 射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器;分辨率:149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出:1mA2.2.2 属于半损耗型部件,使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出: 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数: 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择,口径分别为 8-1#, 8-2#, 8-3#, 4#,2#, 1#, 0.5# 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化 操作得更轻松,使操作更人性,更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围:从硫(S)到铀(U)3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)3.3.7 配置小孔准直器,测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】
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  • 超声波测厚仪 400-860-5168转4379
    一、云唐超声波测厚仪内部电路采用最新数字电子技术与微电脑技术,外部采用金属机壳制造而成,仪器 体积小、功耗低、功能强、抗摔打、抗振动、触摸按键操作更直观,是您在实际应用中可选的仪器。使用本仪器可以方便无损地检测锅炉、压力容器、管道、金属工 件、玻璃、塑料、有机玻璃等的厚度。  二、产品性能  超声波测厚仪技术指标:  1、测量范围:0.7-350mm(45#钢)  2、显示精度:0.1mm  3、测量误差:1%×厚度值±0.1mm  4、测量方式:手动存储测量  5、存储容量:600个测量点  6、探头频率:5MHz  7、声速范围:1000--9990M/S  8、电源范围:1.2-1.5V碱性电池或充电电池  9、外型尺寸:122*50*24mm3  10、藕合指示:被测件与探头藕合良好时,  11、使用环境:温度-10°C~60°C 相对湿度小于90%  12、自动断电:本仪器待机五分钟将自动关机超声波测厚仪320.jpg" alt="主图模板新超声波测厚仪320.jpg"  三、配置单  1、主机 1台  2、探头 ( φ8 ) 1支  3、耦合剂 1瓶  4、七号电池 2节  5、使用说明书 1份  6、保修卡、合格证 1份  7、手提箱 1只  选配件:高温、铸铁、小管径探头
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  • 38DL PLUS超声测厚仪: 性能高级、操作简便、坚固耐用、结果可靠38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可有效地适用于几乎各种超声测厚应用,而且与几乎各种双晶探头和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的非常精确的壁厚测量。38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多性能强大又易于使用的测量功能,以及许多专用于某些特定应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求,可以在非常潮湿或暴土扬沙的严酷环境中正常操作。其彩色透反VGA显示屏无论在明亮的阳光下还是在无光的黑暗中都具有非常好的可视性。测厚仪的键区非常简洁,且符合人体工程学的要求,操作人员使用单手(左手或右手)操控键区,就可以轻松访问仪器的所有功能。主要特性可与双晶探头和单晶探头兼容宽泛的厚度测量范围:0.08毫米到635毫米,具体可测厚度根据材料和所选探头而定使用双晶探头进行腐蚀测厚操作穿透涂层(THRU-COAT)和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料内部氧化层/沉积物软件选项对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米在使用频率范围为2.25 MHz ~ 30 MHz的单晶探头时,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量,最多可同时测量4层高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料厚度、声速和渡越时间的测量差分模式和缩减率模式时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可回顾的读数带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态增益技术用于自定义V声程补偿的V声程创建功能设计符合EN15317标准这款测厚仪为何与众不同?38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求,而且其机身坚固耐用,可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场潮湿还是多尘,寒冷还是炎热,明亮或是黑暗,38DL PLUS都可以正常完成检测工作。如果您需要一款在正常情况下,不怕撞击,不怕坠落且坚固耐用的测厚仪器,那么,符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。在恶劣环境中操作的性能袖珍型,仅重0.814公斤坚固耐用,设计符合IP67标准爆炸性气氛:可在国家防火协会规范(NFPA70)500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作,并且通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。防撞击测试:通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试,每轴6个循环,15 g,11 msec半弦波。振动测试:通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试,一般暴露:每轴1小时。宽泛的操作温度范围带有支架的橡胶保护套彩色透反VGA显示,带有室内和室外颜色设置,具有非常好的清晰度简便操作的设计理念简洁的键区,只用单手(左手或右手)即可操控仪器操作简便的用户界面,可直接访问所有功能内置和外置microSD存储卡的存储方式USB和RS-232通讯端口可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器可连接计算机或显示器的VGA输出默认/自定义的双晶探头设置默认或自定义的单晶探头设置密码保护功能可以锁住仪器的功能户外显示设置,A扫描模式室内显示设置,B扫描模式38-Link无线通信适配器可选配的38-Link适配器,通过蓝牙(Bluetooth)技术或无线局域网连接方式,可以使操作人员在任何现有的38DL PLUS仪器和其它设备之间传送和接收数据。38-Link适配器具有3种强大的无线通讯能力:与奥林巴斯科学云系统(OSC,Olympus Scientific Cloud)和检测项目管理器(IPM,Inspection ProjectManager)应用程序进行无线通信的能力,可使用户更有效地对检测进行管理并完成其他工作。通过蓝牙技术与奥林巴斯链接移动应用程序或其他相兼容的第三方应用程序进行通信通过蓝牙技术与可选配的Link-Wedge软件进行通信,以直接将厚度读数发送到运行Windows 10的PC机中的激活的Windows应用程序中。*针对不同的地区,无线局域网和蓝牙适配器的提供情况会有所不同。要了解更详细的信息,请与您所在地的奥林巴斯销售代表联系。数据记录器和PC机接口38DL PLUS测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。内置存储容量为475000个厚度读数,或20000个带有厚度读数的波形32位字符的文件名称20位字符的ID#(TML#)编码9种文件格式:增量型、序列型、带自定义点的序列型、2维栅格型、带自定义点的2维栅格型、3维栅格型、3维自定义型、锅炉型及手动型每个ID#(TML)编码可最多存储4个注释注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上内置和外置microSD存储卡可以在内置和外置microSD存储卡之间拷贝文件标准USB和RS-232通信单晶和双晶探头设置的双向传输机载统计报告机载DB栅格视图,使用3种可编辑的颜色GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信,可以读取microSD存储卡上的数据,还可以在存储卡上写入信息可将内部文件以与Excel兼容的CSV(以逗号分隔值)格式直接导出到microSD存储卡中GageView基于Windows的GageView接口应用程序用于收集、创建、打印及管理来自38DL PLUS测厚仪的数据创建数据集和测量总结编辑所存数据显示数据集和测量总结文件,文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值从测厚仪上下载厚度测量总结,或将厚度测量总结上传至测厚仪将测量总结导出到电子表格程序及其它程序中收集屏幕截图打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告升级操作软件下载和上传单晶和双晶探头的设置文件B扫描回顾机载DB栅格视图,使用3种可编辑的颜色标准配置38DL PLUS数字式超声测厚仪,交流电源或电池供电,50 Hz ~ 60 Hz。标准双晶探头的套装充电器/AC适配器(100 VAC、115 VAC、230 VAC)内置数据记录器GageView接口程序试块和耦合剂USB线缆橡胶保护套,带有仪器支架和颈挂带《用户手册》测量功能:穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、最小值/最大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/最小值模式
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  • 金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A产品应用:测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix 金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix
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  • 普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用:测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A 普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A
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  • 普创paratronix测厚仪PTT-03A普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用:测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创paratronix测厚仪PTT-03A 普创paratronix测厚仪PTT-03A
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  • 金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A产品应用:测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix 金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix
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  • 薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品简介:薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用:薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix 薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix
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  • 仪器介绍:广州标际所生产的高端测厚仪,测厚仪,薄膜测厚仪适用于包装薄膜,片材等的氧气透过率的检测。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪,操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜,纸张等直接测量或比较测量。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪产品特点测量精确,运行可靠,测量分辨率高达0.1微米;支持手动、自动双重测量模式;可单点测试也可多点测试自动进样间距、测量点数可调;液晶显示,可微机打印测试结果;测量过程即时显示最大值、最小值、平均值及当前值 可连接计算机,专业软件支持(可选)。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪技术参数测量范围:0~5mm分 辨 率:0.1&mu m进样间距:0~1000mm测量点数:0~10点
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  • 高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix产品简介:高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用:高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix 高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix
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  • 普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数:测量范围 0~2mm(标准),0~6mm,0~12mm(可选) 分辨率 0.1μm (1μm可选) 测试速度 1~25次/min 测量头平行度 ±0.2μm(机械调整,量块校验) 精度 ±<0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张);其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用:测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征:测头采用标准M2.5螺纹连接方式,可连接各种形式百分表,千分表表头进行测量; 可拆卸螺纹连接配重块,可满足各种标准要求及非标压力定制; 嵌入式高速微电脑芯片控制,简洁高效的人机交互界面,为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化,模块化,系列化的设计理念,可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏,实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片,有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机,可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制高精度测厚传感器,精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断产品配置:标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A 普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A
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  • 超声波测厚仪 400-860-5168转4433
    超声波测厚仪产品介绍: 超声波测厚仪是德国KK/美国GE公司生产的一款能够适应各种恶劣环境,能在超高温、低温、雨天等环境下进行无损伤的工件厚度测量,自引进之初,已被包括石油化工、输气管道、船舶制造、承压容器等一系列工业企业所使用,为其进行壁厚测量,并取得了良好的效果。深受广大企业用户的认可和喜爱。测量穿过涂层的操作模式在 被测物表面有油漆时,无需去除油漆而测量材料的净厚度,该工作模式已运用于 DM4 系列的测厚仪在通过涂层 测量金属厚度方面作用突出,无需去除测量点处的涂层,节省了时间和成本。外壳坚固,采用人机工程学设计, 连续工作 60 小时的 AA 蓄电池,包括电池重量仅为 223g,采用密封、水密且防尘的薄膜式键盘,配有少的功能 键和方向键通过菜单导航让操作简单而直观,基本机型包括最小 / 最大值捕获、B 扫描、报警以及差值厚度测 量模式等多种功能。产品特点:&bull 基本上所有需要厚度测量的部件和工件都带有 保护涂层 &bull 使用传统测量方法测量下层金属的厚度时保护 涂层(包括油漆)会导致重大误差 &bull 除去涂层再重新涂刷 需要花费大量成本和时 间&bull 经过实地验证的双层测量功能无需除去任何保 护涂层 &bull 它只需要选择双层模式 并放置好探头 即可进 行测量&bull DM5E 开发出一套新的超声波探头 即使在很 高的温度下也表现出很好的性能&bull DA5 包括常用的 5 兆赫的标准探头 高穿透力的 2 兆赫探头以及 7.5 兆赫的指尖探头 &bull 均符合 EN 15317 要求&bull 新开发的 5 兆赫高温探头的工作范围从 -10° C 到 +204° C &bull 使用 UltraMATE 软件,测量数据文件可以从仪器 传输并保存到个人电脑&bull 如有需要,还能够以不同的固定格式将报告打印 出来,通常报告格式为彩色直方图,测量值的范围 为彩色编码,或用彩色标出超过最小 / 最大限制的 数值也可以将数据粘贴到 Windows 剪贴板然后 再转移到电子表格或文档中进行处理技术参数:注:所示温度为厂家理想状态试验所得,实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。测试高温表面时需用高温耦合剂。DM5E系列测厚仪可兼容DM4系列的一些探头,包括:DA301、DA303、DA312、FH2E、DM401
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  • DC-1000C超声波测厚仪 型号:DC-1000C品牌:德光产地:中国测量范围:用于测量硬质材质的厚度,如:钢铁、不锈钢、铝、铜等金属材料,及塑料、塑胶、陶瓷、玻璃等非金属;功能特点:1.具有B系列测厚仪的所有功能,增加以下新功能:2.开机探头自动零位校准,可手动二次校准,更好地消除测量偏差。3. 全新高精度探头设计,自动识别多种探头。 4.预置9种常用材料声速值,方便选用。5.大屏幕高清晰带背光液晶显示6.测量范围扩大至0.65mm – 400mm (不同探头决定不同测量范围)7.手动/自动增益调节 技术参数:点阵液晶+背光 : 128X64自动校零 手动二次校准 测量范围 0.8-300mm  中文菜单 示值精度 0.1mm声速调整 声速测量 公英制转换自定义声速 低电压显示 自动关机 最小值测量   外形尺寸 115x64x27mm重量 220g可选探头探头型号---频率-------测量范围 mm----直径 ----测量温度 D5008:-----5.0 MHz----0.8 - 300------8-------- 60℃D5113:-----5.0 MHz----2.0 - 200-----13 ------- 350℃D7006:-----7.5MHz-----0.7 - 50 ------6---------60℃D7004:-----10.0MHz----0.65 - 20 ---- 4-------- 60℃D2012:-----2.0MHz-----2.0-400.0-----12-------- 60℃标准配置 主机 :DC-1000C超声波测厚仪一台 探头 :D5008耦合剂:75mg耦合剂(瓶) 电池: (7号2节) 随机文件:一份仪器箱:一只
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  • 无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡,以制造、贸易一体发展,产品——在线镀锌锌层测厚仪;——在线钢丝镀锌测厚仪;——在线硅钢干膜测厚仪,以“区别于其余产品”的设计原理,存于行业,以“为您提供一步到位的产品”为已任,为仪器制造产业争光增彩。 企业原则:以质量,诚信为根为本;企业宗旨:为您提供一步到位的产品。 服务产品:在线镀层测厚仪,在线镀锌层测厚仪,在线镀铝锌层测厚仪,在线镀锡层测厚仪,在线金属镀层测厚仪(镀锌测厚仪,锌层测厚仪,镀锌层测厚仪,镀铝锌层测厚仪,锡层测厚仪,镀银层测厚仪,锌层厚度检测仪,镀锌在线测厚仪) 在线钢丝镀锌层测厚仪,钢丝镀锌测厚仪,钢丝镀层测厚仪,钢丝在线检测仪,钢丝在线测厚仪,钢丝测厚仪,镀锌钢丝测厚仪 在线硅钢干膜测厚仪,硅钢干膜测厚仪,干膜厚度测厚仪,涂层干膜测厚仪,在线干膜测厚仪,干膜测厚仪,干膜涂层测厚仪
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  • 无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡,以制造、贸易一体发展,产品——在线镀锌锌层测厚仪;——在线钢丝镀锌测厚仪;——在线硅钢干膜测厚仪,以“区别于其余产品”的设计原理,存于行业,以“为您提供一步到位的产品”为已任,为仪器制造产业争光增彩。 企业原则:以质量,诚信为根为本;企业宗旨:为您提供一步到位的产品。 服务产品:在线镀层测厚仪,在线镀锌层测厚仪,在线镀铝锌层测厚仪,在线镀锡层测厚仪,在线金属镀层测厚仪(镀锌测厚仪,锌层测厚仪,镀锌层测厚仪,镀铝锌层测厚仪,锡层测厚仪,镀银层测厚仪,锌层厚度检测仪,镀锌在线测厚仪) 在线钢丝镀锌层测厚仪,钢丝镀锌测厚仪,钢丝镀层测厚仪,钢丝在线检测仪,钢丝在线测厚仪,钢丝测厚仪,镀锌钢丝测厚仪 在线硅钢干膜测厚仪,硅钢干膜测厚仪,干膜厚度测厚仪,涂层干膜测厚仪,在线干膜测厚仪,干膜测厚仪,干膜涂层测厚仪
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