数位IC测试器
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L271576

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核心参数
仪器简介:
. Loop 测试; 
. 自动搜寻 IC 编号功能; 
. 开机自我侦测诊断功能; 
. 过载保护功能; 
. 可量测之 IC 种类超过 1800 种; 
. 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS; 
. 4000 及 4500 系列 CMOS; 
. 最大可测 Pin 数 : 28 Pin; 


技术参数:
测试范围 :54/74 系列 TTL 及高速 CMOS,
4000 及 4500 系列 CMOS,
55 及 75 系列 TTL;
量测种类:约 1800 种;
测试电压:5V DC;
测试时间:高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC;
使用电源:交流 110V/220V +10%, 50/60Hz;
附件:电源线 x 1, 操作手册 x 1;
尺寸:335(宽) x 105(高) x 300(长) mm,
重量:约 1.5 公斤;



主要特点:
您如果想进一步了解产品及其它LAB信息,
敬请致电EHSY西域中国各地区代表处,谢谢!
公司网站 www.ehsy.com
Tel:(021)400-880-8822
Fax:(021)400-880-8812
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