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仪器信息网 3i讲堂 TESCAN双束电镜的最新技术进展
[报告]TESCAN双束电镜的最新技术进展
开始时间: 2022-07-27 10:30
主讲老师: 余妍 | 资深应用工程师
所在公司: TESCAN CHINA
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报告相关会议
第八届 电子显微学网络会议（iCEM 2022）
2022年07月26日 09:00 -- 07月29日 17:00
电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在促进中国电子显微学领域仪器技术及前沿科学研究的发展，利用互联网技术为国内的广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告，节省时间和资金成本。2022年7月26-29日，仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与中国电子显微镜学会（www.china-em.cn）将联合主办“第八届电子显微学网络会议(iCEM 2022)”。iCEM 2022将围绕当下电子显微学研究及应用热点，邀请业界知名电子显微学专家线上分享精彩报告。分设：电子显微学技术及应用进展、原位电子显微学技术及应用、电子显微学技术在先进材料中的应用、电镜实验操作技术及经验分享、电子显微学技术在材料领域应用、电子显微学技术在生命科学领域应用6个主题专场，诚邀业界人士报名参会。
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报告介绍
报告介绍：
TESCAN双束电镜结合了高精度的FIB镜筒和超高分辨的SEM镜筒，同时拥有最佳离子束铣削能力和超高分辨率成像能力。镓离子FIB可以对10nm以下支撑的半导体器件进行高效、定点制备TEM样品；氙气等离子体FIB可以轻松应对宽达1mm的大面积截面加工。
主讲老师：
余妍
材料学硕士，毕业于华侨大学。2019年加入TESCAN CHINA应用部，负责扫描电镜售前DEMO和售后技术服务工作。2011年开始负责FIB-SEM 售前技术交流、制样演示和售后技术服务工作。熟悉SEM和FIB在材料科学、半导体科学等领域的应用。
参会说明：

一、报名贴士（敷衍填写将不予审核）

  • 1、请认真填写各项，您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后，参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式（手机电脑均可参会）

  • 1、直播前一天，助教会统一审核。审核通过后，会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会，请拨打页面下方电话，帮您解决

三、会议资料（交流群，会后视频）

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示，会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】，微信提醒会议进度，便捷查阅近期会议及视频回放。

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