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多用途的解决方案
● 在环境和非环境条件下，全尺寸测角仪级粉末XRD。
● 在环境和非环境条件下，通过按钮切换到非晶态和多晶态薄膜分析，获得了最佳的粉末XRD性能。
● 在环境和非环境条件下，为包括外延薄膜在内的所有样品提供了完美的XRD溶液。
专用的解决方案
● 最先进的XRD2的解决方案使数据收集在2θ和γ方向提供额外的晶体样品的属性信息。
● 采用专业的x射线衍射(XRD)技术，对机械零件、体件和薄膜样品的应力和织构进行测试。
● 利用x射线粉末衍射(XRPD)提取结构信息，包括Rietveld (TOPAS)分析、弥漫或“总”散射(PDF分析)和小角度x射线散射(SAXS)。
应用
● 物相定性分析
● 结晶度及非晶相含量分析
● 结构精修及解析
● 物相定量分析
● 点阵参数精确测量
● 无标样定量分析
● 微观应变分析
● 晶粒尺寸分析
● 原位分析
● 残余应力
● 低角度介孔材料测量
● 织构及ODF分析
● 薄膜掠入射
● 薄膜反射率测量
● 小角散射
