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镀层的测厚方法实战经验分享及案例解析-母起明(日立分析仪器(上海)有限公司)
时间
:2019/09/23 13:24
3840
母起明,2006年进入日立分析...
测厚仪
电子电气
讲座内容主要介绍几种主流的膜厚测量方式,从多角度介绍不同测厚方法的优劣,包括电解法(库仑法)、金相法、X射线荧光法等。镀层XRF分析仪是一个有价值的电镀过程控制工具。它快速,易于使用和准确,并允许您监控和调整您的电镀产线,以确保高质量。
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汽车行业镀层分析解决方案
时间
:2018/06/25 19:59
3896
主讲:董松林
1969年出生,毕业于四川大学...
测厚仪
随着电子设备和电子元件越来越小、越来越复杂,这些元件上所镀金属饰面的功能必须小型化 — 如镀层变薄 — 偏差控制更严密。如果饰面处理太薄,产品将不符合性能指标,且可能会过早出现故障,从而导致保修索赔和声誉受损。如果镀层太厚,将造成材料和金钱浪费,并且可能存在机械贴合问题,从而导致报废或返工费用高昂,本次讲座将为您提供综合分析及解决方案!
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测厚仪原理与应用(CHY-CA)
时间
:2015/06/18 15:57
3497
测厚仪
仪器仪表
CHY-CA是兰光最新一代智能双模式全自动电子测厚仪,设备采用机械式面接触的测量方法,可以不受测量材料的限制,测量分辨率高达0.1微米,广泛适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、纸张、硅片等各种材料厚度的精确测量。 CHY-CA的测量头设计严格遵循相关标准规定的接触面积和测量压力,自动升降,保证了测量结果的稳定性、准确性。测试原理完全满足ASTM D645、ISO 4593、DIN 53105、JIS K6250、TAPPI T411、BS 3983、GB/T 6672等各种国际标准的要求,设备可通过随机附带的标准量块实现简单快速的系统标定。仪器支持手动、自动双重测量模式,自动模式可进行进样间距、测量点数和进样速度等参数的设置,更好地满足用户的统计分析需求。 专业的测试软件拥有直观的操作界面、实时数据显示及构图功能,可进行数据起伏曲线、偏差图和圆形坐标图三种模式显示,实时数据显示包括最大值、最小值、平均值和统计偏差,试验过程及结果一目了然。CHY-CA操作简单便捷,用户只需要完成对测试参数的简单设置、选择试验模式、将准备好的试样放置到测试区域、点击“手动”键或者“自动”键,CHY-CA即可自动完成对试样的测试。 CHY-CA,智能电子测厚仪的首选!兰光,愈了解,愈信任!
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海洋光学干涉膜厚仪介绍
时间
:2011/12/30 11:27
5561
主讲:文豪
海洋光学亚洲分公司 应用工程师...
测厚仪
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