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薄膜热电参数测试系统RS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。
● 真空度≤10Pa
● 塞贝克系数测量范围：S≥8uV/K；分辨率≤±7
产品货期: 90天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
安装调试时间: 到货后30天内
电话支持响应时间: 4小时内
