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该型号适用于 0 到 130nm 的低双折射产品检测，可高速测量 500 万像素的高分辨率双折射/相位差分布，
它是一种能够在显微镜视场中测量双折射的系统，随附的显微镜可选择奥林巴斯或尼康。
应用：
通信光纤
晶体
纤维
微小透明样品
技术参数：
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 |
2 | 测量波长 | 520nm |
3 | 双折射测量范围 | 0-130nm |
4 | 测量最小分辨率 | 0.001nm |
5 | 测量重复精度 | 1nm |
6 | 视野尺寸 | 142x170um到3.5x4.2mm |
7 | 选配镜头视野 | 无 |
8 | 选配功能 | 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 安装时培训一次
免费仪器保养: 1年
保内维修承诺: 保修期免费更换零部件
报修承诺: 24响应
透明材料应力双折射测量系统
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