牛津oxford透射电子显微镜Aztec X-Max 80T

1.探测器

*探测器：分析型SDD硅漂移电制冷探测器，晶体有效面积110mm2，晶体活区面积80mm2。

*能量分辨率：MnKa保证优于127eV,   元素分析范围: Be4～Cf98

*圆形对称芯片，独立封装FET场效应管，避免X射线轰击

*谱峰稳定性：1,000cps到100,000cps，MnKa峰谱峰漂移小于1eV，分辨率变化小于1eV, 48小时内峰位漂移小于1.5eV

*探测器自动伸缩，精确定位，无需手摇

2.显微分析处理器

*能谱仪图像处理器及脉冲处理器均与计算机采用分立式设计，电子图像清晰度8192*8192，全谱面分布图清晰度4096*4096

*图像灰度、对比度自动调节，二次电子像及背散射像可同时采集

3.软件

*软件为最新的AZtec平台，基于Win7   技术，多线程设计，导航器界面, 支持用户自定义模式及账户管理，支持分屏显示及远程控制，支持中、英文等多种操作界面

主要功能及应用范围

1.定性分析

可自动标识谱峰,进行谱重构，对重叠峰进行手动峰剥离;

2.定量分析

具备有标样定量分析及无标样定量分析方法，可以得到归一化结果, 或用化学配位法得到非归一化结果;

3.全谱智能面扫描

一次采集, 能存储每一扫描位置(x, y)的所有元素的信息,随后可以在从图像上的任何位置重建谱图、重构线扫描结果，并调用或删除任意元素的面分布结果.

4.全谱智能线扫描

全部数据一次线扫描全部收集, 可以随时任意添加删除元素, 进行谱图重构

5.轻元素定量分析程序，

采用XPP模型，比ZAF精度高数倍最新显微定量分析修正程序，大大提高分析精度

牛津Aztec X-Max 80T是一种能量色散X射线光谱仪（EDS）系统，用于材料表征和成分分析。它集成了多种功能以支持高精度的元素分析和显微结构研究。以下是Aztec X-Max 80T可能包含的主要功能：

1.高能量分辨率：通过使用硅漂移检测器（SDD）技术，实现高能量分辨率以准确区分不同元素的特征能谱峰值。

2.高计数速率和高效率：具备大面积硅漂移检测器（SDD），可提供快速且高效的数据采集，允许更短的分析时间和更高的样本通量。

3.大样本面推断：配备大尺寸的漂移探测器，以适应大样本面的要求，对大面积样品进行元素分析。

4.能谱获取和处理：通过牛津仪器的Aztec软件套件，实现实时、准确的能谱获取和处理，包括能谱校准、能量划定和定量分析等。

5.元素映像和分布：通过元素分布地图、线扫描模式和扫描显微镜图像，可视化样品中元素的分布和浓度变化。

6.晶格分析：提供晶格距离测量、晶格定向和晶体学参数计算等功能，用于材料的晶体学结构表征。

7.样品导航和定位：配备高分辨率的影像系统，能够实时显示样品表面和所感兴趣区域，以便准确的精确定位和分析。

8. 多模式操作：支持多种数据采集模式，包括全能谱模式、线扫描模式、映像模式和快速模式等，以满足不同分析需求。