表面分析技术与应用
会议时间：2022年09月07日 09:00 -- 09月09日 12:00| 票务类型 | 参会人数量 |
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会议时间：09月07日 09:00 -- 09月09日 12:00
表面分析技术即利用电子、光子、离子、原子等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。
仪器信息网将于2022年9月7-9日举办首届表面分析技术与应用主题网络研讨会旨在促进表面分析技术与应用领域的发展，利用互联网技术为国内的广大科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到表面分析技术专家的精彩报告，节省时间和资金成本。
首届表面分析技术与应用主题网络研讨会共设置了5个主题会场 ，分别是:电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用。
主办单位：仪器信息网
我要参会
X射线光电子能谱法在有机高分子材料研究中的应用
程斌
北京化工大学 研究员/副主任
光电子能谱（XPS）深度剖析
吴正龙
北京师范大学 教授级高工
低能离子散射谱（LEISS）在催化剂表界面研究中的应用
陈明树
厦门大学 教授
光电子能谱在固态锂离子电池研究中应用
谢方艳
中山大学 高级实验师
我要参会
Coherence enhancement of solid-state qubits by scanning probe microscopy
江颖
北京大学 教授
原子力显微镜样品制备方法介绍
潘涛
Park原子力显微镜 高级工程师
Local Interfacial Engineering of 2D Atomic Crystals by Advanced Atomic Force Microscopy
程志海
中国人民大学 物理学系教授
基于STM的亚纳米分辨单分子光谱成像
董振超
中国科学技术大学 教授
新型大能隙拓扑绝缘体α‐Bi4Br4的拓扑边缘态
肖文德
北京理工大学 研究员
STM原理及在有机分子自组装上的应用
曾庆祷
国家纳米科学中心 研究员
Research progress of atomically manipulating structural and electronic properties of low-dimensional structures
陈辉
中科院物理研究所 副研究员
我要参会
电子探针分析技术及其标准化研究
陈振宇
中国地质科学院矿产资源研究所 研究室主任/研究员
电子探针市场分析和我们的应对举措
胡晋生
捷欧路（北京）科贸有限公司 表面分析产品经理/部长
岛津EPMA技术特点及其应用
廖鑫
岛津企业管理（中国）有限公司 EPMA产品专员
我要参会
飞行时间二次离子质谱及其应用
汪福意
中国科学院化学研究所 研究员
AES/XPS/SIMS/GD-OES(MS)深度剖析定量分析
王江涌
汕头大学物理系 教授
用于SIMS的高分辨质谱技术进展及展望
李海洋
中国科学院大连化学物理研究所 研究员
我要参会
电化学表面增强拉曼光谱及等离激元介导光化学反应研究
吴德印
厦门大学 教授
国产显微共聚焦拉曼光谱成像仪
刘鸿飞
奥谱天成（厦门）光电有限公司 博士
表面增强拉曼光谱在纳米颗粒表面化学反应原位检测中的应用
谢微
南开大学 研究员
基于消逝场界面耦合的表面增强拉曼光谱新技术
徐抒平
吉林大学超分子结构与材料国家重点实验室 教授
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联系人：杨臻
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