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仪器信息网 3i讲堂飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用-李展平-清华大学分析中心

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5172 2019-05-20

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飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用-李展平-清华大学分析中心

所属会议:“第三届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”主题网络研讨届

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)能以极高的灵敏度(ppm～ppb)探测到包括H在内的所有元素及其化合物信息。它被誉为是一种普适的分析技术。本报告介绍了TOF-SIMS的基本原理、技术特点，以及它在环境等各种领域的应用。

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