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共 4 篇解决方案

深圳市速普仪器有限公司

TEM透射电镜样品：超薄碳膜，STEM积碳样品中有机污染物清除检测方案(表面处理仪)

检测样品：集成电路

检测项：机械性能

参考标准：

公司名称：深圳市速普仪器有限公司

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速普仪器SEM/TEM电镜样品等离子清洗系统

前处理设备 SPC

速普仪器【SuPro】离子清洗仪IC150

前处理设备 IC-150

TEM透射电镜样品杆存储清洗系统

检测仪器 SPC-150

【SuPro】电镜样品等离子清洗仪spc150

检测仪器 SPC 150

日立科学仪器（北京）有限公司

半导体、锂电池中颗粒物检测方案(电镜制样)

检测样品：集成电路

检测项：化学性质

参考标准：

公司名称：日立科学仪器（北京）有限公司

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离子研磨系统ArBlade5000

检测仪器 ArBlade5000

日立中型扫描电镜SU3800

检测仪器 SU3800

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分

检测样品：集成电路

检测项：集成电路IC芯片

参考标准：

公司名称：徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

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德国徕卡微观结构成分分析解决方案 DM6 M LIBS

检测仪器 DM6 M LIBS

德国徕卡精研一体机 EM TXP

检测仪器 EM TXP

广州领拓贸易有限公司

晶圆绑定线的失效检测-离子研磨

检测样品：其他

检测项：晶圆检测

参考标准：

公司名称：广州领拓贸易有限公司

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徕卡全自动三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X

检测仪器 Leica EM TIC 3X

Leica EM TXP 精研一体机

检测仪器 Leica EM TXP

电镜制样7月热度榜

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