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概述
超薄件穿透测厚仪天研超声波厚度测定仪采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。
此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
主要功能
● 采用“回波-回波”技术，可以实现超薄件的测量，最小厚度（钢）可达0.15mm；另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm；还可以穿透表面镀层厚度测量基材厚度；
● 增加穿透涂层测量基体厚度功能 ；
● 两种测量：模式底波-回波模式满足常规厚工件测量；回波-回波模式满足薄工件测量精度高）；
● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零；
● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
● 具有声速校准（反测声速）或单点校准功能；
● 可以进行报警设置和差值模式设置；
● 公英制转换；毫米和英寸可切换单位；
● 可存储5种不同材料的声速。
适用材料
适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。
基本原理
超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
技术参数
| 项目 | UC730 |
| 探头类型 | 单晶 |
| 测量范围 | 普通I-E模式：0.15mm～30mm(钢)穿透E-E模式：0.5mm～10mm(钢)，最大穿透涂层厚度0.5mm |
| 测量频率 | 15M、20M 单晶 |
| 显示分辨率 | 0.01mm、0.001mm |
| 声速范围 | 1000-9999m/s |
| 显示 | 128*64 LCD显示，LED背光 |
| 示指误差 | ±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-30mm)， |
| 自动关机 | 5分钟无操作后自动关机 |
| 工作温度 | -10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃ |
| 工作电压 | 两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示 |
| 操作时间 | 碱性电池最长可使用200小时（不使用背光） |
| 数据存储 | 500个数值存储功能 |
| 默认储存声速 | 可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。 |
| 外形尺寸 | 153mm*67mm*26 mm |
| 整机重量 | 220g |
| 标准配置 | 主机1台、15M单晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套 |
| 可选配置 | 数据传输线 |
产品货期: 2天
整机质保期: 5年
培训服务: 提供付费培训
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