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BRUKER Dektak XT的全部介绍
Dektak XT是Bruker公司推出的一款表面轮廓仪（Surface Profiler）。它利用非接触式技术测量样品的表面形貌和粗糙度，广泛应用于半导体、光学、涂层、纳米材料、微电子等领域。
以下是Dektak XT的主要特点和功能：
1.高精度测量：Dektak XT具有高度精确的测量能力，可测量细微的表面形貌变化和粗糙度。其分辨率可达纳米级别，适用于对表面质量要求较高的应用。
2.非接触式技术：Dektak XT采用非接触式扫描技术，避免对样品造成物理损伤。这种技术还能够准确测量不同材料的表面形貌，包括金属、陶瓷、聚合物等。
3.大样品适应性：Dektak XT具有广阔的样品适应性，可处理各种形状、尺寸和材料的样品。无论是平坦的表面还是曲面，都可以进行准确的测量。
4.自动化功能：Dektak XT配备了自动化的功能，包括自动对焦、样品加载和卸载等。这样可以大大提高测量效率，减少人工干预的需要。
5.数据分析和报告生成：Dektak XT附带强大的数据分析软件，可以对测量结果进行详细的分析和处理。用户可以生成详尽的报告，以便更好地理解和解释测量数据。
总之，Dektak XT作为一款先进的表面轮廓仪，提供了高精度、非接触式测量和自动化功能，适用于各种应用领域的表面形貌和粗糙度测量需求。
产品货期: 7天
整机质保期: 6月
培训服务: 提供付费培训
安装调试时间: 到货后15天内
电话支持响应时间: 24小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 15天内
