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TESCAN 电镜在材料领域的最新应用

[报告]TESCAN 电镜在材料领域的最新应用

开始时间: 2024-06-26 10:00

主讲老师: 李景 | 应用专家

所在公司: 泰思肯（中国）有限公司

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报告相关会议

第十届电子显微学网络会议（iCEM 2024）

2024年06月25日 09:00 -- 06月28日 18:00

2024年6月25-28日，仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与中国电子显微镜学会（对外）（www.china-em.cn）将联合主办“第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)”。会议结合目前电子显微学主要仪器技术及应用热点，邀请业界知名电子显微学专家、电子显微学仪器技术专家、电子显微学应用专家等，重点邀请近来有重要工作成果进展的优秀青年学者代表线上分享精彩报告。电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在利用互联网技术为广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告。iCEM 2024恰逢电子显微学网络会议创立十周年，会议专场将增设“十周年”主题内容，围绕过去十年我国电子显微学重要进展、未来展望等进行分享。第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)将设置八个分会场：1) 原位/环境电子显微学与应用；2）先进电子显微学与应用；3）扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用；4）电子能量损失谱/电镜光谱分析技术；5）低温电子显微学与应用；6）生物医学电镜技术与应用；7）电镜实验操作技术及经验分享；8）电镜开放共享平台及自主保障体系建设。诚邀业界人士线上报名参会。

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报告介绍

报告介绍：

随着科研的深入及学科的交叉，常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益增高的分析需求。借助其它分析系统所得的数据，和电镜系统的数据往往非同时同位。TESCAN提出了All-In-One的综合解决方案，在常规的FIB-SEM系统上，增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS和AFM等多种表征系统，可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力，做到所见即所得。

主讲老师：