清华大学分析中心

个人简介:李展平，高级工程师，博士，1979-1983 年就读于广州中山大学物理系，获理学学士；1983~1986 年就读于清华大学，获工学硕士；2004-2005 年在日本东北大学，获博士学位。1986年6月~ 1991 年4月留校任职于清华大学无线电电子学系，任助教、助理研究员。1991年6月~ 2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作，历任俄歇电子能谱(AES)、X 射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月至今被人才引进至清华大学分析中心，任高级工程师。目前主要利用AES、XPS、SIMS 等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文六十多篇。获2019 年度中国分析测试协会科学技术奖-CAIA 奖一等奖，2020 年中国标准创新贡献奖二等奖。担任全国微束标准化技术委员会表面分技术委员会委员；国际标准化组织ISO/TC201/SC6专家。 查看更多