如何诊断和解决AFM设备的疑难杂症—中文报告_其他

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如何诊断和解决AFM设备的疑难杂症—中文报告

其他光学仪器及设备

会议时间: 2011-03-23 10:00

主讲老师:

所在公司: 安捷伦科技(中国)有限公司

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报告介绍主讲老师

报告介绍

相对於其他显微技术，AFM是一种比较年轻的技术。在原子力显微镜系列讲座中，我们将开始讨论一些AFM设备会遇到的常见疑难杂症以及相应的诊断和解决方法。下面是系列讲座中将要涉及的问题。 ---针尖引起的问题 ---操作参数引起的问题 ---样品固定引起的问题 ---接口引起的常见问题 ---如何诊断和解决噪音问题 ---仪器漂移的原因和诊断 [color=#fd1289][size=4]本次会议为[color=#bb005f][b]免费[/b][/color]在线会议，欢迎大家积极参与！！！[/size][/color]

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