产地类别: 进口
主要特点:
红外波长的双折射/相位差/内应力面分布测量
硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
小型、簡単操作、高速測量
WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』,也可应用于量产现场
WPA-200-NIR的功能
1. 高速测量面的双折射/相位差分布
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
2. 测量数据的保存/读取
全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等
3. 丰富的图形创建功能
从测量后的面信息,可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较,也可以用CSV格式输出
主要技术参数
型号 | WPA-200-NIR |
测量范围 | 0~3500nm |
重复精度 | <1.0nm |
测量尺寸范围 | 3×4mm~100×133mm |
像素数 | 384*288 pixels |
测量波长 | 810nm,850nm 870nm |
尺寸 | 270x337x631mm |
自身重量 | 13kg |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 安装时培训一次
免费仪器保养: 1年
保内维修承诺: 保修期免费更换零部件
报修承诺: 24响应
Photonic Lattice偏振仪WPA-200-NIR的工作原理介绍
偏振仪WPA-200-NIR的使用方法?
Photonic LatticeWPA-200-NIR多少钱一台?
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