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电子显微成分分析中的若干问题与解决方法
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2014年07月16日 10:00
将电子显微成分分析中遇到的关键问题进行分析,剖析问题的来源,然后针对主要问题,提供ThermoFisher的解决方法,为用户提供应用分析的建议。
扫描电镜的前处理应用介绍-----教你如何制备扫描电镜样品
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2013年12月17日 14:30
扫描电镜的前处理相对透射电镜来说是比较简单的,但是针对不同材料的样品,也有一些技巧和特殊的制备方法.本讲座从最基本的制样方法开始,教大家如何准备扫描电镜样品,并深入介绍了最新的制样设备---离子研磨,和大家一起探讨扫描电镜的前期技巧.
2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列第五讲-SPM在材料电学性能表征方面的应用进展
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2013年07月09日 10:00
基于扫描探针显微镜的电学表征技术 1. Interleave扫描及抬起模式简介 2. 静电力显微镜,静电力与PFQNM联用 3. 表面电势测量,PFKPFM 4. 导电原子力,PFTUNA及扫描电容显微镜 上世纪九十年代以后,基于SPM的表征材料表面电学性质的技术得到了极大的发展。其主要手段有静电力显微镜,开尔文探针显微镜、导电原子力显微镜、隧穿原子力显微镜以及扫描电容显微镜等等。其应用领域包括纳米材料,纳米器件,生命科学,半导体器件,数据存储等领域。近年来,随着基于峰值力技术研发出一系列新的成像模式,使得纳米材料电学性能表征更定量、更准确。此报告将逐一介绍以上电学测量技术,还将展示电学性质测量与定量力学测量的结合,以及新的频率调制的开尔文探针显微镜。
2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列第四讲-利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征
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2013年06月25日 10:00
2013年原子力显微镜测量技术系列讲座第四讲——利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征 报告摘要: 原子力显微镜至今已经有了三十余年的历史,随着原子力显微镜技术的发展和研究的深入,人们已不仅限于利用原子力显微镜进行表面形貌的表征。布鲁克公司始终致力于原子力显微镜最新技术的应用和研发。可以实现针尖增强拉曼(TERS)的AFM-Raman联用成像体系,获得真正纳米级别的光谱解析,具有最好的针尖保护体系和最低的漂移率。利用拉曼成像技术获得样品的化学或者晶体学构象和光谱信息;同时可与AFM技术完美结合,获得其纳米尺度上的机械性质,电学性质和热力学性质等测量结果。 报告内容 1. AFM-Raman联用成像体系的工作原理 2. AFM-Raman联用成像技术的发展历程 3. 针尖增强拉曼(TERS)的技术细节和技术难点 4. AFM-Raman联用成像技术的应用实例
原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展-2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第三讲
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2013年05月21日 10:00
2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第三讲——原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展 原子力显微镜至今已经有了三十余年的历史,随着原子力显微镜技术的发展和研究的深入,人们已不仅限于利用原子力显微镜进行表面形貌的表征。布鲁克公司始终致力于原子力显微镜最新技术的应用和研发。峰值力轻敲模式(PeakForce Tapping)技术是布鲁克公司最新的专利技术,利用此成像技术,人们可以在高分辨AFM成像的同时,获得材料表面的力学信息(模量、粘附性质、形变等)和材料的电学性质。 本期报告主要内容: 1. 峰值力轻敲模式的基本原理及应用实例 2. 定量纳米力学测量原理及应用 3. 定量纳米电学测量原理及应用 4.有机光伏材料的定量高分辨研究
电子显微镜的日常维护
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2013年04月23日 14:30
日立高新的电子显微镜系列网络讲堂,已经作了很多期了,根据广大用户的反馈,本次讲座将针对扫描电镜的日常维护,保养等方面进行全方位的介绍。如果大家对日常维护和保养有什么困惑和疑问,那么请来参加我们的网络讲堂吧。
原子力显微镜在生物学研究中的应用——2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第二讲
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2013年04月16日 10:00
随着生物学研究逐渐从宏观进入微观水平,高分辨率显微技术的应用越来越广泛。相比于其他显微镜技术(如电镜、激光共聚焦等),原子力显微镜能够在气相、液相、真空、高/低温等多种环境条件下工作,并且制样简单,操作方便,已经成为纳米/微米生物学领域最重要的研究工具。本报告是布鲁克公司2013年原子力显微镜测量技术系列讲座之一,主要内容包括布鲁克公司原子力显微镜技术在生物学研究领域中的广泛应用及最新研究进展,如何利用原子力显微镜快速获取生物样品的高分辨图像。抛砖引玉,希望能够对大家的科研工作有所助益。 报告主要包括: 1. 原子力显微镜测试技术的特点和优势 2. 生命学研究发展趋势 3. 原子力显微镜在生物学研究中的应用 4. 生物型原子力显微镜最新进展
原子力显微镜简介及成像技巧——2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第一讲
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2013年03月28日 10:00
现代科学技术中,观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和“手”。因此,自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,生物传感器,分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。 本报告作为2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座的第一讲,主要讲解AFM的基本原理及成像模式,重点介绍成像参数调节的基本技巧,以及图像处理和分析的基本方法;让用户更好的了解AFM发展的进展及其应用,帮助AFM用户掌握获得高品质图像,获取实验数据的技巧;进一步为用户将来更深入的研究打下良好的基础。
三维光学显微镜在动态MEMS表面测量中的应用——2013年布鲁克光学显微镜技术研讨会第一讲
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2013年03月26日 10:00
据报道,MEMS(微机电系统)设备市场于2012年达到500万美元,而MEMS和传感器市场在2016年将达到196亿美元。传统上稳定使用的无线电电路,机械式陀螺仪到模拟传感器,都有可能被成本更低, 体积更小,重量更轻而性能更优越和可靠的MEMS器件所取代。这其中,封装和测试成本的比例可能高达60%。 本讲座将着重介绍布鲁克三维光学显微镜在动态MEMS器件表面测量中的应用。从设计到中试,批量生产直至后期可靠性测试等不同阶段,布鲁克三维光学显微镜在整个制备过程中始终扮演重要角色。经特殊设计的频闪光源可以实现在MEMS器件以不同频率运动时对其表面进行实时测量,从而表征整个运动周期内该器件表面的面内或面外的运动状态。讲座将通过几个具有代表性的实测器件的动态测量案例,讨论测量的要点和动态MEMS器件工作状态的真实表征。
场发射扫描电镜基础讲座
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2013年02月26日 14:30
智能型EBSD在材料分析中的应用
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2012年07月04日 14:30
1、为什么要EBSD技术?
2、EBSD发展史
3、EBSD原理
4、为什么要智能EBSD?
5、智能EBSD应用实例
6、如何进行EBSD和能谱(EDS)同步分析?
7、总结
8、讨论
扫描电镜的基本原理和应用技巧--教你成为扫描电镜的应用高手
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2012年05月08日 14:30
观察电镜的过程中,会碰到这样那样的问题,在本次讲座中,您可以逐步学习到电镜基础知识、观察技巧、前处理方法等,为各种问题提供合适的解决方法。相信此次讲座一定可以为您的工作提供很有用的帮助。
如何诊断和解决AFM设备的疑难杂症—中文报告
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2011年03月23日 10:00
相对於其他显微技术,AFM是一种比较年轻的技术。在原子力显微镜系列讲座中,我们将开始讨论一些AFM设备会遇到的常见疑难杂症以及相应的诊断和解决方法。下面是系列讲座中将要涉及的问题。 ---针尖引起的问题 ---操作参数引起的问题 ---样品固定引起的问题 ---接口引起的常见问题 ---如何诊断和解决噪音问题 ---仪器漂移的原因和诊断 [color=#fd1289][size=4]本次会议为[color=#bb005f][b]免费[/b][/color]在线会议,欢迎大家积极参与!!![/size][/color]
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