蔡司全新双束FIB-SEM:高通量纳米加工与3D分析平台
其他光学仪器及设备
会议时间: 2017-09-08 10:00
主讲老师: 任祺君 | 任祺君 |
所在公司: 卡尔蔡司(上海)管理有限公司
报告介绍
本次研讨会将会介绍蔡司最新发布的双束FIB-SEM系统,Crossbeam 550以及其在材料科学领域的应用。通过全新设计的Capella+离子镜筒,结合蔡司专利的Gemini电子镜筒,使其在高分辨成像,制样,高通量微纳加工以及3D重构等应用上具有极大的优势。结合Crossbeam 550 的FIB的加工能力和SEM的成像能力,讲座将会详细介绍其在材料,半导体,纳米材料,甚至生物等各个领域的应用。
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