看了null的用户又看了
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统
原位透射电子显微镜实验系统,使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境(包括力、热、光、电等),从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。
性能指标
透射电镜指标:
● 兼容指定电镜型号及极靴;
● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);
电学测量指标:
● 包含一个电流电压测试单元;
● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;
● 电流分辨率:优于100 fA;
● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;
● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。
扫描探针操纵指标:
● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
光纤指标:
● 多模光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标;
● 可选光纤探针、平头光纤;
● 配备快速SMA接头、FC接头;
加热指标:
● 温度范围:室温到1000 ℃;
● 温度准确度优于 5% ;
● 温度稳定性:优于±0.1 ℃。
产品特色
可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加Z多四种激励,实现多种复杂的测试功能,完成以往无法实现的研究。
(1)高温拉伸/压缩(加热芯片+电学STM探针);
(2)热电子发射/场发射(加热芯片+电学STM探针);
(3)三端器件测量(电学芯片+电学STM探针);
(4)电致发光现象研究(电学芯片+光学STM探针);
(5)光电现象研究(电学芯片+光学STM探针)。
以上就是提供的原位MEMS-STM-TEM多场测量系统-原位TEM样品杆,详细咨询电话:
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 无
免费培训: 具体沟通
免费仪器保养: 具体沟通
保内维修承诺: 具体沟通
报修承诺: 具体沟通
Spectra S/TEM 扫描透射电子显微镜
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2
赛默飞 Talos F200X S/TEM 透射电子显微镜
国仪量子 场发射透射电子显微镜 TH-F120
日本电子 JEOL 自动进样场发射透射电镜JEM-F200
日本电子JEOL-120KV 透射电子显微镜JEM-120i
日本电子株式会社(JEOL)
阴极发射体
上海昊量光电设备有限公司
国仪量子 场发射透射电子显微镜 TH-F120
国仪量子技术(合肥)股份有限公司
透射电镜TEM
深圳市矢量科学仪器有限公司
最多添加5台