仪器简介：
电阻率测试仪是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）
电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量
仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表
（以万分之几的精度）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电
阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使
测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除
探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护箔膜。
探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。
技术参数：
型号：L1260149
测量范围：
电阻率：0.0001～19000Ω•cm
即1.0*10（-4）～1.99*10（4）Ω•cm；
方块电阻：1.0*10（-3）～1.99*10（5）Ω；
恒流源：
输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调；
恒流精度：各档均低于±0.05%；
供电电源： AC 220V±10% ， 50/60 Hz ，
功率：12W；
使用环境：
温度：23±2℃
相对湿度：≤65%，
无较强的电场干扰，无强光直接照射；
重量、体积：
主机重量：7.5kg，
体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×高度）；
产地：中国
主要特点：
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