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飞纳电镜推出的 ChemiSEM 技术,将 SEM 形貌观察与 EDS 成分分析相结合,让工作流程更加流畅,简化了许多材料(包括金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质材料等)的分析流程:通过彩色元素分布图与 SEM 图像的实时叠加,在成像同时提供高质量的成分定性定量信息。
实时分析获取更深层的信息 所有的 SEM-EDS 分析本质上都是复杂的,对于产品故障分析和污染物识别等应用,研发 需要不断改进质量控制(QC)和故障分析(FA)流程,以更好地解决出现的问题。 ChemiSEM 技术的实时分析在质量控制和生产效率提升方面提供了独特的优势。它的 EDS 集成在仪器中,并在电镜工作时始终在后台收集成分数据,逐步建立样品更全面和详 细的信息,帮助您更快地定位到关键质量问题。实时定量面扫:不再有
实时定量面扫:不再有分析干扰 传统的元素分析中,复杂样品元素分布和相分布面扫并不能及时得到精确的结果。例 如,一个峰的信号有时会被识别为两个元素,产生错误,干扰样品QC 问题的判断。 凭借创新的算法和智能光谱拟合,ChemiSEM 技术可以帮助您的实验室团队实现准确的 元素识别和量化—— 即使在处理多个重叠元素时也是如此。
ChemiSEM 定量面扫:ChemiSEM 技术自动处理原始信号,生成定量面扫结果。数据被很好地解析,能够有效避免和 峰和重叠峰的影响。并且使用专利的算法同时处理 BSE(背散射电子)和 EDS 信号,从而可以实时显示样品的形态和 元素定量结果。
无偏差相分析 传统的相分析高度依赖于对样品的假设,当存在谱峰重叠或强度不足而遗漏了元素时, 这可能会是一个问题。 有了 ChemiPhase(ChemiSEM 技术中的一项新功能)后,可以避免这种情况。复杂样 品的分析能够做到完全无偏差,可以基于数据单元中所有光谱结果,系统地识别每个独 立的相。随后,数据分析可以在没有任何元素预定义的情况下自动运行,无需丰富经验 即可定位次要/微量元素,明确识别主要和次要成分,完成更深入、更全面的分析。
使用 ChemiPhase 对地质切片的分析,每个相的能谱成分被自动提取和计算,可以将不同矿物相有效区分。
自动样品漂移校正 成分分析过程中,准确和有效的定量结果需要一个正确且稳定的样品位置信息。 通常在图像漂移的情况下,研究人员需要多次重新获取分析数据,或者等待样品停止漂 移后再获取数据,这两种方式都会降低测试效率。 通过不断监控样品位置,ChemiSEM 软件提供自动样品漂移校正,使高倍率操作和较长 时间的能谱采集成为可能。帮助大家节省宝贵的时间和精力,专注于更重要的事情:尽 快获取最高质量的数据。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 1年2个名额
免费仪器保养: 无
保内维修承诺: 质保期内,除自然灾害和人为因素损坏外,全部免费维修
报修承诺: 货物出现故障后,供货方8小时给出初步反馈。
飞纳电镜电镜附件ChemiSEM 的工作原理介绍
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