第二届表面分析技术与应用网络会议
会议时间：2023年11月14日 09:00 -- 11月15日 17:30
| 票务类型 | 参会人数量 |
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| 培训注册 ：500元 日期：6月9日前 |
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大会注册【在读学生】：700元 日期：6月10日—11日 |
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大会注册【非在读学生】：1500元 日期：6月10日—11日 |
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会议时间：11月14日 09:00 -- 11月15日 17:30
表面分析技术是一种统称，指利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。
仪器信息网将于2023年11月14-15日举办第二届表面分析技术与应用主题网络研讨会，以分享表面分析技术及应用研究的新进展，推动表面分析技术与应用领域的发展。旨在利用互联网技术为广大科研者及相关专业人员提供一个方便、高效的免费学习平台，让大家了解最新的表面分析技术及应用研究动态，与同行们交流心得，共同进步。
此次表面分析技术与应用主题网络研讨会共设置了4个主题会场，分别是:光电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用等其他表面分析技术与应用。诚邀业界人士报名参会。
主办单位：仪器信息网
我要参会
XPS在材料研究中的应用
程斌
北京化工大学 研究员/副主任
XPS在纳米薄膜厚度测量中的应用
刘芬
中国科学院化学研究所 副研究员
同步辐射光电子能谱技术及其应用
朱俊发
中国科学技术大学 教授
我要参会
纳米测量技术国际标准化工作的意义探讨
黄文浩
中国科学技术大学 教授
基于扫描探针的原子制造技术的探索
陆兴华
中国科学院物理研究所 研究员
多频静电力显微镜电学性质动态测量技术
钱建强
北京航空航天大学 教授
扫描探针显微镜在神经形态器件中的应用研究
惠飞
郑州大学材料科学与工程学院 研究员
原子力显微镜在高分子表征中的应用
张彬
郑州大学 教授
我要参会
电子探针分析在关键金属矿产研究中的应用
陈振宇
中国地质科学院矿产资源研究所 研究室主任/研究员
三维原子探针分析技术与应用
沙刚
南京理工大学 教授
原子探针层析技术原理及其在镍基合金中的应用
李慧
上海大学 副研究员
电子探针在材料科学中的应用
刘树帅
山东大学材料学院材料表征与分析中心 副主任
我要参会
拉曼光谱分析技术和扫描电镜分析技术在古代陶瓷器科学研究中的应用
刘松
中国科学院上海光学精密机械研究所 副研究员
动态二次离子质谱仪DSIMS在半导体材料检测中的应用
高钟伟
甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司 技术工程师
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本次会议由中国水产科学研究院主办，若无法参会，请直接联系中国水产科学研究院
联系人：杨臻
联系电话：010-6867124 158 0116 9739
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