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SDW-CH-500 多模式超声波测厚仪产品介绍：
SDW-CH-500 多模式超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。（适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度）。
功能特点：
1、支持两种测厚模式：发射-回波模式（P-E）和回波-回波（E-E）模式，允许使用者在发射-回波模式（一般用于检测缺陷和凹坑）和回波-回波模式（测厚时不计入涂覆层厚度）之间进行切换；
2、采用高精度计时芯片，实现精确厚度测量；
3、支持多种专用探头，测量范围最大600mm；
4、自动V-PATH修正，补偿双晶探头测厚的非线性；
5、采用高性能CPU芯片，每秒进行10次厚度测量；
6、采用彩色大屏幕320×240 TFT液晶屏，信息丰富、直观、显示清晰、亮度可调，方便在光线昏暗和强烈日光环境中使用。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 远程视频培训
免费仪器保养: 一年一次保养
保内维修承诺: 质保期免费提供零配件更换，易损件除外，人为损坏除外
报修承诺: 24小时响应，48小时给出解决方案
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