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日立 FIB-SEM三束系统NX2000
产品介绍：
追求最完美的TEM样品制备工具
在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为不可或缺的工具。
近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。
日立高新公司，整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术，再加上加工方向控制技术以及Triple Beam?＊1（选配）技术，推出了新一代产品NX2000
产品特点：
运用高对比度，实时SEM观察和加工终点检测功能，可制备厚度小于20 nm的超薄样品
FIB加工时的实时SEM观察＊2例
样品：NAND闪存
加速电压：1 kV
FOV：0.6 μm
产品货期: 7天
整机质保期: 6月
培训服务: 提供付费培训
安装调试时间: 到货后15天内
电话支持响应时间: 24小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 15天内
