高精度紫外波段偏振态测量（斯托克斯参数测量）系统（180nm-200nm）

深紫外偏振态测量仪   光刻机偏振态测量仪   193nm偏振态测量仪

Hinds公司长期以来致力于偏振态测量研究，在紫外波长（180nm-200nm）范围内基于双PEM（光弹调制器）的偏振测量系统为量化光的斯托克斯参数提供无与伦比的精度与灵敏度。该科研级高精度stokes测量系统可实现每秒超100组标准化斯托克斯参数集获取。一次测量生成4个斯托克斯参数。该系统在光学元件表征、光学系统光束输出表征、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面具有广泛的应用。

该系统采用了Hinds公司自研光弹性调制器(PEM)技术，提供了目前超高水平的偏振测量。此外，PEM提供高速操作，根据所需波长在37至100khz之间调制。PEM光弹调制器基于谐振调制，该系统能够提供完整的斯托克斯测量没有移动部件，因此在精度和重复性方面高出市面现有偏振态测量系统一个数量级。本系统可根据用户使用需求定制波长，除可见光外可实现紫外波段光的偏振态及完整斯托克斯参数测量。

深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品参数

（波长范围：180nm-200nm）：

• 斯托克斯参数准确误差：1%

• 斯托克斯参数灵敏度：0.0005

• 重复率：3σ≤0.01

（波长范围：200nm-400nm）：

• 斯托克斯参数准确误差：0.5%

• 斯托克斯参数灵敏度：0.0005

• 重复率：3σ≤0.0035

深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品应用

• QC测试和测量表征

• 材料医药开发和质量控制

• 光学旋转

• 电信设备制造业

• SOP、DOP测量

• 天文测量

• 自由空间和光纤的选择测量光谱应用

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