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FIB 3.0技术在显微学领域的应用

[报告]FIB 3.0技术在显微学领域的应用

开始时间: 2021-06-25 15:30

主讲老师: 曹丽洁 | 蔡司中国显微镜资深应用专家

所在公司: 卡尔蔡司（上海）管理有限公司

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报告相关会议

第七届电子显微学网络会议（iCEM 2021）

2021年06月22日 09:00 -- 06月25日 18:00

电子显微学网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在促进中国电子显微学领域仪器技术及前沿科学研究的发展，利用互联网技术为国内的广大电子显微学科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告，节省时间和资金成本。2021年6月22-25日，由仪器信息网(www.instrument.com.cn) 主办，中国电子显微镜学会（www.china-em.cn）协办的“第七届电子显微学网络会议(iCEM 2021)”将继续线上举办。iCEM 2021将围绕当下电子显微学研究及应用热点，邀请知名电子显微学专家组织报告，分设：电子显微学技术及应用进展、原位电子显微学技术及应用、电镜实验操作技术及经验分享、先进电子显微学技术及应用、电子显微学技术在材料领域应用、电子显微学技术在生命科学领域应用6个主题专场。学无止“镜” | 历届电子显微学网络会议(iCEM 2015-2020)精彩报告

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报告介绍

报告介绍：

聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）具有强大的加工和成像功能，广泛应用于微纳加工领域。蔡司于2020年初发布了飞秒激光-聚焦离子束加工平台FIB3.0，在聚焦离子束的基础上增加了飞秒激光用于加工，打破了FIB在加工效率和加工尺寸方面的限制，使得大尺寸高精度快速加工成为可能。同时，结合蔡司光学显微镜、X射线显微镜等，可实现FIB3.0在更多领域的拓展和联用。

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